專利名稱:測試裝置、測試方法和移相器的制作方法
技術領域:
本發(fā)明涉及測試裝置、測試方法和移相器。本發(fā)明尤其涉及抑制DNL的測試裝置、 測試方法及移相器。并且本申請與下述日本申請相關聯。對于承認通過文獻參照引入的指定國,將下述申請中記載的內容通過參照方式引入本申請,作為本申請的一部分專利申請2008-179165,申請日2008年7月9日。
背景技術:
下述文獻1記載了在測試裝置中,以基于再生時鐘的選通信號追隨被測試設備的輸出數據的定時變動為目的,使再生時鐘和輸出數據同步專利文獻1 專利公開公報,專利申請公開2005-285160號公報。
發(fā)明內容
發(fā)明所要解決的問題但是,使用PLLO^hase-locked loop)進行時鐘恢復會發(fā)生以下問題。在實際使用中,需要將環(huán)路延遲控制在數十ns,PLL的有效低通濾波器的頻帶的極限是數MHz,會有數十ns的相位延遲。另外,由于環(huán)路延遲,定時比較器定時邊緣減少,跳動公差惡化。另外,PLL中相位移動的范圍有限,跟蹤范圍受到限制。當希望把相位移動到相位移動的范圍以外時,需要以選通信號的周期的單位返回一度相位。因此,只在返回到規(guī)定的相位為止的時間內相位變得不穩(wěn)定,PASS (合格)/FAIL(錯誤)也變得不確定。所以不能正確測試被測試設備。解決問題的手段為解決上述問題,本發(fā)明的第1方式中,提供一種測試被測試設備的測試裝置,包括基準時鐘源,其具有基準頻率,產生控制所述被測試設備的動作的基準時鐘;再生時鐘生成電路,其生成相位與所述被測試設備輸出的輸出數據的相位大致相等的再生時鐘;數據取得部,其以基于所述再生時鐘的選通信號指示的定時取得所述輸出數據的輸出值;比較器,其將所述數據取得部取得的所述輸出值與預設的期望值進行比較;判定部,其根據所述比較器的比較結果判定所述被測試設備的好壞;所述再生時鐘生成電路具有將所述被測試設備輸出的所述輸出數據的相位與所述再生時鐘的相位進行比較的相位比較器;根據所述相位比較器的輸出產生使所述再生時鐘的相位與所述輸出數據的相位同步的控制信號的控制信號發(fā)生部;通過所述控制信號對所述基準時鐘的相位進行連續(xù)移相的移相器。 或者,提供一種測試被測試設備的測試裝置,包括基準時鐘源,其產生控制所述被測試設備的動作的基準時鐘;再生時鐘生成電路,其生成相位與所述被測試設備輸出的輸出數據的相位大致相等的再生時鐘;數據取得部,其以基于所述再生時鐘的選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值;比較器,其將所述數據取得部取得的所述輸出值與預設的期望值進行比較;判定部,其根據所述比較器的比較結果判定所述被測試設備的好壞;所述再生時鐘生成電路具有相位比較器,其將所述被測試設備輸出的所述輸出數據的相位與所述再生時鐘的相位進行比較;移相器,其根據所述相位比較器的輸出對所述基準時鐘的相位進行連續(xù)移相。所述控制信號發(fā)生部根據所述控制信號可產生第1控制電壓及第2控制電壓,所述移相器包括將所述基準時鐘的相位僅按照規(guī)定角度移相的移相器;將所述基準時鐘和所述第1控制電壓相乘的第1乗法器;將所述移相器的輸出和所述第2控制電壓相乘的第 2乗法器;將所述第1乗法器及所述第2乗法器的各輸出相加的加法部?;蛘?,還包括根據所述相位比較器的輸出產生使所述再生時鐘的相位與所述輸出數據的相位同步的控制信號的控制信號發(fā)生部;所述控制信號發(fā)生部根據所述控制信號產生第1控制電壓及第2控制電壓;所述移相器包括將所述基準時鐘的相位僅按照規(guī)定角度移相的移相器;將所述基準時鐘和所述第1控制電壓相乘的第1乗法器;將所述移相器的輸出和所述第2控制電壓相乘的第2乗法器;將所述第1乗法器及所述第2乗法器的各輸出相加的加法部。