專利名稱：電測試器設(shè)置和校準(zhǔn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于包括多個測試模塊的電子測試機的設(shè)置和校準(zhǔn)的設(shè)備和方 法，其中每一測試模塊具有用于測試電子組件的多個觸點。
背景技術(shù)：
電子測試機的設(shè)置和校準(zhǔn)已知為一項困難且耗時的任務(wù)。通常，設(shè)置和校準(zhǔn)過程 包括以下任務(wù)中的一者或一者以上觸點對準(zhǔn)和校驗、電壓源校準(zhǔn)和校驗、電流源校準(zhǔn)和校 驗、絕緣電阻(IR)泄漏測量校準(zhǔn)和校驗，以及源和測量補償。目前已知通過上部觸點對準(zhǔn)工具使用軟件對準(zhǔn)來執(zhí)行對準(zhǔn)校驗，所述上部觸點對 準(zhǔn)工具使用測試板中的一排零件和觸點檢查來使對準(zhǔn)測量自動化，但此工具對被動臺不起 作用。還已知通過手動使用數(shù)字電壓計(DVM)來測量電壓和電流而執(zhí)行源校驗，其為勞動 密集型舉措，因為必須通過導(dǎo)線和寫下的測量值來手動探測每一觸點。已知通過在具有連 接到電纜中的精密電阻器的系統(tǒng)上測試測量卡而執(zhí)行針對泄漏的測量校驗。這是一項需要 精密電阻器多次交換(借助實例而非限制，例如對于具有64個通道和4個范圍的系統(tǒng)為 256次)的耗時的任務(wù)。手動記錄測量的結(jié)果。此方法不隔離地測試測量卡，而是包括來自 源的噪聲和電壓電平誤差。已知通過將零件手動插入到測試板中而執(zhí)行針對補償?shù)臏y量校 驗，(例如)以便執(zhí)行零件存在觸點檢查校驗或電容與耗散測量校驗(CD)。已知執(zhí)行針對 校準(zhǔn)的測量校驗需要技術(shù)人員可以接近電子測試機以便連接測試電纜和器具。一端口通常 連接到執(zhí)行校準(zhǔn)的外部計算機。這是一項半自動任務(wù)，其需要技術(shù)人員在校準(zhǔn)序列期間交 換大量電纜。

發(fā)明內(nèi)容
由于接線可能是故障的主要來源，所以將需要提供一種快速方式來檢查接線是否 交叉或處于不良條件中，或檢查電子測試機中的任何電纜中斷。還將需要提供一種用于隔 離地檢查測量卡的準(zhǔn)確性的過程。將進(jìn)一步需要直接從國家工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試(NIST)校準(zhǔn)的 “吉時利(Keithley) ”源發(fā)源電流以隔離地測試測量卡。如本文中所描述，電子測試機包括多個測試模塊。每一測試模塊可定位于從相關(guān) 聯(lián)中心軸線延伸的有角度間隔的徑向線上且可具有用于測試電子組件的多個觸點對。一種 用于所述電子測試機的電測試設(shè)置和校準(zhǔn)的設(shè)備和方法包括板，所述板每軌道具有至少一 個電極或觸點，所述至少一個電極或觸點可在測試位置之間移動以將測試裝置選擇性地以 電方式插入于任一觸點對之間。所述設(shè)備和方法還包括控制程序。測試裝置可選自由伏特 計、電流計、精密電流源、精密電壓源、校準(zhǔn)電阻器和校準(zhǔn)電容器組成的群組。借助實例而非 限制，校準(zhǔn)電阻器可為國家工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試(NIST)可追溯電阻器或穩(wěn)定參考電阻器，且校準(zhǔn) 電容器可為國家工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試(NIST)可追溯電容器或穩(wěn)定參考電容器?？刂瞥绦蚪?jīng)由板 而執(zhí)行至少一個測試功能。測試功能可選自由對準(zhǔn)校驗、電壓/電流源校驗、絕緣電阻(IR) 泄漏測量校驗、零件存在觸點檢查校驗、電容與耗散(CD)測量校驗、IR/CD補償和IR/CD校
