專利名稱：用于將多個儀器的事件進(jìn)行時間同步的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本公開涉及測試和測量儀器，更具體來說涉及多個測試和測量儀器的觸發(fā)。
背景技術(shù)：
可以使用測試和測量儀器上的事件來觸發(fā)其他測試和測量儀器上的采集。例如， 第一測試和測量儀器可以具有觸發(fā)輸出。該觸發(fā)輸出可以輸出指示第一測試和測量儀器檢 測到可導(dǎo)致采集的條件的信號。 可以將其他測試和測量儀器耦合到第一測試和測量儀器的觸發(fā)輸出。這些測試和 測量儀器可以響應(yīng)來自第一測試和測量儀器的外部觸發(fā)來觸發(fā)采集。因此，可以通過一個 測試和測量儀器檢測到的事件來觸發(fā)多個儀器的采集。

發(fā)明內(nèi)容
—個實施例包括測量系統(tǒng)，該測量系統(tǒng)包括多個測試和測量儀器；以及耦合到每 個測試和測量儀器的集線器。每個測試和測量儀器配置成響應(yīng)從集線器接收到的集線器事 件來觸發(fā)采集。 另一個實施例包括測試和測量儀器，該測試和測量儀器包括配置成接收事件的輸 入；以及控制器，該控制器耦合到該輸入并配置成響應(yīng)事件和與測試和測量儀器和至少一 個其他測試和測量儀器關(guān)聯(lián)的時間而觸發(fā)采集。 另一個實施例包括測量從集線器到測試和測量儀器的往返程時間；在測試和測量 儀器處接收來自集線器的事件；響應(yīng)該事件而采集數(shù)據(jù)；以及響應(yīng)往返程時間來調(diào)整呈交 數(shù)據(jù)的時基。


圖1是根據(jù)實施例的測量系統(tǒng)的框圖。
圖2是說明圖1的測量系統(tǒng)中測試和測量儀器與集線器的連接的框圖。 圖3和4是說明根據(jù)實施例的兩個測試和測量儀器的往返程時間的測量的時序圖。 圖5是說明根據(jù)實施例的事件從第一測試和測量儀器傳播到多個測試和測量儀 器的時序圖。 圖6是說明根據(jù)實施例的事件從第二測試和測量儀器傳播到多個測試和測量儀 器的時序圖。 圖7是說明根據(jù)實施例的被測裝置的波形的時間關(guān)系的示意圖。
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圖8是說明相應(yīng)觸發(fā)點對齊情況下，圖7的波形的時間關(guān)系的示意圖。 圖9是說明根據(jù)實施例的時間上的波形偏移的時間關(guān)系的示意圖。 圖10是根據(jù)實施例的集線器的框圖。 圖11是說明校準(zhǔn)多個測試和測量儀器的示例的流程圖。 圖12是根據(jù)實施例的測試和測量儀器的框圖。
具體實施例方式
實施例包括其中可使用一個或多個測試和測量儀器上發(fā)生的事件來觸發(fā)任何一個或所有測試和測量儀器上的采集的測試和測量儀器、測量系統(tǒng)、校準(zhǔn)和測量技術(shù)等。
圖1是根據(jù)實施例的測量系統(tǒng)的框圖。在本實施例中，測量系統(tǒng)10包括耦合到集線器18的多個測試和測量儀器12-15。這些測試和測量儀器12-15各通過通信鏈路16耦合到集線器18。具體來說，這些測試和測量儀器12-15的每個測試和測量儀器可以配置成響應(yīng)通過通信鏈路16從集線器18接收到的事件來觸發(fā)采集。測量系統(tǒng)10可以耦合到被測設(shè)備11 (DUT)。這些測試和測量系統(tǒng)12-15的每個測試和測量系統(tǒng)可以耦合到DUT 11。