所述移相器可對所述基準時鐘的相位進行大致90度移相。所述移相器還可包括除去所述加法部的輸出中包含的高頻分量的低通濾波器。所述移相器可進一步包括對所述加法部的輸出進行分頻的分頻器。還可具備對所述再生時鐘生成電路輸出的所述再生時鐘進行分頻的分頻器,所述數據取得部也可按由所述分頻器分頻的基于所述再生時鐘的選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值。為解決上述問題,本發(fā)明的第2方式中,提供一種測試被測試設備的測試方法,包括基準時鐘發(fā)生步驟,其產生控制所述被測試設備的動作的基準時鐘;再生時鐘生成步驟,其生成相位與所述被測試設備輸出的輸出數據的相位大致相等的再生時鐘;數據取得步驟,其以基于所述再生時鐘的選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值;比較步驟,其將在所述數據取得步驟取得的所述輸出值與預設的期望值進行比較;判定步驟,其根據所述比較步驟的比較結果判定所述被測試設備的好壞;所述再生時鐘生成步驟具有 相位比較步驟,其將所述被測試設備輸出的所述輸出數據的相位與所述再生時鐘的相位進行比較;控制信號發(fā)生步驟,其根據所述相位比較步驟的輸出產生使所述再生時鐘的相位與所述輸出數據的相位同步的控制信號;移相步驟,其根據所述控制信號將所述基準時鐘的相位進行連續(xù)移相?;蛘撸峁┮环N測試被測試設備的測試方法,包括基準時鐘發(fā)生步驟,其具有基準頻率,產生控制所述被測試設備的動作的基準時鐘;再生時鐘生成步驟,其生成相位與所述被測試設備輸出的輸出數據的相位大致相等的再生時鐘;數據取得步驟, 其以基于所述再生時鐘的選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值;比較步驟, 其將所述數據取得步驟取得的所述輸出值與預設的期望值進行比較;判定步驟,其根據所述比較步驟的比較結果判定所述被測試設備的好壞;所述再生時鐘生成步驟具有相位比較步驟,其將所述被測試設備輸出的所述輸出數據的相位與所述再生時鐘的相位進行比較;移相步驟,其根據所述相位比較步驟的輸出將所述基準時鐘的相位進行連續(xù)移相。還包括控制信號發(fā)生步驟,其根據所述相位比較步驟的輸出產生使所述再生時鐘的相位與所述輸出數據的相位同步的控制信號;所述控制信號發(fā)生步驟,其根據所述控制信號產生第1控制電壓及第2控制電壓;所述相位轉換步驟包括將所述基準時鐘的相位僅按照規(guī)定角度移相的移相步驟;將所述基準時鐘和所述第1控制電壓相乘的第1乘法步驟;將所述移相步驟的輸出和所述第2控制電壓相乘的第2乘法步驟;將所述第1乘法步驟及所述第2乘法步驟的各輸出相加的相加步驟。所述移相步驟可對所述基準時鐘的相位
5進行大致90度移相。所述移相步驟還可包括將所述相加步驟的輸出中包含的高頻分量除去的低通濾波步驟。所述相位轉換步驟還可包括對所述相加步驟的輸出進行分頻的分頻步驟。還可包括對所述再生時鐘生成步驟生成的所述再生時鐘進行分頻的分頻步驟,在所述數據取得步驟中,根據由所述分頻步驟分頻的所述再生時鐘的所述選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值。為解決上述問題,本發(fā)明的第3方式中,包括輸入交流的輸入信號,將所述輸入信號的相位僅按照規(guī)定角度移相的移相部;輸入所述輸入信號及第1控制電壓,將所述輸入信號和所述第ι控制電壓相乘的第1乘法部;輸入所述移相部的輸出信號及第2控制電壓,將所述移相部的所述輸出信號和所述第2控制電壓相乘的第2乘法部;輸入所述第1 乘法部及所述第2乘法部的各輸出信號,將所述各輸出信號相加的加法部;通過所述第1控制電壓及所述第2控制電壓將所述輸入信號的相位進行連續(xù)移相。所述移相部可對所述輸入信號的相位進行大致90度移相。還可具有除去所述加法部的輸出中包含的高頻分量的低通濾波器。另外,上述發(fā)明的概要并未列舉本發(fā)明的全部必要特征。并且,所述特征群的次級組合也可構成發(fā)明。
