專利名稱：全反射法數(shù)字折射儀的制作方法
技術領域：
本實用新型光學檢測設備技術領域，尤其涉及一種折射測試儀器。
背景技術：
現(xiàn)有的廣泛應用的折射測試儀器是阿貝折射儀。通過轉動目鏡觀測臨界點，然后 通過另一目鏡讀取刻度盤上待測物體的折射率。由于手動操作，目測讀數(shù)，數(shù)據(jù)的人為因 數(shù)較多，使用不太方便。有人發(fā)明了一種聚光自動阿貝折射儀，公開在授權公告號為CN201021920Y的中 國實用新型專利說明書中，這種聚光自動阿貝折射儀包括光源、基本棱鏡和輔助棱鏡，所述 基本棱鏡和輔助棱鏡之間留有狹縫，還包括設于所述基本棱鏡出射光方向的聚光透鏡，設 于所述聚光透鏡出射光方向上的CCD或CMOS圖像傳感器，與所述圖樣傳感器相連接的處理 模塊，與所述處理模塊相連接的顯示裝置。該聚光自動阿貝折射儀通過使用CCD或CMOS圖 像傳感器獲取物體折射軌跡，實現(xiàn)了自動讀取數(shù)據(jù)，但由于需要使用輔助棱鏡，在輔助棱鏡 和測試棱鏡之間留有隙縫，不能保證每次所加物體都均勻一致，影響了測試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。 而且加了聚光柱面鏡后，由于其非線性效應，使物體折射軌跡兩端的線性度較差。

實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種大大提高測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性、消除數(shù)據(jù) 非線性因素、增加被測試液折射軌跡范圍的全反射法數(shù)字折射儀，以克服現(xiàn)有技術存在的 缺陷。為了解決上述技術問題，本實用新型采用如下的技術方案一種全反射法數(shù)字折射儀，包括棱鏡，光源，設于棱鏡出光面方向的圖像傳感器， 與所述圖像傳感器相連接的數(shù)據(jù)處理模塊，與所述數(shù)據(jù)處理模塊相連接的顯示裝置，其特 征在于所述棱鏡另兩面分別為入光面和測試面，所述光源設于入光面方向，所述測試面用 于放置被測試液。在本實用新型的進一步改進中，為了實現(xiàn)利用很少的被測試液就能夠測試穩(wěn)定的 數(shù)據(jù)，所述測試面方向設置有蓋板。在本實用新型的還進一步改進中，為了提高被測試液折射軌跡范圍，所述光源有 兩個及兩個以上。在本實用新型中，所述光源有兩個。本實用新型的具體實施方式
中，所述入光面與出光面長度相等。在本實用新型的具體實施方式
中，所述光源連接到所述數(shù)據(jù)處理模塊。在本實用新型的具體實施方式
中，所述圖像傳感器為CXD或CMOS圖像傳感器。采用上述技術方案，本實用新型根據(jù)光在光密物質到光疏物質會產(chǎn)生全反射的現(xiàn) 象，利用物體的全反射臨界角不同而產(chǎn)生不同的反射光明暗分界線，從而測得物體的折射 率。由于光只在物體表面產(chǎn)生全反射，不透過物體和隙縫，大大提高了測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性；并 且不用柱面鏡聚集，去掉了非線性因素。因此，本實用新型的全反射法數(shù)字折射儀具有大大提高測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性、消除數(shù)據(jù)非線性因素、提高被測試液折射軌跡范圍的優(yōu)點。以下結合附圖和具體實施方式
對本實用新型進行說明

圖1為本實用新型的結構示意圖。圖中100-棱鏡，101-出光面，102-入光面，103-測試面，200-圖像傳感器，300-數(shù)據(jù)處 理模塊，400-顯示裝置，500-光源，600-蓋板。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型的全反射法數(shù)字折射儀，包括棱鏡100、圖像傳感器200、 數(shù)據(jù)處理模塊300、顯示裝置400、光源500、蓋板600。其中，棱鏡100為三角棱鏡，三面均為平整表面，分為出光面101、入光面102和測 試面103，且出光面101等長于入光面102。圖像傳感器200設于棱鏡的出光面101方向，該圖像傳感器200可以為CXD圖像 傳感器，也可以是CMOS圖像傳感器；在本實施例中，采用CCD圖像傳感器。