專利名稱:一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法
技術領域:
本發(fā)明屬于輻射防護及測量技術領域,具體涉及一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法。
背景技術:
X、γ射線個人劑量計主要供從事放射性工作的人員作為X、Y射線輻射的個人劑量監(jiān)測使用,這類劑量計具有讀數(shù)直觀、性能可靠、攜帶方便、操作簡單的特點,在核工業(yè)領域以及放射醫(yī)學領域被廣泛使用。劑量計一般是通過在標準源的標準場中進行刻度,得到刻度系數(shù),然后利用刻度系數(shù)進行具體的輻射劑量測量工作。目前,國產的用于X、Y射線劑量測量的電子個人劑量計適用的能量范圍通常在 50KeV 1. 5MeV之間,此測量范圍通常能夠滿足大部分場合的個人劑量測量的需要,但在以低能量射線照射為主的情況下,例如放射介入治療、X射線診斷等醫(yī)學領域,則難以滿足需要。國外一些先進的X、Y電子劑量計適用的能量范圍可以達到15KeV 9MeV,可以同時滿足醫(yī)療與核工業(yè)領域劑量測量的需要,但其能量響應補償技術一般不公開,無法直接引用其方法。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于針對目前通用的X、Y射線個人劑量計無法滿足低能量射線照射測量的情況,提供一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,使一個劑量計能夠滿足更多場合的個人劑量測量的需要。為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術方案如下一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,包括如下步驟(1)將個人劑量計分別置于低能標準場和高能標準場,分別得到相應的刻度系數(shù), 將兩個刻度系數(shù)存入劑量計中;(2)對個人劑量計所應用的放射性場所的射線能量范圍進行預先估計;(3)根據(jù)射線能量范圍的估計情況,調用個人劑量計內不同檔的刻度系數(shù),進行輻射劑量的測量。進一步,如上所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,其中,低能標準場采用的輻射質為N-40,平均能量為33KeV,高能標準場采用137Cs或6tlCo標準源。進一步,如上所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,步驟O)中估計放射性場所的射線能量范圍是80KeV以下為主,還是50KeV以上為主,還是50KeV-80KeV之間為主。進一步,如上所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,步驟(3)中如果估計放射性場所的射線能量范圍是SOKeV以下為主,則選擇低能檔的刻度系數(shù);如果估計放射性場所的射線能量范圍是50KeV以上為主,則選擇高能檔的刻度系數(shù);如果估計放射性場所的射線能量范圍是50KeV-80KeV之間為主,則可以任意選擇低能檔的刻度系數(shù)或高能檔的刻度系數(shù)。本發(fā)明的有益效果如下本發(fā)明采用對不同能量的射線采用不同的刻度系數(shù)的方法,使個人劑量計具有對不同能量的射線進行分檔測量的功能,分為低能檔與高能檔,用戶只要預先知道劑量計所在的場合的大致的能量范圍,就可以通過選擇測量檔位的方式,實現(xiàn)對不同能量范圍輻射劑量的測量,以使得一個劑量計能夠滿足更多場合的個人劑量測量的需要。
具體實施例方式下面結合實施例對本發(fā)明進行詳細的描述。本發(fā)明采用對不同能量的射線使用不同的刻度系數(shù)的方法來解決目前通用的X、 Y射線個人劑量計無法滿足低能量射線照射測量的問題。用戶需要預先知道劑量計所在的場合的大致的能量范圍。一般在放射介入治療、 X射線診斷等醫(yī)療領域,輻射現(xiàn)場射線以低于SOKeV的X射線為主;在核工業(yè)的大多數(shù)領域以及Y刀治療等醫(yī)學領域,輻射現(xiàn)場射線以50KeV以上為主,因此,“預先知道劑量計所在的場合的大致的能量范圍”這個前提條件一般是可以滿足的。
具體實施方式
主要是通過刻度與軟件實現(xiàn)。將劑量計分別置于低能標準場與高能標準場得到不同的刻度系數(shù),將兩個系數(shù)存入劑量計中。低能標準場可采用符合GB/T 12162. X-2004《用于校準劑量儀和劑量率儀及確定其能量響應的X和、參考輻射》的輻射質為N-40 (平均能量33KeV)的輻射場。高能標準場可采用137Cs或6tlCo源。在現(xiàn)場,劑量計進行使用前,對個人劑量計所應用的放射性場所的射線能量范圍進行預先估計,人工通過按鍵選擇劑量計的檔位,使內部軟件程序調用不同的刻度參數(shù),然后進行測量。如果預知現(xiàn)場射線的能量范圍以SOKeV以下為主,則將劑量計設置為低能檔,采用低能檔刻度系數(shù);如果預知現(xiàn)場射線能量范圍以50KeV以上為主,則將劑量計設置為高能檔,采用高能檔刻度系數(shù)。對于上述能量范圍重疊的部分,可以使用任意檔。采用分檔刻度的方法,得到兩組刻度系數(shù),低能檔適于測量20 SOKeV能量范圍的Χ、γ射線的個人劑量當量,高能檔適于測量50KeV 1.5MeV能量范圍的X、γ射線的個人劑量當量。通過這種分檔刻度測量的方法,使得一臺劑量計能夠滿足更多場合的劑量測量的需要。顯然,本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣,倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其同等技術的范圍之內,則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內。
權利要求
1.一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,包括如下步驟(1)將個人劑量計分別置于低能標準場和高能標準場,分別得到相應的刻度系數(shù),將兩個刻度系數(shù)存入劑量計中;(2)對個人劑量計所應用的放射性場所的射線能量范圍進行預先估計;(3)根據(jù)射線能量范圍的估計情況,調用個人劑量計內不同檔的刻度系數(shù),進行輻射劑量的測量。
2.如權利要求1所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,其特征在于步驟(1) 中,低能標準場采用的輻射質為N-40,平均能量為33KeV ;高能標準場采用137Cs或6tlCo標準源。
3.如權利要求1所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,其特征在于步驟 (2)中,估計放射性場所的射線能量范圍是SOKeV以下為主,還是50KeV以上為主,還是 50KeV-80KeV之間為主。
4.如權利要求3所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法,其特征在于步驟(3) 中,如果估計放射性場所的射線能量范圍是SOKeV以下為主,則選擇低能檔的刻度系數(shù);如果估計放射性場所的射線能量范圍是50KeV以上為主,則選擇高能檔的刻度系數(shù);如果估計放射性場所的射線能量范圍是50KeV-80KeV之間為主,則可以任意選擇低能檔的刻度系數(shù)或高能檔的刻度系數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明屬于輻射防護及測量技術領域,具體涉及一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法。該方法將個人劑量計分別置于低能標準場和高能標準場,分別得到相應的刻度系數(shù),將兩個刻度系數(shù)存入劑量計中;對個人劑量計所應用的放射性場所的射線能量范圍進行預先估計;根據(jù)射線能量范圍的估計情況,調用個人劑量計內不同檔的刻度系數(shù),進行輻射劑量的測量。本發(fā)明能夠使一個劑量計能夠滿足更多場合的個人劑量測量的需要。
文檔編號G01T1/02GK102478659SQ20101057256
公開日2012年5月30日 申請日期2010年11月30日 優(yōu)先權日2010年11月30日
發(fā)明者張志勇, 陳寶維 申請人:中國輻射防護研究院