圖1根據第1實施方式的使用IQ調制器的移相器101的示意圖。
圖2從基準時鐘、及移相器101的各構成部分輸出的信號的信號波形示:
圖3第1控制電壓及第2控制電壓與移相的角度的關系示意圖。
圖4根據第2實施方式的測試裝置110的結構示意圖。
圖5第1控制電壓及第2控制電壓與跟蹤范圍的關系示意圖。
圖6在移相器101中設置分頻器的測試裝置110的示意圖。
附圖標記說明
101移相器
102移相器
103第1乗法器
104第2乗法器
105加法器
106低通濾波器
107基準時鐘源
110測試裝置
111電平比較器
112再生時鐘生成電路
113數據取得部
114比較器
115判定部
121相位比較器
122控制信號發(fā)生部
130分頻器150DUT1001信號波形1002信號波形1003信號波形1004信號波形1005信號波形1006信號波形
具體實施例方式以下,通過發(fā)明的實施方式說明本發(fā)明,但以下的實施方式并不限定權利要求的發(fā)明。并且,實施方式中說明的特征的組合也并非全部是發(fā)明的必要技術特征。第1實施方式圖1是根據第1實施方式的使用IQ調制器的移相器101的示意圖。移相器101包括移相器102、第1乗法器103、第2乗法器104、加法器105、低通濾波器106各構成部分。另外,圖1中還示出了向移相器101中輸入信號波形的基準時鐘源107?;鶞蕰r鐘源107產生交流信號?;鶞蕰r鐘源107所產生的交流信號稱為基準時鐘。將該基準時鐘的頻率作為基準頻率?;鶞蕰r鐘源107將產生的基準時鐘輸出到移相器102、第1乗法器 103。圖2為從基準時鐘及移相器101的各構成部分輸出的信號的信號波形的一例示意圖。圖2的信號波形1001顯示從基準時鐘源107輸出的基準時鐘的波形。并且,基準時鐘可為方波。移相器102可將輸入的基準時鐘的相位進行90°移相。移相器102將90°移相的基準時鐘輸出到第2乗法器104。圖2的信號波形1002顯示從移相器102輸出的信號的信號波形??梢钥闯?,信號波形1002比基準時鐘的波形、即信號波形1001的相位延遲90°。 并且,移相器102不限于90°,也可按照規(guī)定的角度進行移相。另外,也可進行大致90°的移相。由基準時鐘源107產生的基準時鐘和第1控制電壓輸入至第1乗法器103中。第 1乗法器103將輸入的基準時鐘和第1控制電壓相乘。通過在基準時鐘上乘以第1控制電壓改變基準時鐘的振幅。第1乗法器103將相乘后的信號輸出到加法器105。圖2的信號波形1003顯示從第1乗法器103輸出的信號的信號波形。可知信號波形1003的相位與信號波形1001的相位相同,但振幅不同。圖2中,信號波形1003的振幅比信號波形1001的振幅更小。由移相器102移相90°的基準時鐘和第2控制電壓輸入至第2乗法器104中。第 2乗法器104將輸入的90°移相的基準時鐘和第2控制電壓相乘。通過在90°移相的基準時鐘上乘以第1控制電壓改變90°移相的基準時鐘的振幅。第2乗法器104將相乘后的信號輸出到加法器105。圖2的信號波形1004顯示從第2乗法器104輸出的信號的信號波形。可知信號波形1004的相位與從移相器102輸出的信號的信號波形1002相同,但振幅不同。