專利名稱：用于內(nèi)連線的故障測(cè)試的制作方法
用于內(nèi)連線的故障測(cè)試發(fā)明所屬的技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明的實(shí)施例大體上關(guān)于電子領(lǐng)域，特別是關(guān)于用于內(nèi)連線的故障測(cè)試的方法
與裝置。先前技術(shù)用于通訊的電子元件的輸入/輸出(input/output，10)連結(jié)可以各種不同形式實(shí)行，包含以并聯(lián)及串聯(lián)連結(jié)方式的實(shí)行。由于差分高速輸入輸出(High-Speed 10，HSI0) 串聯(lián)連結(jié)技術(shù)具有成本優(yōu)勢(shì)，因此對(duì)于將串列HSIO用來(lái)替代傳統(tǒng)的平行IO極具吸引力。常見(jiàn)的平行IO的缺點(diǎn)包含有高針腳數(shù)、繞線資源及平行資料位元的偏斜。一 HSIO串聯(lián)連結(jié)提供高頻寬的通訊頻道可達(dá)到、甚至超越平行IO的資料傳輸率。 一平行資料可于被傳送的前先串行化，并由接收器再將所接收到的此串行化的資料藉由反串行化來(lái)轉(zhuǎn)換回平行資料。HSIO串聯(lián)連結(jié)可藉由消除追蹤匹配及線路擁塞等方法來(lái)減少針腳數(shù)并簡(jiǎn)化布局問(wèn)題。由于資料依序地傳送，也就不需要去維持介于個(gè)別的資料位元間的相位關(guān)系。一串連連結(jié)可提供于差分訊號(hào)。差分訊號(hào)可被用以抵抗一些常見(jiàn)的雜訊。此差分內(nèi)連線可有效地移除于傳輸時(shí)所增加的雜訊。在使用上，HSIO內(nèi)連線可傳送時(shí)序訊號(hào)及所欲傳輸?shù)馁Y料，包含可將此時(shí)序訊號(hào)實(shí)施于所欲傳輸?shù)馁Y料中、或是分別提供時(shí)序訊號(hào)及所欲傳輸?shù)馁Y料。HSIO串聯(lián)連結(jié)通常應(yīng)用于一差分訊號(hào)設(shè)計(jì)。差分訊號(hào)使用一對(duì)導(dǎo)線其中一導(dǎo)線傳送一訊號(hào)(以vp(t)來(lái)表示)，而另一導(dǎo)線傳送此訊號(hào)的逆訊號(hào)(vn(t))。所述用以傳送\(0及￥ (0的導(dǎo)線則分別表示正內(nèi)連線及負(fù)內(nèi)連線。接收器可基于此互補(bǔ)之內(nèi)連線導(dǎo)線中傳輸?shù)挠嵦?hào)間的差異來(lái)修復(fù)資料。所述訊號(hào)間的差異可表示為Vdiff (t)，并定義為 Vdiff(t) = vp(t)-vn(t)。如此，于傳輸中同時(shí)增加于Vp(t) ^P Vn(t)的雜訊就可以被減掉， 并從Vdiff(t)中移除。Vdiff(t)的標(biāo)示可被解釋為一預(yù)期的邏輯值，理論上，Vdiff (t)為正值或負(fù)值分別可被解釋為邏輯中的「1」或「0」。舉例而言，如果乂^丨)=250毫伏特(mV)= -250mV, 所以Vdiff(t) = 500!1^>0，就可以被解釋為邏輯中的「1」。同樣地，如果Vp(t) = -250mV 及Vn(t) = 250mV, Vdiff (t) = -500mV < 0，就可以被解釋為邏輯中的「0」。實(shí)際上，用以表示邏輯式「1」及「0」的Vdiff(t)的最小值可分別小于Vp(t)及H這因此可允許串聯(lián)連結(jié)具功能性，且即使其中一差分IO連結(jié)存在缺陷仍舊不需被判為錯(cuò)誤。然而，這可能會(huì)產(chǎn)生一潛在的測(cè)試問(wèn)題，即為于一測(cè)試過(guò)程中所出現(xiàn)的缺陷雖被掩蓋住了，可是卻仍會(huì)于系統(tǒng)運(yùn)作中造成錯(cuò)誤。因此，于一 HSIO內(nèi)連線測(cè)試中對(duì)這些缺陷的偵測(cè)及適當(dāng)?shù)卦\斷為一項(xiàng)挑戰(zhàn)。圖式簡(jiǎn)單說(shuō)明第一 A B圖為應(yīng)用于分析高速IO連結(jié)的故障測(cè)試的丨實(shí)施例的示意圖。第二 A圖為用于丨AC耦合高速IO內(nèi)連線的分析故障測(cè)試的丨實(shí)施例的示意圖。第二 B圖為用于丨DC耦合高速IO內(nèi)連線的分析故障測(cè)試的丨實(shí)施例的示意圖。
第三圖為用于偵測(cè)一故障分析系統(tǒng)的實(shí)施例中常見(jiàn)錯(cuò)誤模式的示意圖。第四圖為一 IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序的示意圖。第五圖為一內(nèi)連線故障分析器的丨實(shí)施例的示意圖。第六圖為偵測(cè)固定型內(nèi)連線故障及開(kāi)路內(nèi)連線故障的丨實(shí)施例的示意圖。第七圖為橋接故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第八圖為用于包含一傳輸器的丨系統(tǒng)與一傳統(tǒng)接收器通訊的開(kāi)路故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第九圖為用于包含一接收器的丨系統(tǒng)與一傳統(tǒng)傳輸器通訊的開(kāi)路故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第十圖為短路開(kāi)關(guān)及固定型偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第十一圖為橋接偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第十二圖為用于串音偵測(cè)的丨系統(tǒng)的丨實(shí)施例的示意圖。第十三圖是顯示開(kāi)路故障偵測(cè)的丨實(shí)施例。第十四圖為橋接故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第十五圖為互補(bǔ)橋接故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第十六圖為用于具有相同極性導(dǎo)線的橋接故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第十七圖為用于用于具有相同極性導(dǎo)線的橋接故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。第十八圖顯示用以偵測(cè)橋接故障的測(cè)試結(jié)構(gòu)。第十九圖為解說(shuō)內(nèi)連線故障測(cè)試的丨實(shí)施例的流程圖。第二十圖為包含一實(shí)施例的故障測(cè)試的丨裝置的丨實(shí)施例的示意圖。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的實(shí)施例大體上針對(duì)內(nèi)連線的故障測(cè)試。于本發(fā)明的第一觀點(diǎn)中，一故障分析裝置的丨實(shí)施例包含一測(cè)試樣式源用以提供一測(cè)試樣式于一傳輸器與一接收器間的內(nèi)連線，所述內(nèi)連線具有一傳輸器端及一接收器端，此內(nèi)連線包含一第一導(dǎo)線及一第二導(dǎo)線，且此傳輸器于所述第一導(dǎo)線中傳送此測(cè)試樣式至所述接收器。所述裝置更包含一第一開(kāi)關(guān)，用以開(kāi)啟和關(guān)閉于第一導(dǎo)線的第一連結(jié)；以及一第二開(kāi)關(guān)，用以開(kāi)啟和關(guān)閉于第二導(dǎo)線的第二連結(jié)。