測試和測量儀器12-15可以包括任何不同類型的儀器。例如，測試和測量儀器可以包括示波器、邏輯分析器、網(wǎng)絡(luò)分析器、頻譜分析器等。可以響應(yīng)事件而采集數(shù)據(jù)的任何儀器均可以用作測試和測量儀器。 事件可以是任何不同類型的條件。例如，事件可以是上升沿、電平、假信號(glitch)、脈沖寬度等。在另一個示例中，事件可以包括分組類型、數(shù)據(jù)序列等。事件可以包括此類事件的組合。測試和測量儀器可測量的任何發(fā)生情況均可以是事件。
事件可以但無需在測試和測量儀器之間是一致的。例如，邏輯分析器可以將DUTll上的特定數(shù)據(jù)序列檢測為事件。示波器可以檢測脈沖寬度。即，測試和測量儀器12-15的其中一些可以針對不同類型的事件來監(jiān)視DUT 11。 具體來說，在一個實施例中，不同類型的測試和測量儀器12-15可以耦合在一起
并基于相同的事件而觸發(fā)。例如，假定測試和測量儀器12是針對特定數(shù)據(jù)模式監(jiān)視DUT 11
的邏輯分析器，而測試和測量儀器13是針對具有特定上升時間的沿來監(jiān)視DUT 11的示波
器。示波器13可以檢測沿并將檢測事件傳送到集線器18。集線器18可以將該事件傳送
到測試和測量儀器12-15的每個測試和測量儀器，從而使測試和測量儀器12-15采集數(shù)據(jù)。
或者，該采集可以由邏輯分析器12上檢測到的特定數(shù)據(jù)模式以相似的方式觸發(fā)。 在另一個實施例中，測試和測量系統(tǒng)12-15的每個測試和測量系統(tǒng)可以是相同或
基本相似的。例如，測試和測量儀器12-15的每個測試和測量儀器可以都是示波器?？梢?br> 使用一個儀器上的特定事件來觸發(fā)所有測試和測量儀器12-15上的采集。不管所使用的測
試和測量儀器的類型，在一個實施例中，測量系統(tǒng)10可以創(chuàng)建為具有多個測試和測量儀器
12-15的能力并以與單個集成的測試和測量儀器基本相似的方式同步。因此，測量系統(tǒng)10
可以創(chuàng)建為其中可以使用超過單個測試和測量儀器的能力的觸發(fā)條件 雖然圖示的是四個測試和測量儀器，但是任何數(shù)量的測試和測量儀器可以是測量
系統(tǒng)10的一部分。具體來說，可以使用大于1的任何數(shù)量的測試和測量儀器。 此外，雖然集線器18圖示為是與測試和測量儀器12-15分開的，但是在一個實施
例中，集線器18可以是測試和測量儀器12-15的其中之一的一部分。例如，集線器18可以與測試和測量儀器12集成。至其他測試和測量儀器12-15的連接可以通過至測試和測量 儀器12的外部連接來實現(xiàn)。無論如何，測量系統(tǒng)10可以創(chuàng)建為其中可以通過集線器18來 路由事件。 圖2是說明圖1的測量系統(tǒng)中測試和測量儀器與集線器的連接的框圖。在本實施 例中，通信鏈路16包括通信線路32和事件傳輸線路34和36。通信線路32和事件傳輸線 路34和36可以由任何不同類型的連接構(gòu)成。例如，事件傳輸線路34和36可以是同軸電 纜、雙絞線電纜等。通信線路32可以相似地包括任何不同類型的連接。
測試和測量儀器12可以包括耦合到集線器18上的通信端口 26的通信端口 20。 測試和測量儀器12的事件輸出22可以通過事件傳輸線路34耦合到集線器18的事件輸入 28。測試和測量儀器12的事件輸入24可以通過事件傳輸線路36耦合到集線器18的事件 輸出30。 在一個實施例中，事件輸出22可以配置成將事件輸出到集線器18。集線器18可 以配置成通過事件輸入28接收事件。集線器18可以配置成處理該事件，然后通過事件輸 出30傳送該事件以便被事件輸入24接收。 雖然測試和測量儀器12往返于集線器18傳送事件的通信被描述為分開的通信， 但是此類事件的傳輸可以通過單個通信鏈路。例如，在一個實施例中，可以通過同軸電纜來 耦合事件輸入和事件輸出對中的每一個。在另一個實施例中，分開的同軸電纜可以將事件 輸入耦合到對應(yīng)的事件輸出。無論如何，均可以將事件發(fā)送到集線器18，并且可以從集線器 18接收事件。 在一個實施例中，可以將事件傳輸線路34和36構(gòu)成為使得通過事件傳輸線路34 和36的通信可以基本相似。例如，通過事件傳輸線路34的時間延遲可以與通過事件傳輸線 路36的時間延遲基本相似。因此，正如下文將描述的，可以計算至集線器18的傳播時間。