圖2中信號波形1004的振幅比信號波形1002的振幅小。加法器105將從第1乗法器103輸出的信號與從第2乗法器104輸出的信號相加。 加法器105將相加的信號輸出到低通濾波器106。圖2的信號波形1005顯示從加法器105 輸出的信號的信號波形??芍盘柌ㄐ?005為信號波形1003和信號波形1005相加得到的信號波形。低通濾波器106可為除去時鐘頻率的高頻波動的濾波器。由此,截取的頻率達數 GHz以上。低通濾波器將從加法器105輸入的信號的高頻分量除去并輸出。圖2的信號波形1006顯示從低通濾波器106輸出的信號的信號波形。可知信號波形1006為除去從加法器105輸出的信號的信號波形1005的高頻分量得到的波形。虛線所示波形為基準時鐘的相位,觀察信號波形1006可知,其比基準時鐘的相位延遲了 30°相位。對于該基準時鐘以多少角度移相,可通過改變第1乗法器103、第2乗法器104中輸入的第1控制電壓、第2控制電壓的值進行改變。圖3顯示第1控制電壓及第2控制電壓和被移相的角度的關系。將第1控制電壓 (I側)作為X軸方向,將第2控制電壓OH則)作為y軸方向。此處將第2控制電壓作為y 軸方向的理由是,第2控制電壓為與90°移相的基準時鐘相乘得到的。通過由第1控制電壓的值及第2控制電壓的值確定的點和原點(0,0)的直線與χ 軸的夾角為移相的角度。即該夾角是來自移相器101的輸出相位。對應第1控制電壓及第 2控制電壓的值決定移相的角度。這樣通過改變第1控制電壓、第2控制電壓的值,可以任意的角度移相。并且,可以360°全角進行移相?,F有技術中,是通過多級的延遲緩存器進行相位轉換的因此,背景噪聲惡化,隨機跳動增加。由此,延遲時間的線性度誤差變大。另外,多路調制器選擇通過多級的延遲緩存器延遲的各延遲信號的某一個遲信號并輸出,根據由多路調制器選擇的延遲信號通過的路徑的長短,DNL(Differential Nonlinearity)變大,伴隨延遲量的增加而惡化,延遲時間的線性度誤差變大。對此,根據第1實施方式的移相器101,將希望轉換的時鐘信號輸入至移相器102, 制作兩個垂直相交的信號,因為根據第1控制電壓及第2控制電壓的值改變各個信號的振幅后進行合成,可連續(xù)轉換為任意的相位。并且,可在轉換量為360°的全部的相位上轉換。 并且,第1控制電壓及第2控制電壓的線性度與延遲時間的線性度相比可簡單地進行改善, 因此,可減小線性度誤差。第2實施方式圖4顯示第2實施方式的測試裝置110的構成示意圖。另外,對與第1實施方式同樣的構成部分賦予了相同的符號。測試裝置Iio包括基準時鐘源107、電平比較器111、 再生時鐘生成電路112、數據取得部113、比較器114、及判定部115?;鶞蕰r鐘源107產生的基準時鐘被用于被測試設備、即DUT150的動作的控制。即基準時鐘源107產生控制DUT150的動作的基準時鐘。DUT150根據基準時鐘源107產生的基準時鐘進行動作并輸出輸出數據。電平比較器111將從DUT150輸出的輸出數據與預定的比較電壓進行比較,生成2 進制的輸出數據。電平比較器111將生成的輸出數據輸出到后述的再生時鐘生成電路112 的相位比較器121及數據取得部113。
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再生時鐘生成電路112根據基準時鐘源107產生的基準時鐘生成頻率與基準時鐘的基準頻率大致相等、且相位與輸出數據的相位大致相等的再生時鐘。再生時鐘生成電路 112將生成的再生時鐘輸出到數據取得部113。數據取得部113在傳送來基于再生時鐘的選通信號所指示的定時,取得DUT150 的輸出數據的輸出值。數據取得部113將取得的輸出值輸出到比較器114。數據取得部113 可為定時比較器。