專利名稱：：利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種對(duì)電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的方法
背景技術(shù)：
：交聯(lián)聚乙烯(XLPE)電纜絕緣中的雜質(zhì)顆粒是造成其絕緣失效的重要因素?，F(xiàn)代電纜工業(yè)用超凈生產(chǎn)的方式防止雜質(zhì)顆粒進(jìn)入絕緣材料。為了評(píng)價(jià)電纜的超凈程度，在生產(chǎn)中制定了嚴(yán)格的絕緣料中雜質(zhì)顆粒的尺寸和含量標(biāo)準(zhǔn)。例如規(guī)定500kV以上電纜絕緣的XLPE料中每公斤不得有超過(guò)50m的雜質(zhì)顆粒。在工業(yè)生產(chǎn)中，雜質(zhì)顆粒的檢測(cè)要有一定的體積數(shù)量和檢測(cè)頻率，結(jié)果才具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，例如，每生產(chǎn)20噸料作為一個(gè)檢測(cè)批次，在其中隨機(jī)抽樣3公斤進(jìn)行雜質(zhì)檢測(cè)。在雜質(zhì)顆粒的檢測(cè)過(guò)程中，并不關(guān)心雜質(zhì)顆粒的幾何形狀細(xì)節(jié)，而對(duì)測(cè)量分辨率和測(cè)量速度有較高要求。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明為了解決現(xiàn)有技術(shù)對(duì)電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的分辨率不高、測(cè)量速度不高的問(wèn)題，提出一種利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法。利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法是基于以下裝置實(shí)現(xiàn)的利用衍射效應(yīng)對(duì)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置由光源、透鏡、CCD攝像機(jī)、AD轉(zhuǎn)換卡和計(jì)算機(jī)組成，光源、透鏡、CCD攝像機(jī)依次從左至右共軸排列，所述CCD攝像機(jī)設(shè)置在透鏡的像方焦平面上，CCD攝像機(jī)的信號(hào)輸出端與AD轉(zhuǎn)換卡的模擬信號(hào)輸入端相連，AD轉(zhuǎn)換卡的數(shù)字信號(hào)輸出端與計(jì)算機(jī)的信號(hào)輸入端相連；利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法具體步驟如下步驟A、將標(biāo)定板放置在透鏡的物方焦平面上，保證標(biāo)定板完全被光源的光束覆蓋，所述標(biāo)定板上制作有不同尺寸的圓形顆粒，顆粒尺寸在20m至100m之間；步驟B、標(biāo)定板以速度v勻速通過(guò)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置N次，記錄每種尺寸顆粒每次經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡后的像函數(shù)序列的寬度At，將每種尺寸顆粒的N次測(cè)量結(jié)果取平均值并取整數(shù)，獲得標(biāo)定板每種尺寸顆粒的像函數(shù)序列的寬度At;步驟C、通過(guò)步驟B獲得的標(biāo)定板每種尺寸顆粒的像函數(shù)序列的寬度At，獲得CCD攝像機(jī)上每種尺寸顆粒的衍射圖像像函數(shù)解算尺寸a';步驟D、確定步驟C獲得衍射圖像像函數(shù)的解算尺寸a'與圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系步驟E、將被測(cè)超凈電纜絕緣料制成厚度在0.5mm至1.2mm之間，寬度為20mm至30mm的測(cè)超凈電纜絕緣料薄帶，放置在透鏡的物方焦平面上，保證被測(cè)超凈電纜絕緣料薄帶的寬度完全被光源的光束覆蓋；步驟F、被測(cè)超凈電纜絕緣料薄帶以速度v勻速通過(guò)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置；步驟G、記錄雜質(zhì)顆粒經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡后的像函數(shù)序列的寬度At;步驟H、通過(guò)步驟G獲得的雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)序列的寬度At，獲得CCD攝像機(jī)上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸a';步驟1、通過(guò)步驟D獲得的像函數(shù)的解算尺寸a'和圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定被測(cè)超凈電纜絕緣料薄帶雜質(zhì)的實(shí)際尺寸a?