圖3和4是說明根據(jù)實施例的兩個測試和測量儀器的往返程時間的測量時序圖。 圖3圖示測試和測量儀器A的時序圖，而圖4圖示儀器B的時序圖。 具體來說，這些時序圖表示事件往返于集線器18的往返程傳輸?shù)臅r序。例如，參 考圖3，可以通過事件輸出22將事件從測試和測量儀器A傳送到集線器18。在時間2*1\之 后，可以通過事件輸入24從集線器18接收到該事件。具體來說，可以測量往返于集線器18 的往返程時間。正如下文將進(jìn)一步詳細(xì)描述的，集線器18可以配置成使得在此測量期間， 集線器18返回特定測試和測量儀器傳送的事件。 在本實施例中，往返程時間表示為時間2*TA。因此，至集線器18的傳播時間可以約 為1\。相似地，可以測量測試和測量儀器B的往返程時間2^e。具體來說，正如下文將進(jìn)一 步詳細(xì)描述的，每個測試和測量儀器可以配置成測量其本身與集線器18之間的往返程時 間。因此，每個測試和測量儀器可以測量事件從測試和測量儀器行進(jìn)到集線器18的時間。
圖5是說明根據(jù)實施例的事件從第一測試和測量儀器傳播到多個測試和測量儀 器的時序圖。應(yīng)該注意在一個實施例中，往返程時間在不同的測試和測量儀器之間可以是 不同的。但是，利用此測量，可以基本將測試和測量儀器的觸發(fā)同步。 具體來說，測試和測量儀器A可以生成事件?？梢詫⒃撌录舆t時間lM。具體來 說，時間TDA可以是時間TA與TA和TB中的最大值之間的差。TMX表示此最大時間。在本實 施例中，時間TB是最大時間TMX。每個測試和測量儀器可以配置成將任何本地生成的事件
6延遲對該測試和測量儀器特有的此延遲時間。 然后將延遲的事件從測試和測量儀器A輸出到集線器18。事件用去時間1\到達(dá)集線器18。因為該事件已經(jīng)被延遲時間TDA并用去時間L才到達(dá)集線器，所以總時間為TDA+TA或T皿。相似地，因為每個測試和測量儀器可以將本地生成的事件延遲與該特定儀器對應(yīng)的時間，所以來自不同儀器的同時發(fā)生事件(contemporaneousevents)可以在基本相同的時間到達(dá)集線器18。S卩，無論哪個生成事件的測試和測量儀器，事件均可以在事件發(fā)生之后的時間TMX到達(dá)集線器18。換言之，DUT 11上的事件在事件到達(dá)集線器18時可以基本保持時間對齊。 集線器18可以配置成將事件傳播到每個測試和測量儀器。但是，由于傳輸延遲時間可能不同，所以事件可能在不同時間到達(dá)不同的測試和測量儀器。例如，在時間L之后，事件可能到達(dá)測試和測量儀器A，如圖所示。相似地，在時間Te之后，事件可能到達(dá)測試和測量儀器B，如圖所示。 圖6是說明根據(jù)實施例的事件從第二測試和測量儀器傳播到多個測試和測量儀器的時序圖。為了說明基本獨立于事件的來源的同步，測試和測量儀器B生成的事件圖示為與圖5中的測試和測量儀器A的事件相似。 在圖6中，測試和測量儀器B上生成事件。因為儀器B具有至集線器18的最大時間，所以其時間TB為時間TMX。因此，在測試和測量儀器B處延遲的事件相對于生成的事件基本未延遲。但是，因為至集線器的傳播時間為Te，所以事件仍是在時間T皿之后才到達(dá)集線器18，這是因為在本示例中，Te為時間TMX。 