專利名稱：Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于光纖彎曲損耗檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有光纖傳感器的種類非常多，主要包括光纖光柵傳感器、光纖干涉?zhèn)鞲衅鞯榷喾N類型，其特點(diǎn)是傳感靈敏度高，但是實(shí)際應(yīng)用過程中，存在設(shè)備復(fù)雜、使用運(yùn)行成本高等缺陷和不足，從而使得光纖傳感器的應(yīng)用推廣受到很大限制。尤其是對較高靈敏度的光纖傳感器，其會影響使用過程中各種環(huán)境條件的改變情形，如光纖干涉?zhèn)鞲衅鳎捎谄潇`敏度很高，但當(dāng)其應(yīng)用于實(shí)際條件下后，發(fā)現(xiàn)溫度、氣壓、振動等環(huán)境因素均會對其工作參數(shù)造成影響，因而實(shí)際使用時，不得不采取多種措施來防止和剔除上述環(huán)境因素的影響，從而使得監(jiān)測設(shè)備的結(jié)構(gòu)越來越趨于復(fù)雜，運(yùn)行使用成本大幅提高。而光纖微彎傳感器是一種光強(qiáng)度調(diào)制的傳感器，具有成本低、靈敏度高、具有一定的環(huán)境抗干擾能力的特點(diǎn)，但其可探測的作用距離小，只有約數(shù)百微米，使該傳感器的使用受到限制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于針對上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理、加工制作方便且使用方式靈活、靈敏度高、使用效果好，并能夠利用橋式溫度補(bǔ)償結(jié)構(gòu)進(jìn)行溫度補(bǔ)償，從而使測試結(jié)果更靈敏和準(zhǔn)確。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是一種Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于包括供信號光纖穿過的兩個及兩個以上的一字形測試通道、與信號光纖相接且對信號光纖中的光信號功率變化量進(jìn)行同步測試的測試單元和與測試單元相接且對測試單元的測試結(jié)果進(jìn)行分析處理的處理單元；所述兩個及兩個以上的一字形測試通道包括在端部所施加外應(yīng)力F的作用下能發(fā)生變形并相應(yīng)壓彎信號光纖的Z字形支架、在Z字形支架的兩個及兩個以上的下凹處的相對兩側(cè)布設(shè)有多組變形齒一和多組變形齒二，每一組變形齒一均包括一個變形齒一或并排布設(shè)的多個變形齒一，每一組變形齒二均包括一個變形齒二或并排布設(shè)的多個變形齒二，多組變形齒一和多組變形齒二之間呈交錯對應(yīng)布設(shè)且二者的頭部之間形成供一個或多個信號光纖穿過的兩個及兩個以上的一字形通道，所述變形齒一和變形齒二對應(yīng)布設(shè)在信號光纖兩側(cè)；還包括兩個導(dǎo)向桿，所述導(dǎo)向桿垂直貫通于整個Z字形支架且與所述一字形測試通道相垂直，所述導(dǎo)向桿與Z字形支架滑動配合，所述Z字形支架由在信號光纖的發(fā)生彎曲平面上隨溫度變化發(fā)生伸縮變形且變形量與變形齒一和變形齒二在信號光纖的發(fā)生彎曲平面上的變形量相抵消的上安裝節(jié)段和下安裝節(jié)段組成，所述上安裝節(jié)段與下安裝節(jié)段呈間隔布設(shè)且相互連接，所述變形齒一和變形齒二分別安裝在上安裝節(jié)段和下安裝節(jié)段上。上述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述Z字形支架由上安裝節(jié)段、下安裝節(jié)段以及能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形且變形量與變形齒一和變形齒二在高度上的變形量相抵消的側(cè)壁節(jié)段三部分組成，所述變形齒一和變形齒二分別安裝在上安裝節(jié)段和下安裝節(jié)段上，所述上安裝節(jié)段布設(shè)在下安裝節(jié)段上方且二者之間通過側(cè)壁節(jié)段相連接。上述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述變形齒一和變形齒二的外部均設(shè)置有一層或多層由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料、磁致伸縮材料、電致伸縮材料或能吸收被監(jiān)測對象并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的材料制成的伸縮變形層