，F(xiàn)有技術(shù)利用透鏡的尺寸變換，將物函數(shù)放大來(lái)提高測(cè)量分辨率，但尺寸放大的同時(shí)造成視場(chǎng)的縮小，這樣只能是一部分一部分的成像，由于拍攝的幅數(shù)多而造成檢測(cè)速度下降，對(duì)于要求高速測(cè)量的應(yīng)用，是不能通過(guò)放大成像的方法提高分辨率的。本發(fā)明利用衍射效應(yīng)與CCD攝像結(jié)合，無(wú)需對(duì)雜質(zhì)成像進(jìn)行放大，視場(chǎng)范圍大，與現(xiàn)有測(cè)量裝置相比具有更高測(cè)量速度，本實(shí)用新型適用于電纜工業(yè)的超凈電纜絕緣料雜質(zhì)檢測(cè)，尤其應(yīng)用于高壓XLPE電纜絕緣料和電纜超凈生產(chǎn)中的雜質(zhì)顆粒的高速、高分辨率自動(dòng)檢測(cè)，還適用于其他領(lǐng)域雜質(zhì)的檢測(cè)。本發(fā)明通過(guò)分析雜質(zhì)顆粒在測(cè)量過(guò)程中的光學(xué)成像特性和測(cè)量要求，提出了一種利用光學(xué)鏡頭的衍射效應(yīng)而造成的成像展寬作用，在不關(guān)心雜質(zhì)顆粒形狀細(xì)節(jié)的條件下，提高了測(cè)量分辨率的方法，本發(fā)明適用于超高壓電纜料及電纜生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域。說(shuō)明書(shū)附圖圖1為標(biāo)定板7放置在利用衍射效應(yīng)對(duì)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶放置在利用衍射效應(yīng)對(duì)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為雜志顆粒處的位置光強(qiáng)信號(hào)波形圖。圖4為CCD攝像機(jī)3處衍射圖像位置光強(qiáng)信號(hào)波形圖。圖5為AD轉(zhuǎn)換卡4后的像函數(shù)序列時(shí)間-光強(qiáng)信號(hào)波形圖。圖6為像函數(shù)序列的局部示意圖。圖7為具體實(shí)施方式四的尺寸測(cè)量實(shí)驗(yàn)曲線。具體實(shí)施例方式具體實(shí)施方式一結(jié)合圖1、圖2、圖3、圖4和圖5說(shuō)明本實(shí)施方式，利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法是基于以下裝置實(shí)現(xiàn)的利用衍射效應(yīng)對(duì)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置由光源1、透鏡2、CCD攝像機(jī)3、AD轉(zhuǎn)換卡4和計(jì)算機(jī)5組成，光源1、透鏡2、CCD攝像機(jī)3依次從左至右共軸排列，所述CCD攝像機(jī)3設(shè)置在透鏡2的像方焦平面上，CCD攝像機(jī)3的信號(hào)輸出端與AD轉(zhuǎn)換卡4的模擬信號(hào)輸入端相連，AD轉(zhuǎn)換卡4的數(shù)字信號(hào)輸出端與計(jì)算機(jī)5的信號(hào)輸入端相連；利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法具體步驟如下步驟A、將標(biāo)定板7放置在透鏡2的物方焦平面上，保證標(biāo)定板7完全被光源1的光束覆蓋，所述標(biāo)定板7上制作有不同尺寸的圓形顆粒，顆粒尺寸在20m至100m之間；步驟B、標(biāo)定板7以速度v勻速通過(guò)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置N次，記錄每種尺寸顆粒每次經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡4后的像函數(shù)序列的寬度At，將每種尺寸顆粒的N次測(cè)量結(jié)果取平均值并取整數(shù)，獲得標(biāo)定板7每種尺寸顆粒的像函數(shù)序列的寬度At;步驟C、通過(guò)步驟B獲得的標(biāo)定板7每種尺寸顆粒的像函數(shù)序列的寬度At，獲得CCD攝像機(jī)3上每種尺寸顆粒的衍射圖像像函數(shù)解算尺寸a';步驟D、確定步驟C獲得衍射圖像像函數(shù)的解算尺寸a'與圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系；步驟E、將被測(cè)超凈電纜絕緣料6制成厚度在0.5mm至1.2mm之間，寬度為20mm至30mm的被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶，放置在透鏡2的物方焦平面上，保證被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶的寬度完全被光源1的光束覆蓋；步驟F、被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶以速度v勻速通過(guò)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置；步驟G、記錄雜質(zhì)顆粒經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡4后的像函數(shù)序列的寬度At;步驟H、通過(guò)步驟G獲得的雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)序列的寬度At，獲得CCD攝像機(jī)3上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸a';步驟1、通過(guò)步驟D獲得的像函數(shù)的解算尺寸a'和圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶雜質(zhì)的實(shí)際尺寸a。