專利名稱：一種基于頻率測量的rc常數(shù)測量方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測量RC (電阻電容)常數(shù)的一種方法，具體是指一種基于頻率測量的RC常數(shù)測量方法。 目前，RC常數(shù)的測量在很多應用場合、電路結構中都使用到，如模擬濾波器、頻率合成器，壓控振蕩器等電路中，RC常數(shù)都需要測量并將其校正到合適的范圍內。對RC常數(shù)的測量，一般都不是直接測量，而是通過一定手段，把RC乘積常數(shù)轉化成其它物理量，從而進行有效準確的測量。對于振蕩器結構中，振蕩輸出的頻率，它與RC電阻電容乘積成反比，對于固定的輸出頻率，其電路中RC常數(shù)應是恒定的，因此RC常數(shù)的測量與校正可以有效改變振蕩器輸出頻率；在模擬濾波器設計中，濾波器的轉角頻率，它與電阻電容的乘積成反比；對特定的濾波器，其RC常數(shù)也應是恒定的。片上集成的濾波器一般分為有源RC (電
阻電容)和Gli Cf (跨導電容)兩種結
權利要求
1. 一種基于頻率測量的RC常數(shù)測量方法，其特征在于包括頻率振蕩電路模塊和 測量模塊；頻率振蕩電路模塊，由兩個積分器構成環(huán)形振蕩環(huán)路，當RC乘積為常數(shù)，環(huán)形振蕩器輸出經電壓比較器后輸出為固定頻率方波信號，方波信號頻率與RC電阻電容成比例關系， 調節(jié)RC大小，可改變兩積分器積分構成的振蕩器輸出頻率計算如下
2.按照權利要求1所述的一種基于頻率測量的RC常數(shù)測量方法，其特征在于還包括頻率校正電路，其把頻率振蕩器電路模塊中的電容設計成N位電容陣列形式，通過改變電容陣列改變電容值，頻率振蕩器電路模塊輸出RCOUT頻率發(fā)生改變，RCOUT輸出進入PwiJiJ 量模塊，根據(jù)IiJ則量模塊中數(shù)值比較器比較結果，由公式(1)可得，當ha > ^cf時， Frcout，電容值偏小，調節(jié)電容陣列使之變大，使頻率振蕩電路模塊輸出頻率減??； A'\Nrcout <Nref\V\,Frcout < 電容值偏大，調節(jié)電容陣列使之變小，頻率振蕩電路模塊輸出頻率增大，經過多次比較后，使電容陣列最大地逼近設定值。
3.按照權利要求2所述的一種基于頻率測量的RC常數(shù)測量方法，其特征在于所述的 RC常數(shù)電容陣列調整使用二進制搜索算法實現(xiàn)。
4.按照權利要求3所述的一種基于頻率測量的RC常數(shù)測量方法，其特征在于所述的二進制搜索算法可以分為3個階段初始化、向下搜索、左右搜索；初始化時，N位開關電容陣列大小設置成可調范圍值正中間，即其最高位置1，其余位置0，最高位就是當前搜索位置，設置完畢，等待振蕩環(huán)路工作正常，轉換出穩(wěn)定輸出頻率參考時鐘計數(shù)器開始計數(shù)，并發(fā)出start啟動信號，此時測量計數(shù)器開始對Frera^U 量模塊電路輸出的方波信號進行計數(shù)，當參考時鐘計數(shù)達到預設值并發(fā)出stop指示信號時，測量計數(shù)器停止計數(shù)，進入向下搜索階段；向下搜索時，對計數(shù)值進行判斷，若大于預設值，則表明當前電容值偏小，此時當前搜索位不變(為1);否則表明電容值偏大，當前搜索位(置0)，把下一搜索位置1后開始下一次搜索，直至最低位方向確定；左右搜索時，在向下搜索到第N位后，向下搜索過程完成，對當前確定的電容陣列的左右進行搜索，即比較當前電容值加1 (左)及減1 (右)位進行搜索并判斷比較值，確定左、 右、當前三個狀態(tài)中計數(shù)誤差最小的設置；假設電容陣列共有N位，則共需N + 2此搜索，每次搜索時間均相同。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于頻率測量的RC常數(shù)測量方法。本發(fā)明針對頻率振蕩器中，輸出頻率測量與RC常數(shù)設計，振蕩器輸出頻率與RC常數(shù)的關系，實現(xiàn)了基于頻率測量的RC常數(shù)的測量及其在頻率振蕩電路中的校正應用。測量模塊電路根據(jù)RC常數(shù)設定與輸出頻率有確定的反比例關系，有效地實現(xiàn)了頻率振蕩電路，為采用數(shù)字電路測量及校正調整提供前提條件。使用數(shù)字電路測量振蕩頻率，校正RC常數(shù)，方便靈活，二進制搜索算法使校正速度得到了較大地提高。
文檔編號G01R35/00GK102207522SQ20111008214
公開日2011年10月5日 申請日期2011年4月1日 優(yōu)先權日2011年4月1日
發(fā)明者劉松艷, 方敏, 李正平, 黃偉朝 申請人:廣州潤芯信息技術有限公司