專(zhuān)利名稱(chēng)：電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，屬于電力設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
電力保護(hù)設(shè)備中外部開(kāi)關(guān)設(shè)備操作回路的功能是當(dāng)繼電保護(hù)裝置確定需要對(duì)供 電回路開(kāi)關(guān)斷路器進(jìn)行跳閘或合閘操作時(shí)，提供一個(gè)繼電器接點(diǎn)作為開(kāi)關(guān)斷路器跳閘線圈 和合閘線圈的工作回路，一般情況下外部開(kāi)關(guān)斷路器工作于待命狀態(tài)，當(dāng)提供的該接點(diǎn)接 通時(shí)則開(kāi)關(guān)斷路器動(dòng)作。由于在供電系統(tǒng)中，斷路器誤動(dòng)和拒動(dòng)引起的后果是非常嚴(yán)重的，重大事故時(shí)會(huì) 導(dǎo)致非常巨大的經(jīng)濟(jì)損失和惡劣社會(huì)影響，因此在繼電保護(hù)裝置國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中提到了裝置常 規(guī)試驗(yàn)功能，但目前裝置多數(shù)不能完全滿(mǎn)足此項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)要求。目前涉及開(kāi)關(guān)斷路器的操作回路的檢查方式有1、開(kāi)關(guān)位于試驗(yàn)位置此方式主要用于斷路器退出狀態(tài)下操作回路的檢查方式， 檢查過(guò)程中必須操作機(jī)構(gòu)退出主電路，只能用于設(shè)備維修周期時(shí)斷路器的檢查。2、斷路器位置指示燈當(dāng)斷路器線圈處于待命狀態(tài)時(shí)，如指示燈亮表明操作回路 帶電正常，如指示燈不亮表明操作回路不帶電，操作回路不正常。3、有些繼電保護(hù)裝置具有內(nèi)部操作回路故障報(bào)警功能，但是檢查范圍只包含繼電 保護(hù)裝置內(nèi)部功能不包含斷路器線圈，檢查范圍非常有限，不具有動(dòng)態(tài)操作回路檢查功能。上述三種開(kāi)關(guān)斷路器操作回路的檢查方式都不能滿(mǎn)足供電系統(tǒng)對(duì)安全性的要求， 因此，設(shè)計(jì)一種電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路具有重要意義。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，用戶(hù)可以通過(guò) 按動(dòng)試驗(yàn)按鈕完成每天的例行檢查工作，避免惡性事故發(fā)生，提高供電系統(tǒng)可靠性。本實(shí)用新型的目的通過(guò)以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn) 一種電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，包括斷路器線圈及操作電源電路，還包括 試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路、接點(diǎn)輸出電路、邏輯處理電路，所述試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路用于產(chǎn)生試驗(yàn)啟 動(dòng)信號(hào)TEST，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST分別送至接點(diǎn)輸出電路、邏輯處理電路；所述接點(diǎn)輸出電 路與斷路器線圈及操作電源電路相連，用于檢測(cè)斷路器線圈試驗(yàn)動(dòng)作電流并將其隔離輸出 至邏輯處理電路；所述邏輯處理電路接收試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST、試驗(yàn)動(dòng)作電流隔離信號(hào)和斷 路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR，作出試驗(yàn)回路是否正確動(dòng)作的邏輯判斷。本實(shí)用新型的目的還可以通過(guò)以下技術(shù)措施來(lái)進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)前述的電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，其中試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路包括自復(fù)位試驗(yàn) 按鈕SB、電阻I R1、電阻II R2、電容C1、第一非門(mén)1、第一或門(mén)2，控制電源的正極依次通過(guò) 復(fù)位試驗(yàn)按鈕SB、電阻I R1、電阻II R2后接地，所述電容C1并聯(lián)于電阻R1的兩端，第一 非門(mén)1的輸入端連接在電阻R1、電阻II R2之間，第一非門(mén)1的輸出端輸出試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)