基于該再生時鐘的選通信號可為使再生時鐘的相位延遲的信號,也可為再生時鐘本身。將使再生時鐘的相位延遲的信號作為選通信號時,在數據取得部113中設置延遲電路,該延遲電路可由再生時鐘生成選通信號;或者,可在數據取得部113和再生時鐘生成電路112之間設置延遲電路,該延遲電路由再生時鐘生成選通信號并輸出到數據取得部113。比較器114對從數據取得部113傳送來的輸出值與預定的期望值進行比較,并將錯誤數據或合格數據輸出到判定部115。判定部115根據比較器114的比較結果判定 DUT150的好壞。并且,比較器114可從外部取得期望值,將取得的期望值和輸出值進行比較。下面對再生時鐘生成電路112進行說明。再生時鐘生成電路112包括移相器 101、相位比較器121和控制信號發(fā)生部122。第2實施方式將從移相器101輸出的信號稱為再生時鐘,即移相器101生成再生時鐘。從電平比較器111輸出的輸出數據和從移相器101輸出的再生時鐘輸入至相位比較器121中。相位比較器121對輸入的輸出數據和再生時鐘的相位進行比較。而后,相位比較器121將相位的偏差作為比較結果輸出到控制信號發(fā)生部122??刂菩盘柊l(fā)生部122根據從相位比較器121輸出的比較結果產生使再生時鐘的相位與輸出數據的相位同步的控制信號??刂菩盘柊l(fā)生部122將產生的控制信號輸出到移相器101??刂菩盘柊l(fā)生部122根據控制信號產生第1控制電壓和第2控制電壓??刂菩盘柊l(fā)生部122將第1控制電壓輸出到移相器101的第1乗法器103,將第2控制電壓輸出到移相器101的第2乗法器104。移相器101根據從控制信號發(fā)生部122輸出的控制信號將基準時鐘的相位進行連續(xù)移相并再生成再生時鐘。具體而言,移相器101的第1乗法器103將輸出的第1控制電壓與基準時鐘相乘并輸出到加法器105。并且,第2乗法器104將輸入的第2控制電壓與相位被90°移相的基準時鐘相乘并輸出到加法器105。加法器105將輸入的信號相加并輸出到低通濾波器106。低通濾波器106截去高頻分量并輸出。從該低通濾波器106輸出的信號作為再生時鐘輸入數據取得部113、相位比較器121。圖5顯示第1控制電壓及第2控制電壓與跟蹤范圍的關系示意圖。將第1控制電壓(I側)作為X軸方向,將第2控制電壓OH則)作為y軸方向。此處,將第2控制電壓作為y軸方向的理由是因為第2控制電壓與90°移相的基準時鐘相乘。由第1控制電壓及第2控制電壓決定的角度為移相的角度,成為從移相器101的輸出相位。從圖5可知,通過改變第1控制電壓、第2控制電壓的值,可不制作連續(xù)點而使相位連續(xù),跟蹤范圍可為無限大。如上所述,相位比較器121對DUT150的輸出數據和再生時鐘進行相位比較。控制信號發(fā)生部122根據該比較結果,以使輸出數據的相位和再生時鐘的相位同步的方式,產生第1控制電壓及第2控制電壓并分別輸出到第1乗法器103、第2乗法器104。由此,移相器101可精度良好地生成相位與輸出數據的相位同步的再生時鐘,可使再生時鐘、選通信號追隨DUT150的輸出數據的定時變動。并且,可正確測試被測試設備。另外,IQ調制器的相位延遲為數十ps級,在時鐘恢復中使用了 IQ調制器,所以可減小環(huán)路延時。此外,通過使用IQ調制器,可使用截取頻率為數GHz以上的低通濾波器,所以相位延遲為數十ps,可減小環(huán)路延時。此外,數據取得部113中的定時邊緣變小,可減小公差的惡化。此外,通過使用IQ調制器,可使跟蹤范圍無限大。所以,可提高測試裝置的測試性能。上述第2實施方式也可變形為以下方式。