專利名稱：電壓檢測電路及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種電壓檢測電路，尤其關(guān)于一種用于檢測電池中多個(gè)電池單元 (battery cell)的各別電壓的電壓檢測電路。
背景技術(shù)：
充電電池具有可以重復(fù)充電的優(yōu)點(diǎn)因此相當(dāng)經(jīng)濟(jì)方便。一般而言，對充電電池進(jìn)行充電時(shí)，會(huì)透過一電壓檢測電路，監(jiān)控電池中多個(gè)電池單元(batterycell)的各別電壓。 若發(fā)現(xiàn)異常時(shí)，能夠適時(shí)地停止充電程序，以保護(hù)充電電池，藉此可以避免因異常所造成的災(zāi)害發(fā)生或者能延長充電電池的壽命。圖1顯示現(xiàn)有的電壓檢測電路的電路圖。如圖1所示，一電池10包含多個(gè)互相串聯(lián)的電池單元(battery cell)ll。電壓檢測電路20包含多個(gè)減法電路21。每一減法電路 21包含一分壓單元22、一參考電壓產(chǎn)生單元23及一減法單元M，并且該些減法電路21分別耦接于該些電池單元11的一正電極及一負(fù)電極，用以檢測該些電池單元11的電壓。然而，利用現(xiàn)有技術(shù)的電壓檢測電路，檢測電池中各別電池單元的電壓時(shí)，會(huì)有誤差較大及所需電路元件較多的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明一實(shí)施例的目的在于提供一種能夠減少檢測誤差的電壓檢測電路。本發(fā)明一實(shí)施例的目的在于提供一種能夠降低制造成本的電壓檢測電路。依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，提供一種電壓檢測電路其包含多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)、至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)、一電壓差產(chǎn)生電路、一選擇電路及一運(yùn)算電路。多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)包含一第一偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)與一第二偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)。至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)包含一第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)。選擇電路耦接電壓差產(chǎn)生電路、該些偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)與該至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)，用來控制電壓差產(chǎn)生電路與多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系，藉以供第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至電壓差產(chǎn)生電路，使電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第一電壓差，并且供第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至電壓差產(chǎn)生電路，使電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第二電壓差。運(yùn)算電路耦接電壓差產(chǎn)生電路，接收第一電壓差與第二電壓差，運(yùn)算電路已知該第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓為一基準(zhǔn)電壓或已依據(jù)基準(zhǔn)電壓得到第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，依據(jù)第一電壓差、第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，并且依據(jù)第二電壓差、已得到的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，提供一種電壓檢測方法，用以檢測多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)。電壓檢測方法包含控制一電壓差產(chǎn)生電路與該些偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系，藉以供第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至電壓差產(chǎn)生電路，使電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第一電壓差，且供第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與第二稱數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至 電壓差產(chǎn)生電路，使電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第二電壓差；已知第一親數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn) 的電壓為一基準(zhǔn)電壓或已依據(jù)基準(zhǔn)電壓得到第一親數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓；依據(jù)第一電壓 差、第一稱數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓；以及依據(jù)第二電壓 差、已得到的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到第二稱數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例電壓檢測電路，使用一電壓差產(chǎn)生電路配合選擇電路，在不 同的時(shí)間求得多個(gè)電池単元的電壓差，因此相對于現(xiàn)有技術(shù)使用了較少的減法電路，而能 夠得到較小的誤差。本發(fā)明的其他目的和優(yōu)點(diǎn)可以從本發(fā)明所揭露的技術(shù)特征中得到進(jìn)一步的了解。 為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例并配合所附圖 式，作詳細(xì)說明如下。