ο上述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述信號光纖的外部設(shè)置有一層或多層由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料、磁致伸縮材料、電致伸縮材料或能吸收被監(jiān)測對象并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的材料制成的伸縮變形層二。上述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述信號光纖的一端設(shè)置有光反射裝置。上述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述信號光纖為外部包有多層保護(hù)層的光纖。上述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述的每一組變形齒一的并排布設(shè)的多個變形齒一所形成的多列變形齒中，每一列的變形齒齒距或齒高與其它列的變形齒的齒距或齒高是不同的，每一組變形齒二的并排布設(shè)的多個變形齒二所形成的多列變形齒中，每一列的變形齒齒距或齒高與其它列的變形齒的齒距或齒高是不同的。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點(diǎn)1、結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理且加工制作方便、加工制作成本低。2、使用操作簡便且測試精度高，可以有效降低環(huán)境溫度對光纖傳感器的影響，使該光纖傳感裝置使用更方便，成本更低。3、適用范圍廣，在消減溫度影響的基礎(chǔ)上，還可以實(shí)現(xiàn)監(jiān)測多種氣體、液體、磁場、 電場等參數(shù)的變化，擴(kuò)展了該光纖傳感裝置的使用范圍。4、經(jīng)濟(jì)及社會效益顯著，實(shí)用價值高，可以低成本的構(gòu)建傳感器網(wǎng)絡(luò)，不需要每個傳感器附近都設(shè)置一個溫度傳感器來補(bǔ)償溫度的變化，滿足實(shí)際工程的需要。5、該裝置中，由于導(dǎo)向桿的安置使得整個傳感裝置除了沿著導(dǎo)向桿的方向變形外其它方向具有較好的剛性，使本裝置具有較好的環(huán)境適應(yīng)能力和抗干擾能力，從而提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。綜上所述，本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理、加工制作方便、成本低且使用方式靈活、靈敏度高、使用效果好，能有效消除或減少溫度對測量精度的影響，具有廣闊的市場應(yīng)用前
旦
ο下面通過附圖和實(shí)施例，對本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為圖1中A-A剖面結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4為實(shí)施例3的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為實(shí)施例4的結(jié)構(gòu)示意圖。圖6為實(shí)施例5的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記說明4-1-變形齒一；4-2-變形齒二； 5-測試單元；6-信號光纖； 7-處理單元；8-延長光纖；IO-Z字形支架；15-伸縮變形層一 ；21-上安裝節(jié)段；22-下安裝節(jié)段；25-導(dǎo)向桿。
具體實(shí)施例方式實(shí)施例1如圖1和2所示的一種Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，包括供信號光纖6 穿過的兩個及兩個以上的一字形測試通道、與信號光纖6相接且對信號光纖6中的光信號功率變化量進(jìn)行同步測試的測試單元5和與測試單元5相接且對測試單元5的測試結(jié)果進(jìn)行分析處理的處理單元7 ；所述兩個及兩個以上的一字形測試通道包括在端部所施加外應(yīng)力F的作用下能發(fā)生變形并相應(yīng)壓彎信號光纖6的Z字形支架10、在Z字形支架10的兩個及兩個以上的下凹處的相對兩側(cè)布設(shè)有多組變形齒一 4-1和多組變形齒二 4-2，每一組變形齒一 4-1均包括一個變形齒一 4-1或并排布設(shè)的多個變形齒一 4-1，每一組變形齒二 4-2 均包括一個變形齒二 4-2或并排布設(shè)的多個變形齒二 4-2，多組變形齒一 4-1和多組變形齒二 4-2之間呈交錯對應(yīng)布設(shè)且二者的頭部之間形成供一個或多個信號光纖6穿過的兩個及兩個以上的一字形通道，所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2對應(yīng)布設(shè)在信號光纖6兩側(cè)； 還包括兩個導(dǎo)向桿25，所述導(dǎo)向桿25垂直貫通于整個Z字形支架10且與所述一字形測試通道相垂直，所述導(dǎo)向桿25與Z字形支架10滑動配合，所述Z字形支架10由在信號光纖 6的發(fā)生彎曲平面上隨溫度變化發(fā)生伸縮變形且變形量與變形齒一 4-1和變形齒二 4-2在信號光纖6的發(fā)生彎曲平面上的變形量相抵消的上安裝節(jié)段21和下安裝節(jié)段22組成，所述上安裝節(jié)段21與下安裝節(jié)段22呈間隔布設(shè)且相互連接，所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2分別安裝在上安裝節(jié)段21和下安裝節(jié)段22上。