專利名稱：用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用來測試讀卡器的測試卡，尤指一種可用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡。
背景技術(shù)：
一般來說，便攜式電子裝置，例如一筆記本型計算機，通常會設(shè)置有可讀取多種規(guī)格的存儲卡的讀卡器，以便于使用者讀取或存儲存儲卡的數(shù)據(jù)。存儲卡的類型可分為安全數(shù)字存儲卡(Secure Digital Memory Card, SD卡)、數(shù)字圖像卡(ExtremeDigital-Picture Card,XD 卡)或存儲條卡(Memory Stick Card,MS 卡)等。在工廠端進行產(chǎn)品的品質(zhì)管理與驗證測試時，測試人員需分別將不同規(guī)格的存儲卡插入讀卡器的相對應(yīng)插槽內(nèi)，才可對該規(guī)格的插槽進行合格率測試。舉例來說，欲測試讀卡器的安全數(shù)字存儲 卡插槽的合格率時，測試人員將一安全數(shù)字存儲卡插入讀卡器的安全數(shù)字存儲卡插槽，并利用自動測試技術(shù)進行合格率測試。接著當欲測試讀卡器的數(shù)字圖像卡插槽的合格率時，測試人員需將上一次測試使用的卡片(如安全數(shù)字存儲卡)抽出，才可將數(shù)字圖像卡插入讀卡器的數(shù)字圖像卡插槽，以繼續(xù)進行數(shù)字圖像卡插槽的驗證，意即傳統(tǒng)的方法需準備多個不同規(guī)格的存儲卡，并將各存儲卡分別插入讀卡器的各卡槽，以分別進行測試與驗證。如此一來，讀卡器的傳統(tǒng)測試手續(xù)相當繁瑣復雜，容易因人為操作失誤而降低測試的準確度，且需耗費較高工時，拖累生產(chǎn)線的整體產(chǎn)能。因此，需要提供一種用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種可用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡，以解決上述的問題。
本發(fā)明公開一種用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡，該測試卡包含有一第一基板、一第二基板、一第一連接端子組與一第二連接端子組；該第二基板部分嵌合于該第一基板的一表面，該第二基板的一長度實質(zhì)上小于該第一基板的一長度；該第一連接端子組設(shè)置于該第一基板的該表面的一端，且不被該第二基板遮蔽，該第一連接端子組用來與一讀卡器的一第一傳輸端子組接觸以電性導通；該第二連接端子組設(shè)置于該第二基板的一端，該第二連接端子組用來在該第一連接端子組與該第一傳輸端子組接觸時與該讀卡器的一第二傳輸端子組接觸以電性導通。本發(fā)明還公開該第二連接端子組用來在該第一基板插入該讀卡器且止抵于該讀卡器的一止抵部時與該讀卡器的該第二傳輸端子組接觸以電性導通。本發(fā)明還公開該第一連接端子組的各相鄰第一連接端子之間設(shè)置有一測試電阻。本發(fā)明還公開該第二連接端子組的各相鄰第二連接端子之間設(shè)置有一測試電阻。本發(fā)明還公開該測試卡還包含有一握持端部，其包覆該第一基板與該第二基板的另一端，該握持端部在該第一基板與該第二基板插入該讀卡器時外露于該讀卡器。本發(fā)明還公開該第二基板的表面形成有一定位孔，該定位孔用來輔助該第二基板以部分嵌合方式定位于該第一基板的該表面。本發(fā)明還公開該第一基板與該第二基板的組合的一厚度小于該第一基板的一厚度與該第二基板的一厚度的總和。本發(fā)明還公開該測試卡還包含有一導角結(jié)構(gòu)，其形成于該第一基板的該端，該導角結(jié)構(gòu)用來導引該第一基板插入該讀卡器。本發(fā)明還公開該第二基板的一側(cè)邊形成有一泄氣槽。本發(fā)明還公開該測試卡還包含有一第三基板以及一第三連接端子組。該 第三基板嵌合有該第二基板的該第一基板部分嵌合于該第三基板的一表面，且該第一基板的該長度實質(zhì)上小于該第三基板的一長度。該第三連接端子組設(shè)置于該第三基板的該表面的一端，且不被該第一基板遮蔽。該第三連接端子組用來與該讀卡器的一第三傳輸端子組接觸以電性導通。本發(fā)明還公開該第二連接端子組用來在該第三基板插入該讀卡器且止抵于該讀卡器的一止抵部時與該讀卡器的該第二傳輸端子組接觸以電性導通。