所述第一開(kāi)關(guān)及第二開(kāi)關(guān)被對(duì)應(yīng)設(shè)置于一架構(gòu)中以偵測(cè)于此內(nèi)連線中一或多個(gè)故障。于本發(fā)明的第二觀點(diǎn)中，一方法包含供應(yīng)一第一測(cè)試樣式于一內(nèi)連線的丨第一導(dǎo)線，其中此內(nèi)連線包含所述的第一導(dǎo)線及一第二導(dǎo)線。一第一控制訊號(hào)被傳送至一第一開(kāi)關(guān)，所述第一開(kāi)關(guān)基于此第一控制訊號(hào)用以開(kāi)啟或關(guān)閉于第一導(dǎo)線的一第一連結(jié)。一第二控制訊號(hào)被傳送至一第二開(kāi)關(guān)，所述第二開(kāi)關(guān)基于此第二控制訊號(hào)用以開(kāi)啟或關(guān)閉于第二導(dǎo)線的一第二連結(jié)。此內(nèi)連線被調(diào)整以接收訊號(hào)，并對(duì)于一故障是否存在于此被調(diào)整以接收訊號(hào)的內(nèi)連線中作一判定。實(shí)施方式本發(fā)明的實(shí)施例大體上針對(duì)輸入輸出anput/Output，I/O)內(nèi)連線的一測(cè)試結(jié)構(gòu)。于本文中
「內(nèi)連線」指介于用以傳送輸入訊號(hào)或輸出訊號(hào)的裝置間的任何訊號(hào)內(nèi)連線?！父咚買/O內(nèi)連線」或「HSI0內(nèi)連線」指任何可以相對(duì)高速來(lái)運(yùn)作的I/O內(nèi)連線。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試結(jié)構(gòu)被提供以測(cè)試裝置間的差分內(nèi)連線。舉例而言，所述測(cè)試結(jié)構(gòu)可被用以偵測(cè)并定位出介于一傳輸器與一接收器間的丨內(nèi)連線的故障所在。在本文中所提及的一測(cè)試結(jié)構(gòu)以測(cè)試內(nèi)連線可為一內(nèi)連線故障分析器。于一些實(shí)施例中，一高速輸入輸出(High-Speed Input-Output, HSI0)內(nèi)連線的測(cè)試結(jié)構(gòu)被提供以測(cè)試系統(tǒng)電路板上所設(shè)置的通訊裝置間以交流(AC)和直流(DC)耦合的差分內(nèi)連線。于一些實(shí)施例中， 一測(cè)試結(jié)構(gòu)可用以偵測(cè)并定位一或多個(gè)故障，其中所述故障可包含固定型故障、開(kāi)路故障及橋接故障。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試結(jié)構(gòu)可用以分析耦合雜訊或串音對(duì)訊號(hào)完整性所造成的影響。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試結(jié)構(gòu)可把一目標(biāo)內(nèi)連線測(cè)試整合至一傳統(tǒng)的功能測(cè)試中。此測(cè)試結(jié)構(gòu)可于一些實(shí)施例中使用現(xiàn)存的晶片功能及測(cè)試硬體，例如一訊號(hào)偵測(cè)器及一內(nèi)建自我檢測(cè)(Built-in Self-Test,BIST)電路系統(tǒng)，可被用于HSIO電路系統(tǒng)做功能測(cè)試。比照于高速介面測(cè)試的IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149. 6 (IEEE STD 1149. 6，2003年三月的標(biāo)準(zhǔn))的規(guī)定，一實(shí)施例可于一功能速率下運(yùn)行HSIO內(nèi)連線測(cè)試且無(wú)需提供額外的類比電路去觀看測(cè)試回應(yīng)的丨較簡(jiǎn)化的實(shí)施，即為無(wú)需IEEE標(biāo)準(zhǔn)的丨致性確認(rèn)，只要符合標(biāo)準(zhǔn)1149. 6即可。于一些實(shí)施例中，一 HSIO差分內(nèi)連線的測(cè)試結(jié)構(gòu)可用以簡(jiǎn)化所述的HSIO內(nèi)連線測(cè)試。于一測(cè)試結(jié)構(gòu)的丨實(shí)施例中，一目標(biāo)內(nèi)連線測(cè)試可用與一功能測(cè)試的相同方式來(lái)實(shí)行。于一些實(shí)施例中，此測(cè)試結(jié)構(gòu)可用以偵測(cè)并定位開(kāi)路故障、固定型故障及橋接故障，并可延伸偵測(cè)并定位路由頻道設(shè)置所導(dǎo)致的串音。所述測(cè)試亦可被用以定位所選擇的測(cè)試結(jié)果的復(fù)數(shù)故障并將的重新布局。于一些實(shí)施例中，此測(cè)試結(jié)構(gòu)上方的硬體可很小，這是因?yàn)榭捎矛F(xiàn)存的功能及BIST硬體來(lái)測(cè)試。再者，所述測(cè)試結(jié)構(gòu)可用以改良電路板產(chǎn)品的品質(zhì)、 并可于減少工程工作量的狀況下，加速產(chǎn)品的量產(chǎn)。第一 A圖及第一 B圖顯示用于分析高速IO連結(jié)的故障測(cè)試的實(shí)施例。如果所述 HSIO內(nèi)連線連接此裝置設(shè)置于相同的電路板上，如第一A圖所示，第一晶片120及第二晶片 125設(shè)置于系統(tǒng)電路板105上，此內(nèi)連線可使用一測(cè)試結(jié)構(gòu)的丨實(shí)施例的一簡(jiǎn)單實(shí)行所測(cè)試。然而，如果兩個(gè)裝置設(shè)置于不同電路板上并透過(guò)一電纜線所連結(jié)，如第一 B圖所示，第一晶片170設(shè)置于第一系統(tǒng)電路板150上，而第二晶片175設(shè)置于第二系統(tǒng)電路板155上， 并藉由電纜線180所連結(jié)，則更多種類測(cè)試可被直接應(yīng)用于此電纜線或晶片的插座。所述電纜線可被移除，而電路板的介面可包含通過(guò)插座的高內(nèi)連線導(dǎo)線，可藉由額外的測(cè)試設(shè)備直接對(duì)準(zhǔn)。于任何情況下，一測(cè)試結(jié)構(gòu)的一實(shí)施例及其所對(duì)應(yīng)的方法可幫助故障的測(cè)試及診斷。測(cè)試系統(tǒng)及過(guò)程的實(shí)施例包含分別描繪于第一A圖及第一B圖中所示的實(shí)行。描述于此的實(shí)施例大體上以第一 A圖所示的實(shí)行來(lái)說(shuō)明，但并不應(yīng)以此實(shí)行作為限制。于一些實(shí)施例中，差分內(nèi)連線用于HSIO技術(shù)的實(shí)行可包含AC耦合內(nèi)連線及DC耦合內(nèi)連線。第二 A圖為用于丨AC耦合高速IO內(nèi)連線205的分析故障測(cè)試的丨實(shí)施例的示意圖。第二B圖為用于丨DC耦合高速IO內(nèi)連線260的分析故障測(cè)試的丨實(shí)施例的示意圖。 請(qǐng)參閱第二A圖，此系統(tǒng)可包含一功能測(cè)試樣式產(chǎn)生器(Test Pattern Generator, TPG) 230 用以提供測(cè)試波形訊號(hào)(或測(cè)試樣式)至一傳輸器(TX) M5，且此訊號(hào)被一接收器(RX) 250所接收，并提供一錯(cuò)誤檢查器(Error Checker，EC) 2；35及一訊號(hào)偵測(cè)器(Signal Detector, SD) 240。所述AC耦合內(nèi)連線205可包含電容225用以阻擋一訊號(hào)的DC分量，以達(dá)到僅有 AC訊號(hào)分量可通過(guò)。