專利名稱：絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置。
背景技術：
目前產(chǎn)線量產(chǎn)的每個機種中均有1兆歐及以上電阻，因靜態(tài)測試均無法準確測 量，靜態(tài)回路測試只能量測IM以內(nèi)的電阻，而動態(tài)測試也無法準確量測大電阻，因此造成 絕緣大電阻市場不良隱患。
發(fā)明內(nèi)容鑒于上述技術隱患，本實用新型的目的是提供一種絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置，該 裝置能實現(xiàn)對IM或IM以上的大電阻進行準確測量。本實用新型采用以下方案實現(xiàn)一種絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置，包括電阻靜態(tài)測 電路、被測大電阻及輔助電阻，其特征在于所述的被測大電阻的兩端電性連接于電阻靜態(tài) 測電路的測試端，所述的輔助電阻的兩端分別與被測大電阻的兩端電性連接。在本實用新型一較佳實施例子中，所述的電阻靜態(tài)測電路是電阻靜態(tài)測試儀。本實用新型對單個零件測量效果顯著，而且其結構簡單，可與現(xiàn)有的其他測試治 具結合成一體，具有較好的使用價值。

圖1是本實用新型結構組成示意圖。
具體實施方式

以下結合附圖及實施例子對本實用新型做進一步說明。如圖1所示，本實用新型一種絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置，包括電阻靜態(tài)測電路、被 測大電阻及輔助電阻，其特征在于所述的被測大電阻的兩端電性連接于電阻靜態(tài)測電路 的測試端，所述的輔助電阻的兩端分別與被測大電阻的兩端電性連接。在本較佳實施例子中，所述的電阻靜態(tài)測電路是電阻靜態(tài)測試儀；所述的靜態(tài)測 試儀的精度為千歐級，在測試兆歐電阻時，通過使所述的靜態(tài)測試儀測試端的被測大電阻 與另一兆歐電阻(輔助電阻)并聯(lián)，而使回路兩端并聯(lián)電阻拉低到千歐級別；與此同時用靜 態(tài)測試的手段測量并聯(lián)電阻的阻值，即根據(jù)R=R1*R2/ (R1+R2)可求出測試回路兩端R的阻 值(注R1為被測大電阻，R2為輔助電阻)，通過測試值的變化判定電阻的不良與否。此外，要說明的是為保證本實用新型測試的可靠性，應該確保此大電阻未與其它 小電阻小電感并聯(lián)，以保證測量準確性。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，凡依本實用新型申請專利范圍所做的均 等變化與修飾，皆應屬本實用新型的涵蓋范圍。
權利要求一種絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置，包括電阻靜態(tài)測電路、被測大電阻及輔助電阻，其特征在于所述的被測大電阻的兩端電性連接于電阻靜態(tài)測電路的測試端，所述的輔助電阻的兩端分別與被測大電阻的兩端電性連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置，其特征在于所述的電阻靜態(tài)測 電路是電阻靜態(tài)測試儀。
專利摘要本實用新型涉及一種絕緣大電阻靜態(tài)測試裝置，包括電阻靜態(tài)測電路、被測大電阻及輔助電阻，其特征在于所述的被測大電阻的兩端電性連接于電阻靜態(tài)測電路的測試端，所述的輔助電阻的兩端分別與被測大電阻的兩端電性連接。本實用新型解決了靜態(tài)回路測試只能量測1M以內(nèi)的電阻,而動態(tài)測試也無法準確量測大電阻，而造成的絕緣大電阻市場不良的隱患，結構簡單，具有較好的市場價值。
文檔編號G01N27/02GK201653958SQ201020168578
公開日2010年11月24日 申請日期2010年4月23日 優(yōu)先權日2010年4月23日
發(fā)明者張福全, 李魁, 沙立明 申請人:福建捷聯(lián)電子有限公司