4準(zhǔn)組成的群組。在結(jié)合附圖閱讀以下描述時，所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員將了解本發(fā)明的這些和其它應(yīng)用。


本文的描述參照附圖，附圖中相同參考標(biāo)號貫穿若干視圖指代相同零件，且其 中圖1是經(jīng)切割到校準(zhǔn)板或盤中的多個徑向槽中的一者的簡化橫截面詳圖；圖2是經(jīng)切割到校準(zhǔn)板或盤中的多個徑向槽的簡化透視圖，其中前部 (foreground)中的四個徑向槽測試校準(zhǔn)板或盤的外部四個軌道，且后部(background)中 的四個徑向槽測試校準(zhǔn)板或盤的內(nèi)部四個軌道；圖3是校準(zhǔn)板或盤在安裝于電子測試機中時的頂部的簡化平面圖，其中同軸電纜 可用于上部/下部電極/觸點布纜；圖4是下部電極/觸點的簡化透視圖，其中順從電極(compliant electrode)/觸 點突出到盤外以接觸單一下部電極/觸點；圖5是上部電極/觸點的簡化透視圖，其中觸點的定位較為重要因此校準(zhǔn)板或盤 可用于觸點對準(zhǔn)測試；圖6是具有至少一個測試模塊的電子測試機的簡化透視圖，每一測試模塊具有用 于測試由組件測試板載運于測試位置之間的電子組件的多個觸點對；圖7是生產(chǎn)測試板的詳細(xì)橫截面透視圖，所述生產(chǎn)測試板可在測試位置之間移動 以將待測試的電子組件選擇性地以電方式插入于電子測試機的相對的上部與下部觸點對 之間；圖8是上面安裝有校準(zhǔn)板或盤的電測試設(shè)置和校準(zhǔn)設(shè)備的簡化橫截面視圖，所述 校準(zhǔn)板或盤具有至少一個測試電極或觸點，所述至少一個測試電極或觸點可在測試位置之 間移動以將測試裝置選擇性地以電方式插入于電子測試機的相對的上部與下部觸點對之 間；以及圖9是說明所述多個測試電極或觸點的簡化電氣圖，所述多個測試電極或觸點可 在與校準(zhǔn)板或盤的旋轉(zhuǎn)相關(guān)聯(lián)的測試位置之間移動以將測試裝置選擇性地以電方式插入 于電子測試機的相對觸點對之間。
具體實施例方式簡要地參看圖6和圖7，電子測試機10具有測試模塊12的至少一個上部觸點14 和至少一個下部觸點16。每一測試模塊12可定位于從相關(guān)聯(lián)中心軸線延伸的有角度間隔 的徑向線上，且具有用于測試電子組件的多個觸點對14、16。生產(chǎn)測試板或盤50包括多個 凹穴52。每一凹穴52可將電子組件54載運到測試位置26，以便以電方式插入于電子測試 機10的測試模塊12的上部觸點14與下部觸點16之間，以對電子組件54執(zhí)行一個或一個 以上測試。測試板50繞中心軸線旋轉(zhuǎn)以將電子組件54轉(zhuǎn)移到與不同測試模塊12的對應(yīng) 的上部觸點14和下部觸點16相關(guān)聯(lián)的測試位置26，以及從測試位置26轉(zhuǎn)移電子組件54。 應(yīng)理解，在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下，觸點對14、16可經(jīng)定位以在待測試的電組件裝
5置54的相對端上接觸(如圖7和圖8中所說明)，或可經(jīng)定位以在待測試的電子組件54的 單一側(cè)面上接觸，其視電子組件裝置的配置而定。并且，生產(chǎn)測試板或盤50經(jīng)配置以在所 述板的相對側(cè)面上呈現(xiàn)第一電極36和第二電極38(如圖2和圖8中所說明)，或可經(jīng)配置 以在板50的單一側(cè)面上呈現(xiàn)第一電極36和第二電極38，其視待測試的觸點對14、16的配 置而定?