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連接器測(cè)試裝置的制作方法

文檔序號(hào):5880678閱讀:197來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):連接器測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光伏連接器,特別是連接器測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
隨著人類(lèi)對(duì)節(jié)能的要求越來(lái)越高,太陽(yáng)能的利用得到大力的發(fā)展,從而光伏板的應(yīng)用得到推廣。而光伏板在使用過(guò)程中對(duì)連接器的電氣性能要求很高,需要具有很好的耐壓性能和殼體絕緣性,因此在光伏連接器出廠(chǎng)前必須進(jìn)行細(xì)致的測(cè)試,確保光伏連接器的耐壓性能和絕緣性能。光伏連接器一般包括一個(gè)接線(xiàn)盒和兩端的連接頭,接線(xiàn)盒中串聯(lián)有
三個(gè)二極管。目前,光伏板連接器的測(cè)試方法一般為手動(dòng)方式,使用絕緣測(cè)試器測(cè)量連接器殼體的絕緣性能,然后使用耐壓測(cè)試儀測(cè)試連接器的反向耐壓性能,再使用恒流源測(cè)試連接器的正向壓降,測(cè)試過(guò)程中需要使用三種儀器,需要進(jìn)行三次連接和拆卸過(guò)程,并且手工記錄測(cè)試結(jié)果,耗時(shí)耗工,而且很人員出現(xiàn)差錯(cuò)造成不良品出廠(chǎng)的嚴(yán)重后果。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述缺陷,本發(fā)明提供的連接器測(cè)試裝置,將絕緣測(cè)試、反向耐壓和正向壓降測(cè)試三種測(cè)試整合在一起,只需要一次將被測(cè)連接器連接就能完成整個(gè)測(cè)試過(guò)程,并且測(cè)試結(jié)果在測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置中直接顯示,方便直觀,大大節(jié)省了測(cè)試時(shí)間和人工,并且能夠確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,避免人工記錄的誤差,同時(shí)本測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低,具有很好推廣前景。本發(fā)明提供的連接器測(cè)試裝置,包括反向耐壓測(cè)試電路、正向壓降測(cè)試電路、絕緣性能測(cè)試電路、處理器和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置,所述反向耐壓測(cè)試電路、正向壓降測(cè)試電路、 絕緣性能測(cè)試電路和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置都連接處理器,所述反向耐壓測(cè)試電路上連接有電氣探針,所述正向壓降測(cè)試電路是還連接有測(cè)試接頭,所述絕緣性能測(cè)試電路上還連接有測(cè)試電極。優(yōu)選地,上述電氣探針由氣缸驅(qū)動(dòng)。優(yōu)選地,上述處理器上連接有報(bào)警電路。本發(fā)明提供的連接器測(cè)試裝置,整合了反向耐壓測(cè)試、正向壓降測(cè)試和殼體絕緣測(cè)試三大功能。電氣探針與反向耐壓測(cè)試電路連接構(gòu)成反向耐壓測(cè)試系統(tǒng),電氣探針連接被測(cè)連接器的每個(gè)二極管兩端,三個(gè)二極管就需要四個(gè)電氣探針;測(cè)試接頭和正向壓降測(cè)試電路連接構(gòu)成正向壓降測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試接頭有兩個(gè)分別連接光伏連接器兩端的連接頭; 測(cè)試電極和絕緣性能測(cè)試電路連接構(gòu)成絕緣性能測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試電極連接于光伏連接器的外殼體上。以上三個(gè)測(cè)試系統(tǒng)分別連接到處理器上,通過(guò)處理器的統(tǒng)一調(diào)控有步驟的對(duì)正向壓降、反向耐壓和絕緣性進(jìn)行測(cè)試,并且將測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置進(jìn)行顯示,方便測(cè)試者快速準(zhǔn)確的掌握測(cè)試情況。本發(fā)明的優(yōu)選方案中,電氣探針由氣缸驅(qū)動(dòng),氣缸驅(qū)動(dòng)電氣探針運(yùn)動(dòng),提高自動(dòng)化程度,進(jìn)一步加快測(cè)試的速度和準(zhǔn)確性。本發(fā)明的優(yōu)選方案中,處理器上連接有報(bào)警電路,該報(bào)警電路可以包括光聲類(lèi)的報(bào)警裝置,當(dāng)處理器得到測(cè)試數(shù)據(jù)后與額定數(shù)據(jù)進(jìn)行比較發(fā)現(xiàn)不合格測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)發(fā)送信號(hào)給該報(bào)警電路進(jìn)行報(bào)警提醒測(cè)試者,確保不良品不進(jìn)入下一個(gè)流程中。


圖1是本發(fā)明實(shí)施例1的連接示意圖。