本發(fā)明還公開該第三連接端子組的各相鄰第三連接端子之間設(shè)置有一測試電阻。本發(fā)明還公開該第一基板、該第二基板與該第三基板的組合的一厚度小于該第一基板的一厚度、該第二基板的一厚度與該第三基板的一厚度的總和。本發(fā)明還公開該第一基板、該第二基板與該第三基板的形狀與尺寸可分別符合一安全數(shù)字存儲卡、一數(shù)字圖像卡與一存儲條卡的形狀與尺寸，且該第一連接端子組、該第二連接端子組與該第三連接端子組的規(guī)格實質(zhì)上分別符合該安全數(shù)字存儲卡、該數(shù)字圖像卡與該存儲條卡的規(guī)格。本發(fā)明還公開該測試卡為一卡型結(jié)構(gòu)。本發(fā)明將多個具有不同規(guī)格與尺寸的測試用存儲卡整合成一個多合一的卡型測試卡。本發(fā)明的測試卡通過特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計，以使得測試卡的多個基板可以同時插入讀卡器的各相對應(yīng)卡槽，且設(shè)置于不同基板上的多種連接端子組可以同時與各卡槽的相對應(yīng)傳輸端子組接觸以電性導通。因此本發(fā)明可在一次測試過程中，例如將測試卡(測試用存儲卡)插入讀卡器，同時對讀卡器的多個具有不同規(guī)格的卡槽進行可靠性或合格率的驗證與測試，故可大幅減少測試過程的時間，進而有效避免人為操作異常與節(jié)省人力成本，藉以提升產(chǎn)能。


圖I為本發(fā)明第一實施例的測試卡的組件分解示意圖。圖2為本發(fā)明第一實施例的測試卡與讀卡器的外觀示意圖。圖3為本發(fā)明第一實施例的測試卡的側(cè)視圖。圖4為本發(fā)明的測試卡與讀卡器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為本發(fā)明第二實施例的測試卡的外觀示意圖。圖6為本發(fā)明第二實施例的測試卡的側(cè)視圖。圖7與圖8分別為本發(fā)明第三實施例的測試卡的外觀示意圖與側(cè)視圖。
圖9與圖10分別為本發(fā)明第四實施例的測試卡的外觀示意圖與側(cè)視圖。主要組件符號說明10、30、50、70 測試卡11讀卡器111 第一傳輸端子組113第二傳輸端子組115 第三傳輸端子組117止抵部12、32、52、72 第一基板14、34、54、74 第二基板141,341 定位孔143、343泄氣槽16 第三基板18、36、56、76第一連接端子組 181 測試電阻20、38、58、78第二連接端子組22 第三連接端子組24、40握持端部26、42 導角結(jié)構(gòu)44絕緣擋片
具體實施例方式請參閱圖I至圖3，圖I為本發(fā)明第一實施例的一測試卡10的組件分解示意圖，圖2為本發(fā)明第一實施例的測試卡10與一讀卡器11的外觀示意圖，圖3為本發(fā)明第一實施例的測試卡10的側(cè)視圖。測試卡10用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器11，以驗證讀卡器11相對應(yīng)不同存儲卡規(guī)格的卡槽的功能是否正常。使用者可利用讀卡器11讀取具有不同規(guī)格的多張存儲卡，一般來說，常見的讀卡器的插槽可兼容的存儲卡規(guī)格可包含有安全數(shù)字存儲卡、數(shù)字圖像卡或存儲條卡的規(guī)格等。因此本發(fā)明的測試卡10可同時插入讀卡器11的各插槽內(nèi)，以使使用者可同時測試讀卡器11的具有不同存儲卡規(guī)格的各插槽的讀取功能是否正常。其中讀卡器11的插槽可兼容的存儲卡規(guī)格以及相對應(yīng)測試卡10的規(guī)格可不限于上述實施例所述，視實際需求而定。測試卡10包含有一第一基板12、一第二基板14與一第三基板16。第二基板14部分嵌合于第一基板12的一表面，且嵌合有第二基板14的第一基板12可部分嵌合于第三基板16的一表面。各基板之間的嵌合深度依據(jù)讀卡器11的具有標準化規(guī)格的各卡槽結(jié)構(gòu)而設(shè)計，故在此不再詳述。如圖2與圖3所示，第二基板14的一長度實質(zhì)上小于第一基板12的一長度,且第一基板12的該長度實質(zhì)上小于第三基板16的一長度，因此測試卡10可為一階梯式卡型結(jié)構(gòu)。測試卡10還包含有一第一連接端子組18、一第二連接端子組20與一第三連接端子組22。