(1)上述為將1個基準時鐘源107產生的基準時鐘輸入移相器101,或使用該基準時鐘控制DUT150的動作,也可以在產生移相器中輸入的基準時鐘的時鐘源以外,單獨設置產生控制DUT150的動作的基準時鐘的基準時鐘源。(2)上述變形例(1)中,移相器101中輸入的基準時鐘的頻率也可與控制DUT150 的動作的基準時鐘的頻率不同。移相器101中輸入的基準時鐘的頻率也可與控制DUT150 的動作的基準時鐘的頻率大致相等。(3)也可在低通濾波器106的后面設置分頻器。圖6為顯示將分頻器設置在移相器101中的測試裝置110的示意圖。此時,分頻器130所輸出的信號稱作再生時鐘,分頻器 130將再生時鐘輸出到數據取得部113及相位比較器121。另外,還可將分頻器130設置在再生時鐘生成電路112的外部。此時,再生時鐘生成電路112將再生時鐘輸出到相位比較器121及分頻器130,分頻器將分頻后的再生時鐘輸出到數據取得部113。由此,移相器101中輸入的基準時鐘的頻率與控制DUT150的動作的基準時鐘的頻率,可因分頻器130的分頻倍率的不同而不同。例如,在利用分頻器130將頻率變?yōu)?/N倍時,可將控制DUT的動作的基準時鐘的頻率變?yōu)橐葡嗥?01中輸入的基準時鐘的頻率的1/ N倍,另外,N可為自然數。以上使用本發(fā)明的具體實施方式
進行了說明,但本發(fā)明的技術范圍不限于上述實施方式記載的范圍。本領域技術人員可知,對上述實施方式可實施多種變更或改良。從權利要求的記載可知,這種實施了變更或改良的方式也包含在本發(fā)明的技術范圍內。
權利要求
1.一種測試被測試設備的測試裝置,其特征在于包括 基準時鐘源,產生控制所述被測試設備的動作的基準時鐘;再生時鐘生成電路,其生成相位與所述被測試設備輸出的輸出數據的相位大致相等的再生時鐘;數據取得部,其以基于所述再生時鐘的選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值;比較器,其對所述數據取得部取得的所述輸出值與預設的期望值進行比較; 判定部,其根據所述比較器的比較結果判定所述被測試設備的好壞; 所述再生時鐘生成電路具有對所述被測試設備輸出的所述輸出數據的相位與所述再生時鐘的相位進行比較的相位比較器;根據所述相位比較器的輸出對所述基準時鐘的相位進行連續(xù)移相的移相器。
2.根據權利要求1記載的測試裝置,其特征在于還包括根據所述相位比較器的輸出,產生使所述再生時鐘的相位與所述輸出數據的相位同步的控制信號的控制信號發(fā)生部;所述控制信號發(fā)生部根據所述控制信號產生第1控制電壓及第2控制電壓; 所述移相器包括將所述基準時鐘的相位僅按照規(guī)定角度移相的移相器; 將所述基準時鐘和所述第1控制電壓相乘的第1乗法器; 將所述移相器的輸出和所述第2控制電壓相乘的第2乗法器; 將所述第1乗法器及所述第2乗法器的各輸出相加的加法部。
3.根據權利要求2記載的測試裝置,其特征在于所述移相器將所述基準時鐘的相位移相大致90度。
4.根據權利要求2或3記載的測試裝置,其特征在于所述移相器還包括除去所述加法部的輸出中包含的高頻分量的低通濾波器。
5.根據權利要求2 4任一項記載的測試裝置,其特征在于所述移相器還包括對所述加法部的輸出進行分頻的分頻器。
6.根據權利要求2 4任一項記載的測試裝置,其特征在于還包括對來自所述再生時鐘生成電路的所述再生時鐘進行分頻的分頻器; 所述數據取得部根據由所述分頻器分頻的所述再生時鐘的所述選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值。