，F(xiàn)參看圖1到圖5和圖8，電測試設(shè)置和校準(zhǔn)設(shè)備20可包括具有至少一個測試電 極或觸點24的校準(zhǔn)板或盤22，所述至少一個測試電極或觸點24可在測試位置26之間移 動，以將測試裝置28選擇性地以電方式插入于電子測試機10的觸點對14、16之間。測試 裝置28可選自由伏特計、電流計、精密電流源、精密電壓源、校準(zhǔn)電阻器和校準(zhǔn)電容器組成 的群組。校準(zhǔn)電阻器可為國家工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試(NIST)可追溯電阻器或穩(wěn)定參考電阻器。校 準(zhǔn)電容器可為國家工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試(NIST)可追溯電容器或穩(wěn)定參考電容器?？刂瞥绦蚪?jīng)由 板22執(zhí)行至少一個測試功能。測試功能可選自由對準(zhǔn)校驗、電壓/電流源校驗、絕緣電阻 (IR)泄漏測量校驗、零件存在觸點檢查校驗、電容與耗散(CD)測量校驗、IR/CD補償和IR/ ⑶校準(zhǔn)組成的群組?？商峁┎檎冶硪匝a償由測試裝置28所引起的將限制準(zhǔn)確性的偏移。 抵抗軌道到軌道變化的穩(wěn)健性可有助于簡化裝置的設(shè)計、制造和成本。校準(zhǔn)板22可包括旋轉(zhuǎn)軸線，所述旋轉(zhuǎn)軸線可與電子測試機10的與所述多個測試 模塊12相關(guān)聯(lián)的中心軸30同軸對準(zhǔn)以用于繞所述旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)到不同角位置。如果需要， 校準(zhǔn)板22可與中心軸30嚙合以用于驅(qū)動校準(zhǔn)板22繞一軸線旋轉(zhuǎn)到不同角位置以便選擇 性地依次對準(zhǔn)觸點對14、16以用于測試。所述至少一個測試電極或觸點24可有角度且徑 向地與同待測試的所述多個測試模塊12中的每一者的每一測試位置26相關(guān)聯(lián)的觸點對對 準(zhǔn)。多個軌道32定位于板22上。測試電極24可繞板22的旋轉(zhuǎn)軸線以均勻角間隔隔 開。所述至少一個電極或觸點24可包括與每一軌道32相關(guān)聯(lián)的單一連線觸點34。每一 連線觸點34包括彼此電隔離的第一電極36和第二電極38。連線觸點34可定位于所述板 上，以使得每次僅單一連線觸點34正接觸電子測試機10的觸點對14、16。為了減少測試期 間的電干擾，四個徑向槽可形成于板22的兩個在直徑上相對的側(cè)面上，其中存在八個軌道 32。第一組四個槽可測試板22的四個軌道32(借助實例而非限制，例如四個外部軌道32)， 且第二組四個槽可測試板22的四個軌道32 (借助實例而非限制，例如四個內(nèi)部軌道32)。連接器40安裝到板22，如圖3中所展示。第一電極36可彼此電連接且連接到連 接器40的內(nèi)部和外部導(dǎo)體中的一者。第二電極38可彼此電連接且連接到連接器40的內(nèi) 部和外部導(dǎo)體中的另一者。如在圖9的簡化電氣圖中最佳看出，第一電極36彼此電連接且 連接到連接器40的內(nèi)部和外部導(dǎo)體中的一者。第二電極38彼此電連接且連接到安裝到校 準(zhǔn)板22的連接器40的內(nèi)部和外部導(dǎo)體中的另一者。連接器40將第一電極36和第二電極 38連接到可定位于電子組件測試機10外部的測試裝置28。借助實例而非限制，測試臺42位于每四個連線觸點34之間，以使得測試臺42之 間存在三個連線觸點34。在板22按均勻角間隔轉(zhuǎn)位時，使當(dāng)前處于測試中的連線觸點34 脫離與觸點對14、16的嚙合，且使另一連線觸點34移動成與待測試的不同觸點對14、16嚙 合?？墒拱?2旋轉(zhuǎn)360度以用于測試200個經(jīng)組合的連線觸點34和測試臺42。