第一連接端子組18設(shè)置于第一基板12的該表面的一端，且不被第二基板14遮蔽。第二連接端子組20設(shè)置于第二基板14的一端。第三連接端子組22設(shè)置于第三基板16的該表面的一端，且不被第一基板12遮蔽。其中，第一連接端子組18、第二連接端子組20與第三連接端子組22分別用來與讀卡器11的一第一傳輸端子組111、一第二傳輸端子組113與一第三傳輸端子組115接觸以電性導通(各傳輸端子組設(shè)置于讀卡器11的內(nèi)部)。由于第一基板12、第二基板14與第三基板16的長度依據(jù)讀卡器11內(nèi)部各傳輸端子組的配置位置而設(shè)計，故當測試卡10完全插入該讀卡器時，例如第三基板16止抵于讀卡器11內(nèi)部的一止抵部117 (止抵部117設(shè)置于讀卡器11的內(nèi)部)時，意即測試卡10在讀卡器11內(nèi)部定位于正確的測試位置時，第一連接端子組18、第二連接端子組20與第三連接端子組22可分別與讀卡器11的各相對應(yīng)傳輸端子組接觸以電性導通。
如圖I所示，第一連接端子組18(或是第二連接端子組20、第三連接端子組22)的各相鄰第一連接端子(或是各相鄰第二連接端子、各相鄰第三連接端子)之間可設(shè)置有一測試電阻181。當測試卡10插入讀卡器11，且各連接端子組(第一連接端子組18、第二連接端子組20與第三連接端子組22)與各相對應(yīng)傳輸端子組接觸以電性導通時，使用者即可利用一自動測試設(shè)備(ATE)有效地對測試卡10與讀卡器11進行驗證，以確認該讀卡器各卡槽的讀取功能是否正常。舉例來說，請參閱圖4，圖4為本發(fā)明的測試卡10與讀卡器11的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。當測試卡10的第一連接端子組18接觸讀卡器11的第一傳輸端子組111后，使用者將自動測試設(shè)備的探針直接接觸第一傳輸端子組111的信號測試點，以藉由量測第一連接端子組18的各相鄰第一連接端子間的測試電阻181的電阻值大小，驗證讀卡器11的功能是否正常。
此外，如圖I至圖3所示，測試卡10還可包含有一握持端部24，其包覆第一基板12、第二基板14與第三基板16的一端。握持端部24用來覆蓋測試電阻181以防止其外露，且在第一基板12、第二基板14與第三基板16插入讀卡器11時外露于讀卡器11，以便于使用者可推壓或抽拉測試卡10相對讀卡器11移動。第二基板14的表面可形成有一定位孔141，且第二基板14的一側(cè)邊可形成有一泄氣槽143，定位孔141用來輔助第二基板14與第一基板12以部分嵌合方式定位于第三基板16的該表面,泄氣槽143用來在測試卡10插入讀卡器11時排除多余的空氣以調(diào)節(jié)壓力。測試卡10還可包含有一導角結(jié)構(gòu)26，其形成于第三基板16的該端，導角結(jié)構(gòu)26用來導引第三基板16插入讀卡器11。值得一提的是，由于第二基板14部分嵌合第一基板12的該表面,且第一基板12部分嵌合第三基板16的該表面，故第一基板12、第二基板14與第三基板16的組合的一厚度可實質(zhì)上小于第一基板12的一厚度、第二基板14的一厚度與第三基板16的一厚度的總和，以使測試卡10的各基板可同時插入讀卡器11的相對應(yīng)卡槽。在本發(fā)明的第一實施例中，第一基板12的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于一安全數(shù)字存儲卡的形狀與尺寸，且第一連接端子組18的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該安全數(shù)字存儲卡的規(guī)格。第二基板14的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于一數(shù)字圖像卡的形狀與尺寸，且第二連接端子組20的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該數(shù)字圖像卡的規(guī)格。第三基板16的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于一存儲條卡的形狀與尺寸，且第三連接端子組22的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該存儲條卡的規(guī)格。