一旦在集線器18處，則可以將事件傳播到這些測試和測量儀器。到達(dá)測試和測量儀器A和B的事件與圖5中所示的那些事件基本相似，因為事件基本同時到達(dá)集線器18。 圖7是說明根據(jù)實施例的被測設(shè)備的波形的時間關(guān)系的示意圖。波形A表示被測試和測量儀器A探測的DUT 11上的波形。相似地，波形B表示被測試和測量儀器B探測的DUT ll上的波形。這些波形圖示為按時間存在于DUT 11上。 在本實施例中，波形A的沿44用作事件。即，響應(yīng)沿44，測試和測量儀器A生成與圖5所示的事件A相似的事件。如上所述。該事件在時間T皿+i;之后被返回到測試和測量儀器A。響應(yīng)該事件，測試和測量儀器A可以觸發(fā)采集。觸發(fā)點40圖示了相對于DUT11上發(fā)生波形A的時間上接收到事件并發(fā)生觸發(fā)處的點。 相似地，在測試和測量儀器B處可以接收到相同的事件，此情況下可以觸發(fā)波形B的采集。但是，如上所述，事件在從事件發(fā)生到事件到達(dá)該測試和測量儀器的時間所用去的時間對于每個測試和測量儀器是不同的。在本示例中，該時間為T皿+Te。因此，測試和測量儀器B在時間T皿+Te之后觸發(fā)波形B的采集。波形B的觸發(fā)點42表示此觸發(fā)點。為了參考，波形B上的點46表示與沿44同時發(fā)生的波形B的位置。 圖8是說明相應(yīng)觸發(fā)點對齊情況下的圖7的波形的時間關(guān)系的示意圖。如圖所示，波形A和B的觸發(fā)點40和42被用于在時間上將波形A和B對齊。但是，如上所述，觸發(fā)點的出現(xiàn)在時間上過去是不同的。因此，在波形A和B的同時發(fā)生點(例如波形A的沿44和波形B的點46)之間引入時間誤差48。 圖9是說明根據(jù)實施例的時間上的波形偏移的時間關(guān)系的示意圖。在本實施例中，在時間上從其相應(yīng)觸發(fā)點起已將波形A和B的每一個按對應(yīng)測試和測量儀器特有的事件傳播時間進(jìn)行偏移。即，已將波形A按時間T皿+TJ扁移，以及已將波形B按時間T皿+1b偏 移。因此，現(xiàn)在波形A和B的呈示在時間上是對齊的，基本等效于圖7所示的DUT ll上的 時間對齊。 因此，一旦執(zhí)行了校準(zhǔn)，其中已經(jīng)確定了諸如傳輸時間1\、時間T皿、差時間Tm等 的時間，則給定的測試和測量儀器可以但無需知道生成事件的測試和測量儀器的標(biāo)識。換 言之，每個測試和測量儀器可以配置成將本身的事件延遲為使得從事件發(fā)生到事件到達(dá)集 線器18的時間的時間對于任何測試和測量儀器基本相似。 因為每個測試和測量儀器表征了其至集線器18的連接，所以每個測試和測量儀 器可以調(diào)整其數(shù)據(jù)的采集、觸發(fā)、呈示等等以便將從集線器的特定返回時間納入考慮。艮卩， 因為在集線器18處事件是同步的，所以引入的任何其余時間偏移可以基本只取決于至特 定測試和測量儀器的返回路徑。因此，測試和測量儀器可以在沒有關(guān)于哪個測試和測量儀 器生成該事件的信息的情況下，將此時間上的差納入考慮并將采集的數(shù)據(jù)同步。
雖然如上所述時間T皿是這些測試和測量儀器至集線器的傳播時間中的最大值， 但是該時間可以但無需是最大值。在一個實施例中，該時間可以大于最大時間。仍可以相 對于此更大的時間來計算如時間TDA的差時間。但是，在本實施例中，具有上述的最大時間 的測試和測量儀器B的TDB或差時間可以實質(zhì)上大于零。 圖10是根據(jù)實施例的集線器的框圖。在本實施例中，集線器18包括控制器50和