揭示用于電子組件測試機10的設(shè)置和校準(zhǔn)的方法或過程。電子測試機10包括測試模塊12的多個觸點14。每一測試模塊12具有用于測試電子組件的多個觸點對14、16。 所述過程或方法可包括定位用于旋轉(zhuǎn)移動的校準(zhǔn)板22以將至少一個電極24定位于測試位 置26之間以選擇性地如上文所描述以電方式將測試裝置28插入于觸點對14、16之間。所 述方法或過程還可包括通過控制程序經(jīng)由板22執(zhí)行至少一個測試功能，同樣如上文所描 述。所述方法或過程還可包括通過查找表值補償由測試裝置28所引起的將會限制準(zhǔn)確性 的偏移。抵抗軌道到軌道變化的穩(wěn)健性可有助于簡化裝置28的設(shè)計、制造和成本。所述方法或過程可包括驅(qū)動板22繞一軸線旋轉(zhuǎn)到不同角位置以便選擇性地使觸 點對14、16與所述至少一個電極24依次對準(zhǔn)以用于測試。所述過程可使所述至少一個測 試電極24有角度且徑向地與同待測試的所述多個測試模塊12中的每一者的每一測試位置 26相關(guān)聯(lián)的觸點對14、16對準(zhǔn)。借助實例而非限制，總共八個軌道32可形成于板22上，其 中測試電極24繞板22的旋轉(zhuǎn)軸線以均勻有角度間隔的間隔按每1.8°間隔開。所述過程 可包括在板22上將第一電極36和第二電極38彼此電隔離以界定與每一軌道32相關(guān)聯(lián)的 單一連線觸點34。連線觸點34如果(例如)位于板22上，那么使得每次僅單一連線觸點 34正接觸電子測試機10的觸點對14、16。如圖9中最佳地看出，第一電極36可彼此電連接且連接到安裝于板22上的連接 器40的內(nèi)部和外部導(dǎo)體中的一者。第二電極38可彼此電連接且連接到連接器40的內(nèi)部 和外部導(dǎo)體中的另一者。借助實例而非限制，測試臺42可位于對應(yīng)于7. 2°的旋轉(zhuǎn)的每四 個連線觸點34之間，以使得測試臺42之間存在三個連線觸點34。所述過程可包括使板22 按1. 8°轉(zhuǎn)位，以使得當(dāng)前處于測試中的連線觸點34脫離與觸點對14、16的嚙合，且使另 一連線觸點35移動成與待測試的不同觸點對14、16嚙合。使板22旋轉(zhuǎn)360°的過程測試 200個經(jīng)組合的連線觸點34和測試臺42。校準(zhǔn)板或盤22是提供一種自動方式以將裝置28以電方式插入于上部/下部(U/ L)觸點對14、16之間的機電機構(gòu)。經(jīng)以電方式插入于上部/下部(U/L)觸點14、16之間 的裝置28可選自上文所提及的計量表和裝置。通過適當(dāng)?shù)闹С周浖?zhǔn)板或盤22可將 一周的系統(tǒng)檢驗減少為數(shù)小時。根據(jù)本發(fā)明的一實施例的裝置20可用于子系統(tǒng)檢驗、校準(zhǔn) 和系統(tǒng)/布纜測試。根據(jù)本發(fā)明的一實施例的裝置20可通過在上部/下部觸點14、16之 間使用精密電阻器來校準(zhǔn)IR泄漏測量值而簡化場校準(zhǔn)。根據(jù)本發(fā)明的一實施例的裝置20 可通過軟件支持而執(zhí)行對準(zhǔn)校驗。如果需要，軟件可指定調(diào)整哪一根螺釘以及需要將所述 螺釘調(diào)整多少。根據(jù)本發(fā)明的一實施例的裝置20可通過將國家工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試(NIST)可追 溯電流/電壓計連接到尼爾-康塞曼插刀(bayonet NeilI-Concelman, BNC)連接器40并 使所述板轉(zhuǎn)位360度以個別地將每一觸點對呈現(xiàn)到計量表而執(zhí)行電壓/電流源校驗。