因此本發(fā)明第一實施例的測試卡10可用來在插入讀卡器11時，同時測試讀卡器11的安全數(shù)字存儲卡卡槽、數(shù)字圖像卡卡槽與存儲條卡卡槽的讀取功能，或是可以一絕緣擋片44 (例如由塑料材料所組成的非導電體墊片)遮蔽于第一連接端子組18上(或是第二連接端子組20、第三連接端子組22)。絕緣擋片44可用來隔絕第一連接端子組18 (或第二連接端子組20或第三連接端子組22)與讀卡器11的第一傳輸端子組111 (或第二傳輸端子組113或第三傳輸端子組115)的電性連接，藉以選擇性地測試讀卡器11的SD卡(或是XD卡、MS卡)的功能。請參閱圖5與圖6，圖5為本發(fā)明第二實施例的一測試卡30的外觀示意圖，圖6為本發(fā)明第二實施例的測試卡30的側(cè)視圖。測試卡30可包含有一第一基板32、一第二基板34、一第一連接端子組36與一第二連接端子組38。第一連接端子組36 (或第二連接端子組 38)的各相鄰第一連接端子(或各相鄰第二連接端子)之間設(shè)置有一測試電阻。其中該測試電阻、第一基板32、一第二基板34、一第一連接端子組36與一第二連接端子組38的配置與功能如第一實施例所述，故在此不再詳述。如圖6所示，由于第二基板34部分嵌合于第一基板32的一表面，故第一基板32與第二基板34的組合的一厚度小于第一基板32的一厚度與第二基板34的一厚度的總和，以使測試卡30的第一基板32與第二基板34可同時插入讀卡器11的相對應(yīng)卡槽。此外，測試卡30還可包含有一握持端部40，其包覆第一基板32與第二基板34的另一端；測試卡30還可包含有一導角結(jié)構(gòu)42,其形成于第一基板32的該端。第二基板34的表面可形成有一定位孔341，且第二基板34的一側(cè)邊可形成有一泄氣槽343。握持端部40、定位孔341、泄氣槽343與導角結(jié)構(gòu)42的結(jié)構(gòu)與功能如第一實施例所述，故在此不再詳 述。第二實施例與第一實施例的差異處在于測試卡30由兩個基板所構(gòu)成，故使用者可利用測試卡30來測試讀卡器11的其中兩個具有不同規(guī)格的卡槽，舉例來說，測試卡30的第一基板32的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于該安全數(shù)字存儲卡的形狀與尺寸，第一連接端子組36的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該安全數(shù)字存儲卡的規(guī)格，第二基板34的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于該數(shù)字圖像卡的形狀與尺寸，且第二連接端子組38的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該數(shù)字圖像卡的規(guī)格，因此本發(fā)明第二實施例的測試卡30可用來同時測試讀卡器11的安全數(shù)字存儲卡卡槽與數(shù)字圖像卡卡槽的讀取功能。請參閱圖7與圖8，圖7與圖8分別為本發(fā)明第三實施例的一測試卡50的外觀示意圖與側(cè)視圖。如圖7與圖8所示，第三實施例的測試卡50包含有一第一基板52、一第二基板54、一第一連接端子組56與一第二連接端子組58，測試卡50的兩基板與兩連接端子組的配置與功能如前述實施例所述，故在此不再詳述。第三實施例與前述實施例的差異處在于測試卡50的第一基板52的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于該存儲條卡的形狀與尺寸，第二基板54的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于該數(shù)字圖像卡的形狀與尺寸，第一連接端子組56的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該存儲條卡的規(guī)格，且第二連接端子組58的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該數(shù)字圖像卡的規(guī)格，因此本發(fā)明第三實施例的測試卡50可用來同時測試讀卡器11的存儲條卡卡槽與數(shù)字圖像卡卡槽的讀取功能。請參閱圖9與圖10，圖9與圖10分別為本發(fā)明第四實施例的一測試卡70的外觀不意圖與側(cè)視圖。