本實(shí)施例中，每一組變形齒一 4-1均包括一個變形齒一 4-1，且每一組變形齒二 4-2均包括一個變形齒二 4-2，相應(yīng)地，多組變形齒一 4-1和多組變形齒二 4-2的頭部間形成供一個信號光纖6穿過的曲線形通道。所述信號光纖6具體通過延長光纖8與測試單元 5相接，所述測試單元5為分別與信號光纖6的前后端部相接的光源和光功率計(jì)。在外界物理量(具體為外應(yīng)力F)的作用下改變Z字形支架10兩端的間距時，就同時改變布設(shè)在ζ字形支架10下凹處的變形齒一 4-1和變形齒二 4-2之間的距離，拉伸或壓縮Z字形支架10的兩端并使Z字形支架10整體伸長或縮短，就可以同時使布設(shè)在Z字形支架10的變形齒一 4-1和變形齒二 4-2相反運(yùn)動或相對運(yùn)動，并相應(yīng)使變形齒一 4-1和變形齒二 4-2間的距離拉大或縮小，從而就可以改變在變形齒一 4-1和變形齒二 4-2間所夾的信號光纖6的彎曲半徑，也即改變信號光纖6的彎曲損耗系數(shù)，從而改變了信號光纖6 內(nèi)傳輸?shù)墓庑盘柕乃p大小，通過測試單元5檢測到該光信號功率的變化并將該變化傳遞給處理單元7進(jìn)行分析處理后，便可得到作用在Z字形支架10上的物理量的大小。
實(shí)際使用過程中，本發(fā)明還可以采用另一種檢測方式，即Z字形支架10的兩端位置不變，此時所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2均由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料、磁致伸縮材料、電致伸縮材料或能吸收被監(jiān)測對象并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的材料制成。 另外，也可以在所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的外部均設(shè)置有一層或多層由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料、磁致伸縮材料、電致伸縮材料或能吸收被監(jiān)測對象并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的材料制成的伸縮變形層一 15?；蛘撸鲂盘柟饫w6的外部設(shè)置有一層或多層由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料、磁致伸縮材料、電致伸縮材料或能吸收被監(jiān)測對象并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的材料制成的伸縮變形層二。采用此時檢測方式進(jìn)行檢測時，當(dāng)外界被監(jiān)測物理量(即監(jiān)測對象，具體為磁信號、電信號或能被吸收的物質(zhì)等)的變化導(dǎo)致變形齒一 4-1、變形齒二 4-2和信號光纖6的體積發(fā)生伸縮變形或?qū)е律炜s變形層發(fā)生伸縮變形時，相應(yīng)使變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的高度發(fā)生變化，并使變形齒一 4-1和變形齒二 4-2間的距離拉大或縮小，從而就可以改變在變形齒一 4-1和變形齒二 4-2間所夾的信號光纖6的彎曲半徑，也即改變信號光纖 6的彎曲損耗系數(shù)，從而改變了信號光纖6內(nèi)傳輸?shù)墓庑盘柕乃p大小，通過測試單元5檢測到該光信號功率的變化并將該變化傳遞給處理單元7進(jìn)行分析處理后，便可得到被監(jiān)測物理量的大小。如采用本發(fā)明探測空氣中的氫氣濃度時，則所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2均由能吸收氫氣并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的金屬鈀或鈀合金材料制成，也可以在變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的外側(cè)均涂覆一層或多層由能吸收氫氣并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的金屬鈀或鈀合金材料制成的伸縮變形層一 15。