3TEST，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST和繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)均輸入第一或門(mén)2后輸出；所述接點(diǎn)輸出電 路包括繼電器I K1、繼電器II K2、電阻IIIR3、電阻IVR4、隔離電路3、晶體管I TG1、晶體管 II TG2、第一與門(mén)4、斷路器線圈及操作電源電路，所述晶體管I TG1的基極接入繼電保護(hù)動(dòng) 作信號(hào)，發(fā)射極接地，集電極連接繼電器I K1的線圈后接控制電源正極，所述試驗(yàn)啟動(dòng)信 號(hào)TEST取反后和斷路器位置信號(hào)GZTR輸入到第一與門(mén)4的輸入端，第一與門(mén)4的輸出端連 接晶體管TG2的基極，晶體管II TG2的基極還連接有繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)，晶體管II TG2發(fā)射 極接地，集電極連接繼電器K2的線圈后接控制電源正極，所述斷路器線圈及操作電源電路 的一端依次連接繼電器II K2的常開(kāi)觸點(diǎn)、電阻IV R4后接到隔離電路3輸入端的一側(cè)，輸入 端另一側(cè)連接斷路器線圈及操作電源電路的另一端，所述繼電器I K1的常開(kāi)觸點(diǎn)并聯(lián)于 II繼電器K2的常開(kāi)觸點(diǎn)和斷路器線圈及操作電源電路形成的串聯(lián)電路塊的兩端，所述隔 離電路3的輸出端一側(cè)接地，輸出端另一側(cè)經(jīng)電阻III R3后接控制電源正極，從該側(cè)輸出斷 路器線圈試驗(yàn)電流隔離信號(hào)；所述邏輯處理電路包括第二與門(mén)5、第三與門(mén)7、第二或門(mén)6、 第二非門(mén)8、D觸發(fā)器，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST和斷路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR輸入第二與門(mén)5，從 隔離電路3輸出的斷路器線圈試驗(yàn)電流隔離信號(hào)分為斷路器跳閘試驗(yàn)動(dòng)作信號(hào)TZXH和斷 路器合閘試驗(yàn)動(dòng)作信號(hào)HZXH，兩者輸入第二或門(mén)6，斷路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR經(jīng)過(guò)第二非 門(mén)8后和試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST —起輸入第三與門(mén)7，第二與門(mén)5的輸出端接D觸發(fā)器的S端， 第二或門(mén)6的輸出端接D觸發(fā)器的CLK端，第三與門(mén)7的輸出端接D觸發(fā)器的R端，D觸發(fā) 器的D端和Q1端連接，Q2端輸出邏輯處理信號(hào)給斷路器裝置的CPU監(jiān)測(cè)電路。前述的電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，其中試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路的電阻R1、電阻 R2、電容C1形成的充放電回路充電時(shí)間常數(shù)為8毫秒；所述接點(diǎn)輸出電路的繼電器II K2接 點(diǎn)閉合時(shí)隔離電路3初級(jí)流過(guò)的電流為5-10mA。前述的電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，其中D觸發(fā)器型號(hào)為CD4013。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是技術(shù)可行性好、成本低。整個(gè)電路未 采用復(fù)雜電路和復(fù)雜器件，用戶(hù)可以通過(guò)按動(dòng)試驗(yàn)按鈕完成每天的例行檢查工作，避免惡 性事故發(fā)生，提高供電系統(tǒng)可靠性。

圖1是本實(shí)用新型系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。圖2是本實(shí)用新型的試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路圖。圖3是本實(shí)用新型的接點(diǎn)輸出電路圖。圖4是本實(shí)用新型的邏輯處理電路圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。如圖1所示，本實(shí)用新型包括斷路器線圈及操作電源電路，還包括試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào) 電路、接點(diǎn)輸出電路、邏輯處理電路，所述試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路用于產(chǎn)生試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST， 試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST分別送至接點(diǎn)輸出電路、邏輯處理電路；所述接點(diǎn)輸出電路與斷路器線 圈及操作電源電路相連，用于檢測(cè)斷路器線圈試驗(yàn)動(dòng)作電流并將其隔離輸出至邏輯處理電 路；所述邏輯處理電路接收試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST、試驗(yàn)動(dòng)作電流隔離信號(hào)和斷路器實(shí)際位置