所述AC耦合連結(jié)可藉由設(shè)置于傳輸器TX的獨(dú)立電源(AVCCtl 210)及接收器RX的獨(dú)立電源(AVCC1 215)以及個(gè)別的終端電阻R[t，l]、R[t，0]、R[r，l]及R[r， 0]所驅(qū)動(dòng)，如第二 A圖所示。于所述DC耦合內(nèi)連線中，即表示一直接連結(jié)可由傳輸器沈5 至接收器270來(lái)制造，其允許一訊號(hào)中的DC分量和AC分量皆可通過(guò)此內(nèi)連線。于此DC耦合的內(nèi)連線中，傳輸器可從接收器直接驅(qū)動(dòng)，也就不須設(shè)置電容于傳輸器和接收器之間的連結(jié)中。終端電阻R[r，l]和R[r，0]通?？杀粚?shí)行于接收器中，如第二 B圖所示?！銇?lái)說(shuō)，AC耦合優(yōu)于DC耦合之處即在于傳輸器與接收器間的去耦合。對(duì)照DC 耦合的實(shí)行，用于AC耦合結(jié)構(gòu)的傳輸器和接收器可被設(shè)計(jì)成彼此之間更加獨(dú)立。因?yàn)橥ǔＶ挥蠥C訊號(hào)分量負(fù)載著重要的信息，如此的分量可藉由于傳輸器及接收器中的不同獨(dú)立 DC電壓所抵消以允許獨(dú)立的電源供應(yīng)器被應(yīng)用于每一側(cè)。因此，只要AC訊號(hào)用一慣性的解釋是可能的，AC耦合的內(nèi)連線可被設(shè)計(jì)使傳輸器與這些接收器之間彼此獨(dú)立。然而，AC耦合的內(nèi)連線的故障偵測(cè)可能比DC耦合的內(nèi)連線更加困難。于DC耦合實(shí)行的案例中，可基于如電流和(或)電壓等電計(jì)量的測(cè)量的測(cè)試方法用以于DC耦合的內(nèi)連線中偵測(cè)故障。以第二 B圖作為范例來(lái)說(shuō)明，如果電源電壓(AVCC) 275藉由接收器270 來(lái)供應(yīng)，于傳輸器中此AVCC電壓的偵測(cè)可被用以偵測(cè)開(kāi)路內(nèi)連線故障。然而，同樣的方法并無(wú)法應(yīng)用于AC耦合的內(nèi)連線測(cè)試，這是因?yàn)闆](méi)有DC訊號(hào)分量可以通過(guò)電容。AC耦合的內(nèi)連線測(cè)試需要由AC訊號(hào)構(gòu)成的測(cè)試樣式，所以，如此的測(cè)試會(huì)變得相對(duì)地復(fù)雜。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試方法可被同時(shí)應(yīng)用于AC耦合的內(nèi)連線與DC耦合的內(nèi)連線中。在這里的討論中，所提出的方法大體上討論用于較復(fù)雜的AC耦合的內(nèi)連線。第三圖為用于偵測(cè)一故障分析系統(tǒng)的實(shí)施例中常見(jiàn)錯(cuò)誤模式的示意圖。因?yàn)閮?nèi)連線線路可以非常精細(xì)且于多層間彼此設(shè)置地相當(dāng)靠近，因此，此內(nèi)連線導(dǎo)線于一些情況下可能會(huì)發(fā)生開(kāi)路310、固定于電源總線320、或與其他內(nèi)連線導(dǎo)線間的短路330(涉及如橋接)等故障。關(guān)于固定型案例320，「固定X型」指一固定于電壓的狀況(意指X= 1)以及固定型指一固定于接地的狀況(意指X = 0)。第三圖顯示測(cè)試HSIO串聯(lián)內(nèi)連線的一難題。即使于一連結(jié)中兩個(gè)內(nèi)連線之一具有由開(kāi)路310、固定型320或橋接330狀況所造成的故障，一測(cè)試樣式或測(cè)試波形可成功地于接收器將的修復(fù)。因此這些故障則可不被偵測(cè)到。 于AC耦合內(nèi)連線中，固定型故障320可被辨識(shí)為一開(kāi)路狀況。于一些實(shí)施例中，固定型測(cè)試及診斷可將這些開(kāi)路測(cè)試分離出來(lái)，用以增加診斷解析度。橋接故障330可產(chǎn)生于任何數(shù)目的內(nèi)連線導(dǎo)線中。于一些實(shí)施例中，一偵測(cè)系統(tǒng)提供于多種橋接故障的偵測(cè)與診斷。為了減低高速差分IO內(nèi)連線的測(cè)試問(wèn)題，IEEE標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)提出標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果，可參考如IEEE STD 1149. 6。然而，所述IEEE STD 1149. 6可能需要重大工程資源及額外的測(cè)試硬體以實(shí)行此HSIO內(nèi)連線的測(cè)試。所述IEEE標(biāo)準(zhǔn)亦要求所提供的測(cè)試硬體為經(jīng)過(guò)驗(yàn)證以順應(yīng)此標(biāo)準(zhǔn)。因?yàn)镠SIO內(nèi)連線測(cè)試于IEEE1149. 6環(huán)境中通?？捎幂^低于一功能速率之一速率來(lái)運(yùn)轉(zhuǎn)，因此串音或其他關(guān)于頻率等參數(shù)缺陷的實(shí)際測(cè)試問(wèn)題，可能就無(wú)法于如此的環(huán)境下有效地被確認(rèn)。第四圖為一 IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序的示意圖。于此示意圖中，一傳輸器TX450耦接一接收器RX 455。IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序使用一獨(dú)立的AC測(cè)試訊號(hào)產(chǎn)生器405與二 AC測(cè)試接收器410，415用以觀察每一差分IO中的故障。于一些實(shí)施例中，AC測(cè)試訊號(hào)產(chǎn)生器405可用低于功能路徑420的一速率于此系統(tǒng)中運(yùn)作。AC測(cè)試接收器410，415可被要求以偵測(cè)于 Vp和Vn的小AC訊號(hào)(例如峰間值為250mV)。此AC測(cè)試接收器410，415通常為邏輯電路，且如此電路可于使用之前先進(jìn)行測(cè)試。如果此測(cè)試欲以一功能速率來(lái)運(yùn)轉(zhuǎn)，可挑戰(zhàn)高速 AC測(cè)試接收器的設(shè)計(jì)和測(cè)試，其中功能速率通常為幾個(gè)GHz (IO9Hz)。依據(jù)所述IEEE標(biāo)準(zhǔn)， AC邊界掃描設(shè)計(jì)也必須被以邊界掃描描述語(yǔ)言(Boundary Scan Description Language, BSDL)425來(lái)描述，且此設(shè)計(jì)描述也必須于其被提供于板層次系統(tǒng)產(chǎn)品以產(chǎn)生此內(nèi)連線測(cè)試之前被驗(yàn)證。IEEE標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)證可藉由此驗(yàn)證軟體的開(kāi)發(fā)或購(gòu)買。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試系統(tǒng)或程序被提供于HSIO內(nèi)連線測(cè)試，且無(wú)需增加重要硬體及驗(yàn)證軟體的經(jīng)費(fèi)。于一些實(shí)施例中，故障偵測(cè)可藉由如一功能測(cè)試的相同方式利用內(nèi)建自我測(cè)試(Built-in Self-Test, BIST)電路測(cè)試接線整體性來(lái)實(shí)現(xiàn)。于一些實(shí)施例中，故障檢測(cè)測(cè)試可涵蓋于差分AC訊號(hào)(Vp&Vn)的形式中，測(cè)試樣式的傳輸或測(cè)試樣式波形。于如此程序中，在資料修復(fù)之后，錯(cuò)誤則可被利用于接收器中現(xiàn)有的BIST電路所偵測(cè)出來(lái)。