實(shí)際使用過程中，Z字形支架10置于含氫氣分子環(huán)境中， 當(dāng)氫氣濃度發(fā)生改變時，金屬鈀或鈀合金材料吸收氫氣并隨著氫氣濃度的變化體積變大或變小，從而導(dǎo)致變形齒一 4-1和變形齒二 4-2間的距離拉大或縮小，從而就可以改變在二者的變形齒間夾有的信號光纖6的彎曲半徑，也即改變信號光纖6的彎曲損耗系數(shù)，從而改變了信號光纖6內(nèi)傳輸?shù)墓庑盘柕乃p大小，通過測試單元5檢測到該光信號功率的變化并將該變化傳遞給處理單元7進(jìn)行分析處理，即可得到空氣中氫氣的濃度變化量。同理，信號光纖6外側(cè)鍍覆一層或多層由能吸收氫氣并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的金屬鈀或鈀合金材料制成的伸縮變形層二時，在氫氣濃度變化時導(dǎo)致該伸縮變形層二的體積變化時，也能得到使Z字形支架10上所分布多個變形齒一 4-1和多個變形齒二 4-2之間的距離發(fā)生改變的同等效果，從而達(dá)到監(jiān)測物理量的目的。本實(shí)施例中，所述信號光纖6的一端設(shè)置有光反射裝置，所述光反射裝置可以是光反射鏡或光纖光柵等。所述光反射裝置的作用是使信號光纖6內(nèi)部傳輸?shù)墓庑盘柨梢詢纱瓮ㄟ^所述測試通道的傳感部位，從而使測試精度提高一倍。實(shí)際使用過程中，溫度變化對傳感器監(jiān)測非溫度參數(shù)是一個不利因素，特別是對高精度的檢測儀器影響更大，為消減溫度的影響，則所述ζ字形支架10、變形齒一 4-1、 變形齒二 4-2和信號光纖6的膨脹系數(shù)滿足公式α柱XLtt XNX AT-QftX (Lltt+L2 齒)ΧΝΧ Δ T-α纖Xd纖XNX ΔΤ = 0，式中α柱為Z字形支架10所用材料的膨脹系數(shù)，L柱為Z字形支架10下凹處在信號光纖6發(fā)生彎曲平面上的投影長度，α s為變形齒一 4-1和變形齒二 4-2所用材料的膨脹系數(shù)，Lis和L2s分別為變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的在信號光纖6發(fā)生彎曲平面上的投影高度，N為信號光纖6的層數(shù)，α纟〒為信號光纖6所用材料的膨脹系數(shù)，為信號光纖6的直徑，ΔΤ為溫度變化量?？梢钥闯?，當(dāng)Z字形支架10、變形齒一 4-1、變形齒二 4-2和信號光纖6滿足上式時，本發(fā)明在一定的溫度變化范圍內(nèi)不受溫度變化的影響或者能較大程度上消減溫度變化的影響，即補(bǔ)償了溫度的變化對測試結(jié)果的影響。同時，在對測試結(jié)果的精度要求不是很高情況下，也可以去掉光纖部分的膨脹系數(shù)計(jì)算項(xiàng)。本實(shí)施例中，所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2均由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料制成。具體而言當(dāng)去掉光纖部分的膨脹系數(shù)計(jì)算項(xiàng)時，所述Z字形支架10、變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的膨脹系數(shù)滿足公式α波XL波ΧΝΧΔΤ-α齒X(L1S+L2S)XNXAT =0。所述的每一組變形齒一 4-1的并排布設(shè)的多個變形齒一 4-1所形成的多列變形齒中，每一列的變形齒齒距或齒高與其它列的變形齒的齒距或齒高是不同的，每一組變形齒二 4-2的并排布設(shè)的多個變形齒二 4-2所形成的多列變形齒中，每一列的變形齒齒距或齒高與其它列的變形齒的齒距或齒高是不同的。本實(shí)施例中，所述信號光纖6為外部包有多層保護(hù)層的光纖，如緊套光纖、碳涂覆光纖、聚酰亞胺涂覆光纖等；所述信號光纖6也可以是塑料光纖、細(xì)徑光纖(如裸光纖外徑 60或80微米的光纖)或光子晶體光纖。實(shí)施例2如圖3所示，本實(shí)施例與實(shí)施例1不同的是所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2之間并排夾持有第二個信號光纖6。本實(shí)施例中，其余部分的結(jié)構(gòu)、連接關(guān)系和工作原理均與實(shí)施例1相同。實(shí)施例3如圖4所示，本實(shí)施例與實(shí)施例1不同的是所述Z字形支架10由上安裝節(jié)段21、 下安裝節(jié)段22以及能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形且變形量與變形齒一 4-1和變形齒二 4-2 在高度上的變形量相抵消的側(cè)壁節(jié)段23三部分組成，所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2分別安裝在上安裝節(jié)段21和下安裝節(jié)段22上，所述上安裝節(jié)段21布設(shè)在下安裝節(jié)段22上方且二者之間通過側(cè)壁節(jié)段23相連接。