圖1顯示現(xiàn)有電壓檢測電路的電路圖；圖2顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測電路的電路圖；圖3顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測電路的電路圖；圖4顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測電路的電路圖；圖5顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測方法的流程圖。主要元件符號說明10 電池11 電池單元Ib 第一電極Ia 第二電極20 電壓檢測電路21 減法電路22 分壓單元23 參考電壓產(chǎn)生單元24 減法單元110 電池單元111 第一電池單元112 第二電池單元200,200a 電壓檢測電路210,210a 電壓差產(chǎn)生電路211 第一輸入端212 第二輸入端213 減法單元213a 放大器214 分壓電路220 電壓差產(chǎn)生電路
221 第一選擇單元222 第二選擇單元223 選擇控制電路230 運(yùn)算電路231 類比至數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)CQ Cn 電壓檢測節(jié)點(diǎn)
具體實(shí)施例方式圖2顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測電路的電路圖。如圖2所示，電壓檢測電路200耦接于一電池。電池包含有多個(gè)電池單元110，該些電池單元110互相串聯(lián)并形成多數(shù)個(gè)連接點(diǎn)。電壓檢測電路200適于檢測多個(gè)電池單元110的電壓差，藉以求得該些連接點(diǎn)的電壓Vtl \。電壓檢測電路200包含多個(gè)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl Cn、一電壓差產(chǎn)生電路 210、一選擇電路220以及一運(yùn)算電路230。電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl Cn分別耦接于該些電池單元 110的連接點(diǎn)，且可以被區(qū)分為多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)CtlXy…及Clri、以及至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C”…及Cn。多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)包含一第一偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl與一第二偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C2。至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)包含一第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C115 請注意，本實(shí)施例中，η為奇數(shù)正整數(shù)，然本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者依本發(fā)明的揭露可知 η亦可為偶數(shù)正整數(shù)，當(dāng)η為偶數(shù)正整數(shù)時(shí)，多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)為CpCy…及Cn ；至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)為C”…及Cn_lt)另請注意，本發(fā)明揭露內(nèi)容的“奇數(shù)”與“偶數(shù)”名稱系用于方便說明，用來區(qū)隔出二不同群的電壓節(jié)點(diǎn)，并非完全相等于數(shù)學(xué)上的奇數(shù)與耦數(shù)的定義。選擇電路220耦接電壓差產(chǎn)生電路210、偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Q、C2,…及Clri與該至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Cp…及Cn，用來控制電壓差產(chǎn)生電路210與偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Cc^Cp…及Clri與該至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Q、…及Cn間的耦接關(guān)系。舉例而言， 選擇電路220于一時(shí)間點(diǎn)使第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl與第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1耦接于電壓差產(chǎn)生電路210，藉以供第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl的電壓Vtl與第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn) C1的電壓V1輸出至電壓差產(chǎn)生電路210，使電壓差產(chǎn)生電路210據(jù)以產(chǎn)生一第一電壓差，如此即可測得該些電池單元110的一第一電池單元111的正電極及負(fù)電極間的電壓差。選擇電路220于另一時(shí)間點(diǎn)使第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1與第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C2耦接于電壓差產(chǎn)生電路210，藉以供第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1的電壓V1與該第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn) C2的電壓V2輸出至電壓差產(chǎn)生電路210，使電壓差產(chǎn)生電路210據(jù)以產(chǎn)生一第二電壓差，如此即可測得該些電池單元Iio的一第二電池單元112的正電極及負(fù)電極間的電壓差。運(yùn)算電路230耦接電壓差產(chǎn)生電路210以接收第一電壓差與第二電壓差。