通用 接口總線(GPIB)用以俘獲數(shù)據(jù)，且軟件將結(jié)果輸出到電子數(shù)據(jù)表?？赏ㄟ^使BNC 40的內(nèi) 部/外部導(dǎo)體一起短接而以根據(jù)本發(fā)明的一實施例的裝置20來測試布線，接著隨著校準(zhǔn)板 或盤22旋轉(zhuǎn)可針對電流汲取(current draw)而掃描所有通道，以確定是否存在布線問題。 查找表可補償由測試裝置所引起的將限制準(zhǔn)確性的偏移。抵抗軌道到軌道變化的穩(wěn)健性可 有助于簡化裝置的設(shè)計、制造和成本。針對絕緣電阻泄漏，可以兩種方式執(zhí)行測量校驗。首先，可將精密電阻器或標(biāo)準(zhǔn)電 容器(standard cap)放置于BNC 40上以與精密電壓源電連通，使得在精密電阻器的一端 接地的情況下，可使用自動化來校驗系統(tǒng)絕緣電阻(IR)性能。其次，為了在隔離中測試測
7量(ME)卡的測量值，精密電流可直接從國家工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測試(NIST)校準(zhǔn)的“吉時利”源引入 ME卡中?？苫谠诮^緣電阻(IR)、零件存在觸點檢查和電容與耗散(CD)的測量校驗期間 獲得的值來執(zhí)行補償。BNC 40提供一種將標(biāo)準(zhǔn)電容器或精密電阻器跨越觸點14、16放置的 簡易方式。通過連接到BNC 40的適當(dāng)?shù)闹С蛛娪布?，可在盤22的三次旋轉(zhuǎn)中使開路/短 路/標(biāo)準(zhǔn)補償自動化?？苫谠诮^緣電阻(IR)、零件存在觸點檢查和電容與耗散(CD)的測 量校驗期間獲得的值來執(zhí)行校準(zhǔn)。替代于將校準(zhǔn)儀器具插入電子組件測試機10的背部中， 測試器具28可直接連接到盤22且減小誤差或錯誤的可能性。精密電阻器可插入到盤22 上，且用以校準(zhǔn)電子測試機源和測量單元。以高效的方法和工具來檢修、維護和校準(zhǔn)電子測 試機的系統(tǒng)的能力縮短了與電子測試機系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的任何停工時間以及與執(zhí)行任務(wù)相關(guān) 聯(lián)的勞動時間。可基于在觸點對準(zhǔn)檢查期間獲得的值來執(zhí)行對準(zhǔn)，其中可使校準(zhǔn)板22微步 進(jìn)經(jīng)過觸點對14、16，以告知測試電極26何時處于與電子測試機10的觸點對14、16的電嚙 合中。可記錄角位置并將其轉(zhuǎn)化成在電子測試機10的所述特定測試臺處所需的對觸點對 14、16的任何物理調(diào)整。在一個實施例中本發(fā)明為校準(zhǔn)板22，其具有預(yù)定數(shù)目的軌道32和以預(yù)定角間隔 隔開的連線電極24、36、38或觸點34。借助實例而非限制，總共可提供八個具有每1. 8度隔 開的連線電極36、38或觸點34的軌道32，其中每一軌道32具有單一連線電極36、38或觸 點34。在此實例中，總共可存在八個連線電極36、38，從而針對每一軌道32界定一個觸點 34。每一連線電極36、38位置具有彼此電隔離的第一或下部電極36和第二或上部電極38。 連線電極36、38放置于校準(zhǔn)板22上，以使得每次僅單一連線電極36、38或觸點34正接觸 電子測試機10的上部觸點14、16。在此實例中，BNC連接器40安裝到校準(zhǔn)板22。八個上部 電極38可彼此電連接且連接到BNC 40的內(nèi)部和外部導(dǎo)體中的一者。八個下部電極36可 彼此電連接且連接到BNC 40的內(nèi)部和外部導(dǎo)體中的另一者?？筛鶕?jù)本發(fā)明的一個實施例 而提供自動化。在此實例中，在上部觸點14、16下方，每四個觸點34或每7. 2度可提供一 測試臺，因此測試臺之間存在三個觸點34。