專利名稱：一種光柵尺的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種光柵尺，尤其是指一種成本低且制作工藝簡化的光柵尺。
背景技術：
隨著光學技術的突飛猛進，用于精確測量的光柵尺應運而生，其結合了光學、電子 技術，廣泛應用于對位移及速度的精密測量中，以取代傳統(tǒng)需結合時間量測工具進行測量 的游標卡尺或千分尺。當前，光柵尺分為增量式及絕對式兩種類型，如圖1，增量式光柵尺是 采用AB相輸出產(chǎn)生近似正弦變化的電信號，以達到位置偵測之目的；如圖2，絕對式光柵尺 包括有編碼區(qū)(ABS)l’和增量區(qū)(INC)2’，而編碼區(qū)1’是采用光敏器件讀數(shù)，如光電二極管 等，增量區(qū)2’也是采用前述AB相輸出模式，最終二者通過數(shù)碼輸出方式產(chǎn)生正弦變化電信 號，實現(xiàn)位置偵測之目的。上述光柵尺相對傳統(tǒng)精密測量手段，具有測量精度高，并可將測 量值通過數(shù)字信號來表示，方便該測量值的讀取與傳輸，然而，上述光柵尺測量時，由于都 需要帶有高速處理器的電子器件并藉以特定軟件來進行計算測量位置，其雖然反應時間較 快，精度也高，但是其成本高，投入大，制作時配套設施繁多，且不利于小型化設計，并相對 與電腦配合時，在軟件或硬件上也會受到一定限制，不利于市場推廣。

實用新型內(nèi)容本實用新型針對上述現(xiàn)有技術所存在之缺失，主要目的在于提供一種成本低、制 作簡化且精確度高的光柵尺。為實現(xiàn)上述之目的，本實用新型采取如下技術方案一種光柵尺，包括一主尺，該主尺上均勻分布有圖案符號；以及一預設有參照點的 檢出器，其設于主尺上方，并相對主尺呈滑動結構，用于采集主尺上圖案符號的圖像并結合 所預設的參照點位置來計算出測量位置。所述檢出器為一種將所采集的圖案符號邊框至參照點之間的像素點數(shù)目以及像 素點之間間距的乘積來計算出主尺測量位置的裝置。所述檢出器為(XD、CIS或CMOS圖像感光器件。本實用新型之優(yōu)點在于利用檢出器來采集主尺上圖案符號的圖像并結合預設的 參照點進行計算相應測量位置，由于該檢出器及主尺系可采用通用配件制得，其相對傳統(tǒng) 增量式及絕對式光柵尺需配合特定電子器件而言，成本低，有利于生產(chǎn)制造，并更可進行小 型化設計，有利于市場推廣。

圖1是現(xiàn)有技術中增量式光柵尺原理示意圖；圖2是現(xiàn)有技術中絕對式光柵尺原理示意圖；圖3是本實用新型的整體示意圖。附圖標號說明[0013]1’、編碼區(qū)2’、增量區(qū)10、主尺11、圖案符號12、圖像邊框20、檢出器21、參照點
具體實施方式
以下結合附圖與具體實施方式
對本實用新型作進一步描述。如圖3所示，一種光柵尺，包括一主尺10和一預設有參照點21的檢出器20，其中所述主尺10上分布有起測量作用的圖案符號11，所述檢出器20可以是(XD、CIS 或CMOS圖像感光器件；該檢出器20附設于主尺10上方，且相對主尺10滑動，系用于采集 主尺10的圖案符號11的圖像并結合參照點位置計算出測量位置，具體而言，該檢出器20 系將所采集主尺10上圖案符號的圖像邊框12至參照點21之間的像素點數(shù)目以及像素點 之間間距的乘積計算出主尺10的測量位置。本實用新型設計重點在于利用檢出器來采集主尺上圖案符號的圖像并結合預設 的參照點進行計算相應測量位置，由于該檢出器及主尺系可采用通用配件制成，其相對傳 統(tǒng)增量式及絕對式光柵尺需配合特定電子器件而言，成本低，有利于生產(chǎn)制造，并更可進行 小型化設計，有利于市場推廣。以上所述，僅是本實用新型較佳實施例而已，并非對本實用新型的技術范圍作任 何限制，故凡是依據(jù)本實用新型的技術實質對以上實施例所作的任何細微修改、等同變化 與修飾，均仍屬于本實用新型技術方案的范圍內(nèi)。
權利要求一種光柵尺，其特征在于包括一主尺，該主尺上均勻分布有圖案符號；以及一預設有參照點的檢出器，其設于主尺上方，并相對主尺呈滑動結構，用于采集主尺上圖案符號的圖像并結合所預設的參照點位置來計算出測量位置。
2.根據(jù)權利要求1所述一種光柵尺，其特征在于所述檢出器為(XD、CIS或CMOS圖像 感光器件。
專利摘要本實用新型涉及一種光柵尺，包括一主尺，該主尺上均勻分布有圖案符號；以及一預設有參照點的檢出器，其設于主尺上方，并相對主尺呈滑動結構，其中，利用檢出器來采集主尺上圖案符號的圖像并結合預設的參照點進行計算相應測量位置，由于該檢出器及主尺系可采用通用配件制成，其相對傳統(tǒng)增量式及絕對式光柵尺需配合特定電子器件而言，成本低，有利于生產(chǎn)制造，并更可進行小型化設計，有利于市場推廣。
文檔編號G01B11/02GK201716005SQ201020116539
公開日2011年1月19日 申請日期2010年2月9日 優(yōu)先權日2010年2月9日
發(fā)明者巫孟良 申請人:廣東萬濠精密儀器股份有限公司