所述標(biāo)定板7為玻璃介質(zhì)作為載體，中間位置制作有不同尺寸的圓形顆粒的標(biāo)定板，被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶厚度為0.5mm至1.2mm，保證超凈電纜絕緣料6薄帶的通光率，標(biāo)定板7和被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶的速度v可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行選擇，v越大，檢測(cè)速度越快，v越小，檢測(cè)速度越慢。具體實(shí)施方式二本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式一的不同之處在于步驟E中所述的被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶為厚lmm，寬25mm的薄帶。具體實(shí)施方式三結(jié)合圖6說(shuō)明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式是對(duì)步驟B和步驟G中測(cè)量雜質(zhì)顆粒經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡4后的像函數(shù)序列的寬度At的進(jìn)一步說(shuō)明步驟一、設(shè)定測(cè)量閾值S。，如果測(cè)量閾值S。分別對(duì)應(yīng)于AD轉(zhuǎn)換卡4后的像函數(shù)序列的第i位像元和第i+n位像元，則執(zhí)行步驟五，如果測(cè)量閾值對(duì)應(yīng)于AD轉(zhuǎn)換卡4后的像函數(shù)序列的第i位像元和第i+1位像元之間，則執(zhí)行步驟二；步驟二、利用三次樣條差值將測(cè)量閾值附近的K個(gè)點(diǎn)連接成光滑曲線，得到三次樣條函數(shù)；步驟四、由步驟二獲得的三次樣條函數(shù)，計(jì)算出測(cè)量閾值S。對(duì)應(yīng)的像元位置；步驟五、將兩個(gè)測(cè)量閾值S。對(duì)應(yīng)的像元位置做差，得到雜質(zhì)顆粒經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡4后的像函數(shù)序列的寬度At。具體實(shí)施方式四本實(shí)施方式是對(duì)步驟C和步驟H中通過(guò)雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)序列的寬度At，獲得CCD攝像機(jī)3上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸a'的進(jìn)一步說(shuō)明CCD攝像機(jī)3上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸a'=pXAt，其中p為CCD攝像機(jī)3的像元間隔。具體實(shí)施方式五結(jié)合圖7說(shuō)明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式中標(biāo)定板7上制作有20iim、25iim、30iim、35iim、40iim、50iim、60iim和100iim8個(gè)圓形顆粒，標(biāo)定板7和被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶通過(guò)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置的速度均為14mm/s，標(biāo)定板7像函數(shù)的解算尺寸a'和圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系為一次函數(shù)，表達(dá)式為a=a'_b，其中b為偏移量，對(duì)于焦距f=58mm，相對(duì)孔徑D/f=1/8的透鏡，將像函數(shù)的解算尺寸a'和圓形顆粒實(shí)際尺寸a擬合成曲線，求得偏移量b=25m，即像函數(shù)的解算尺寸a'和圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系為a=a'_25，經(jīng)過(guò)本發(fā)明的方法測(cè)量的標(biāo)定板7的圓形顆粒尺寸如表1列出，本發(fā)明的方法對(duì)標(biāo)定板7的測(cè)量結(jié)果誤差在士2iim，XLPE超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)顆粒尺寸入表2列出，由于我們只關(guān)心雜質(zhì)顆粒的尺寸小于lOOym的情況，大于6100iim的雜質(zhì)顆粒尺寸僅用>100iim表示，本發(fā)明的方法對(duì)XLPE超凈電纜絕緣料的測(cè)量結(jié)果誤差不超過(guò)±5iim。