本實(shí)施例中，其余部分的結(jié)構(gòu)、連接關(guān)系和工作原理均與實(shí)施例1相同。實(shí)施例4如圖5所示，本實(shí)施例與實(shí)施例1不同的是每一組變形齒一 4-1均包括并排布設(shè)的兩個變形齒一 4-1，每一組變形齒二 4-2均包括并排布設(shè)的兩個變形齒二 4-2，相應(yīng)地， 多組變形齒一 4-1和多組變形齒二 4-2的頭部間形成供兩個信號光纖6穿過的通道，從而達(dá)到能同時監(jiān)測兩項(xiàng)物理量變化的目的。實(shí)際使用過程中，也可以根據(jù)實(shí)際監(jiān)測需要，對每一組變形齒一 4-1中所包括變形齒一 4-1的數(shù)量和每一組變形齒二 4-2中所包括變形齒二 4-2的數(shù)量進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整。本實(shí)施例中，其余部分的結(jié)構(gòu)、連接關(guān)系和工作原理均與實(shí)施例 1相同。實(shí)施例5如圖6所示，本實(shí)施例與實(shí)施例1不同的是所述變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的外側(cè)均涂覆有一個伸縮變形層一 15，用于監(jiān)測氫氣濃度的變化時，該伸縮變形層一 15可以是金屬鈀或鈀合金層，當(dāng)伸縮變形層一 15的體積隨著氫氣濃度的變化而變化后，使Z字形
8支架10下凹處所布設(shè)的變形齒一 4-1和變形齒二 4-2間的距離改變，從而就可以改變在變形齒一 4-1和變形齒二 4-2間所夾信號光纖6的彎曲半徑，也即改變信號光纖6的彎曲損耗系數(shù)，從而改變了信號光纖6內(nèi)傳輸?shù)墓庑盘柕乃p大小，通過測試單元5檢測到該光信號功率的變化并將該變化傳遞給處理單元7進(jìn)行分析處理，即可得到氫氣濃度的變化量。本實(shí)施例中，其余部分的結(jié)構(gòu)、連接關(guān)系和工作原理均與實(shí)施例1相同。同時，也可以在變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的外側(cè)鍍覆兩層或兩層以上的伸縮變形層一 15來監(jiān)測。如鍍覆兩層伸縮變形層一 15時，且兩個伸縮變形層一 15分別為用于監(jiān)測甲烷氣體含量的變形層一和起催化作用的變形層二。如監(jiān)測煤礦井下的甲烷氣體含量時，在變形齒一 4-1和變形齒二 4-2的表面上均鍍覆一層體積易變化的高分子材料層(如聚乙烯)作為變形層一，然后再在變形層一上在蒸鍍一層鉬膜作為變形層二，當(dāng)空氣中有甲烷分子時，在鉬膜的催化作用下氧化放熱使變形層一的高分子材料層受熱膨脹，從而使多組變形齒一 4-1和多組變形齒二 4-2之間的距離改變，從而就可以改變在變形齒一 4-1 和變形齒二 4-2之間的信號光纖6的彎曲半徑，也即改變信號光纖6的彎曲損耗系數(shù)，從而改變了信號光纖6內(nèi)傳輸?shù)墓庑盘柕乃p大小，通過測試單元5檢測到該光信號功率的變化并將該變化傳遞給處理單元7進(jìn)行分析處理，即可得到甲烷氣體濃度的變化量。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非對本發(fā)明作任何限制，凡是根據(jù)本發(fā)明技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、變更以及等效結(jié)構(gòu)變化，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種ζ字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于包括供信號光纖(6)穿過的兩個及兩個以上的一字形測試通道、與信號光纖(6)相接且對信號光纖(6)中的光信號功率變化量進(jìn)行同步測試的測試單元( 和與測試單元( 相接且對測試單元(5)的測試結(jié)果進(jìn)行分析處理的處理單元(7)；所述兩個及兩個以上的一字形測試通道包括在端部所施加外應(yīng)力F的作用下能發(fā)生變形并相應(yīng)壓彎信號光纖(6)的Z字形支架(10)、在Z 字形支架(10)的兩個及兩個以上的下凹處的相對兩側(cè)布設(shè)有多組變形齒一 G-1)和多組變形齒二 G-2)，每一組變形齒一 G-1)均包括一個變形齒一 G-1)或并排布設(shè)的多個變形齒一 G-1)，每一組變形齒二(4- 均包括一個變形齒二(4- 或并排布設(shè)的多個變形齒二 G-2)，多組變形齒一和多組變形齒二(4- 