由于本實(shí)施例中，V0等于一預(yù)設(shè)的基準(zhǔn)電壓，故運(yùn)算電路230可知第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl的電壓Vtl的值，然后再依據(jù)第一電壓差、第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl的電壓Vtl以及一預(yù)設(shè)運(yùn)算規(guī)則得到第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1的電壓V1 ；另再依據(jù)第二電壓差、已得到的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1的電壓V1及該預(yù)設(shè)運(yùn)算規(guī)則得到第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)C2的電壓V2。依此類推，即可求得電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl Cn的電壓。于本實(shí)施例中，將第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl接地，因此基準(zhǔn)電壓為接地電壓0V，亦即第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl的電壓為0V。
圖3顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測電路的電路圖。于本實(shí)施例中，選擇電路 220包含一第一選擇單元221、一第二選擇單元222及一選擇控制電路223。第一選擇單元 221耦接該些奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Q、…及Cn及電壓差產(chǎn)生電路210的一第一輸入端211， 用以在選擇控制電路223的控制之下，從該些奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Cp…及Cn中選擇出一電壓檢測節(jié)點(diǎn)，并將該被選擇的電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出給電壓差產(chǎn)生電路210的第一輸入端211。第二選擇單元222耦接該些偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)CpCy…及Clri及電壓差產(chǎn)生電路 210的一第二輸入端212，用以在選擇控制電路223的控制之下，從偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Q、 C2、…及Clri中選擇出一電壓檢測節(jié)點(diǎn)，并將該被選擇的電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出給電壓差產(chǎn)生電路210的第二輸入端212。于一實(shí)施例中，選擇單元221及222可以用一多工器加以實(shí)現(xiàn)。于另一實(shí)施例中，選擇單元221及222系以多個(gè)開關(guān)來實(shí)現(xiàn)，由于開關(guān)的利用與控制系本技術(shù)領(lǐng)域的通常知識，本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者可依據(jù)本發(fā)明有關(guān)選擇電路的揭露，來利用現(xiàn)有的開關(guān)與前述選擇控制電路223以實(shí)施本發(fā)明。更具體而言，當(dāng)要檢測該些電池單元110的一第一電池單元111時(shí)，第一選擇單元221從該些奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)Cp…及Cn中選擇耦接第一電池單元111的一第一電極 Ib(正電極)的電壓檢測節(jié)Ac1并輸出第一電極Ib(或電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1)的一第一電壓V1 給電壓差產(chǎn)生電路210。第二選擇單元222從該些偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)CpCp…及Clri中選擇耦接第一電池單元111的一第二電極la(負(fù)電極)的電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl并輸出第二電極Ia(或電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl)的一第二電壓Vtl給電壓差產(chǎn)生電路210。電壓差產(chǎn)生電路210 依據(jù)第一電池單元111的第一電壓V1及第二電壓Vtl測得并輸出第一電池單元111的電壓差。于本實(shí)施例中，電壓差產(chǎn)生電路210可以為一放大器，放大器將第一電SV1及第二電壓 Vtl相減并乘以一增益系數(shù)后以得到第一電池單元111的電壓差，本實(shí)施例中，該增益系數(shù)設(shè)為1以簡化說明。當(dāng)要檢測該些電池單元110的一第二電池單元112時(shí)，第一選擇單元221選擇耦接第二電池單元112的一第一電極(負(fù)電極)的電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1并輸出第一電極(或電壓檢測節(jié)點(diǎn)C1)的一第一電壓V1給電壓差產(chǎn)生電路210。第二選擇單元222選擇耦接第二電池單元112的一第二電極(正電極)的電壓檢測節(jié)點(diǎn)C2并輸出第二電極(或電壓檢測節(jié)點(diǎn)C2)的一第二電壓V2給電壓差產(chǎn)生電路210。電壓差產(chǎn)生電路210依據(jù)第二電池單元 112的第一電壓V1及第二電壓V2測得并輸出第二電池單元112的電壓差。當(dāng)要檢測該些電池單元110的一第Nth電池單元N時(shí)，第一選擇單元221選擇耦接第Nth電池單元N的一第一電極(正電極)的電壓檢測節(jié)點(diǎn)(；并輸出第一電極(或電壓檢測節(jié)點(diǎn)Cn)的一第一電壓Vn給電壓差產(chǎn)生電路210。第二選擇單元222選擇耦接第Nth電池單元N的一第二電極 (負(fù)電極)的電壓檢測節(jié)點(diǎn)Clri并輸出第二電極(或電壓檢測節(jié)點(diǎn)Clri)的一第二電壓Vlri 給電壓差產(chǎn)生電路210。電壓差產(chǎn)生電路210依據(jù)第Nth電池單元N的第一電壓Vn及第二電壓Vlri測得并輸出第Nth電池單元N的電壓差。圖4顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測電路的電路圖。圖4實(shí)施例的電壓檢測電路200a相似于圖3實(shí)施例的電壓檢測電路200，因此相同的元件使用相同的符號，并省略重復(fù)的說明。如圖4所示，運(yùn)算電路230包含有一類比至數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)231。類比至數(shù)字轉(zhuǎn)換器231將來自電壓差產(chǎn)生電路210a的類比信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，用以供運(yùn)算電路230 的一運(yùn)算單元(圖未標(biāo)示)進(jìn)行運(yùn)算。
