專利名稱：微弱光探測(cè)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量微弱光的探測(cè)組件，應(yīng)用于弱光精密測(cè)量分析領(lǐng)域，同 時(shí)在生物、醫(yī)學(xué)、化學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域的發(fā)光分析技術(shù)中也得到普遍應(yīng)用。
背景技術(shù)：
微弱光檢測(cè)技術(shù)最近在科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域中變得越來(lái)越重要，特別是在檢測(cè)微弱散射 光的拉曼、瑞利散射、生物發(fā)光、化學(xué)發(fā)光、天文、熒光分析等方面，對(duì)微弱光檢測(cè)技術(shù)的要 求越來(lái)越強(qiáng)烈，比如要求探測(cè)器具有計(jì)數(shù)穩(wěn)定性高、抗干擾能力強(qiáng)、低噪聲、高探測(cè)效率等 特點(diǎn)。低噪聲微弱光探測(cè)器組件是微弱光檢測(cè)設(shè)備中的關(guān)鍵部件，為了提高檢測(cè)精度和 穩(wěn)定性，減少外部環(huán)境對(duì)探測(cè)器件的影響，探測(cè)器的溫漂是一個(gè)必須考慮和需要解決的問(wèn) 題。對(duì)探測(cè)器件進(jìn)行制冷是解決這一問(wèn)題的有效辦法，這種處理能夠讓探測(cè)器件保持在一 個(gè)相對(duì)恒定的、并且較低的溫度下工作，減少周圍環(huán)境的溫度變化導(dǎo)致探測(cè)器件熱噪聲的 變化，影響測(cè)試的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。目前該領(lǐng)域廣為采用的方法是將制冷系統(tǒng)結(jié)合到光電倍增管上、共同內(nèi)置于微弱 光探測(cè)器內(nèi)對(duì)光電倍增管制冷，雖然這種方法能有效的解決探測(cè)器的溫漂問(wèn)題，但是，由于 其一體化的結(jié)構(gòu)，使得那些對(duì)溫度環(huán)境不敏感的探測(cè)器也必須強(qiáng)制制冷，進(jìn)而增加了功耗 成本。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型為解決現(xiàn)有技術(shù)中微弱光探測(cè)器不能靈活運(yùn)用制冷結(jié)構(gòu)的問(wèn)題，提供 了另一種微弱光探測(cè)器結(jié)構(gòu)，微弱光探測(cè)器，包括制冷系統(tǒng)、光電倍增管、探測(cè)器外筒、探測(cè)器外筒前蓋和探測(cè) 器外筒后蓋，探測(cè)器外筒的外側(cè)有一平面，所述平面與所述制冷系統(tǒng)的冷面全面接觸。由于本實(shí)用新型將制冷系統(tǒng)和微弱光探測(cè)器各自模塊化，所以可根據(jù)需要自行選 擇是否加裝制冷系統(tǒng)，進(jìn)而提高了靈活性。另外，本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，制作工藝簡(jiǎn)單，在對(duì) 光電倍增管有效制冷的同時(shí)，具有較好的系統(tǒng)穩(wěn)定性。

圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖，具體說(shuō)明本實(shí)用新型的實(shí)施方式。如圖1所示，微弱光探測(cè)器，包括制冷系統(tǒng)、探測(cè)器外筒4和光電倍增管5，制冷系 統(tǒng)包括散熱器1和制冷片2，探測(cè)器外筒4具有一定厚度，其內(nèi)側(cè)能緊密包裹住光電倍增管 5 ；外筒4的外側(cè)加工出一平面，平面的面積至少能全部放下制冷片2，即外筒4與制冷系統(tǒng)的冷面保證良好的全面接觸。 為了保證良好的制冷效果，探測(cè)器外筒4可以使用導(dǎo)熱良好的金屬材料制成，比 如鋁、銅、鐵、鋼等材料。在工作時(shí)，制冷片2通過(guò)探測(cè)器外筒4向光電倍增管5制冷，通過(guò) 散熱器1進(jìn)行散熱。當(dāng)然，為了更好的散熱，制冷系統(tǒng)可以包括散熱器1、制冷片2和在散熱 器1上另加的風(fēng)扇10，風(fēng)扇10可以對(duì)散熱器1良好散熱，從而達(dá)到更佳的制冷目的。另外，現(xiàn)有技術(shù)中，探測(cè)器外筒、探測(cè)器外筒前蓋和探測(cè)器外筒后蓋均使用同一種 金屬材料制成，這樣在制冷片制冷時(shí)比較耗費(fèi)功率，因?yàn)橛行У闹评洳糠謨H僅在于光電倍 增管，并不需要對(duì)整個(gè)探測(cè)器外筒的內(nèi)部進(jìn)行制冷，而且，由于制冷系統(tǒng)內(nèi)置于微弱光探測(cè) 器內(nèi)，從而使探測(cè)器外筒的內(nèi)部溫度有所升高，光電倍增管5不能被更有效的制冷。本實(shí)用 新型可以進(jìn)一步節(jié)省制冷功率、加強(qiáng)對(duì)光電倍增管的制冷效果，采取的方案是將探測(cè)器外 筒前蓋8和探測(cè)器外筒后蓋9換成不良導(dǎo)熱的非金屬材料，以確保制冷片2的冷面只將冷 氣傳給光電倍增管5，而不用對(duì)其他不必要的部位進(jìn)行制冷。而且，由于制冷系統(tǒng)和微弱光 探測(cè)器各自模塊化，所以探測(cè)器外筒不需要對(duì)制冷結(jié)構(gòu)預(yù)留空間，減少了微弱光探測(cè)器的 體積，節(jié)省了空間。
權(quán)利要求一種微弱光探測(cè)器，包括制冷系統(tǒng)、光電倍增管、探測(cè)器外筒、探測(cè)器外筒前蓋和探測(cè)器外筒后蓋，其特征在于探測(cè)器外筒的外側(cè)有一平面，所述平面與所述制冷系統(tǒng)的冷面全面接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微弱光探測(cè)器，其特征在于所述探測(cè)器外筒使用導(dǎo)熱良好 的金屬材料制成。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微弱光探測(cè)器，其特征在于所述探測(cè)器外筒使用的金屬材 料為鋁。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微弱光探測(cè)器，其特征在于所述探測(cè)器外筒前蓋和所 述探測(cè)器外筒后蓋由不良導(dǎo)熱的非金屬材料制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微弱光探測(cè)器，其特征在于所述制冷系統(tǒng)包括制冷片 和散熱器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微弱光探測(cè)器，其特征在于所述制冷系統(tǒng)包括制冷片、 散熱器和置于散熱器上的風(fēng)扇。
專利摘要一種應(yīng)用于弱光精密測(cè)量分析領(lǐng)域的微弱光探測(cè)器，包括制冷系統(tǒng)、光電倍增管、探測(cè)器外筒、探測(cè)器外筒前蓋和探測(cè)器外筒后蓋，探測(cè)器外筒的外側(cè)有一平面，所述平面與所述制冷系統(tǒng)的冷面全面接觸。本實(shí)用新型可將制冷系統(tǒng)和微弱光探測(cè)器各自模塊化，根據(jù)需要自行選擇是否加裝制冷系統(tǒng)，進(jìn)而提高了靈活性。
文檔編號(hào)G01J1/04GK201611278SQ20102004678
公開(kāi)日2010年10月20日 申請(qǐng)日期2010年1月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月14日
發(fā)明者申玲, 譚永紅 申請(qǐng)人:北京濱松光子技術(shù)股份有限公司