在使校準(zhǔn)板22轉(zhuǎn)位1. 8度時，當(dāng)前處于測試中 的連線電極36、38或觸點34脫離與電子測試機10的觸點14、16的電嚙合，且新的連線電 極36、38或觸點34在電子測試機10的不同觸點14、16下方移動并進(jìn)入與不同觸點14、16 的電嚙合中。借助實例而非限制，可使校準(zhǔn)板22旋轉(zhuǎn)360度，以使得可測試電子測試機10 的兩百個觸點14、16中的每一者。雖然已結(jié)合某些實施例描述本發(fā)明，但應(yīng)理解，本發(fā)明并不限于所揭示的實施例， 而是相反，本發(fā)明希望涵蓋所附權(quán)利要求書的范圍內(nèi)所包括的各種修改和等效布置，所述 范圍應(yīng)被賦予最廣泛的解釋以便涵蓋如法律準(zhǔn)許的所有此類修改和等效結(jié)構(gòu)。
8
權(quán)利要求
一種電子測試機，其具有定位于從中心軸線延伸的有角度間隔的徑向線上的多個測試模塊，每一測試模塊具有用于測試電子組件的多個觸點對，所述電子測試機的特征在于用于電測試設(shè)置和校準(zhǔn)的設(shè)備，其包含板，其具有至少一個測試電極，所述至少一個測試電極可在測試位置之間移動以將測試裝置以電方式選擇性地插入于觸點對之間，所述測試裝置選自由伏特計、電流計、精密電流源、精密電壓源、校準(zhǔn)電阻器和校準(zhǔn)電容器組成的群組；以及控制程序，其經(jīng)配置以經(jīng)由所述板執(zhí)行至少一個測試功能，所述測試功能選自由對準(zhǔn)校驗、電壓/電流源校驗、絕緣電阻(IR)泄漏測量校驗、零件存在觸點檢查校驗、電容與耗散(CD)測量校驗、IR/CD補償和IR/CD校準(zhǔn)組成的群組。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子測試機，其進(jìn)一步包含所述板具有旋轉(zhuǎn)軸線，所述旋轉(zhuǎn)軸線與所述中心軸線同軸對準(zhǔn)以用于繞所述旋轉(zhuǎn)軸線 旋轉(zhuǎn)到不同角位置，以便選擇性地使所述至少一個測試電極與不同觸點對依次對準(zhǔn)以用于 測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子測試機，其中所述至少一個測試電極可有角度且徑向地 與同待測試的所述多個測試模塊中的每一者的每一測試位置相關(guān)聯(lián)的觸點對對準(zhǔn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子測試機，其進(jìn)一步包含多個軌道，其位于所述板上，且所述測試電極繞所述板的所述旋轉(zhuǎn)軸線以均勻角間隔隔開。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子測試機，其中所述至少一個電極進(jìn)一步包含單一連線觸點，其與每一軌道相關(guān)聯(lián)，每一連線觸點具有彼此電隔離的第一電極和第 二電極，且位于所述板上使得每次僅所述單一連線觸點正接觸所述電子測試機的待測試的 觸點對。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子測試機，其進(jìn)一步包含連接器，其安裝到所述板，所述第一電極彼此電連接且連接到所述連接器的內(nèi)部導(dǎo)體， 所述第二電極彼此電連接且連接到所述連接器的外部導(dǎo)體。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子測試機，其進(jìn)一步包含測試臺，其位于每四個連線觸點之間，使得鄰近測試臺之間存在三個連線觸點；且其中 在所述板按所述均勻角間隔轉(zhuǎn)位時，使當(dāng)前處于測試中的連線觸點脫離與觸點對的嚙合， 且使另一連線觸點移動成與待測試的不同觸點對嚙合。