電壓差產(chǎn)生電路210a包含一減法單元213及一分壓電路214，且電壓差產(chǎn)生電路 210a接收一偏移電壓V。ffset，藉此使電壓差產(chǎn)生電路210a所輸出的電壓差均為正值(于一實(shí)施例中亦可以為負(fù)值)，以提供給運(yùn)算電路230加以處理。更具體言之，減法單元213可以為一放大器213a。放大器213a的第一輸入端211為正輸入端；而其第二輸入端212為負(fù)輸入端，然該第一輸入端211亦可設(shè)計(jì)為負(fù)輸入端，此時(shí)第二輸入端212即為正輸入端， 其余均等變化實(shí)施系為本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者可依本發(fā)明之揭露輕易推知。因此，如圖4所示，可以使放大器213a接收一偏移電壓V。ffset，使該些電池單元110的電壓差分別為 AV1 = Voffset+ (V1-V0)(第一電池單元 111)、Δ V2 = Voffset+ (V1-V2)(第二電池單元 112)、Δ V3 =v。ffset+(V3-V2)(第三電池單元；未顯示于圖)、AV4 = V。ffset+(V3-V4)(第四電池單元；未顯示于圖)、…及Δ Vn = V。ffset+(Vn-Vlri)(第Nth電池單元N)，用以使放大器213a所輸出的該些電池單元110的電壓差皆為相同正負(fù)符號的電壓(于本實(shí)施例中系為正電壓)。分壓電路214依據(jù)該些電池單元110的電壓差，產(chǎn)生適合運(yùn)算電路230加以處理的電壓差。詳言之，當(dāng)輸入電壓AV于分壓電路214時(shí)，分壓電路214輸出電壓kAY。藉由調(diào)整k值的大小即可將該些電池單元110的電壓差轉(zhuǎn)換成適合運(yùn)算電路230加以處理的電壓差。本實(shí)施例中，前述k值系由二電阻的值加以決定，本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者可依據(jù)運(yùn)算電路230所能處理的電壓范圍來決定如何選定電阻值，于此不再贅述。請注意，前述偏移電壓V。ffsrt與分壓電路214系為增加本發(fā)明實(shí)施的彈性而提出， 若運(yùn)算電路230的可處理電壓范圍夠大，且可處理不同正負(fù)號的電壓，則該偏移電壓V。ffsrt 與分壓電路214亦可省略不用。此外，該些電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl Cn其中之一的電壓為基準(zhǔn)電壓，運(yùn)算電路230依據(jù)該基準(zhǔn)電壓以及依據(jù)上述的該些電池單元110的電壓差，求得其他各電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。例如將電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl接地，電壓檢測節(jié)點(diǎn)Ctl的電壓為基準(zhǔn)電壓，亦即電壓Vtl為0V， 且由于分壓電路214的k值及偏移電壓V。ffset為已知，運(yùn)算電路230即可依據(jù)下列公式分別求出電壓檢測節(jié)點(diǎn) Ctl Cn 的電壓 W1 = (k Δ V1) /k-Voffset+V0,V2 = - (k Δ V2) /k+Voffset+V1,V3 =(k Δ V3) /k-Voffset+V2, V4 = - (k Δ V4) /k+Voffset+V3,…Vn= (kAVn)/k-V0ffset+Vn_lo依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例電壓檢測電路200或200a，使用一電壓差產(chǎn)生電路210或 210a，配合選擇單元221及222，在不同的時(shí)間點(diǎn)測得多個(gè)電池單元110的電壓差，因此相對于現(xiàn)有技術(shù)能夠得到較小的誤差。其原因在于現(xiàn)有技術(shù)中，使用多個(gè)相異的減法電路來測得多個(gè)相異的電池單元的電壓差，然而于生產(chǎn)時(shí)常因減法電路中如電阻等元件的偏差造成電壓量測的誤差，而無法較精確地檢測該些電池單元的電壓差。相較于此，依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例，則不會(huì)有上述問題。此外本發(fā)明一實(shí)施例相對于現(xiàn)有技術(shù)使用了較少的電壓差產(chǎn)生電路210，因此制造成本較低，且不需要復(fù)雜的電路減少了線路布局設(shè)計(jì)的時(shí)間成本。圖5顯示依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測方法的流程圖。如圖5所示，依本發(fā)明一實(shí)施例的電壓檢測方法，其系用以檢測多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，該電壓檢測方法包含以下步驟。步驟S02 控制一電壓差產(chǎn)生電路與該些偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及該至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系，藉以供第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至電壓差產(chǎn)生電路，使電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第一電壓差，且供第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至電壓差產(chǎn)生電路，使電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第二電壓差。步驟S04 已知第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓為一基準(zhǔn)電壓或已依據(jù)基準(zhǔn)電壓得到第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。