4信號(hào)GZTR，作出試驗(yàn)回路是否正確動(dòng)作的邏輯判斷。具體的，如圖2所示，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路包括自復(fù)位試驗(yàn)按鈕SB、電阻I R1、電阻 II R2、電容C1、第一非門(mén)1、第一或門(mén)2，控制電源的正極依次通過(guò)復(fù)位試驗(yàn)按鈕SB、電阻
IR1、電阻II R2后接地，所述電容C1并聯(lián)于電阻R1的兩端，第一非門(mén)1的輸入端連接在 電阻R1、電阻II R2之間，第一非門(mén)1的輸出端輸出試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST 和繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)均輸入第一或門(mén)2后輸出。如圖3所示，所述接點(diǎn)輸出電路包括繼電 器I K1、繼電器II K2、電阻IIIR3、電阻IVR4、隔離電路3、晶體管I TG1、晶體管II TG2、第一 與門(mén)4、斷路器線圈及操作電源電路，所述晶體管I TG1的基極接入繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)，發(fā) 射極接地，集電極連接繼電器I K1的線圈后接控制電源正極，所述試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST取反 后和斷路器位置信號(hào)GZTR輸入到第一與門(mén)4的輸入端，第一與門(mén)4的輸出端連接晶體管
IITG2的基極，晶體管II TG2的基極還連接有繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)，晶體管II TG2發(fā)射極接 地，集電極連接繼電器II K2的線圈后接控制電源正極，所述斷路器線圈及操作電源電路的 一端依次連接繼電器II K2的常開(kāi)觸點(diǎn)、電阻IV R4后接到隔離電路3輸入端的一側(cè)，輸入端 另一側(cè)連接斷路器線圈及操作電源電路的另一端，所述繼電器I K1的常開(kāi)觸點(diǎn)并聯(lián)于繼 電器II K2的常開(kāi)觸點(diǎn)和斷路器線圈及操作電源電路形成的串聯(lián)電路塊的兩端，所述隔離 電路3的輸出端一側(cè)接地，輸出端另一側(cè)經(jīng)電阻III R3后接控制電源正極，從該側(cè)輸出斷路 器線圈試驗(yàn)電流隔離信號(hào)。如圖4所示，所述邏輯處理電路包括第二與門(mén)5、第三與門(mén)7、第 二或門(mén)6、第二非門(mén)8、D觸發(fā)器，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST和斷路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR輸入第二 與門(mén)5，從隔離電路3輸出的斷路器線圈試驗(yàn)電流隔離信號(hào)分為斷路器跳閘試驗(yàn)動(dòng)作信號(hào) TZXH和斷路器合閘試驗(yàn)動(dòng)作信號(hào)HZXH，兩者輸入第二或門(mén)6，斷路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR經(jīng) 過(guò)第二非門(mén)8后和試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST —起輸入第三與門(mén)7，第二與門(mén)5的輸出端接D觸發(fā) 器的S端，第二或門(mén)6的輸出端接D觸發(fā)器的CLK端，第三與門(mén)7的輸出端接D觸發(fā)器的R 端，D觸發(fā)器的D端和Q1端連接，Q2端輸出邏輯處理信號(hào)接裝置CPU監(jiān)測(cè)電路。在試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路中按下SB試驗(yàn)開(kāi)始，通過(guò)電容和電阻組成的充放電回路，充 電時(shí)間常數(shù)為8ms，經(jīng)過(guò)整形電路形成10ms左右的低電平脈沖，當(dāng)保護(hù)信號(hào)高電平有效時(shí)， 試驗(yàn)信號(hào)立即結(jié)束。接點(diǎn)輸出電路中繼電器I K1稱(chēng)為啟動(dòng)繼電器，僅在正式動(dòng)作時(shí)閉合。另外一個(gè)繼 電器II K2稱(chēng)為動(dòng)作繼電器，在正式動(dòng)作和試驗(yàn)中都閉合，只是閉合時(shí)間長(zhǎng)短不同。