具體實(shí)施例方式以下為本發(fā)明提供的實(shí)施例1。如圖1所示,本發(fā)明實(shí)施例1提供的連接器測(cè)試裝置,包括反向耐壓測(cè)試電路(1)、 正向壓降測(cè)試電路O)、絕緣性能測(cè)試電路(3)、處理器(4)和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置(5),所述反向耐壓測(cè)試電路(1)、正向壓降測(cè)試電路O)、絕緣性能測(cè)試電路C3)和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置( 都連接處理器G),所述反向耐壓測(cè)試電路(1)上連接有電氣探針(6),所述正向壓降測(cè)試電路( 是還連接有測(cè)試接頭(7),所述絕緣性能測(cè)試電路( 上還連接有測(cè)試電極 (8),上述電氣探針(6)由氣缸(9)驅(qū)動(dòng),上述處理器⑷上連接有報(bào)警電路(10)。本發(fā)明實(shí)施例1提供的連接器測(cè)試裝置,整合了反向耐壓測(cè)試、正向壓降測(cè)試和殼體絕緣測(cè)試三大功能。電氣探針與反向耐壓測(cè)試電路連接構(gòu)成反向耐壓測(cè)試系統(tǒng),電氣探針連接被測(cè)連接器的每個(gè)二極管兩端,三個(gè)二極管就需要四個(gè)電氣探針;測(cè)試接頭和正向壓降測(cè)試電路連接構(gòu)成正向壓降測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試接頭有兩個(gè)分別連接光伏連接器兩端的連接頭;測(cè)試電極和絕緣性能測(cè)試電路連接構(gòu)成絕緣性能測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試電極連接于光伏連接器的外殼體上。以上三個(gè)測(cè)試系統(tǒng)分別連接到處理器上,通過(guò)處理器的統(tǒng)一調(diào)控有步驟的對(duì)正向壓降、反向耐壓和絕緣性進(jìn)行測(cè)試,并且將測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置進(jìn)行顯示,方便測(cè)試者快速準(zhǔn)確的掌握測(cè)試情況。測(cè)試過(guò)程處理器根據(jù)設(shè)定的步驟對(duì)絕緣性能測(cè)試、反向耐壓測(cè)試和正向壓降測(cè)試進(jìn)行切換,可隨意設(shè)置測(cè)試步驟,反向耐壓測(cè)試時(shí)分步接通光伏連接器中的每個(gè)二極管兩端的電氣探針,從而對(duì)每個(gè)二極管的反向耐壓性能進(jìn)行測(cè)試。電氣探針由氣缸驅(qū)動(dòng),氣缸驅(qū)動(dòng)電氣探針運(yùn)動(dòng),提高自動(dòng)化程度,進(jìn)一步加快測(cè)試的速度和準(zhǔn)確性。處理器上連接有報(bào)警電路,該報(bào)警電路可以包括光聲類(lèi)的報(bào)警裝置,當(dāng)處理器得到測(cè)試數(shù)據(jù)后與額定數(shù)據(jù)進(jìn)行比較發(fā)現(xiàn)不合格測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)發(fā)送信號(hào)給該報(bào)警電路進(jìn)行報(bào)警提醒測(cè)試者,確保不良品不進(jìn)入下一個(gè)流程中。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種連接器測(cè)試裝置,其特征在于,包括反向耐壓測(cè)試電路、正向壓降測(cè)試電路、絕緣性能測(cè)試電路、處理器和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置,所述反向耐壓測(cè)試電路、正向壓降測(cè)試電路、絕緣性能測(cè)試電路和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置都連接處理器,所述反向耐壓測(cè)試電路上連接有電氣探針,所述正向壓降測(cè)試電路是還連接有測(cè)試接頭,所述絕緣性能測(cè)試電路上還連接有測(cè)試電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的連接器測(cè)試裝置,其特征在于,上述電氣探針由氣缸驅(qū)動(dòng)。
3.根據(jù)權(quán)力要求2所述的連接器測(cè)試裝置,其特征在于,上述處理器上連接有報(bào)警電路。
全文摘要
本發(fā)明提供的連接器測(cè)試裝置,包括反向耐壓測(cè)試電路、正向壓降測(cè)試電路、絕緣性能測(cè)試電路、處理器和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置,所述反向耐壓測(cè)試電路、正向壓降測(cè)試電路、絕緣性能測(cè)試電路和測(cè)試數(shù)據(jù)顯示裝置都連接處理器,所述反向耐壓測(cè)試電路上連接有電氣探針,所述正向壓降測(cè)試電路是還連接有測(cè)試接頭,所述絕緣性能測(cè)試電路上還連接有測(cè)試電極。大大節(jié)省了測(cè)試時(shí)間和人工,并且能夠確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,避免人工記錄的誤差,同時(shí)本測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低,具有很好推廣前景。
文檔編號(hào)G01R31/12GK102466772SQ201010535458
公開(kāi)日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2010年11月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月9日
發(fā)明者許建明 申請(qǐng)人:常熟市福萊德連接器科技有限公司
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