專利名稱：Led光源的光衰測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試方法，特別是指一種LED光源的光衰測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
在LED光源工作的過(guò)程中，由于熱量及其它因素影B向，熒光粉及芯片會(huì)逐漸老化， 芯片的電光轉(zhuǎn)換效率會(huì)變低，而熒光粉受激發(fā)出光也會(huì)減少，導(dǎo)致LED光源整體發(fā)光效率 變低，此現(xiàn)象稱之為L(zhǎng)ED光源的光衰。 當(dāng)光衰達(dá)到一定程度時(shí)，LED光源發(fā)光就不能滿足使用需要，此時(shí)LED光源的壽命 即完結(jié)。由于LED光源光衰極其緩慢，通常達(dá)到幾萬(wàn)小時(shí)才會(huì)達(dá)到其壽命，因此測(cè)量LED光 源壽命的方法，都是通過(guò)測(cè)量其在一定時(shí)間內(nèi)的出光減少量，以此總結(jié)得出壽命值。
現(xiàn)階段行業(yè)內(nèi)最為常用的方法是通過(guò)積分球，定期多次測(cè)量再積分得出LED光源 光通量，然后計(jì)算出一定時(shí)間內(nèi)光通量的變化，再估算出LED光源的壽命，該測(cè)試方法為 首先將LED光源通過(guò)積分球測(cè)試總光通量，然后將光源放到恒流板老化儀中測(cè)試，到一定 時(shí)間，再?gòu)暮懔靼鍖⒐庠床鹣路湃敕e分球測(cè)試總光通量，測(cè)試完成后再放回恒流板中進(jìn)行 老化(此過(guò)程中LED光源一直處于點(diǎn)亮狀態(tài))。 在這種反反復(fù)復(fù)的老化光衰過(guò)程中，存在太多的誤差，所以造成測(cè)試的結(jié)果誤差 很大，原因主要有 1、人為因素每次測(cè)試都需將光源從老化板上拆下，在拆裝的過(guò)程中，有沾導(dǎo)熱膠 厚薄的誤差造成散熱問(wèn)題；有手動(dòng)挑動(dòng)LED光源的不良問(wèn)題；有反復(fù)拆卸電路與夾具接觸 不良問(wèn)題；有手動(dòng)將LED光源放入積分球的距離、位置以及角度微差所造成的誤差以及讀 取測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生的誤差； 2、測(cè)試儀器因素特別是積分球光學(xué)儀器，無(wú)論它多先進(jìn)，每次測(cè)試的總光通量都 會(huì)偏差，因?yàn)檫@是靠軟件進(jìn)行積分計(jì)算而得到的數(shù)值，不是直接測(cè)試的數(shù)值，并且不穩(wěn)定， 重復(fù)性差；而且距離過(guò)遠(yuǎn)時(shí)積分球測(cè)量到的光線過(guò)少，結(jié)果不準(zhǔn)確，太近又有雜光影響。
3、測(cè)試儀器其精確度直接影響到測(cè)試結(jié)果； 4、探光距離即測(cè)試儀器與LED光源之間的距離，光傳播過(guò)程中會(huì)有損耗，因此距 離太遠(yuǎn)測(cè)試結(jié)果偏差大；LED光源發(fā)出光線是朝向各個(gè)方向的，因此距離太近則測(cè)試儀器 接收到的光線不純，也會(huì)影響到測(cè)試結(jié)果； 5、位置和角度；LED光源與測(cè)試儀器的相對(duì)位置和角度，影響到測(cè)試儀器接收到 的光線，也會(huì)影響到測(cè)試結(jié)果； 7、夾具夾具夾緊的程度及夾緊位置，影響到安裝的位置和角度。 上述這些因素都很容易使原來(lái)的光發(fā)生漂移，使測(cè)量得到的單顆LED光源的照度
或光通量出現(xiàn)大幅度偏差，從而嚴(yán)重影響光衰測(cè)試的準(zhǔn)確性，因此影響光衰測(cè)試的準(zhǔn)確性。 而且，多次拆裝，導(dǎo)致測(cè)試效率低。積分球的價(jià)格是比較昂貴的，而且需要使用軟
件，因此一臺(tái)計(jì)算機(jī)也是必需的，這樣總體設(shè)備的成本就比較高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種可以主要可以提高測(cè)試準(zhǔn)確性的LED光源的光衰測(cè)試方法。 為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明采取以下技術(shù)方案
—種LED光源的光衰測(cè)試方法，其步驟是 將LED光源固定在一內(nèi)層表面為黑色的中空筒體內(nèi)的一端，在筒體內(nèi)對(duì)應(yīng)位置安
