專利名稱：藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測量裝置，具體涉及一種藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測
量裝置。
背景技術(shù)：
藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工過程中，需要對產(chǎn)品的曲率半徑進(jìn)行初步測量，檢測產(chǎn)品的生產(chǎn)加工是否合格，目前，沒有專用測量裝置針對大直徑(透鏡直徑^ 10. OOmm，公差±0. 10mm)的藍(lán)寶石凹、凸透鏡曲率半徑的快速、批量測量。藍(lán)寶石凹、凸透鏡曲率半徑的檢測，一般采用球徑儀、50倍臥式投影儀或萬能工具顯微鏡檢測藍(lán)寶石透鏡曲率半徑。其中，1.采用球徑儀檢測，由于粗加工時(shí)藍(lán)寶石透鏡表面比較粗糙(RzO. 8 Rz3. 2)，與球徑儀直接接觸容易損傷球徑儀的紅寶石測量頭，而紅寶石測量頭比較昂貴，檢測成本昂貴，另外，球徑儀工作環(huán)境要求高，不適合生產(chǎn)現(xiàn)場批量檢測。2.采用50倍臥式投影儀檢測，由于50倍臥式投影儀的最大測量范圍是7. OOmm，對于直徑》7. OOmm的藍(lán)寶石透鏡不能完全投影，導(dǎo)致測量誤差較大；另外，由于藍(lán)寶石透鏡直徑^ 10.00mm，50倍臥式投影儀投影成像(尤其是凹透鏡)不清晰，也導(dǎo)致測量誤差較大。3.采用萬能工具顯微鏡檢測，由于萬能工具顯微鏡觀測到的藍(lán)寶石凸透鏡曲面線條不清晰，加上視覺誤差等因素影響，測量誤差很大，且不適合生產(chǎn)現(xiàn)場批量檢測，萬能工具顯微鏡對凹透鏡無法檢測，使用具有局限性。因此，急需一種快速、批量測量藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑且適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的檢測裝置。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置，所述裝置能夠快速、批量測量藍(lán)寶石凹透鏡和凸透鏡粗加工曲率半徑，而且適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的檢測。 本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的本裝置包括千分表，筒狀檢測支架沿中心線設(shè)置有階梯孔，其中階梯孔中直徑較小的孔位于檢測支架上半部，階梯孔中直徑較大的孔位于檢測支架下半部，檢測支架的側(cè)面設(shè)有螺孔，千分表的測桿穿過檢測支架上半部孔，鎖緊螺釘插入螺孔將測桿鎖緊固定，所述檢測支架下半部孔的外徑小于被測件弧面的最大弦長。 所述檢測支架的外徑和下半部孔的內(nèi)徑小于被測件弧面的最大弦長。 所述檢測支架的檢測壁下端面為水平端面。 所述檢測支架下半部孔的高度為檢測支架的高度的1/3。 所述檢測支架采用不銹鋼材料。 采用上述技術(shù)方案，所述測量裝置有以下優(yōu)點(diǎn) 1、所述檢測支架下端面為水平端面，使檢測壁下端面的內(nèi)邊緣能與凸透鏡的弧面接觸，檢測支架下端面的外邊緣能與凹透鏡的弧面接觸，這樣測量裝置既可測量凸透鏡的曲率半徑，也可以測量凹透鏡的曲率半徑，使之操作方便、簡單，非常適合生產(chǎn)現(xiàn)場批量檢
3[0011] 2、采用本實(shí)用新型所述裝置測量藍(lán)寶石透鏡曲率半徑時(shí)，還可以在凹、凸透鏡的
弧面上偏移測量裝置，測量透鏡表面不同點(diǎn)曲面半徑，觀察千分表的表針變化，可以粗略判
斷透鏡曲面的曲面度，這樣檢測球面的曲率半徑是否一致，使被測件更加標(biāo)準(zhǔn)。 3、千分表測桿的測頭為球面測頭，球面測頭保證測量時(shí)千分表的測頭與藍(lán)寶石
凹、凸透鏡的曲面為點(diǎn)接觸，保證測量時(shí)千分表表針顯示的數(shù)值H是透鏡弦高的最大值，確
保測量的準(zhǔn)確性。 4、檢測支架下半部孔的高度為檢測支架的高度的1/3，使測頭能夠完全伸出檢測 支架，以方便測量透鏡的曲率半徑。

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為支架的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3為本實(shí)用新型測量凸形曲面的示意圖； 圖4為圖3的局部示意圖； 圖5為本實(shí)用新型測量凹形曲面的示意圖； 圖6為圖5的局部示意圖。 附圖中，1為千分表，2為鎖緊螺釘，2a為螺孔，3為檢測支架，3a檢測壁，3b為檢測 支架上半部孔，3c為檢測支架下半部孔，4為測頭，5為被測件，6為檢驗(yàn)平臺。