于此描述中，測(cè)試樣式假設(shè)為一系統(tǒng)，可為包含轉(zhuǎn)變的一最大數(shù)量的樣式 ‘1010... 10，及‘0101...01，。然而，亦可使用任何可用的測(cè)試樣式來(lái)實(shí)行。多數(shù)故障的診斷可由個(gè)別的內(nèi)連線導(dǎo)線的測(cè)試所收集的測(cè)試結(jié)果獲得。于一些實(shí)施例中，測(cè)試結(jié)果可被以此方式所收集，且故障的拓墣則可從這些所收集的測(cè)試結(jié)果來(lái)重建。測(cè)試結(jié)構(gòu)于多種實(shí)施例中可被以很多不同形式來(lái)實(shí)行。用于晶片上實(shí)施，此測(cè)試結(jié)構(gòu)的功能可被在電路中任何位置上實(shí)施，并依據(jù)測(cè)試以開(kāi)啟或關(guān)閉所述的內(nèi)連線導(dǎo)線。 于一些實(shí)施例中，此結(jié)構(gòu)亦可被以一開(kāi)關(guān)用以開(kāi)啟及關(guān)閉一內(nèi)連線導(dǎo)線每一側(cè)的電源來(lái)實(shí)施。開(kāi)關(guān)功能可被以多種方式來(lái)實(shí)施。因?yàn)橐幌到y(tǒng)功能用以開(kāi)啟及關(guān)閉終端電阻通常是可行的，相同的系統(tǒng)功能可被再次用以實(shí)行一所提供的測(cè)試結(jié)構(gòu)達(dá)到故障測(cè)試的目的。于此范例中，此測(cè)試結(jié)構(gòu)可由一開(kāi)關(guān)用以開(kāi)啟或關(guān)閉于一訊號(hào)源與一匯點(diǎn)間的內(nèi)連線導(dǎo)線的電源來(lái)觀測(cè)或?qū)嵤５谖鍒D為一內(nèi)連線故障分析器的丨實(shí)施例的示意圖。第五圖提供HSIO內(nèi)連線的測(cè)試結(jié)構(gòu)的一功能視圖，且所述測(cè)試結(jié)構(gòu)的功能可實(shí)施于電路中的任何位置。此測(cè)試結(jié)構(gòu)的基本概念用以提供一可撓性測(cè)試控制結(jié)構(gòu)以配置可能被運(yùn)行于此的測(cè)試所偵測(cè)故障的重要路徑。于此描述中，重要的訊號(hào)路徑被稱為一測(cè)試路徑。測(cè)試結(jié)構(gòu)提供一控制機(jī)制來(lái)建立測(cè)試路徑以偵測(cè)于IO內(nèi)連線中的故障。因?yàn)镠SIO內(nèi)連線的主要功能為建立一點(diǎn)對(duì)點(diǎn)連結(jié)，此描述大致上假設(shè)有復(fù)數(shù)(N) 個(gè)傳輸器與相同數(shù)量(N)的接收器。每一實(shí)例的傳輸器可表示為TX[t]505以及每一實(shí)例的接收器可表示為RX[r]510。于此描述中，如果TX[t]和RX[r]由一頻道接線所連接，則t = r，可表示為link[r]且0彡r彡N_l。當(dāng)?shù)谖鍒D所顯示的測(cè)試波形藉由傳輸器505所提供， 于其他實(shí)施例中一測(cè)試結(jié)構(gòu)可利用一測(cè)試器(例如包含自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment, ATE))作為此傳輸器505來(lái)實(shí)施，其中此測(cè)試器提供測(cè)試波形于接收器510的正內(nèi)連線埠及負(fù)內(nèi)連線埠中。如第五圖所示，此測(cè)試結(jié)構(gòu)可被視為開(kāi)關(guān)功能。第五圖顯示具有四個(gè)簡(jiǎn)單開(kāi)關(guān)、或開(kāi)關(guān)功能(530，535，540，545)的一實(shí)施例。于一些實(shí)施例中，每一開(kāi)關(guān)或開(kāi)關(guān)功能可獨(dú)立控制，且可用以建立各種測(cè)試路徑。所述開(kāi)關(guān)、或開(kāi)關(guān)功能可被于此結(jié)構(gòu)中的各個(gè)位置并以各種方式來(lái)實(shí)行。舉例而言，于一些實(shí)施例中，此開(kāi)關(guān)可透過(guò)圖中所示的終端電阻R[t，0]， R[t，l]，R[r,0]及R[r，l]以開(kāi)啟或關(guān)閉電源(AVCC0或AVCC1)實(shí)行。如第五圖中所示，每一開(kāi)關(guān)、或開(kāi)關(guān)功能(或在此簡(jiǎn)化稱為「開(kāi)關(guān)」)藉由傳輸器TX[r]中控制輸入txc[t，i]， 其中0<i，j<l?？刂苹蜷_(kāi)關(guān)的個(gè)體指標(biāo)[*，0]及[*，1]，可被結(jié)合為[*，1:0]。使用提供于此的專門術(shù)語(yǔ)，如果txc[t，i] (rxc[r, j]) = 1或0，于此測(cè)試結(jié)構(gòu)中的開(kāi)關(guān)tsw[t，i] (rsw[r,j])則分別被開(kāi)啟或關(guān)閉。在此使用此專門術(shù)語(yǔ)，任何訊號(hào)診斷可用于此專門術(shù)語(yǔ)描述所述的控制訊號(hào)。傳輸器驅(qū)動(dòng)器接收自一測(cè)試樣式產(chǎn)生器(TPG) 515輸出的一輸入。如果開(kāi)關(guān)tsw[t，i]被開(kāi)啟，這可使傳輸器驅(qū)動(dòng)器所對(duì)應(yīng)此測(cè)試樣式的輸出透過(guò)所使用的內(nèi)連線來(lái)傳輸。輸出器驅(qū)動(dòng)器所使用的輸出被稱為一測(cè)試樣式源。于圖示的系統(tǒng)中，每一 TX 包含二測(cè)試樣式源，如此訊號(hào)源為一正測(cè)試樣式源及一負(fù)(或反的或差分的)測(cè)試樣式源。 雖然在此描述中提及二測(cè)試樣式源，不過(guò)正樣式和負(fù)樣式亦可藉由單一訊號(hào)源或裝置來(lái)產(chǎn)生。藉由差分訊號(hào)，正測(cè)試樣式源可攜帶一組所產(chǎn)生的測(cè)試樣式，即使此負(fù)測(cè)試樣式源攜帶此組所產(chǎn)生的測(cè)試樣式的一位元補(bǔ)數(shù)。于此說(shuō)明中，TX[t]的正測(cè)試樣式源和負(fù)測(cè)試樣式源可分別由開(kāi)關(guān)控制輸入tsw[t，0]及tsw[t，l]達(dá)到。同樣地，開(kāi)關(guān)rsw[r，j]能夠(或連接)對(duì)應(yīng)于正測(cè)試樣式匯點(diǎn)或負(fù)測(cè)試樣式匯點(diǎn)，于此匯點(diǎn)上錯(cuò)誤可被檢查、或一訊號(hào)的出現(xiàn)可被偵測(cè)。舉例而言，接收器RX[r]包含一錯(cuò)誤檢查器(Error Checker, EC) 520及一訊號(hào)偵測(cè)器(Signal Detector，SD) 525。于此圖示中，因?yàn)?TX[t]505 與 RX[r]510 從 link[r] 被連接，所以t = r。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試路徑可藉由提供控制輸入txc[t，l:0]及rxc[r，l:0]至所對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)被建立。舉例而言，如果一測(cè)試路徑被建立用以偵測(cè)一接線的正內(nèi)連線導(dǎo)線中開(kāi)路故障，控制輸入txc[t，l:0] =01及rXC[r，l:0] =01可被提供以關(guān)閉此開(kāi)關(guān)tsw[t， 0]及 rsw[r，0]，并開(kāi)啟開(kāi)關(guān) tsw[t，l]及 rsw[r，l]?？刂戚斎?txc[t，1 0]及 rxc[r，l:0] 可表示為這些開(kāi)關(guān)為關(guān)閉的。