如圖9與圖10所不，第四實施例的測試卡70包含有一第一基板72、一第二基板74、一第一連接端子組76與一第二連接端子組78，測試卡70的兩基板與兩連接端子組的配置與功能如前述實施例所述，故在此不再詳述。第四實施例與前述實施例的差異處在于測試卡70的第一基板72的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于該存儲條卡的形狀與尺寸，第二基板74的形狀與尺寸可實質(zhì)上符合于該安全數(shù)字存儲卡的形狀與尺寸，第一連接端子組76的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該存儲條卡的規(guī)格，且第二連接端子組78的規(guī)格可實質(zhì)上符合于該安全數(shù)字存儲卡的規(guī)格。因此本發(fā)明第四實施例的測試卡70可用來同時測試讀卡器11的存儲條卡卡槽與安全數(shù)字存儲卡卡槽的讀取功能。相比于先前技術(shù)，本發(fā)明將多個具有不同規(guī)格與尺寸的測試用存儲卡整合成一個多合一的測試卡。本發(fā)明的測試卡通過特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計，以使得測試卡的多個基板可以同時插入讀卡器的各相對應(yīng)卡槽，且設(shè)置于不同基板上的多種連接端子組可以同時與各卡槽的相對應(yīng)傳輸端子組接觸以電性導通。因此本發(fā)明可在一次測試過程中，例如將測試卡(測試用存儲卡)插入讀卡器，同時對讀卡器的多個具有不同規(guī)格的卡槽進行可靠性或合格率的驗證與測試，故可大幅減少測試過程的時間，進而有效避免人為操作異常與節(jié)省人力成本，藉以提升產(chǎn)能。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡是根據(jù)本發(fā)明權(quán)利要求書的范圍所作的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.ー種用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡，該測試卡包括 一第一基板; 一第二基板，該第二基板部分嵌合于該第一基板的一表面，該第二基板的ー長度實質(zhì)上小于該第一基板的ー長度； 一第一連接端子組，該第一連接端子組設(shè)置于該第一基板的該表面的一端，且不被該第二基板遮蔽，該第一連接端子組用來與一讀卡器的一第一傳輸端子組接觸以電性導通；以及 一第二連接端子組，該第二連接端子組設(shè)置于該第二基板的一端，該第二連接端子組用來在該第一連接端子組與該第一傳輸端子組接觸時與該讀卡器的一第二傳輸端子組接觸以電性導通。
2.如權(quán)利要求I所述的測試卡，其中該第二連接端子組用來在該第一基板插入該讀卡器且止抵于該讀卡器的一止抵部時與該讀卡器的該第二傳輸端子組接觸以電性導通。
3.如權(quán)利要求I所述的測試卡，其中該第一連接端子組的各相鄰第一連接端子之間設(shè)置有一測試電阻。
4.如權(quán)利要求I或3所述的測試卡，其中該第二連接端子組的各相鄰第二連接端子之間設(shè)置有一測試電阻。
5.如權(quán)利要求I或4所述的測試卡，該測試卡還包括 一握持端部，該握持端部包覆該第一基板與該第二基板的另一端，該握持端部用來覆蓋該測試電阻，且在該第一基板與該第二基板插入該讀卡器時外露于該讀卡器。
6.如權(quán)利要求I所述的測試卡，其中該第二基板的表面形成有一定位孔，該定位孔用來輔助該第二基板以部分嵌合方式定位于該第一基板的該表面。
7.如權(quán)利要求I所述的測試卡，其中該第二基板藉由膠黏方式嵌合于該第一基板的該表面。
8.如權(quán)利要求I所述的測試卡，其中該第一基板與該第二基板的組合的一厚度小于該第一基板的一厚度與該第二基板的一厚度的總和。
9.如權(quán)利要求I所述的測試卡，該測試卡還包括 ー導角結(jié)構(gòu)，該導角結(jié)構(gòu)形成于該第一基板的該端，該導角結(jié)構(gòu)用來導引該第一基板插入該讀卡器。
10.如權(quán)利要求I所述的測試卡，其中該第一基板的形狀與尺寸實質(zhì)上符合于ー安全數(shù)字存儲卡的形狀與尺寸，且該第一連接端子組的規(guī)格實質(zhì)上符合于該安全數(shù)字存儲卡的規(guī)格。