邏輯電路52?？刂破?0可以通過通信線路54和56耦合到測試和測量儀器。雖然描述了
單獨的通信線路，但是可以在這些測試和測量儀器之間使用單個通信系統(tǒng)。 邏輯電路52配置成組合從測試和測量儀器接收到的事件。例如，事件傳輸線路58
和60可以將事件提供到邏輯電路52。在任何處理、組合等之后，可以通過事件傳輸線路62
和64將事件傳播到不同多個測試和測量儀器。 在一個實施例中，集線器18可以配置為事件的匯集器(aggregator) 。 S卩，集線器 18的邏輯電路可以配置成傳播集線器18接收的任何事件。例如，邏輯電路52可以包括任 何接收的事件的邏輯"或"。因此，任何事件將生成傳播到測試和測量儀器的輸出事件。
但是，在另一個實施例中，集線器18可以配置成將事件組合在一起。例如，邏輯電 路52可以包括任何接收的事件的邏輯"與"。因此，多個事件必須基本一起發(fā)生才會將事件 傳播到這些測試和測量儀器。 雖然上文描述了邏輯"或"功能和邏輯"與"功能，但是還可以使用事件的任何組 合。例如，可以使用多門邏輯系統(tǒng)來組合事件。在另一個示例中，可以將狀態(tài)機與來自測試 和測量儀器的多種事件一起用作輸入。 具體來說，應(yīng)該注意測試和測量儀器可以但無需具有關(guān)于邏輯電路52中事件的 組合的任何信息。測試和測量儀器可以配置成基于從集線器18接收的任何事件而觸發(fā)。如 上所述，測試和測量儀器無需知道事件的來源。 在一個實施例中，從集線器18接收的事件可以但無需是用于觸發(fā)采集的唯一條 件。例如，可以將從集線器18接收的事件組合，僅作為特定測試和測量儀器的觸發(fā)系統(tǒng)中 的任何其他事件。由此，可以生成比導(dǎo)致從集線器18接收的事件的觸發(fā)更為復(fù)雜的觸發(fā)。
圖11是說明校準(zhǔn)多個測試和測量儀器的示例的流程圖。如上所述，可以使用至集 線器18的傳播時間中的最大值或更大的值來將到達(dá)集線器18的事件基本同步。因此，個體的測試和測量儀器無需知道任何接收的事件的來源。 在一個實施例中，為了免除知道來源的必要，可以執(zhí)行校準(zhǔn)。例如，在80中，可以 對第一測試和測量儀器測量事件往返于集線器18的往返程時間。具體來說，可以將該測試 和測量儀器配置成使集線器18進(jìn)入配置模式，在此配置模式中集線器18將從該測試和測 量儀器接收的事件返回到該測試和測量儀器。 例如，測試和測量儀器可以控制集線器18以忽略從其他測試和測量儀器接收的 任何事件。如上所述，如果集線器18的邏輯電路52包括邏輯"與"運算，則可以將邏輯"與" 運算的其他輸入設(shè)置為高電平。相似地，在邏輯"或"運算的情況中，可以將其他輸入設(shè)置 為邏輯低電平。在另一個示例中，可以將邏輯電路52中的狀態(tài)機設(shè)置為忽略來自其他測試 和測量儀器的事件的狀態(tài)。無論如何，可以將集線器控制為使得可以僅傳播來自一個測試 和測量儀器的事件。 因此，該測試和測量儀器可以生成事件并測量該事件與從集線器18接收到的事 件之間的時間。如上所述，來自集線器18的事件可以來自多種不同來源；但是，在本校準(zhǔn)模 式中，將傳播的唯一事件是來自當(dāng)前執(zhí)行校準(zhǔn)的測試和測量儀器的事件?？梢园瓷衔拿枋?的測量并使用往返程時間。 —旦執(zhí)行了測量，則在82中，該測試和測量儀器可以將集線器的控制傳遞到另一 個測試和測量儀器。在84中，可以重復(fù)地執(zhí)行80中的測量和82中的控制傳遞，直到?jīng)]有 耦合到該集線器的其余測試和測量儀器為止。因此，每個測試和測量儀器都將測量了往返 程時間，并可以計算至集線器18的傳播時間。 在一個實施例中，在86，可以將發(fā)起校準(zhǔn)的測試和測量儀器配置成確定至集線器 的傳播時間中的最大值。此類最大值可以采用多種方式來確定。例如，該測試和測量儀器可 以接收每個測試和測量儀器的往返程時間?？梢杂嬎阕畲笾挡⒊?以確定至集線器的最大 傳播時間。相似地，該測試和測量儀器可以接收對應(yīng)的測試和測量儀器各自計算的傳播時 間，然后計算最大值。而且，該測試和測量儀器可以選擇比實際最大值更大的時間作為最大 時間。因此，如上所述，可以計算大于或等于最大傳播時間的時間并將其用于采集的觸發(fā)。