例如，控制輸入tXC[t，l:0rrXC[r，l:0] = ‘0101，，‘1101， 及 ‘0100，可藉由(tsw[t,0], rsw[r,0], tsw[t, *]，rsw[r，0])及(tsw[t, 0], rsw[r,丄]) 來(lái)表示，其中~代表串聯(lián)且符號(hào)*及丄分別代表所有開(kāi)關(guān)和沒(méi)有開(kāi)關(guān)。因此，tsw[t, *]及 rsw[r，丄]分別代表于所有開(kāi)關(guān)在TX[t]中都被關(guān)閉，且沒(méi)有開(kāi)關(guān)在RX[r]中被關(guān)閉。值得注意的是，因?yàn)闇y(cè)試路徑可藉由控制輸入txc[t，l:0]及rXC[r，l:0]所建立，測(cè)試路徑可藉由于路徑中開(kāi)啟開(kāi)關(guān)來(lái)表示。于此描述中，用于每一內(nèi)連線測(cè)試運(yùn)行的所有接線的開(kāi)關(guān)控制可表示為「測(cè)試配置」。此測(cè)試配置包含于測(cè)試中建立于所有接線的測(cè)試路徑。測(cè)試配置的一些數(shù)量可被要求以完成一所需的內(nèi)連線測(cè)試。舉例而言，測(cè)試配置‘1010’及‘0101’可被要求完成開(kāi)路故障的偵測(cè)。一種開(kāi)路測(cè)試的實(shí)施例將描述于下文中。于一些實(shí)施例中，測(cè)試結(jié)構(gòu)可根據(jù)特定的應(yīng)用中而實(shí)施于晶片上或晶片外(指此測(cè)試結(jié)構(gòu)包含或不包含于一晶片于測(cè)試的標(biāo)的物中)。如果此測(cè)試結(jié)構(gòu)被提供于晶片上， txc[t，l:0]及rxc[r，l:0]可透過(guò)如眾所皆知的10(例如IEEE 1149. 1邊緣掃描標(biāo)準(zhǔn)介面) 連續(xù)地注冊(cè)與登入。為了使裝置可部分地安裝一測(cè)試結(jié)構(gòu)的實(shí)施例或完全沒(méi)有此測(cè)試結(jié)構(gòu)的實(shí)施例，測(cè)試結(jié)構(gòu)可使用外加硬體來(lái)實(shí)行。舉例而言，如果一電路板被用于測(cè)試裝置(被稱為DUT或待測(cè)元件、電路板)中或元件特性中，測(cè)試結(jié)構(gòu)可使用外加硬體來(lái)實(shí)行。
于一些實(shí)施例中，如繪制于第五圖中的一測(cè)試結(jié)構(gòu)可使用現(xiàn)有的訊號(hào)偵測(cè)器及 (或)內(nèi)建自我檢測(cè)(BIST)硬體用以確認(rèn)實(shí)體層(Physical Layer, PHY)硬體的完整性。 整體而言，訊號(hào)偵測(cè)器為系統(tǒng)功能的一部分，用以偵測(cè)于此差分接線中所出現(xiàn)的訊號(hào)。此 BIST硬體可包含一測(cè)試樣式產(chǎn)生器及一錯(cuò)誤檢查器。于一些實(shí)施例中，所欲得到的測(cè)試樣式可被產(chǎn)生并透過(guò)傳輸器PHY硬體以功能速率傳送此差分內(nèi)連線。所傳輸?shù)挠嵦?hào)可于接收器中被修復(fù)并檢查錯(cuò)誤。如果一錯(cuò)誤被偵測(cè)到，一或多個(gè)錯(cuò)誤檢測(cè)器標(biāo)記指示出所偵測(cè)出錯(cuò)誤的存在。同時(shí)，訊號(hào)檢測(cè)器可以檢查AC訊號(hào)的存在并指示相對(duì)應(yīng)的檢測(cè)結(jié)果。第六圖為偵測(cè)固定型內(nèi)連線故障及開(kāi)路內(nèi)連線故障的丨實(shí)施例的示意圖。于一些實(shí)施例中，開(kāi)路故障偵測(cè)亦可用以偵測(cè)固定型故障，請(qǐng)參見(jiàn)第六圖。于此圖中，于測(cè)試中的路徑可藉由關(guān)閉功能路徑中的開(kāi)關(guān)所建立(傳輸器605的開(kāi)關(guān)630及接收器610的開(kāi)關(guān) 640)，且令所有其他的開(kāi)關(guān)都開(kāi)起(傳輸器605的開(kāi)關(guān)635及接收器610的開(kāi)關(guān)645)。雖然于第六圖中的開(kāi)關(guān)功能以特定開(kāi)關(guān)(于第六圖中的開(kāi)關(guān)630，635，640及645)來(lái)繪制，但于一系統(tǒng)中的此些開(kāi)關(guān)功能亦可以其他形式或位置來(lái)實(shí)行。如果所傳輸?shù)臏y(cè)試樣式650成功地于接收器610中被修復(fù)，或如果所傳輸?shù)挠嵦?hào)650被訊號(hào)偵測(cè)器625所偵測(cè)，則此系統(tǒng)判定沒(méi)有開(kāi)路或固定型故障曾被檢測(cè)出來(lái)。然而，如果此傳輸測(cè)試樣式?jīng)]有被接收且此訊號(hào)樣式未被偵測(cè)，這是因?yàn)殚_(kāi)路655的故，則一故障會(huì)被錯(cuò)誤偵測(cè)器620所偵測(cè)出來(lái)。舉例而言，如果將于此正內(nèi)連線導(dǎo)線中的開(kāi)路/固定型故障視為目標(biāo)，將于此正內(nèi)連線導(dǎo)線中的所有開(kāi)關(guān)關(guān)閉，并提供開(kāi)關(guān)控制輸入txc[t，l:0rrxc[r，l:0] = ‘0101’于測(cè)試中的所有接線以將其他的開(kāi)關(guān)都開(kāi)啟。于此范例中，故障的出現(xiàn)會(huì)阻止此輸入測(cè)試樣式被傳輸，也因此測(cè)試樣式將不會(huì)于接收器中被修復(fù)。根據(jù)一互補(bǔ)開(kāi)關(guān)設(shè)定(例如txc[t， l:0]"rxc[r,l:0] = ‘0101’)，相同的測(cè)式可被重復(fù)以偵測(cè)于測(cè)試中的所有接線的負(fù)內(nèi)連線導(dǎo)線的開(kāi)路/固定型故障。于此圖中，用于開(kāi)路測(cè)試的測(cè)試組態(tài)為‘0101’及‘1010’。于一些實(shí)施例中，橋接測(cè)試可藉由如第七圖中的一傳輸器705及一接收器710所實(shí)現(xiàn)，其中接收器710可被耦接于一測(cè)試檢查器(EC) 720及一訊號(hào)偵測(cè)器(SD)725。于此圖中，于測(cè)試中用于所有接線的測(cè)試路徑可就由開(kāi)關(guān)控制輸入txc[t，l:0rrxc[r，l:0]= ‘0110，或‘1001，以激活目標(biāo)的橋接故障。舉例而言，傳輸器705的開(kāi)關(guān)730及接收器710 的開(kāi)關(guān)745可被關(guān)閉，且傳輸器705的開(kāi)關(guān)735及接收器710的開(kāi)關(guān)740可被開(kāi)啟。于一無(wú)故障的狀況下，所有路徑可被開(kāi)啟并且沒(méi)有訊號(hào)會(huì)從傳輸器705傳輸至接收器710，也因此測(cè)試樣式750應(yīng)該不會(huì)被訊號(hào)偵測(cè)器725所偵測(cè)。然而，如果一橋接故障(例如故障760) 發(fā)生在任何內(nèi)連線導(dǎo)線之間，此互補(bǔ)的測(cè)試樣式或波形可藉由此橋接故障所設(shè)定的路徑被接收。如果此互補(bǔ)的測(cè)試樣式于接收器710中被接收，一橋接故障可被偵測(cè)。復(fù)雜的多種橋接故障的偵測(cè)及診斷可于下文中敘述。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試結(jié)構(gòu)或系統(tǒng)可被應(yīng)用以測(cè)試HSIO內(nèi)連線，此HSIO內(nèi)連線涵蓋任一的傳統(tǒng)傳輸器或接收器，其并未設(shè)置此測(cè)試系統(tǒng)中的元件。