表l<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>利用本發(fā)明對(duì)XLPE超凈電纜絕緣料中的雜質(zhì)進(jìn)行測(cè)量的誤差比對(duì)標(biāo)定板7的誤差稍大，這是由于被測(cè)超凈電纜絕緣料中的雜質(zhì)顆粒并非圓形，與標(biāo)定板7中的圓形顆粒成像規(guī)律并不完全相同的結(jié)果，這是造成誤差稍大的主要原因，工作原理將被測(cè)超凈電纜絕緣料6放置透鏡2的物方焦平面上，為保證被測(cè)超凈電纜絕緣料6的橫截面完全被光源1的光束覆蓋，光源1距被測(cè)超凈電纜絕緣料6的距離為200mm左右，由光源1發(fā)出的光，照射被測(cè)超凈電纜絕緣料6，如果被測(cè)超凈電纜絕緣料6中含有雜質(zhì)顆粒，則經(jīng)過(guò)透鏡2成像后光強(qiáng)發(fā)生變化，并投射到CCD攝像機(jī)3上，CCD攝像機(jī)3的每個(gè)像元的輸出經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡4裝換后，構(gòu)成一組離散化的光強(qiáng)信息時(shí)間序列，該序列中包含雜質(zhì)顆粒的尺寸信息，在一定閾值條件下，時(shí)間序列的間隔At與雜志顆粒的尺寸有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系?？梢酝ㄟ^(guò)測(cè)量At解算出雜質(zhì)的顆粒尺寸。通過(guò)分析被測(cè)超凈電纜絕緣料6雜質(zhì)顆粒在測(cè)量過(guò)程中的光學(xué)成像特性和測(cè)量要求，利用光學(xué)鏡頭的衍射效應(yīng)而造成的成像展寬作用，在不關(guān)心雜質(zhì)顆粒形狀細(xì)節(jié)的條件下，測(cè)量被測(cè)超凈電纜絕緣料6中雜質(zhì)的尺寸，與現(xiàn)有的測(cè)量裝置相比具有更高的的測(cè)量分辨率。對(duì)于一般的光學(xué)系統(tǒng)總是設(shè)法減小艾里斑，以提高成像系統(tǒng)的細(xì)節(jié)分辨率，但是對(duì)于雜質(zhì)顆粒的尺寸測(cè)量，雜質(zhì)幾何形狀細(xì)節(jié)并不是需要關(guān)心的，真正需要關(guān)心的是在測(cè)量過(guò)程中的尺寸分辨率。如果設(shè)法增大艾里斑的直徑，意味著被測(cè)雜質(zhì)顆粒成像被展寬，雖然犧牲了成像的空間分辨率，但可以提高尺寸測(cè)量的分辨能率。即在測(cè)量時(shí)，可能無(wú)法分辨兩個(gè)距離很近的雜質(zhì)顆粒，而將其視為一顆雜質(zhì)，這在實(shí)際應(yīng)用中是允許的。為了增大艾里斑的直徑，減小透鏡的相對(duì)孔徑是有效的方法。實(shí)測(cè)表明，基于本發(fā)明的方法的測(cè)量系統(tǒng)，在視場(chǎng)20mm時(shí)測(cè)量分辨率達(dá)到20ym，準(zhǔn)確度為士5ym，可以應(yīng)用于高壓XLPE電纜絕緣料和電纜超凈生產(chǎn)中的雜質(zhì)顆粒的高速、高分辨率自動(dòng)檢測(cè)。權(quán)利要求利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法，其特征在于它是基于以下裝置實(shí)現(xiàn)的利用衍射效應(yīng)對(duì)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置由光源(1)、透鏡(2)、CCD攝像機(jī)(3)、AD轉(zhuǎn)換卡(4)和計(jì)算機(jī)(5)組成，光源(1)、透鏡(2)、CCD攝像機(jī)(3)依次從左至右共軸排列，所述CCD攝像機(jī)(3)設(shè)置在透鏡(2)的像方焦平面上，CCD攝像機(jī)(3)的信號(hào)輸出端與AD轉(zhuǎn)換卡(4)的模擬信號(hào)輸入端相連，AD轉(zhuǎn)換卡(4)的數(shù)字信號(hào)輸出端與計(jì)算機(jī)(5)的信號(hào)輸入端相連；利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法具體步驟如下步驟A、將標(biāo)定板(7)放置在透鏡(2)的物方焦平面上，保證標(biāo)定板(7)完全被光源(1)的光束覆蓋，所述標(biāo)定板(7)上制作有不同尺寸的圓形顆粒，顆粒尺寸在20μm至100μm之間；步驟B、標(biāo)定板(7)以速度v勻速通過(guò)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置N次，記錄每種尺寸顆粒每次經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡(4)后的像函數(shù)序列的寬度Δt，將每種尺寸顆粒的N次測(cè)量結(jié)果取平均值并取整數(shù)，獲得標(biāo)定板(7)每種尺寸顆粒的像函數(shù)序列的寬度Δt；步驟C、通過(guò)步驟B獲得的標(biāo)定板(7)每種尺寸顆粒的像函數(shù)序列的寬度Δt，獲得CCD攝像機(jī)(3)上每種尺寸顆粒的衍射圖像像函數(shù)解算尺寸a’；步驟D