可以將此最大時間傳送到每個測試和測量儀器。例如，這些測試和測量儀器可以 通過集線器、另一個通信接口 (例如以太網(wǎng)接口)等彼此通信。因此，每個測試和測量儀器 可以基于其本身的傳播時間自行配置以使事件基本同時地到達(dá)集線器。因此，響應(yīng)此最大
時間，在88中，這些測試和測量儀器可以觸發(fā)采集，并在時間上將數(shù)據(jù)的呈示基本對齊，如 上所述。 雖然測試和測量儀器被描述為發(fā)起和/或控制此最大時間的計算，但是也可以采 用其他方式來計算最大時間。例如，集線器18可以發(fā)起校準(zhǔn)，并輪流向每個測試和測量儀 器傳送生成事件的指令。集線器18可以配置成收集多種傳播時間或往返程時間，并將計算 的最大值傳送到這些測試和測量儀器。因此，這些測試和測量儀器可以但無需知道任何其 他儀器。 而且，在一個實施例中，可以響應(yīng)多種條件來執(zhí)行這種校準(zhǔn)。例如，如上所述，可以 由這些測試和測量儀器的其中之一來發(fā)起校準(zhǔn)。用戶可以按下校準(zhǔn)按鈕；選擇校準(zhǔn)菜單項 等。在另一個示例中，可以響應(yīng)檢測到新測試和測量儀器而執(zhí)行校準(zhǔn)。即，新測試和測量儀 器可能耦合到集線器18。該新測試和測量儀器可以向集線器18、其他測試和測量儀器等通知它的存在。作為響應(yīng)，可以執(zhí)行新的校準(zhǔn)，以便可以測量包括新測試和測量儀器的每個測 試和測量儀器的傳播時間，并將其組合成最大值等，如上所述。 圖12是根據(jù)實施例的測試和測量儀器的框圖。在一個實施例中，測試和測量儀器 100包括事件發(fā)生器101。事件發(fā)生器101表示可以生成上述的多種事件的系統(tǒng)。例如，事 件發(fā)生器101可以包括用于檢測躍變(transition)、匹配數(shù)據(jù)模式等的電路、模式分析等。 測試和測量儀器100可以具有任何數(shù)量的此類事件發(fā)生器101。 測試和測量儀器100包括第一事件解碼器102。第一事件解碼器102配置成選擇 來自第一事件解碼器102的事件、組合此類事件等。事件解碼器102可以配置成生成事件、 傳播事件等。 可以按延遲104將來自事件解碼器102的事件延遲?？梢杂煽刂破?10將延遲104 調(diào)整為使通過延遲104的時間可以是諸如如上所述的時間TDA的差時間。因此，在將來自事 件解碼器102的事件通過事件輸出22輸出到集線器18之前可以按上文描述將其延遲。
該測試和測量儀器還可以包括耦合到第二事件解碼器108的事件輸入24。第二事 件解碼器108可以基本與第一事件解碼器102相似。S卩，第二事件解碼器108也可以從一 個或多個事件發(fā)生器101接收事件。但是，第二事件解碼器108可以采用與內(nèi)部事件基本 相似的方式來使用來自事件輸入24的事件。S卩，使用時間測量裝置106表示的觸發(fā)電路的 定時能力，可以測量來自第一事件解碼器102的事件與通過事件輸入24接收的事件之間的 時間。 雖然來自事件輸入24的事件被描述為通過第二事件解碼器108至?xí)r間測量裝置 106的輸入，但是可以將事件輸入24直接耦合到時間測量裝置106、沿著第一事件解碼器 102耦合到專用的時間測量裝置106等等。