不需設(shè)置測(cè)試結(jié)構(gòu)元件的此項(xiàng)能力對(duì)測(cè)試裝置而言可加強(qiáng)其優(yōu)勢(shì)。舉例而言，測(cè)試結(jié)構(gòu)可僅一傳輸?shù)膫鬏斊骱徒邮掌髟O(shè)置此測(cè)試結(jié)構(gòu)來(lái)使用。第八圖為用于包含一傳輸器的丨系統(tǒng)與一傳統(tǒng)接收器通訊的開(kāi)路故障偵測(cè)的一實(shí)施例的示意圖，以及第九圖為用于包含一接收器的丨系統(tǒng)與一傳統(tǒng)傳輸器通訊的開(kāi)路故障偵測(cè)的丨實(shí)施例的示意圖。于繪制于第八圖及第九圖中的范例，一傳輸器或接收器被設(shè)置一測(cè)試結(jié)構(gòu)可與一常見(jiàn)的對(duì)應(yīng)體所合并以形成一 HSIO接線。于這些架構(gòu)中，內(nèi)連線測(cè)試可類似開(kāi)路及固定型故障的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。于一些實(shí)施例中，多數(shù)橋接故障于內(nèi)連線導(dǎo)線之間亦可被偵測(cè)。舉例而言，如果一測(cè)試樣式源被橋接至很多測(cè)試樣式匯點(diǎn)，多數(shù)橋接故障可如開(kāi)路故障般被偵測(cè)，因?yàn)闇y(cè)試樣式波形的振幅可被數(shù)個(gè)樣式匯點(diǎn)所分割，也因此測(cè)試樣是可能不會(huì)被修復(fù)或偵測(cè)。第八圖顯示開(kāi)路故障偵測(cè)的一實(shí)施例，其中一傳輸器805能用以故障偵測(cè)，其包含開(kāi)關(guān)830及835，同時(shí)接收器中包含錯(cuò)誤檢查器820與訊號(hào)偵測(cè)器825使能進(jìn)行故障偵測(cè)。舉例而言，對(duì)所述開(kāi)路故障855的偵測(cè)可包含關(guān)閉開(kāi)關(guān)830及開(kāi)啟開(kāi)關(guān)835。當(dāng)測(cè)試樣式850被供應(yīng)于此架構(gòu)中的傳輸器805，沒(méi)有訊號(hào)將于接收器810中被訊號(hào)偵測(cè)器825所偵測(cè)出來(lái)，則表示一種故障狀況。(描述于第八圖中的傳統(tǒng)RX可被考慮為第五圖中的RX的特殊案例，即于RX中的所有開(kāi)關(guān)都被永久關(guān)閉。)第九圖顯示開(kāi)路故障偵測(cè)的一實(shí)施例，其中一接收器910，其包含錯(cuò)誤檢查器920 及訊號(hào)偵測(cè)器925使能進(jìn)行故障偵測(cè)，并包含開(kāi)關(guān)940及945，同時(shí)傳輸器905持續(xù)地提供測(cè)試樣式波形于負(fù)內(nèi)連線導(dǎo)線與正內(nèi)連線導(dǎo)線兩者用以故障偵測(cè)。舉例而言，開(kāi)路故障955 的偵測(cè)可包含關(guān)閉開(kāi)關(guān)940與開(kāi)啟開(kāi)關(guān)945。當(dāng)測(cè)試樣式950被應(yīng)用于此架構(gòu)中的傳輸器 905，沒(méi)有訊號(hào)將于接收器910被偵測(cè)，則表示一種故障狀況。(描述于第九圖中的傳統(tǒng)TX 可被考慮為第五圖中的TX的特殊案例，即為TX中的所有開(kāi)關(guān)都被永久關(guān)閉。)當(dāng)復(fù)數(shù)個(gè)傳輸器與接收器被連接于同一電路板上，故障偵測(cè)與診斷就可能不是一個(gè)不重要的工作。所連接的傳輸器和接收器可潛在的彼此接合。所述故障，特別是多種故障包含于內(nèi)連線導(dǎo)線中，可能是故障行為的復(fù)雜分析及對(duì)診斷造成更多的挑戰(zhàn)。應(yīng)用一測(cè)試樣式于故障偵測(cè)中，舉例來(lái)說(shuō)，一些橋接故障可被隱藏或改變一輸入訊號(hào)波形的振幅。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試程序被應(yīng)用以偵測(cè)并定位多個(gè)故障，其不僅可以幫助增加產(chǎn)量亦可解決故障。于一些實(shí)施例中，一測(cè)試系統(tǒng)或方法被實(shí)施以偵測(cè)及定位復(fù)數(shù)個(gè)內(nèi)連線故障。于一些實(shí)施例中，測(cè)試系統(tǒng)或方法藉由于每一測(cè)試的運(yùn)行中一次使用一測(cè)試樣式源及一測(cè)試樣式匯點(diǎn)以減少不需要的復(fù)雜性。于此一實(shí)施中，一目標(biāo)用以獨(dú)立或分離復(fù)數(shù)個(gè)故障的一潛在地復(fù)雜樣式變成一較簡(jiǎn)化的故障樣式用于樣式訊號(hào)源及匯點(diǎn)的測(cè)試。于一些實(shí)施例中，一較簡(jiǎn)化的故障樣式的偵測(cè)從每一測(cè)試運(yùn)行可被收集用以重建復(fù)數(shù)個(gè)故障的原始樣式。于一訊號(hào)溝通中，時(shí)序訊號(hào)可被實(shí)施于資料串流中，或可被獨(dú)立地提供。于一訊號(hào)源同步HSIO的案例中，其中差分時(shí)序接線獨(dú)立地被提供，一可獲得的訊號(hào)偵測(cè)器可被用于此時(shí)序接線。如果此訊號(hào)偵測(cè)器不可獲得，則一計(jì)數(shù)器可被應(yīng)用以偵測(cè)于此時(shí)序接線中的故障。于此實(shí)施例中，如果時(shí)序被修復(fù)則此計(jì)數(shù)器會(huì)被增加。于一些用于故障診斷的實(shí)施例中，此時(shí)序接線可從資料接線中獨(dú)立地被測(cè)試。舉例而言，時(shí)序接線可被先測(cè)試而資料接線則可接著被測(cè)試。于此實(shí)施中，用于時(shí)序的測(cè)試程序可與資料接線相同，除了計(jì)數(shù)器可被應(yīng)用以取代功能BIST來(lái)偵測(cè)于時(shí)序中的故障。因?yàn)闇y(cè)試程序的實(shí)施例可被應(yīng)用于同時(shí)測(cè)試時(shí)序接線與資料接線，在此的討論可表示一系統(tǒng)以資料接線的觀點(diǎn)來(lái)表示兩種測(cè)試。一測(cè)試程序的實(shí)施例被提供于下列表一中。一測(cè)試的實(shí)施例可從一開(kāi)路和橋接測(cè)試中分離出一固定型測(cè)試用以改良診斷解析度。于一些實(shí)施例中，一短路開(kāi)關(guān)和固定型測(cè)試可被用以定位故障開(kāi)關(guān)及固定型故障，其可于接收器中被觀察到，且一開(kāi)路及橋接測(cè)試可偵測(cè)及定位開(kāi)路故障及橋接故障。
權(quán)利要求
1.一種故障分析裝置，包含一測(cè)試樣式源，用以提供一測(cè)試樣式于介于一傳輸器及一接收器間的一內(nèi)連線，該內(nèi)連線具有一傳輸器端及一接收器端，該內(nèi)連線包含一第一導(dǎo)線及一第二導(dǎo)線，該傳輸器傳送該第一導(dǎo)線上的該測(cè)試樣式至該接收器；一第一開(kāi)關(guān)，用以開(kāi)啟及關(guān)閉于該第一導(dǎo)線的一第一連結(jié)；以及一第二開(kāi)關(guān)，用以開(kāi)啟及關(guān)閉于該第二導(dǎo)線的一第二連結(jié)；其中該第一開(kāi)關(guān)及該第二開(kāi)關(guān)依據(jù)一架構(gòu)設(shè)置于一測(cè)試路徑的至少一部分用以于該內(nèi)連線中進(jìn)行一或多個(gè)故障的偵測(cè)。
2.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該第一開(kāi)關(guān)及該第二開(kāi)關(guān)被包含于該傳輸器之中，或耦接于該內(nèi)連線的該傳輸器端。