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子測試機，其中將所述板旋轉(zhuǎn)360度測試200個連線觸點/測試臺。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子測試機，其進(jìn)一步包含 查找表，其用以補償由所述測試裝置所引起的偏移。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子測試機，其中所述板進(jìn)一步包含 總共八個軌道，其位于所述板上，其中測試電極以每1. 8度隔開。
11.一種用于電子測試機的設(shè)置和校準(zhǔn)的方法，所述電子測試機具有位于從中心軸線 延伸的有角度間隔的徑向線上的多個測試模塊，每一測試模塊具有用于測試電子組件的多 個觸點對，所述方法包含定位用于相對于待測試的所述測試模塊繞旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)移動的板，以便選擇性地將至 少一個電極定位于多個測試位置的一者處以選擇性地以電方式將測試裝置插入于觸點對 之間；從由伏特計、電流計、精密電流源、精密電壓源、校準(zhǔn)電阻器和校準(zhǔn)電容器組成的群組 中選擇待插入的所述測試裝置；通過控制程序經(jīng)由所述板執(zhí)行至少一個測試功能；以及從由對準(zhǔn)校驗、電壓/電流源校驗、絕緣電阻(IR)泄漏測量校驗、零件存在觸點檢查校 驗、電容與耗散(CD)測量校驗、IR/CD補償和IR/CD校準(zhǔn)組成的群組中選擇待執(zhí)行的所述 測試功能。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其進(jìn)一步包含驅(qū)動所述板繞所述旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)到不同角位置，以便選擇性地使所述至少一個電極與 不同觸點對依次對準(zhǔn)以用于測試。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其進(jìn)一步包含使所述至少一個測試電極有角度且徑向地與同待測試的所述多個測試模塊中的每一 者的每一測試位置相關(guān)聯(lián)的觸點對對準(zhǔn)。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中使所述至少一個電極對準(zhǔn)進(jìn)一步包含在所述板上，將第一電極與第二電極彼此電隔離以界定單一連線觸點，所述單一連線 觸點與所述板的每一軌道相關(guān)聯(lián)且位于所述板上以使得每次僅所述單一連線觸點正接觸 所述電子測試機的待測試的觸點對。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其進(jìn)一步包含通過查找表來補償由所述測試裝置所引起的偏移。
全文摘要
一種電子測試機包括多個測試模塊，其每一者具有用于測試電子組件的多個觸點對。一種用于所述電子測試機的電測試設(shè)置和校準(zhǔn)的設(shè)備和過程包括板，所述板每軌道具有至少一個觸點，所述至少一個觸點可在測試位置之間移動以將測試裝置以電方式選擇性地插入于任一觸點對之間?？刂瞥绦蚩山?jīng)由所述板執(zhí)行至少一個測試功能。
文檔編號G01R31/00GK101978276SQ200980109893
公開日2011年2月16日 申請日期2009年3月6日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月21日
發(fā)明者布蘭登·J·麥柯里, 斯潘塞·B·巴雷特, 肯尼思·V·阿爾蒙特 申請人:電子科學(xué)工業(yè)有限公司