S卩，可以利用如圖所示的觸發(fā)電路的時間測量裝 置106、專用定時器等來測量往返程時間、傳播時間等。 控制器110可以配置成響應(yīng)通過輸入24接收的事件而觸發(fā)采集系統(tǒng)112的采集。 即，控制器110可以與事件解碼器108生成的其他事件相似地，使用通過輸入24接收的事 件來觸發(fā)采集。但是，如上所述，可以將該數(shù)據(jù)與其他測試和測量儀器采集的數(shù)據(jù)的時間 對齊偏斜(skewed)。因此，控制器110可以配置成響應(yīng)與該測試和測量儀器和至少一個其 他測試和測量儀器關(guān)聯(lián)的時間來將采集的數(shù)據(jù)偏移。例如，此時間可以是如上所述的時間 T磁+V 控制器110還可以耦合到通信接口 114。由此，該控制器可以配置成接收與其他測 試和測量儀器關(guān)聯(lián)的傳播時間、最大時間等?？刂破鱥io然后可以配置成計算如上所述的 延遲104的延遲時間、時基的偏移時間等。 雖然描述了特定實施例，但是將認(rèn)識到本發(fā)明的原理并不局限于那些實施例。在 不背離所附權(quán)利要求中提出的本發(fā)明的原理的前提下可以進(jìn)行改變和修改。
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權(quán)利要求
一種測試和測量儀器，包括配置成接收事件的輸入；以及控制器，所述控制器耦合到所述輸入并配置成響應(yīng)所述事件觸發(fā)數(shù)據(jù)的采集，并響應(yīng)與所述測試和測量儀器和至少一個其他測試和測量儀器關(guān)聯(lián)的偏移時間將所采集的數(shù)據(jù)偏移。
2. 如權(quán)利要求1所述的測試和測量儀器，所述事件稱為第一事件，所述測試和測量儀 器還包括配置成輸出第二事件的事件解碼器；其中所述控制器配置成測量所述第一事件與所述第二事件之間的往返程時間，并響應(yīng) 所述往返程時間設(shè)置所述偏移時間。
3. 如權(quán)利要求2所述的測試和測量儀器，還包括 通信接口 ；其中所述控制器配置成通過所述通信接口從所述至少一個其他測試和測量儀器的每 個測試和測量儀器接收與所述往返程時間關(guān)聯(lián)的至少一個校準(zhǔn)時間，并響應(yīng)所述測試和測 量儀器和所述至少一個其他測試和測量儀器的校準(zhǔn)時間確定所述偏移時間。
4. 如權(quán)利要求2所述的測試和測量儀器，所述事件解碼器稱為第一事件解碼器，所述 測試和測量儀器還包括配置成接收所述第一事件的第二事件解碼器；以及時間測量裝置，所述時間測量裝置耦合到所述第一事件解碼器和所述第二事件解碼 器，并配置成測量所述第一事件與所述第二事件之間的時間來作為所述往返程時間。
5. 如權(quán)利要求2所述的測試和測量儀器，還包括 配置成將所述第二事件延遲的可調(diào)延遲；以及 配置成輸出延遲的第二事件的輸出。
6. 如權(quán)利要求5所述的測試和測量儀器，還包括通信接口 ； 其中所述控制器配置成通過所述通信接口從所述至少一個其他測試和測量儀器的每個測 試和測量儀器接收與所述往返程時間關(guān)聯(lián)的至少一個校準(zhǔn)時間；以及所述控制器配置成將所述可調(diào)延遲電路的延遲設(shè)置為所述測試和測量儀器的往返程 時間的一半與所述測試和測量儀器和所述至少一個其他測試和測量儀器的往返程時間中 的最大值的一半之差。
7. 如權(quán)利要求2所述的測試和測量儀器，所述控制器配置成將所采集的數(shù)據(jù)的時基按 所述測試和測量儀器的往返程時間的一半與所述測試和測量儀器和所述至少一個其他測 試和測量儀器的往返程時間中的最大值的一半之和偏移。