3.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該第一開(kāi)關(guān)及該第二開(kāi)關(guān)被包含于該接收器之中，或耦接于該內(nèi)連線的該接收器端。
4.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，更包含一第三開(kāi)關(guān)用以開(kāi)啟及關(guān)閉于該第一導(dǎo)線中的一第三連結(jié)，以及一第四開(kāi)關(guān)用以開(kāi)啟及關(guān)閉于該第二導(dǎo)線中的一第四連結(jié)。
5.如權(quán)利要求第4項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該第一開(kāi)關(guān)及該第二開(kāi)關(guān)被包含于該傳輸器之中，或耦接于該內(nèi)連線的該傳輸器端；以及該第三開(kāi)關(guān)及該第四開(kāi)關(guān)被包含于該接收器之中，或耦接于該內(nèi)連線的該接收器端。
6.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中每一該一或多個(gè)故障為一開(kāi)路故障、 一橋接故障、一固定型故障、或一串音故障之一。
7.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該內(nèi)連線為一高速輸入輸出內(nèi)連線。
8.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該內(nèi)連線為直流耦合。
9.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該內(nèi)連線為交流耦合。
10.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該第一開(kāi)關(guān)可運(yùn)作以開(kāi)啟或關(guān)閉該第一導(dǎo)線的電源，以及該第二開(kāi)關(guān)可運(yùn)作以開(kāi)啟或關(guān)閉該第二導(dǎo)線的電源。
11.如權(quán)利要求第10項(xiàng)所述的故障分析裝置，更包含一第一終端電阻耦接于該第一導(dǎo)線及一電源之間，以及一第二終端電阻耦接于該第二導(dǎo)線及該電源之間；其中該第一開(kāi)關(guān)透過(guò)該第一終端電阻來(lái)開(kāi)啟及關(guān)閉電源，以及該第二開(kāi)關(guān)透過(guò)該第二終端電阻來(lái)開(kāi)啟及關(guān)閉電源。
12.如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的故障分析裝置，其中該傳輸器為一測(cè)試器用以供應(yīng)訊號(hào)至該接收器。
13.一種故障分析的方法，包含供應(yīng)一第一測(cè)試樣式至一內(nèi)連線的一第一導(dǎo)線，該內(nèi)連線包含該第一導(dǎo)線及一第二導(dǎo)線 ，傳送一第一控制訊號(hào)至一第一開(kāi)關(guān)，該第一開(kāi)關(guān)基于該第一控制訊號(hào)用以開(kāi)啟并關(guān)閉該第一導(dǎo)線的一第一連結(jié)；傳送一第二控制訊號(hào)至一第二開(kāi)關(guān)，該第二開(kāi)關(guān)基于該第二控制訊號(hào)用以開(kāi)啟并關(guān)閉該第二導(dǎo)線的一第二連結(jié)，該第一控制訊號(hào)及該第二控制訊號(hào)設(shè)置用于一測(cè)試路徑的至少一部分的該測(cè)試樣式；調(diào)整該內(nèi)連線用以接收訊號(hào)；以及基于該內(nèi)連線的調(diào)整判定于該內(nèi)連線中是否存在一故障。
14.如權(quán)利要求第13項(xiàng)所述的故障分析方法，更包含供應(yīng)一第二測(cè)試樣式至該第二導(dǎo)線。
15.如權(quán)利要求第14項(xiàng)所述的故障分析方法，其中該第一控制訊號(hào)為該第二控制訊號(hào)的丨補(bǔ)數(shù)，以及該第一測(cè)試樣式為該第二測(cè)試樣式的一補(bǔ)數(shù)。
16.如權(quán)利要求第13項(xiàng)所述的故障分析方法，更包含傳送一第三控制訊號(hào)至該第三開(kāi)關(guān)，該第三開(kāi)關(guān)基于該第三控制訊號(hào)用以開(kāi)啟及關(guān)閉該第一導(dǎo)線的丨第三連結(jié)；以及傳送一第四控制訊號(hào)至該第四開(kāi)關(guān)，該第四開(kāi)關(guān)基于該第四控制訊號(hào)用以開(kāi)啟及關(guān)閉該第二導(dǎo)線的一第四連結(jié)。
17.如權(quán)利要求第13項(xiàng)所述的故障分析方法，其中每一該一或多個(gè)故障為一開(kāi)路故障、一橋接故障、一固定型故障、或一串音故障之一。
18.如權(quán)利要求第13項(xiàng)所述的故障分析方法，其中該內(nèi)連線為一高速輸入輸出內(nèi)連線。
19.如權(quán)利要求第13項(xiàng)所述的故障分析方法，更包含判定于該內(nèi)連線中的一所偵測(cè)的 故障的一位置。
20.如權(quán)利要求第13項(xiàng)所述的故障分析方法，其中該第一測(cè)試樣式供應(yīng)于該第一導(dǎo)線以用于一測(cè)試機(jī)器。
21.如權(quán)利要求第13項(xiàng)所述的故障分析方法，更包含判定用于一或多個(gè)內(nèi)連線中的復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)，該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)包含該第一控制訊號(hào)及該第二控制訊號(hào)，于一測(cè)試中，該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)用以偵測(cè)至少一或多類型的故障。
22.如權(quán)利要求第21項(xiàng)所述的故障分析方法，其中該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)的判定包含設(shè)定一或多個(gè)內(nèi)連線的所有導(dǎo)線的控制訊號(hào)，并以相同數(shù)值去偵測(cè)每一內(nèi)連線中的橋接故障。
23.如權(quán)利要求第21項(xiàng)所述的故障分析方法，其中該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)的判定包含設(shè)定用于每一內(nèi)連線的一正導(dǎo)線的一控制訊號(hào)為一第一數(shù)值，以及設(shè)定用于每一內(nèi)連線的一負(fù)導(dǎo)線的一控制訊號(hào)為一第二數(shù)值，并用以偵測(cè)介于該內(nèi)連線間的橋接故障。
24.如權(quán)利要求第21項(xiàng)所述的故障分析方法，其中該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)的判定包含建立一第一組控制訊號(hào)以及該第一組控制訊號(hào)的一位元補(bǔ)數(shù)以偵測(cè)耦合于橋接故障的開(kāi)路故障。
25.如權(quán)利要求第21項(xiàng)所述的故障分析方法，其中該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)的判定包含判定用于測(cè)試具有相同極性的一或多個(gè)內(nèi)連線的導(dǎo)線間的橋接故障的復(fù)數(shù)組控制訊號(hào)。