裝一個(gè)照度計(jì)探頭，照度計(jì)探頭與LED光源對(duì)應(yīng)，讀取照度值； LED光源不動(dòng)，隔固定時(shí)間讀取一個(gè)照度值，多次讀取，記錄每個(gè)照度值； 根據(jù)上述多次讀取的數(shù)據(jù)計(jì)算光衰。 優(yōu)選的，所述筒體置于恒溫房?jī)?nèi)。 優(yōu)選的，有一固定架，所述固定架上有多個(gè)安裝孔，筒體置于所述安裝孔內(nèi)。
優(yōu)選的，所述LED光源底部安裝一個(gè)散熱器。 優(yōu)選的，所述筒體內(nèi)LED光源和照度計(jì)之間設(shè)有隔柵，隔柵上開(kāi)孔。 優(yōu)選的，所述LED光源的中軸線與隔柵孔的中軸線以及照度計(jì)探頭中軸線重合。 優(yōu)選的，所述隔柵孔的直徑大于照度計(jì)探頭直徑。 優(yōu)選的，所述筒體內(nèi)設(shè)有3-5層隔柵。 優(yōu)選的，所述隔柵等間距設(shè)置。優(yōu)選的，所述筒體的長(zhǎng)度為300-350mm，外徑為50-100mm。
本發(fā)明的有益效果為 1、避免了測(cè)試儀器的局限性不需要通過(guò)積分計(jì)算，而直接讀數(shù)，測(cè)量時(shí)照度計(jì)測(cè)量到LED光源射向照度計(jì)探頭范圍內(nèi)的光線得知光通量和面積，通過(guò)公式照度(lux)=光通量(lm)/面積(m2)得到光通量變化，從而得知光衰，準(zhǔn)確度很高。 2、避免了探光距離產(chǎn)生的誤差本方案中不論遠(yuǎn)近，照度計(jì)只要有讀數(shù)即可，而且由于LED光源在黑色裝置內(nèi)，沒(méi)有雜光影響。 3、降低了位置與角度的影響一次安裝完畢后，直到測(cè)量出結(jié)果無(wú)需移動(dòng)LED光源，照度計(jì)每次測(cè)量都是筒體內(nèi)相同面積上的照度值，因此多次測(cè)量過(guò)程中的位置與角度是一致的，能將此影響降至最低。 4、降低人為因素的影響一次安裝完畢后可以一直放置到測(cè)量出結(jié)果才拆卸，避
免了多次拆裝產(chǎn)生的位置及角度變化；測(cè)試的讀數(shù)由照度計(jì)本身完成，不存在人為讀數(shù)差
巳升° 5、降低了夾具對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響一次安裝完畢后，直到測(cè)量出結(jié)果，因此多次測(cè)
量過(guò)程中的夾具的夾緊位置與角度是一致的，能將此影響降至最低。 綜上可知，測(cè)試的準(zhǔn)確性提高了。


圖1是實(shí)施例筒體的結(jié)構(gòu)示意 圖2是托架的結(jié)構(gòu)示意 圖3是實(shí)施例1中測(cè)試裝置的裝配 圖4是實(shí)施例2中筒體的內(nèi)部示意 圖5是實(shí)施例3的測(cè)試裝置的裝配示意圖； 圖6是圖5的剖視圖； 圖7是固定架的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖8是固定架使用狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖中 筒體-1 隔柵-11 固定卡孔-12 隔柵孔-13 托架-2 照度計(jì)-3探頭-31 LED光源-4散熱器-5固定架-6安裝孔-61固定卡圈_具體實(shí)施例方式
為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)
施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
實(shí)施例1 : 參照?qǐng)D1-圖3，一種LED光源的光衰測(cè)試方法，測(cè)試裝置包括一個(gè)內(nèi)層表面為黑色 的中空的筒體l，一個(gè)托架2和一個(gè)照度計(jì)3(常用工具)，參照?qǐng)D3和圖4，筒體1底部敞 開(kāi)，結(jié)合圖6， LED光源4安裝在托架2底部(為常規(guī)技術(shù)，在此不做贅述)，托架2頂部套 在筒體1敞開(kāi)端外。參照?qǐng)Dl，筒體1另一端面上開(kāi)設(shè)有一個(gè)與照度計(jì)圓形探頭31適配的 圓孔狀的固定卡孔12，參照?qǐng)D3，照度計(jì)探頭31卡在該固定卡孔12內(nèi)，面向筒體l內(nèi)。