為實現(xiàn)能夠數(shù)字 顯示測試數(shù)據(jù)，該圖像傳感器200與數(shù)據(jù)處理模塊300連接，數(shù)據(jù)處理模塊300再連接顯示 裝置400。在本實用新型中，光源500有兩個，設于棱鏡100的入光面102方向。并且，為了 能夠實現(xiàn)光源500的自動控制，光源500也與數(shù)據(jù)處理模塊300連接。棱鏡100的測試面103用于放置被測試液。被測試液放置在測試面103上后，其 在該測試面103上會形成均勻的反射面。光源500產(chǎn)生的光線以一定角度通過棱鏡100射 至反射面上。符合臨界角的光線在反射面上發(fā)生全反射，在棱鏡100的出光面101出射至 圖像傳感器200，形成明暗分界線。數(shù)據(jù)處理模塊300對圖像傳感器200捕獲的圖像進行分 析處理，計算出該物體的折射率并在顯示屏上顯示出數(shù)據(jù)。為了能夠僅使用一滴的被測試液，就能夠獲得穩(wěn)定的測試數(shù)據(jù)，蓋板600設于棱 鏡100的測試面上。當?shù)紊弦坏伪粶y試液后，蓋上蓋板600，被測試液就會在測試面上形成 均勻的反射面，從而可以實現(xiàn)用極少的被測試液獲得穩(wěn)定的測試數(shù)據(jù)。以上就是本實用新型的全反射法數(shù)字折射儀，其具有如下優(yōu)點1、由于光只在物體表面產(chǎn)生全反射，不透過物體和隙縫，大大提高了測試數(shù)據(jù)穩(wěn) 定性；不用柱面鏡聚集，去掉了非線性因素；2、安裝調試簡單。阿貝折射儀和聚光自動阿貝折射儀的輔助棱鏡與主棱鏡之間的 間隙尺寸和相對水平度要求很高，而本實用新型無此要求；3、有一定的環(huán)保性。上述兩種儀器由于有隙縫，測試時要加較多的液體；而本實用 新型只要很小的一滴即可測定。從上述詳細描述，可以看出，本實用新型的全反射法數(shù)字折射儀具有大大提高測 試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性、消除數(shù)據(jù)非線性因素、提高被測試液折射軌跡范圍的優(yōu)點。但是，本領域技術人員應該認識到，上述的具體實施方式
只是示例性的，是為了更 好的使本領域技術人員能夠理解本專利，不能理解為是對本專利包括范圍的限制，只要是根據(jù)本專利所揭示精神的所作的任何等同變更或修飾，均落入本專利包括的范圍。
權利要求1.一種全反射法數(shù)字折射儀，包括棱鏡，光源，設于棱鏡出光面方向的圖像傳感器，與 所述圖像傳感器相連接的數(shù)據(jù)處理模塊，與所述數(shù)據(jù)處理模塊相連接的顯示裝置，其特征 在于所述棱鏡另兩面分別為入光面和測試面，所述光源設于入光面方向，所述測試面用于 放置被測試液。
2.根據(jù)權利要求1所述的全反射法數(shù)字折射儀，其特征在于所述測試面方向設置有蓋板。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的全反射法數(shù)字折射儀，其特征在于所述光源有兩個及 兩個以上。
4.根據(jù)權利要求3所述的全反射法數(shù)字折射儀，所述光源有兩個。
5.根據(jù)權利要求1所述的全反射法數(shù)字折射儀，其特征在于所述出光面與入光面長度相等。
6.根據(jù)權利要求1或2所述的全反射法數(shù)字折射儀，其特征在于所述光源連接到所 述數(shù)據(jù)處理模塊。
7.根據(jù)權利要求1所述的全反射法數(shù)字折射儀，其特征在于所述圖像傳感器為CCD 或CMOS圖像傳感器。
專利摘要本實用新型公開了一種全反射法數(shù)字折射儀，包括棱鏡，光源，設于棱鏡出光面方向的圖像傳感器，與所述圖像傳感器相連接的數(shù)據(jù)處理模塊，與所述數(shù)據(jù)處理模塊相連接的顯示裝置，所述棱鏡另兩面分別為入光面和和測試面，所述光源設于入光面方向，所述測試面用于放置被測試液。本實用新型的這種全反射法數(shù)字折射儀具有大大提高測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性、消除數(shù)據(jù)非線性因素、提高被測試液折射軌跡范圍的優(yōu)點。
文檔編號G01N21/41GK201885972SQ20102062585
公開日2011年6月29日 申請日期2010年11月26日 優(yōu)先權日2010年11月26日
發(fā)明者王志明 申請人:上海晨翼電子科技有限公司, 王志明