專利名稱：測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，尤其涉及一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
在執(zhí)行自動化測試時，機(jī)械手臂得到了廣泛的應(yīng)用。目前，控制機(jī)械手臂測試待測物需提前選擇一個標(biāo)準(zhǔn)定位點(diǎn)，以該定位點(diǎn)為基準(zhǔn)位置，尋找測試點(diǎn)，以測試物體。然而，在實(shí)際工作中，由于長時間的操作、長距離的移動機(jī)械手臂，使得機(jī)械手臂累積了許多誤差， 這些誤差常會造成機(jī)械手臂的誤操作，輕則影響生產(chǎn)效率，重則危害操作人員的生命安全。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其無需自行計算線路的長度，可避免許多無法細(xì)算及小數(shù)點(diǎn)進(jìn)位的問題，提升了測試的準(zhǔn)確度，及排除了由于測不準(zhǔn)而破壞探針的問題。還有必要提供一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法，其無需自行計算線路的長度，可避免許多無法細(xì)算及小數(shù)點(diǎn)進(jìn)位的問題，提升了測試的準(zhǔn)確度，及排除了由于測不準(zhǔn)而破壞探針的問題。一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)，包括設(shè)置模塊，用于在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入模塊，用于導(dǎo)入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱、測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個列表中；計算模塊，用于接收用戶于所述列表中選取的線路名稱，載入該線路上的測試點(diǎn)，計算各測試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較模塊，用于比較上述各測試點(diǎn)與距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個最小距離值；優(yōu)化排序模塊，用于以構(gòu)成所述最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對上述各測試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及記錄模塊，用于將所述優(yōu)化排序后的測試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測線路列表中。一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法，包括以下步驟在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測試點(diǎn)的最大距離 ’導(dǎo)入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱、 測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個列表中；接收用戶于所述列表中選取的線路名稱，載入該線路上的測試點(diǎn)，計算各測試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較上述各測試點(diǎn)與距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個最小距離值； 以構(gòu)成該最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對上述各測試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及將優(yōu)化排序后的測試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測線路列表中。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)及方法，其可對測試點(diǎn)進(jìn)行查找與優(yōu)化排序，并按照該優(yōu)化排序控制機(jī)械手臂上的探針自動地查找各測試點(diǎn)，以完成精確測試電路板的目的，避免了機(jī)械手臂由于長時間長距離的移動所造成的誤差，及排除了由于測不準(zhǔn)而破壞探針的問題。


圖I是本發(fā)明測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境示意圖。圖2是圖I中測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法較佳實(shí)施例的作業(yè)流程圖。主要元件符號說明
權(quán)利要求
1.一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括設(shè)置模塊，用于在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入模塊，用于導(dǎo)入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱、測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個列表中；計算模塊，用于接收用戶于所述列表中選取的線路名稱，載入該線路上的測試點(diǎn)，計算各測試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較模塊，用于比較上述各測試點(diǎn)與距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個最小距離值；優(yōu)化排序模塊，用于以構(gòu)成所述最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對上述各測試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及記錄模塊，用于將所述優(yōu)化排序后的測試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測線路列表中。
2.如權(quán)利要求I所述的測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，所述計算模塊還用于計算上述各個測試點(diǎn)之間的距離。
3.如權(quán)利要求2所述的測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括控制模塊，用于控制機(jī)械手臂測試上述待測線路列表中第一個測試點(diǎn)上的待測物體，根據(jù)第一個測試點(diǎn)的位置、所述優(yōu)化排序及上述計算出的測試點(diǎn)間的距離確定下一個測試點(diǎn)的相對位置，并測試該下一個測試點(diǎn)上的待測物體，直至測試完所述待測線路列表中各測試點(diǎn)上的待測物體。
4.如權(quán)利要求I所述的測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，所述優(yōu)化排序模塊是依據(jù)各測試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離由小到大或由大到小的順序?qū)ι鲜龈鳒y試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序。
5.如權(quán)利要求I所述的測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，所述記錄模塊還用于當(dāng)上述各測試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離超過所設(shè)置的最大距離時，發(fā)出超范圍警報，并將該測試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入所述基準(zhǔn)點(diǎn)的超出范圍列表中。
6.一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法，其特征在于，該方法包括如下步驟在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱、測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個列表中；接收用戶于所述列表中選取的線路名稱，載入該線路上的測試點(diǎn)，計算各測試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較上述各測試點(diǎn)與距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個最小距離值； 以構(gòu)成該最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對上述各測試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及將優(yōu)化排序后的測試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測線路列表中。
7.如權(quán)利要求6所述的測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法，其特征在于，該方法還包括當(dāng)上述各測試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離超過所設(shè)置的最大距離時，發(fā)出超范圍警報；及將該測試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的超出范圍列表中。
8.如權(quán)利要求6所述的測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法，其特征在于，所述優(yōu)化排序是指依據(jù)各測試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離由小到大或由大到小的順序?qū)ι鲜龈鳒y試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序。
9.如權(quán)利要求6或8所述的測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法,其特征在于,該方法還包括:(a)計算上述各個測試點(diǎn)之間的距離；(b)控制機(jī)械手臂測試所述待測線路列表中第一個測試點(diǎn)上的待測物體'及(c)根據(jù)第一個測試點(diǎn)的位置、所述優(yōu)化排序及上述計算出的測試點(diǎn)間的距離確定下一個測試點(diǎn)的相對位置，并測試該下一個測試點(diǎn)上的待測物體，直到測試完上述待測線路列表中各測試點(diǎn)上的待測物體。
全文摘要
一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化方法，包括以下步驟在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入電路板的各線路名稱、各線路上的測試點(diǎn)及各測試點(diǎn)的坐標(biāo)值；接收用戶選取的線路名稱，載入該線路上的測試點(diǎn)，計算各測試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較各測試點(diǎn)與其最近的定位點(diǎn)間的距離，找出一個最小距離值；以構(gòu)成該最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對各測試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序并存儲該優(yōu)化排序后的測試點(diǎn)。本發(fā)明還提供一種測試點(diǎn)自動查找與優(yōu)化系統(tǒng)。利用本發(fā)明可提高測試精度。
文檔編號G01B21/04GK102607491SQ201110022769
公開日2012年7月25日 申請日期2011年1月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月20日
發(fā)明者李昇軍, 梁獻(xiàn)全, 許壽國 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司