具體實(shí)施方式參照圖1至圖2，測量裝置包括千分表1和檢測支架3，檢測支架3為筒狀結(jié)構(gòu)，檢 測支架沿中心線設(shè)置有階梯孔，其中階梯孔中直徑較小的孔位于檢測支架上半部，階梯孔 中直徑較大的孔位于檢測支架下半部，階梯孔檢測支架也呈階梯狀，以減小檢測支架上半 部的壁厚，并且還可以節(jié)約材料，檢測支架下半部為檢測壁3a，在檢測時(shí)檢測壁3a與凹、凸 透鏡接觸。檢測支架上部的側(cè)面設(shè)有螺孔2a，千分表的測桿穿過檢測支架上半部孔3b，千 分表的測頭露出檢測支架上半部孔2. 00 8. OOmm，鎖緊螺釘2插入螺孔2a將測桿鎖緊固 定，即將千分表與檢測支架連接在一起。千分表測桿的測頭4為球面，使測頭與藍(lán)寶石透鏡 的曲面為點(diǎn)接觸，保證測量時(shí)千分表表針顯示的數(shù)值是透鏡弦高的最大值。所述檢測支架 下半部孔3c的高度為檢測支架的高度的1/3，使千分表的測頭能夠完全伸出檢測支架。所 述檢測支架下半部孔3c的外徑小于被測件弧面的最大弦長，可以用于測量直徑^ 10. OOmm 的凹、凸透鏡的曲率半徑。本測量裝置的檢測支架下半部孔3c的外徑和下半部孔的內(nèi)徑比 被測件弧面的最大弦長小1. 00 10. 00mm，使檢測支架能夠測量直徑^ 10. 00mm的凹、凸透 鏡的曲率半徑。檢測支架的檢測壁3a下端面為水平端面，這樣檢測壁3a下端面內(nèi)徑的邊 緣與被測件的凸形弧面接觸，檢測壁3a下端面外徑的邊緣與被測件的凹形弧面接觸，使檢 測支架下半部的內(nèi)徑為被測件凸透鏡被截取弧面的弦長，檢測支架下半部的外徑為被測件 凹透鏡被截取弧面的弦長。檢測支架采用不銹鋼制作，保證測量裝置的強(qiáng)度，避免與被測件 反復(fù)接觸而磨損。 使用本實(shí)用新型測量透鏡曲率半徑的方法如下
4[0023] 當(dāng)被測件5為凸透鏡時(shí)，參照圖3與圖4，首先將測量裝置放在檢驗(yàn)平臺6上，檢測 壁3a以及千分表的測量頭4同時(shí)與檢驗(yàn)平臺6接觸，(此時(shí)千分表的測頭向上移動(dòng)一定的 距離，表針偏移)轉(zhuǎn)動(dòng)千分表表圈，使表盤的零位刻線對準(zhǔn)表針。再將經(jīng)粗加工的藍(lán)寶石凸 透鏡放在檢驗(yàn)平臺6上，測量裝置放在藍(lán)寶石凸透鏡的球面上，檢測支架下半部孔3c的內(nèi) 徑的邊緣與藍(lán)寶石凸透鏡的球面接觸，此時(shí)千分表的測頭上升，表針偏移得到一數(shù)值H，此 數(shù)值H就是弦長為D2時(shí)的弦高。根據(jù)計(jì)算公式// = 57 - V—2- 式中SR為藍(lán)寶石凸透鏡曲率半徑、D2為測量裝置下半部直徑，令SR公差 ±0. 10mm， D2的公差±0. Olmm，計(jì)算出Hmax數(shù)值和Hmin數(shù)值。在測量時(shí)只需要觀察千分 表顯示的數(shù)值H是否在Hmax和Hmin之間，即可快速判斷藍(lán)寶石凸透鏡的曲率半徑SR是否 合格。若千分表顯示的數(shù)值H在Hmax和Hmin之間，則藍(lán)寶石凸透鏡的曲率半徑SR合格， 否則為不合格。 當(dāng)被測件5為凹透鏡時(shí)，參照圖5與圖6，采用測量凸透鏡的相同測量方法，只是測 量裝置下端面外徑的邊緣與藍(lán)寶石凹透鏡的球面接觸，此時(shí)千分表的測量頭下降一數(shù)值H， 此數(shù)值H就是弦長為D3時(shí)的弦高。在測量時(shí)只需要觀察千分表顯示的數(shù)值H是否在Hmax 和Hmin之間，即可快速判斷藍(lán)寶石凹透鏡曲率半徑SR值是否合格。若千分表顯示的數(shù)值 H在Hmax和Hmin之間，則藍(lán)寶石凹透鏡的曲率半徑SR合格，否則為不合格。
權(quán)利要求一種藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置，包括千分表，其特征在于筒狀檢測支架沿中心線設(shè)置有階梯孔，其中階梯孔中直徑較小的孔位于檢測支架上半部，階梯孔中直徑較大的孔位于檢測支架下半部，檢測支架的側(cè)面設(shè)有螺孔，千分表的測桿穿過檢測支架上半部孔，鎖緊螺釘插入螺孔將測桿鎖緊固定，所述檢測支架的外徑和下半部孔的內(nèi)徑小于被測件弧面的最大弦長。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置，其特征在于所述檢測支架的外徑比被測件弧面的最大弦長小1. 00 10. OOmm。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置，其特征在于 所述檢測支架的檢測壁下端面為水平端面。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置，其特征在于所述檢測支架下半部孔的高度為檢測支架的高度的1/3。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置，其特征在于所述檢測支架采用不銹鋼材料。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種藍(lán)寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量裝置，包括千分表，其特征在于筒狀檢測支架沿中心線設(shè)置有階梯孔，其中階梯孔中直徑較小的孔位于檢測支架上半部，階梯孔中直徑較大的孔位于檢測支架下半部，檢測支架的側(cè)面設(shè)有螺孔，千分表的測桿穿過檢測支架上半部孔，鎖緊螺釘插入螺孔將測桿鎖緊固定，所述檢測支架的外徑和下半部孔的內(nèi)徑小于被測件弧面的最大弦長。本實(shí)用新型能夠快速、批量測量藍(lán)寶石凹透鏡和凸透鏡粗加工曲率半徑，而且適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的檢測。
文檔編號G01B5/213GK201497474SQ20092012838
公開日2010年6月2日 申請日期2009年8月10日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月10日
發(fā)明者柏教林, 牟方財(cái) 申請人:重慶川儀自動(dòng)化股份有限公司