專利名稱：一種pcb快速阻抗測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及PCB阻抗測試技術(shù)，特別涉及的是一種PCB快速阻抗測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著現(xiàn)代電子電路速度的不斷提高，高品質(zhì)控制阻抗電路板的需求量持續(xù)增長。 高頻信號和高速數(shù)字信號的傳輸對于電路板的電氣測試不僅僅是通斷的要求，更要達到特 性阻抗的匹配。阻抗測試是PCB行業(yè)中常見的一種功能性測試，目前通常采用的是阻抗測試儀對 PCB進行測量。阻抗測試儀包括數(shù)據(jù)處理電腦、TDR時域反射儀、連接電纜、測試探頭等部 件。一般的阻抗板會在板邊或板中間預留專用測試Coupon來等效板內(nèi)轉(zhuǎn)輸線，以往的阻抗 測試是由電纜連接TDR時域反射儀與測試探頭，測試探頭與PCB中的Coupon的信號與參照 觸點分別相連進行測量。目前有一種實際傳輸線為測試Coupon的PCB產(chǎn)品，在極小的尺寸內(nèi)存在大量有阻 抗要求的傳輸線。對這種PCB產(chǎn)品進行阻抗測試時，由于普通的TDR時域反射的測試通道 數(shù)量較少，如果按傳統(tǒng)測試方法測量PCB的差分阻抗，每次最多只能測試一個阻抗Coupon， 需要利用探頭逐個測試，不僅生產(chǎn)效率極其低下，而且因測試探針的尖頭頻繁接觸會對其 產(chǎn)生壓傷、靜電等不良影響。
發(fā)明內(nèi)容為解決極小的尺寸內(nèi)存在大量阻抗要求傳輸線的PCB產(chǎn)品的測試要求，避免PCB 產(chǎn)品的測試效率低下，以及容易產(chǎn)生壓傷、靜電的問題，本實用新型的目的在于提供一種 PCB快速阻抗測試系統(tǒng)。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型主要采用以下技術(shù)方案一種PCB快速阻抗測試系統(tǒng)，包括數(shù)據(jù)處理單元(1)、第一 TDR時域反射儀O)、第 二 TDR時域反射儀(3)、SSR繼電轉(zhuǎn)換單元(4)和測試插座(5)，所述數(shù)據(jù)處理單元(1)與第 一 TDR時域反射儀(2)、第二 TDR時域反射儀(3)連接，第一 TDR時域反射儀(2)、第二 TDR 時域反射儀(3)與SSR繼電轉(zhuǎn)換單元(4)連接，SSR繼電轉(zhuǎn)換單元(4)上設置有固態(tài)繼電 器001)，該固態(tài)繼電器001)與測試插座(5)連接。其中所述SSR繼電轉(zhuǎn)換單元(4)上還設置有多個與固態(tài)繼電器(401)對應連接的 電纜插孔002)，該電纜插孔(402)通過電纜(6)與第一 TDR時域反射儀O)、第二 TDR時 域反射儀C3)連接。其中所述測試插座(5)中設置有彈性觸頭。本實用新型由數(shù)據(jù)處理單元連接第一、第二 TDR時域反射儀來實現(xiàn)每次測量并記 錄多個差分阻抗值，由SSR繼電轉(zhuǎn)換單元實現(xiàn)阻抗測試端口之間的切換，測試插座通過彈 性觸頭將測試Coupon與測試端口相連。當進行阻抗測試時，將待測PCB插入測試插座，彈 性觸頭將測試Coupon與測試端口相連，通過SSR繼電轉(zhuǎn)換單元的輸入控制電路變換即可實現(xiàn)測試端口間的變換，如此可實現(xiàn)待測PCB的全部阻抗測試Coupon的逐一測量，極大地 提高了測試效率，又因為測試插座上的彈性觸點，連接平穩(wěn)且壓力均衡，因此提高了測試精 度、降低壓傷等。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型不僅極大的提高生產(chǎn)效率，而且改善了由測 試探頭產(chǎn)生的不良影響。

圖1為本實用新型系統(tǒng)連接示意圖。圖中標識說明數(shù)據(jù)處理單元1、第一 TDR時域反射儀2、第二 TDR時域反射儀3、 SSR繼電轉(zhuǎn)換單元4、固態(tài)繼電器401、電纜插孔402、測試插座5、電纜6。
具體實施方式
本實用新型的核心思想是數(shù)據(jù)處理單元連接第一、第二 TDR時域反射儀，以實 現(xiàn)每次測量并記錄多個差分阻抗值，同時SSR繼電轉(zhuǎn)換單元可實現(xiàn)阻抗測試端口之間的切 換，測試插座通過彈性觸頭將測試Coupon與測試端口相連。當進行阻抗測試時，將待測PCB 插入測試插座，彈性觸頭將測試Coupon與測試端口相連，通過SSR繼電轉(zhuǎn)換單元的輸入控 制電路變換即可實現(xiàn)測試端口間的變換，如此可實現(xiàn)待測PCB的全部阻抗測試Coupon的逐 一測量。為闡述本實用新型的思想及目的，下面將結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型做 進一步的說明。