8. —種測量系統(tǒng)，包括 多個測試和測量儀器；以及耦合到所述測試和測量儀器的每一個測試和測量儀器的集線器；其中所述測試和測量儀器的每一個測試和測量儀器配置成響應(yīng)從所述集線器接收到 的集線器事件來觸發(fā)采集；所述測試和測量儀器的每個測試和測量儀器配置成生成儀器事件；所述集線器包括邏輯電路，用于將所述儀器事件組合以生成所述集線器事件； 每個測試和測量儀器包括耦合到所述集線器的輸入和輸出；以及每個測試和測量儀器包括從所述輸出到所述集線器的通信的時間延遲，所述輸出到所 述集線器的通信的時間延遲基本與從所述集線器到所述輸入的通信的時間延遲相似；以及所述測試和測量儀器配置成使所述集線器進(jìn)入配置模式，在所述配置模式中所述集線 器將從所述測試和測量儀器接收的事件返回到所述測試和測量儀器；以及所述測試和測量儀器配置成測量所述事件從所述集線器返回所用去的時間。
9. 如權(quán)利要求8所述的測量系統(tǒng)，其中對于每個測試和測量儀器 所述測試和測量儀器配置成在所述測試和測量儀器已經(jīng)測量了所述事件從所述集線器返回所用去的時間之后，將所述集線器的控制傳遞到另一個測試和測量儀器。
10. 如權(quán)利要求9所述的測量系統(tǒng)，其中所述測試和測量儀器的至少其中之一配置成確定所述事件從所述集線器返回所用去 的時間中的最大時間；以及所述測試和測量儀器的每個測試和測量儀器配置成響應(yīng)所述最大時間來觸發(fā)所述采集。
11. 一種方法，包括測量從集線器到測試和測量儀器的往返程時間； 在所述測試和測量儀器處接收來自所述集線器的事件； 響應(yīng)所述事件而采集數(shù)據(jù)；以及 響應(yīng)所述往返程時間來調(diào)整呈交所述數(shù)據(jù)的時基。
12. 如權(quán)利要求11所述的方法，還包括 從所述測試和測量儀器輸出第一事件； 從所述集線器接收第二事件；測量所述第一事件的輸出與所述第二事件的接收之間的時間；以及 響應(yīng)所測量的時間來確定所述時基。
13. 如權(quán)利要求11所述的方法，還包括 響應(yīng)所述測試和測量儀器在所述集線器上進(jìn)入配置模式。
14. 如權(quán)利要求11所述的方法，還包括生成事件； 將所述事件按某時間延遲；以及 從所述測試和測量儀器輸出延遲的事件。
15. 如權(quán)利要求11所述的方法，還包括通知第二測試和測量裝置以執(zhí)行與所述集線器 的校準(zhǔn)。
16. 如權(quán)利要求11所述的方法，還包括測量第二測試和測量儀器與所述集線器之間的 往返程時間。
17. 如權(quán)利要求11所述的方法，還包括響應(yīng)來自耦合到所述集線器的每個測試和測量 儀器的往返程時間確定所述時基的調(diào)整。
全文摘要
本發(fā)明的名稱為用于將多個儀器的事件進(jìn)行時間同步的方法和裝置，一種測量系統(tǒng)包括多個測試和測量儀器；以及耦合到這些測試和測量儀器的每一個的集線器。這些測試和測量儀器的每個測試和測量儀器配置成響應(yīng)從集線器接收到的集線器事件來觸發(fā)采集。可以從這些測試和測量儀器的其中一個、一些、任何一個或全部測試和測量儀器觸發(fā)采集。
文檔編號G01D21/02GK101738225SQ200910212229
公開日2010年6月16日 申請日期2009年11月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月5日
發(fā)明者N·施米德特, Q·T·崔, Z·王 申請人:特克特朗尼克公司