、確定步驟C獲得衍射圖像像函數(shù)的解算尺寸a’與圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系；步驟E、將被測(cè)超凈電纜絕緣料(6)制成厚度在0.5mm至1.2mm之間，寬度為20mm至30mm的被測(cè)超凈電纜絕緣料(6)薄帶，放置在透鏡(2)的物方焦平面上，保證被測(cè)超凈電纜絕緣料(6)薄帶的寬度完全被光源(1)的光束覆蓋；步驟F、被測(cè)超凈電纜絕緣料(6)薄帶以速度v勻速通過(guò)超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的裝置；步驟G、記錄雜質(zhì)顆粒經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡(4)后的像函數(shù)序列的寬度Δt；步驟H、通過(guò)步驟G獲得的雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)序列的寬度Δt，獲得CCD攝像機(jī)(3)上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸a’；步驟I、通過(guò)步驟D獲得的像函數(shù)的解算尺寸a’和圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定被測(cè)超凈電纜絕緣料(6)薄帶雜質(zhì)的實(shí)際尺寸a。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法，其特征在于步驟E中所述的被測(cè)超凈電纜絕緣料(6)薄帶為厚lmm，寬25mm的薄帶。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法，其特征在于步驟B和步驟G中測(cè)量雜質(zhì)顆粒經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡(4)后的像函數(shù)序列的寬度At的具體步驟為步驟一、設(shè)定測(cè)量閾值SO，如果測(cè)量閾值SO分別對(duì)應(yīng)于AD轉(zhuǎn)換卡(4)后的像函數(shù)序列的第i位像元和第i+n位像元，則執(zhí)行步驟五，如果測(cè)量閾值對(duì)應(yīng)于AD轉(zhuǎn)換卡(4)后的像函數(shù)序列的第i位像元和第i+l位像元之間，則執(zhí)行步驟二；步驟二、利用三次樣條差值將測(cè)量閾值附近的K個(gè)點(diǎn)連接成光滑曲線，得到三次樣條函數(shù)；步驟四、由步驟二獲得的三次樣條函數(shù)，計(jì)算出測(cè)量閾值SO對(duì)應(yīng)的像元位置；步驟五、將兩個(gè)測(cè)量閾值SO對(duì)應(yīng)的像元位置做差，得到雜質(zhì)顆粒經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換卡(4)后的像函數(shù)序列的寬度At。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法，其特征在于步驟C和步驟H中通過(guò)雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)序列的寬度At，獲得CCD攝像機(jī)(3)上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸a'具體為CCD攝像機(jī)(3)上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸a'=pXAt，其中p為CCD攝像機(jī)(3)的像元間隔。全文摘要利用衍射效應(yīng)提高超凈電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)分辨率的方法，它涉及一種對(duì)電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的方法，解決了現(xiàn)有技術(shù)對(duì)電纜絕緣料中雜質(zhì)檢測(cè)的分辨率不高、測(cè)量速度不高的問(wèn)題，其步驟為A測(cè)量標(biāo)定板上已知的不同尺寸的圓形顆粒，B獲得標(biāo)定板每種尺寸顆粒的像函數(shù)序列的寬度，C解算出CCD攝像機(jī)上每種尺寸顆粒的像函數(shù)解算尺寸；D確定像函數(shù)的解算尺寸和圓形顆粒實(shí)際尺寸a的對(duì)應(yīng)關(guān)系；E測(cè)量超凈電纜絕緣料薄帶中雜質(zhì)顆粒的尺寸；F獲得超凈電纜絕緣料薄帶像函數(shù)序列的寬度；G解算出CCD攝像機(jī)上雜質(zhì)顆粒的像函數(shù)解算尺寸；H確定被測(cè)超凈電纜絕緣料6薄帶雜質(zhì)的實(shí)際尺寸。本發(fā)明適用于超高壓電纜料及電纜生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域。文檔編號(hào)G01N15/02GK101718669SQ200910312059公開(kāi)日2010年6月2日申請(qǐng)日期2009年12月23日優(yōu)先權(quán)日2009年12月23日發(fā)明者李迎,王暄,趙洪申請(qǐng)人:哈爾濱理工大學(xué)