試驗(yàn)信 號(hào)和斷路器位置信號(hào)一起形成動(dòng)作繼電器II K2的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，當(dāng)動(dòng)作繼電器接點(diǎn)閉合時(shí)隔 離電路的光耦器件初級(jí)流過(guò)5-10mA電流，此時(shí)外部斷路器線圈流過(guò)同樣大小電流，如試驗(yàn) 過(guò)程正確光耦隔離輸出一個(gè)正脈沖信號(hào)。當(dāng)斷路器為合閘位置時(shí)，跳閘接點(diǎn)回路動(dòng)作，光耦 隔離輸出正脈沖TZXH信號(hào)輸出。當(dāng)斷路器為分閘位置時(shí)，合閘接點(diǎn)回路動(dòng)作，光耦隔離輸 出正脈沖HZXH信號(hào)輸出。如圖4所示，其中TEST為試驗(yàn)啟動(dòng)脈沖信號(hào)，GZTR為斷路器實(shí)際位置信號(hào)，TZXH 為斷路器跳閘回路試驗(yàn)動(dòng)作信號(hào)，HZXH為斷路器合閘回路試驗(yàn)動(dòng)作信號(hào)，所述D觸發(fā)器型 號(hào)為⑶4013，其邏輯功能描述如下⑶4013是一雙D觸發(fā)器，由兩個(gè)相同的、相互獨(dú)立的數(shù) 據(jù)型觸發(fā)器構(gòu)成。每個(gè)觸發(fā)器有獨(dú)立的數(shù)據(jù)、置位、復(fù)位、時(shí)鐘輸入和Q1及Q2輸出，此器件 可用作移位寄存器，且通過(guò)將Q輸出連接到數(shù)據(jù)輸入，可用作計(jì)算器和觸發(fā)器。在時(shí)鐘上升 沿觸發(fā)時(shí)，加在D輸入端的邏輯電平傳送到Q輸出端。置位和復(fù)位與時(shí)鐘無(wú)關(guān)，而分別由置位或復(fù)位線上的高電平完成。其中R端為復(fù)位信號(hào)，S端為置位信號(hào)，當(dāng)R端為“1”和S端 為“0”時(shí)D輸出端為0。當(dāng)R端為“0”和S端為“1”時(shí)D輸出端為1。當(dāng)R端為“0”和S端 為“0”時(shí)觸發(fā)器為可觸發(fā)狀態(tài)，在本例中當(dāng)TEST為“0”電平時(shí)，R端和S端為“0”，觸發(fā)器 為可觸發(fā)狀態(tài)，有跳閘信號(hào)脈沖和合閘信號(hào)脈沖時(shí)，D輸出端信號(hào)發(fā)生反轉(zhuǎn)，表明操作回路 出現(xiàn)動(dòng)作過(guò)程，裝置工作正常。裝置的CPU單元在試驗(yàn)時(shí)檢查D輸出端信號(hào)發(fā)生反轉(zhuǎn)情況， 如發(fā)生電平跳變，則認(rèn)為試驗(yàn)過(guò)程正確，反之則認(rèn)為本次試驗(yàn)失敗，裝置發(fā)出操作回路故障 告警信號(hào)。當(dāng)出現(xiàn)保護(hù)動(dòng)作輸入信號(hào)時(shí)，立即強(qiáng)制TEST信號(hào)為“1”。R端和S端信號(hào)發(fā)生 變化，CD4013退出觸發(fā)方式，D端輸出信號(hào)變化為直接反映斷路器位置狀態(tài)信號(hào)。 除上述實(shí)施例外，本實(shí)用新型還可以有其他實(shí)施方式，凡采用等同替換或等效變 換形成的技術(shù)方案，均落在本實(shí)用新型要求的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，包括斷路器線圈及操作電源電路，其特征在 于，還包括試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路、接點(diǎn)輸出電路、邏輯處理電路，所述試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路用于 產(chǎn)生試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST分別送至接點(diǎn)輸出電路、邏輯處理電路；所述 接點(diǎn)輸出電路與斷路器線圈及操作電源電路相連，用于檢測(cè)斷路器線圈試驗(yàn)動(dòng)作電流并將 其隔離輸出至邏輯處理電路；所述邏輯處理電路接收試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST、試驗(yàn)動(dòng)作電流隔 離信號(hào)和斷路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR，作出試驗(yàn)回路是否正確動(dòng)作的邏輯判斷。