之間呈交錯對應(yīng)布設(shè)且二者的頭部之間形成供一個或多個信號光纖(6)穿過的兩個及兩個以上的一字形通道，所述變形齒一 (4-1)和變形齒二(4- 對應(yīng)布設(shè)在信號光纖(6)兩側(cè)；還包括兩個導(dǎo)向桿(25)，所述導(dǎo)向桿0 垂直貫通于整個Z字形支架(10)且與所述一字形測試通道相垂直，所述導(dǎo)向桿0 與Z字形支架(10)滑動配合，所述Z字形支架(10)由在信號光纖(6)的發(fā)生彎曲平面上隨溫度變化發(fā)生伸縮變形且變形量與變形齒一(4-1)和變形齒二(4- 在信號光纖 (6)的發(fā)生彎曲平面上的變形量相抵消的上安裝節(jié)段和下安裝節(jié)段0 組成，所述上安裝節(jié)段與下安裝節(jié)段0 呈間隔布設(shè)且相互連接，所述變形齒一(4-1)和變形齒二(4-2)分別安裝在上安裝節(jié)段和下安裝節(jié)段02)上。
2.按照權(quán)利要求1所述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述Z 字形支架(10)由上安裝節(jié)段(21)、下安裝節(jié)段0 以及能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形且變形量與變形齒一 G-1)和變形齒二(4- 在高度上的變形量相抵消的側(cè)壁節(jié)段三部分組成，所述變形齒一(4-1)和變形齒二(4-2)分別安裝在上安裝節(jié)段和下安裝節(jié)段 (22)上，所述上安裝節(jié)段布設(shè)在下安裝節(jié)段0 上方且二者之間通過側(cè)壁節(jié)段03) 相連接。
3.按照權(quán)利要求1所述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述變形齒一(4-1)和變形齒二(4- 的外部均設(shè)置有一層或多層由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料、磁致伸縮材料、電致伸縮材料或能吸收被監(jiān)測對象并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的材料制成的伸縮變形層一(15)。
4.按照權(quán)利要求1所述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述信號光纖(6)的外部設(shè)置有一層或多層由能隨溫度變化發(fā)生伸縮變形的熱變形材料、磁致伸縮材料、電致伸縮材料或能吸收被監(jiān)測對象并相應(yīng)發(fā)生伸縮變形的材料制成的伸縮變形層一。
5.按照權(quán)利要求1所述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述信號光纖(6)的一端設(shè)置有光反射裝置。
6.按照權(quán)利要求1所述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述信號光纖(6)為外部包有多層保護(hù)層的光纖。
7.按照權(quán)利要求1所述的Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，其特征在于所述的每一組變形齒一 G-1)的并排布設(shè)的多個變形齒一 G-1)所形成的多列變形齒中，每一列的變形齒齒距或齒高與其它列的變形齒的齒距或齒高是不同的，每一組變形齒二(4-2) 的并排布設(shè)的多個變形齒二(4- 所形成的多列變形齒中，每一列的變形齒齒距或齒高與其它列的變形齒的齒距或齒高是不同的。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種Z字形高靈敏度光纖彎曲損耗檢測裝置，包括供信號光纖穿過的兩個及兩個以上的一字形測試通道、與信號光纖相接的測試單元和與測試單元相接的處理單元；一字形測試通道包括Z字形支架、在Z字形支架的兩個及兩個以上的下凹處的相對兩側(cè)布設(shè)有多組變形齒一和多組變形齒二，多組變形齒一和多組變形齒二的頭部之間形成供一個或多個信號光纖穿過的兩個及兩個以上的一字形通道，變形齒一和變形齒二對應(yīng)布設(shè)在信號光纖兩側(cè)；還包括兩個導(dǎo)向桿，導(dǎo)向桿垂直貫通于整個Z字形支架且與一字形測試通道相垂直，導(dǎo)向桿與Z字形支架滑動配合。本發(fā)明結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，使用效果好，適應(yīng)能力強(qiáng)，且測試結(jié)果靈敏、準(zhǔn)確。
文檔編號G01D5/353GK102538843SQ20101058772
公開日2012年7月4日 申請日期2010年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月15日
發(fā)明者杜兵 申請人:西安金和光學(xué)科技有限公司