7.—種測試被測試設備的測試方法,其特征在于包括基準時鐘發(fā)生步驟,其具有基準頻率,產生控制所述被測試設備的動作的基準時鐘; 再生時鐘生成步驟,其生成相位與所述被測試設備輸出的輸出數據的相位大致相等的再生時鐘;數據取得步驟,其以基于所述再生時鐘的選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值;比較步驟,其對在所述數據取得步驟取得的所述輸出值與預設的期望值進行比較; 判定步驟,其根據所述比較步驟的比較結果判定所述被測試設備的好壞;所述再生時鐘生成步驟具有相位比較步驟,其對所述被測試設備輸出的所述輸出數據的相位與所述再生時鐘的相位進行比較;相位轉換步驟,其根據所述相位比較步驟的輸出將所述基準時鐘的相位進行連續(xù)移相。
8.根據權利要求7記載的測試方法,其特征在于還包括控制信號發(fā)生步驟,其根據所述相位比較步驟的輸出產生使所述再生時鐘的相位與所述輸出數據的相位同步的控制信號;所述控制信號發(fā)生步驟,其根據所述控制信號產生第1控制電壓及第2控制電壓; 所述相位轉換步驟包括將所述基準時鐘的相位僅按照規(guī)定角度移相的移相步驟; 將所述基準時鐘和所述第1控制電壓相乘的第1乘法步驟; 將所述移相步驟的輸出和所述第2控制電壓相乘的第2乘法步驟; 將所述第1乘法步驟及所述第2乘法步驟的各輸出相加的相加步驟。
9.根據權利要求8記載的測試方法,其特征在于所述移相步驟中將所述基準時鐘的相位進行大致90度移相。
10.根據權利要求8或9記載的測試方法,其特征在于所述相位轉換步驟還包括除去所述相加步驟的輸出中包含的高頻分量的低通濾波步驟。
11.根據權利要求8 10任一項記載的測試方法,其特征在于所述相位轉換步驟還包括對來自所述相加步驟的輸出進行分頻的分頻步驟。
12.根據權利要求8 10任一項記載的測試方法,其特征在于還包括對來自所述再生時鐘生成步驟的所述再生時鐘進行分頻的分頻步驟; 所述數據取得步驟中,根據所述分頻步驟被分頻的所述再生時鐘的所述選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值。
13.一種移相器,其特征在于包括輸入交流輸入信號,將所述輸入信號的相位僅按照規(guī)定角度移相的移相部; 輸入所述輸入信號及第1控制電壓,將所述輸入信號和所述第1控制電壓相乘的第1 乘法部;輸入所述移相部的輸出信號及第2控制電壓,將所述移相部的所述輸出信號和所述第 2控制電壓相乘的第2乘法部;輸入所述第1乘法部及所述第2乘法部的各輸出信號,將所述各輸出信號相加的加法部;通過所述第1控制電壓及所述第2控制電壓將所述輸入信號的相位進行連續(xù)移相。
14.根據權利要求13記載的移相器,其特征在于所述移相部對所述輸入信號的相位進行大致90度移相。
15.根據權利要求13或權利要求14記載的移相器,其特征在于還包括除去所述加法部的輸出中包含的高頻分量的低通濾波器。
全文摘要
提供一種減小信號的相位誤差的測試裝置、測試方法、及移相器。所述裝置包括基準時鐘源,產生控制所述被測試設備的動作的基準時鐘;再生時鐘生成電路,其生成相位與所述被測試設備輸出的輸出數據的相位大致相等的再生時鐘;數據取得部,其以基于所述再生時鐘的選通信號所指示的定時取得所述輸出數據的輸出值;比較器,其對所述數據取得部取得的所述輸出值與預設的期望值進行比較;判定部,其根據所述比較器的比較結果判定所述被測試設備的好壞;所述再生時鐘生成電路具有對所述被測試設備輸出的所述輸出數據的相位與所述再生時鐘的相位進行比較的相位比較器;根據所述相位比較器的輸出對所述基準時鐘的相位進行連續(xù)移相的移相器。
文檔編號G01R31/319GK102317803SQ20098012440
公開日2012年1月11日 申請日期2009年7月9日 優(yōu)先權日2008年7月9日
發(fā)明者田村賢仁 申請人:愛德萬測試株式會社