于另一實(shí)施例中，步驟S04可以更包含接收一偏移電壓。步驟S06 依據(jù)第一電壓差、第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。于一實(shí)施例中，步驟S06可以包含將第一電壓差加上第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。于另一實(shí)施例中，步驟S06可以包含將第一電壓差加上第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓并減去偏移電壓。步驟S08 依據(jù)第二電壓差、已得到的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。于一實(shí)施例中，步驟S08可以包含將第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓減去第二電壓差。于另一實(shí)施例中，步驟S08可以包含將第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓減去第二電壓差并加上偏移電壓。雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習(xí)此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。另外，本發(fā)明的任一實(shí)施例或申請專利范圍不須達(dá)成本發(fā)明所揭露的全部目的或優(yōu)點(diǎn)或特點(diǎn)。此外，摘要部分和標(biāo)題僅是用來輔助專利文件搜尋之用，并非用來限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種電壓檢測電路，其特征在于，所述的電路包含多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)，包含一第一偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)與一第二偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)；至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)，包含一第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)；一電壓差產(chǎn)生電路；一選擇電路，耦接所述的電壓差產(chǎn)生電路、所述的偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)與所述的至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)，用來控制所述的電壓差產(chǎn)生電路與所述的多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及所述的至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系，藉以供所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至所述的電壓差產(chǎn)生電路，使所述的電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第一電壓差，并且供所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至所述的電壓差產(chǎn)生電路，使所述的電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第二電壓差；以及一運(yùn)算電路，耦接所述的電壓差產(chǎn)生電路，接收所述的第一電壓差與所述的第二電壓差，所述的運(yùn)算電路已知所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓為一基準(zhǔn)電壓或已依據(jù)所述的基準(zhǔn)電壓求得所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，所述的運(yùn)算電路更依據(jù)所述的第一電壓差、所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓， 并且依據(jù)所述的第二電壓差、已得到的所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。
2.如權(quán)利要求1所述的電壓檢測電路，其特征在于，所述選擇電路包含一第一選擇單元，耦接所述的多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)；一第二選擇單元，耦接所述的至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)，以及一選擇控制電路，用來控制所述的第一選擇單元及所述的第二選擇單元，藉以控制所述的電壓差產(chǎn)生電路與所述的多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及所述的至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系。
3.如權(quán)利要求1所述的電壓檢測電路，其特征在于，所述的電壓差產(chǎn)生電路包含一減法單元，用以將所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓相減以產(chǎn)生一第一電壓差，將所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓相減以產(chǎn)生一第二電壓差；以及一分壓電路，依據(jù)所述的第一電壓差及所述的第二電壓差，分別產(chǎn)生配合所述的運(yùn)算電路的所述的第一電壓差及所述的第二電壓差。
4.如權(quán)利要求1所述的電壓檢測電路，其特征在于，所述的電壓差產(chǎn)生電路更接收一偏移電壓，用以使所述的第一電壓差及所述的第二電壓差皆為相同正負(fù)符號的電壓。
5.如權(quán)利要求4所述的電壓檢測電路，其特征在于，所述的運(yùn)算電路系依據(jù)一預(yù)設(shè)運(yùn)算規(guī)則運(yùn)算出所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓以及所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，所述的預(yù)設(shè)運(yùn)算規(guī)則包含將所述的第一電壓差加上所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓并減去所述的偏移電壓，以及包含將所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓減去所述的第二電壓差并加上所述的偏移電壓。