26.一種故障分析系統(tǒng)，包含一第一組開(kāi)關(guān)用以開(kāi)啟及關(guān)閉一第一內(nèi)連線的連結(jié)，該第一內(nèi)連線包含一第一導(dǎo)線及一第二導(dǎo)線，該第一組開(kāi)關(guān)包含二開(kāi)關(guān)于該第一內(nèi)連線的一傳輸器側(cè)及二開(kāi)關(guān)于該第一內(nèi)連線的一接收器側(cè)；一第二組開(kāi)關(guān)用以開(kāi)啟及關(guān)閉一第二內(nèi)連線的連結(jié)，該第二內(nèi)連線包含一第三導(dǎo)線及一第四導(dǎo)線，該第二組開(kāi)關(guān)包含二開(kāi)關(guān)于該第二內(nèi)連線的一傳輸器側(cè)及二開(kāi)關(guān)于該第二內(nèi)連線的一接收器側(cè)，該第一組開(kāi)關(guān)及該第二組開(kāi)關(guān)用以操作去設(shè)定一測(cè)試路徑的至少一部分；一或多個(gè)樣式訊號(hào)源用以供應(yīng)訊號(hào)至該第一內(nèi)連線及該第二內(nèi)連線的一或多個(gè)導(dǎo)線中；以及基于從一或多個(gè)樣式訊號(hào)源傳輸?shù)挠嵦?hào)的接收以邏輯方式確認(rèn)于該第一內(nèi)連線及該第二內(nèi)連線中一或多個(gè)故障。
27.如權(quán)利要求第沈項(xiàng)所述的故障分析系統(tǒng)，其中該以邏輯方式確認(rèn)故障包含一訊號(hào)偵測(cè)器以判定該訊號(hào)是否被接收。
28.如權(quán)利要求第沈項(xiàng)所述的故障分析系統(tǒng)，其中該以邏輯方式確認(rèn)故障包含一錯(cuò)誤檢查器以判定被接收的訊號(hào)是否包含一錯(cuò)誤。
29.如權(quán)利要求第沈項(xiàng)所述的故障分析系統(tǒng)，其中每一開(kāi)關(guān)為獨(dú)立可操作的。
30.如權(quán)利要求第沈項(xiàng)所述的故障分析系統(tǒng)，其中該以邏輯方式確認(rèn)故障包含以邏輯方式判定一被偵測(cè)的故障的一位置。
31.如權(quán)利要求第沈項(xiàng)所述的故障分析系統(tǒng)，其中每一該一或多個(gè)故障為一開(kāi)路故障、一橋接故障、一固定型故障、或一串音故障的丨種。
32.如權(quán)利要求第31項(xiàng)所述的故障分析系統(tǒng)，其中該第一組開(kāi)關(guān)用以接收一第一組控制訊號(hào)及該第二組開(kāi)關(guān)用以接收該第一組控制訊號(hào)的一補(bǔ)數(shù)，以及該一或多個(gè)樣式訊號(hào)源用以供應(yīng)一第一測(cè)試樣式于該第一導(dǎo)線及該第三導(dǎo)線，及供應(yīng)該第一測(cè)試樣式的一補(bǔ)數(shù)于該第二導(dǎo)線及該第四導(dǎo)線；其中該邏輯方式用以偵測(cè)介于相同極性的導(dǎo)線間的橋接故障。
33.如權(quán)利要求第沈項(xiàng)所述的故障分析系統(tǒng)，其中該內(nèi)連線為一高速輸入輸出內(nèi)連線。
34.一種用于故障分析的電腦可讀取媒體，其中儲(chǔ)存有可重現(xiàn)指令序列的資料，當(dāng)藉由一處理器的執(zhí)行可使該處理器實(shí)行的操作包含供應(yīng)一第一測(cè)試樣式至一內(nèi)連線的丨第一導(dǎo)線，該內(nèi)連線包含該第一導(dǎo)線及一第二導(dǎo)線.一入 ，傳送一第一控制訊號(hào)至一第一開(kāi)關(guān)，該第一開(kāi)關(guān)基于該第一控制訊號(hào)用以開(kāi)啟或關(guān)閉于該第一導(dǎo)線的一第一連結(jié)；傳送一第二控制訊號(hào)至一第二開(kāi)關(guān)，該第二開(kāi)關(guān)基于該第二控制訊號(hào)用以開(kāi)啟或關(guān)閉于該第二導(dǎo)線的一第二連結(jié)，該第一開(kāi)關(guān)與該第二開(kāi)關(guān)對(duì)該第二測(cè)試樣式設(shè)定一測(cè)試路徑的至少一部分；接收該內(nèi)連線中的一或多個(gè)訊號(hào)；以及基于該所接收的訊號(hào)判定于該內(nèi)連線中是否存在一故障。
35.如權(quán)利要求第34項(xiàng)所述的用于故障分析的電腦可讀取媒體，其中該指令序列更包含指令可使該處理器實(shí)行的操作包含供應(yīng)一第二測(cè)試樣式至該第二導(dǎo)線。
36.如權(quán)利要求第34項(xiàng)所述的用于故障分析的電腦可讀取媒體，其中該指令序列更包含指令可使該處理器實(shí)行的操作包含傳送一第三控制訊號(hào)至一第三開(kāi)關(guān)，該第三開(kāi)關(guān)基于該第三控制訊號(hào)用以開(kāi)啟或關(guān)閉于該第一導(dǎo)線的一第三連結(jié)；以及傳送一第四控制訊號(hào)至一第四開(kāi)關(guān)，該第四開(kāi)關(guān)基于該第四控制訊號(hào)用以開(kāi)啟或關(guān)閉于該第二導(dǎo)線的一第四連結(jié)。4
37.如權(quán)利要求第34項(xiàng)所述的用于故障分析的電腦可讀取媒體，其中每一該一或多個(gè)故障為一開(kāi)路故障、一橋接故障、一固定型故障、或一串音故障的一種。
38.如權(quán)利要求第34項(xiàng)所述的用于故障分析的電腦可讀取媒體，其中該指令序列更包含指令可使該處理器實(shí)行的操作包含判定于該內(nèi)連線中的一所偵測(cè)到的故障的丨位置。
39.如權(quán)利要求第34項(xiàng)所述的用于故障分析的電腦可讀取媒體，其中該指令序列更包含指令可使該處理器實(shí)行的操作包含判定于一或多個(gè)內(nèi)連線的復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)，該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)包含該第一控制訊號(hào)及該第二控制訊號(hào)，于一測(cè)試中該復(fù)數(shù)個(gè)控制訊號(hào)用以偵測(cè)一或多種類型的故障的至少一部分。
全文摘要
本發(fā)明的實(shí)施例大體上針對(duì)內(nèi)連線的故障測(cè)試。一故障分析裝置的實(shí)施例包含一測(cè)試樣式源以提供一測(cè)試樣式于一傳輸器與一接收器間之內(nèi)連線，所述內(nèi)連線具有一傳輸器端及一接收器端，此內(nèi)連線包含一第一導(dǎo)線及一第二導(dǎo)線，且此傳輸器于所述第一導(dǎo)線中傳送此測(cè)試樣式至所述接收器。所述裝置更包含一第一開(kāi)關(guān)，用以開(kāi)啟和關(guān)閉于第一導(dǎo)線的第一連結(jié)；以及一第二開(kāi)關(guān)，用以開(kāi)啟和關(guān)閉于第二導(dǎo)線的第二連結(jié)。所述第一開(kāi)關(guān)及第二開(kāi)關(guān)對(duì)應(yīng)于一架構(gòu)所設(shè)置，并設(shè)置一測(cè)試路徑的至少一部分以對(duì)內(nèi)連線中的一或多個(gè)故障的偵測(cè)。
文檔編號(hào)G01R31/317GK102292647SQ201080005560
公開(kāi)日2011年12月21日 申請(qǐng)日期2010年1月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月23日
發(fā)明者C·蘇, 安基仲 申請(qǐng)人:晶像股份有限公司