請參見圖1所示，圖1為本實用新型系統(tǒng)連接示意圖。本實用新型提供的是一種 PCB快速阻抗測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)主要用于極小的尺寸內(nèi)存在大量有阻抗要求傳輸線的PCB 產(chǎn)品中，以避免傳統(tǒng)測試方法每次最多只能測試一個阻抗Coupon，生產(chǎn)效率低下，以及測試 探針的尖頭頻繁接觸會對PCB產(chǎn)品產(chǎn)生壓傷、靜電的不良影響。其中本系統(tǒng)包括有包括數(shù)據(jù)處理單元1、第一 TDR時域反射儀2、第二 TDR時域反 射儀3、SSR繼電轉(zhuǎn)換單元4、測試插座5和電纜6，所述數(shù)據(jù)處理單元1為數(shù)據(jù)處理電腦，它 與多個TDR時域反射儀連接，本實施例中以兩個為例，即與第一 TDR時域反射儀2、第二 TDR 時域反射儀3連接。第一 TDR時域反射儀2、第二 TDR時域反射儀3分別通過電纜6與SSR繼電轉(zhuǎn)換單 元4連接，SSR繼電轉(zhuǎn)換單元4上設置有電纜插孔402和固態(tài)繼電器401，上述TDR時域反 射儀通過電纜6對應插入到電纜插孔402中，這些電纜插孔402通過SSR繼電轉(zhuǎn)換單元的 內(nèi)部輸入控制電路與上述固態(tài)繼電器401連接。固態(tài)繼電器401對應與測試插座5連接，測試插座5上設置有彈性觸頭，這些彈性 觸頭的接觸點與待檢測的PCB產(chǎn)品連接，通過彈性觸頭可將PCB測試Coupon與測試插座 5的測試端口相連，通過SSR繼電轉(zhuǎn)換單元的輸入控制電路變換即可實現(xiàn)測試端口間的變 換，從而可實現(xiàn)待測PCB的全部阻抗測試Coupon的逐一測量。以上是對本實用新型所提供的一種PCB快速阻抗測試系統(tǒng)進行了詳細的介紹，本 文中應用了具體個例對本實用新型的結(jié)構(gòu)原理及實施方式進行了闡述，以上實施例只是用 于幫助理解本實用新型的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本實 用新型的思想，在具體實施方式
及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應理解為對本實用新型的限制。
權(quán)利要求1.一種PCB快速阻抗測試系統(tǒng)，其特征在于包括數(shù)據(jù)處理單元(1)、第一 TDR時域反 射儀(2)、第二 TDR時域反射儀(3)、SSR繼電轉(zhuǎn)換單元(4)和測試插座(5)，所述數(shù)據(jù)處理 單元(1)與第一 TDR時域反射儀(2)、第二 TDR時域反射儀(3)連接，第一 TDR時域反射儀 (2)、第二 TDR時域反射儀(3)與SSR繼電轉(zhuǎn)換單元(4)連接，SSR繼電轉(zhuǎn)換單元(4)上設 置有固態(tài)繼電器(401)，該固態(tài)繼電器(401)與測試插座(5)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB快速阻抗測試系統(tǒng)，其特征在于所述SSR繼電轉(zhuǎn)換單元 (4)上還設置有多個與固態(tài)繼電器(401)對應連接的電纜插孔(402)，該電纜插孔(402)通 過電纜(6)與第一 TDR時域反射儀(2)、第二 TDR時域反射儀(3)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB快速阻抗測試系統(tǒng)，其特征在于所述測試插座(5)中設 置有彈性觸頭。
專利摘要本實用新型公開了一種PCB快速阻抗測試系統(tǒng)，包括數(shù)據(jù)處理單元、第一TDR時域反射儀、第二TDR時域反射儀、SSR繼電轉(zhuǎn)換單元和測試插座，所述數(shù)據(jù)處理單元與第一TDR時域反射儀、第二TDR時域反射儀連接，第一TDR時域反射儀、第二TDR時域反射儀與SSR繼電轉(zhuǎn)換單元連接，SSR繼電轉(zhuǎn)換單元上設置有固態(tài)繼電器，該固態(tài)繼電器與測試插座連接。本系統(tǒng)將待測PCB插入測試插座，彈性觸頭將測試Coupon與測試端口相連，通過SSR繼電轉(zhuǎn)換單元的輸入控制電路變換即可實現(xiàn)測試端口間的變換，從而可實現(xiàn)待測PCB的全部阻抗測試Coupon的逐一測量，極大地提高了測試效率，同時測試插座上的彈性觸點與待測PCB連接平穩(wěn)且壓力均衡，提高了測試精度、降低了壓傷。
文檔編號G01R27/02GK201859179SQ20102051382
公開日2011年6月8日 申請日期2010年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月1日
發(fā)明者何春 申請人:深圳市深聯(lián)電路有限公司