11.如權(quán)利要求I或10所述的測試卡，其中該第二基板的形狀與尺寸實質(zhì)上符合于一數(shù)字圖像卡的形狀與尺寸，且該第二連接端子組的規(guī)格實質(zhì)上符合于該數(shù)字圖像卡的規(guī)格。
12.如權(quán)利要求I或11所述的測試卡，該測試卡還包括 一第三基板，該第三基板嵌合有該第二基板的該第一基板部分嵌合于該第三基板的一表面，該第一基板的該長度實質(zhì)上小于該第三基板的ー長度；以及 一第三連接端子組，該第三連接端子組設(shè)置于該第三基板的該表面的一端，且不被該第一基板遮蔽，該第三連接端子組用來與該讀卡器的一第三傳輸端子組接觸以電性導通。
13.如權(quán)利要求12所述的測試卡，其中該第二連接端子組用來在該第三基板插入該讀卡器且止抵于該讀卡器的一止抵部時與該讀卡器的該第二傳輸端子組接觸以電性導通。
14.如權(quán)利要求12所述的測試卡，其中該第三連接端子組的各相鄰第三連接端子之間設(shè)置有一測試電阻。
15.如權(quán)利要求12所述的測試卡，該測試卡還包括 一握持端部，該握持端部包覆該第一基板、該第二基板與該第三基板的另一端，該握持端部在該第一基板、該第二基板與該第三基板插入該讀卡器時外露于該讀卡器。
16.如權(quán)利要求12所述的測試卡，其中該第二基板的表面形成有一定位孔，該定位孔用來輔助該第二基板與該第一基板以部分嵌合方式定位于該第三基板的該表面。
17.如權(quán)利要求12所述的測試卡,其中該第二基板與該第一基板藉由膠黏方式嵌合于該第三基板的該表面。
18.如權(quán)利要求12所述的測試卡，其中該第一基板、該第二基板與該第三基板的組合的一厚度實質(zhì)上小于該第一基板的一厚度、該第二基板的一厚度與該第三基板的一厚度的總和。
19.如權(quán)利要求12所述的測試卡，該測試卡還包括 ー導角結(jié)構(gòu)，該導角結(jié)構(gòu)形成于該第三基板的該端，該導角結(jié)構(gòu)用來導引該第三基板插入該讀卡器。
20.如權(quán)利要求12所述的測試卡，其中該第三基板的形狀與尺寸實質(zhì)上符合于一存儲條卡的形狀與尺寸，且該第三連接端子組的規(guī)格實質(zhì)上符合于該存儲條卡的規(guī)格。
21.如權(quán)利要求I所述的測試卡，其中該第一基板的形狀與尺寸實質(zhì)上符合于一存儲條卡的形狀與尺寸，且該第一連接端子組的規(guī)格實質(zhì)上符合于該存儲條卡的規(guī)格。
22.如權(quán)利要求21所述的測試卡，其中該第二基板的形狀與尺寸實質(zhì)上符合于ー數(shù)字圖像卡的形狀與尺寸，且該第二連接端子組的規(guī)格實質(zhì)上符合于該數(shù)字圖像卡的規(guī)格。
23.如權(quán)利要求21所述的測試卡，其中該第二基板的形狀與尺寸實質(zhì)上符合于ー安全數(shù)字存儲卡的形狀與尺寸，且該第二連接端子組的規(guī)格實質(zhì)上符合于該安全數(shù)字存儲卡的規(guī)格。
24.如權(quán)利要求I或12所述的測試卡，該測試卡還包括 ー絕緣擋片，該絕緣擋片以可卸除方式覆蓋于該第一連接端子組或該第二連接端子組。
全文摘要
一種用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡。該用來測試具有多種存儲卡規(guī)格的讀卡器的測試卡包含有一第一基板、一第二基板、一第一連接端子組與一第二連接端子組；該第二基板部分嵌合于該第一基板的一表面，且該第二基板的一長度實質(zhì)上小于該第一基板的一長度；該第一連接端子組設(shè)置于該第一基板的該表面的一端，且不被該第二基板遮蔽，該第一連接端子組用來與一讀卡器的一第一傳輸端子組接觸以電性導通；該第二連接端子組設(shè)置于該第二基板的一端，該第二連接端子組用來在該第一連接端子組與該第一傳輸端子組接觸時與該讀卡器的一第二傳輸端子組接觸以電性導通。本發(fā)明大幅減少測試時間，有效避免人為操作異常與節(jié)省人力成本來提升產(chǎn)能。
文檔編號G01R31/01GK102692578SQ20111006738
公開日2012年9月26日 申請日期2011年3月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月21日
發(fā)明者廖兵, 柳根金, 王震, 郭建, 高凱, 黃印, 黃磊 申請人:緯創(chuàng)資通(昆山)有限公司, 緯創(chuàng)資通股份有限公司