6.如權(quán)利要求1所述的電壓檢測電路，其特征在于，所述的運(yùn)算電路系依據(jù)一預(yù)設(shè)運(yùn)算規(guī)則運(yùn)算出所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓以及所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，所述的預(yù)設(shè)運(yùn)算規(guī)則包含將所述的第一電壓差加上所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，以及包含將所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓減去所述的第二電壓差。
7.一種電壓檢測方法，用以檢測多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，其特征在于，所述的方法包含控制一電壓差產(chǎn)生電路與所述的偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及所述的至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系，藉以供所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至所述的電壓差產(chǎn)生電路，使所述的電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第一電壓差，且供所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓與所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓輸出至所述的電壓差產(chǎn)生電路，使所述的電壓差產(chǎn)生電路據(jù)以產(chǎn)生一第二電壓差；已知所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓為一基準(zhǔn)電壓或已依據(jù)所述的基準(zhǔn)電壓得到所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓；依據(jù)所述的第一電壓差、所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓；以及依據(jù)所述的第二電壓差、已得到的所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓得到所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。
8.如權(quán)利要求7所述的電壓檢測方法，其特征在于，所述的得到所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓的步驟，包含將所述的第一電壓差加上所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓；以及所述的得到所述的第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓的步驟，包含將所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓減去所述的第二電壓差。
9.如權(quán)利要求7所述的電壓檢測方法，其特征在于，控制一電壓差產(chǎn)生電路與所述的偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及所述的至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系的步驟，包含接收一偏移電壓，用以使所述的第一電壓差及所述的第二電壓差皆為相同正負(fù)符號的電壓。
10.如權(quán)利要求9所述的電壓檢測方法，其中，所述的得到所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓的步驟，包含將所述的第一電壓差加上所述的第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓并減去所述的偏移電壓；以及所述的得到所述第二耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓的步驟，包含將所述的第一奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓減去所述第二電壓差并加上所述的偏移電壓。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電壓檢測電路其包含多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)、至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)、一電壓差產(chǎn)生電路、一選擇電路及一運(yùn)算電路。選擇電路用來控制電壓差產(chǎn)生電路與多個(gè)偶數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)及至少一個(gè)奇數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的耦接關(guān)系，以供電壓差產(chǎn)生電路產(chǎn)生該些電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的電壓差。運(yùn)算電路已知一第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓為一基準(zhǔn)電壓或已依據(jù)基準(zhǔn)電壓得到一第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，依據(jù)該些電壓檢測節(jié)點(diǎn)間的電壓差與第一耦數(shù)電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓，分別得到該些電壓檢測節(jié)點(diǎn)的電壓。
文檔編號G01R19/10GK102236080SQ201010167750
公開日2011年11月9日 申請日期2010年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月26日
發(fā)明者劉烘良, 張雅媚, 蔡丞陽, 高育彬 申請人:新普科技股份有限公司