2.如權(quán)利要求1所述的電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，其特征在于，所述試驗(yàn)啟動(dòng) 信號(hào)電路包括自復(fù)位試驗(yàn)按鈕SB、電阻I R1、電阻II R2、電容Cl、第一非門(mén)(1)、第一或門(mén) (2)，控制電源的正極依次通過(guò)復(fù)位試驗(yàn)按鈕SB、電阻I R1、電阻II R2后接地，所述電容Cl 并聯(lián)于電阻I Rl的兩端，第一非門(mén)(1)的輸入端連接在電阻I R1、電阻II R2之間，第一非 門(mén)(1)的輸出端輸出試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST和繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)均輸入 第一或門(mén)(2)后輸出；所述接點(diǎn)輸出電路包括繼電器I K1、繼電器II K2、電阻IIIR3、電阻 IVR4、隔離電路3、晶體管I TG1、晶體管II TG2、第一與門(mén)(4)、斷路器線圈及操作電源電路， 所述晶體管I TGl的基極接入繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)，發(fā)射極接地，集電極連接繼電器I Kl的 線圈后接控制電源正極，所述試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST取反后和斷路器位置信號(hào)GZTR輸入到第 一與門(mén)⑷的輸入端，第一與門(mén)⑷的輸出端連接晶體管II TG2的基極，晶體管II TG2的基 極還連接有繼電保護(hù)動(dòng)作信號(hào)，晶體管II TG2發(fā)射極接地，集電極連接繼電器II K2的線圈 后接控制電源正極，所述斷路器線圈及操作電源電路的一端依次連接繼電器II K2的常開(kāi) 觸點(diǎn)、電阻IV R4后接到隔離電路(3)輸入端的一側(cè)，輸入端另一側(cè)連接斷路器線圈及操作 電源電路的另一端，所述繼電器I Kl的常開(kāi)觸點(diǎn)并聯(lián)于繼電器II K2的常開(kāi)觸點(diǎn)和斷路器 線圈及操作電源電路形成的串聯(lián)電路塊的兩端，所述隔離電路(3)的輸出端一側(cè)接地，輸 出端另一側(cè)經(jīng)電阻III R3后接控制電源正極，從該側(cè)輸出斷路器線圈試驗(yàn)電流隔離信號(hào)；所 述邏輯處理電路包括第二與門(mén)(5)、第三與門(mén)(7)、第二或門(mén)(6)、第二非門(mén)(8)、D觸發(fā)器， 試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)TEST和斷路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR輸入第二與門(mén)(5)，從隔離電路(3)輸出的 斷路器線圈試驗(yàn)電流隔離信號(hào)分為斷路器跳閘試驗(yàn)動(dòng)作信號(hào)TZXH和斷路器合閘試驗(yàn)動(dòng)作 信號(hào)HZXH，兩者輸入第二或門(mén)(6)，斷路器實(shí)際位置信號(hào)GZTR經(jīng)過(guò)第二非門(mén)(8)后和試驗(yàn) 啟動(dòng)信號(hào)TEST—起輸入第三與門(mén)(7)，第二與門(mén)(5)的輸出端接D觸發(fā)器的S端，第二或門(mén) (6)的輸出端接D觸發(fā)器的CLK端，第三與門(mén)(7)的輸出端接D觸發(fā)器的R端，D觸發(fā)器的 D端和Ql端連接，Q2端輸出邏輯處理信號(hào)給斷路器裝置的CPU監(jiān)測(cè)電路。
3.如權(quán)利要求2所述的電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，其特征在于，所述試驗(yàn)啟動(dòng) 信號(hào)電路的電阻I R1、電阻II R2、電容Cl形成的充放電回路充電時(shí)間常數(shù)為8毫秒；所述 接點(diǎn)輸出電路的繼電器II K2接點(diǎn)閉合時(shí)隔離電路(3)初級(jí)流過(guò)的電流為5-10mA。
4.如權(quán)利要求2所述的電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，其特征在于，所述D觸發(fā)器型 號(hào)為 CD4013。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電力保護(hù)設(shè)備操作回路試驗(yàn)電路，包括試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路、接點(diǎn)輸出電路、邏輯處理電路，試驗(yàn)啟動(dòng)信號(hào)電路用于產(chǎn)生低電平試驗(yàn)脈沖信號(hào)，接點(diǎn)輸出電路產(chǎn)生開(kāi)關(guān)斷路器線圈通過(guò)試驗(yàn)動(dòng)作電流的隔離弱電信號(hào)，邏輯處理電路進(jìn)行電力保護(hù)設(shè)備操作回路工作狀態(tài)的判斷。本實(shí)用新型技術(shù)可行性好、成本低。整個(gè)電路未采用復(fù)雜電路和復(fù)雜器件，用戶(hù)可以通過(guò)按動(dòng)試驗(yàn)按鈕完成每天的例行檢查工作，避免惡性事故發(fā)生，提高供電系統(tǒng)可靠性。
文檔編號(hào)G01R31/327GK201780360SQ20102050019
公開(kāi)日2011年3月30日 申請(qǐng)日期2010年8月20日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月20日
發(fā)明者付軍, 蔣蘇建, 陳斌 申請(qǐng)人:鎮(zhèn)江華東電力設(shè)備制造廠