裝 完后，LED光源發(fā)射的光射向照度計(jì)，讀取照度值；然后保持LED光源4不動(dòng)，移走照度計(jì)3 或關(guān)閉照度計(jì)3，隔固定時(shí)間拿回來(lái)或再打開(kāi)照度計(jì)3讀取一次，重復(fù)上述步驟，多次讀取， 每次測(cè)試后，記錄照度值及測(cè)試的日期/時(shí)間；可以發(fā)現(xiàn)每次的測(cè)量數(shù)據(jù)波動(dòng)極具有規(guī)率， 當(dāng)記錄照度值次數(shù)較多時(shí)，以測(cè)試日期/時(shí)間與照度值建立坐標(biāo)系，將每個(gè)照度值用平滑 的曲線連接起來(lái)，得到一條比較直的曲線，以此可以得出光衰從而算出LED光源4壽命。
對(duì)于筒體1的長(zhǎng)度，在測(cè)試時(shí)以使探頭31能接收到LED光源4發(fā)出的光線(即測(cè) 試時(shí)照度計(jì)3上有非零的數(shù)值)的長(zhǎng)度即可，筒體越長(zhǎng)理論上測(cè)試結(jié)果越準(zhǔn)，但光線在傳播 過(guò)程中有損耗，照度計(jì)3接收到的光線也就越弱，因此。結(jié)合生產(chǎn)要求及安裝測(cè)試要求，建 議采用的長(zhǎng)度為300-350mm，外徑為50-100mm。
本測(cè)試方法具有如下優(yōu)點(diǎn) 1、避免了測(cè)試儀器的局限性不需要通過(guò)積分計(jì)算，而直接讀數(shù)，測(cè)量時(shí)照度計(jì)測(cè) 量到LED光源射向照度計(jì)探頭范圍內(nèi)的光線得知光通量和面積，通過(guò)公式照度(lux)=光 通量(lm)/面積(m2)得到光通量變化，從而得知光衰，準(zhǔn)確度很高。 2、避免了探光距離產(chǎn)生的誤差本方案中不論遠(yuǎn)近，照度計(jì)只要有讀數(shù)即可，而且 由于LED光源在黑色裝置內(nèi)，沒(méi)有雜光影響。 3、降低了位置與角度的影響一次安裝完畢后，直到測(cè)量出結(jié)果無(wú)需移動(dòng)LED光 源，照度計(jì)每次測(cè)量都是筒體內(nèi)相同面積上的照度值，因此多次測(cè)量過(guò)程中的位置與角度 是一致的，能將此影響降至最低。 4、降低人為因素的影響一次安裝完畢后可以一直放置到測(cè)量出結(jié)果才拆卸，避 免了多次拆裝產(chǎn)生的位置及角度變化；測(cè)試的讀數(shù)由照度計(jì)本身完成，不存在人為讀數(shù)差
巳 升。
5、降低了夾具對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響一次安裝完畢后，直到測(cè)量出結(jié)果，因此多次測(cè)4/4頁(yè)
量過(guò)程中的夾具的夾緊位置與角度是一致的，能將此影響降至最低。
6、由于筒體內(nèi)層表面是黑色的，避免了雜光的影響。
綜上可知，測(cè)試的準(zhǔn)確性提高了。 同時(shí)，安裝完畢，直到測(cè)量出結(jié)果，都不用進(jìn)行多次的拆裝操作，操作更為簡(jiǎn)單便
捷省事，提高了測(cè)試效率。
實(shí)施例2 : LED光源4發(fā)出的光線是向四面八方發(fā)射的，在LED光衰過(guò)程中，其任意角度的出光量都是隨時(shí)間的變化而減少的，在上述實(shí)施例l中的筒體l內(nèi)設(shè)置一層或多層隔柵ll，并在隔柵11上開(kāi)孔，如圖4。定期測(cè)量此位置上的照度值，根據(jù)多次測(cè)量出的結(jié)果計(jì)算出出LED光源4的光衰速度，估算出壽命值，使照度計(jì)3每次都測(cè)量LED光源4該一固定的小范圍內(nèi)出光方向的照度值，這樣的測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確。優(yōu)選的，孔的直徑略大于照度計(jì)探頭31直徑，避免安裝時(shí)人為誤差導(dǎo)致LED光源4光線被隔柵11擋住過(guò)多。 參照?qǐng)D4，優(yōu)選的，LED光源4的中軸線與隔柵孔13的中軸線以及照度計(jì)探頭31中軸線重合，這樣可以保證照度計(jì)可以接收到垂直的光線，便于照度計(jì)的安裝，使測(cè)試結(jié)果最準(zhǔn)確。 參照?qǐng)D4，優(yōu)選的，隔柵11等間距排列，測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確。 隔柵11的數(shù)目越多測(cè)試結(jié)果越準(zhǔn)確，但生產(chǎn)越困難，結(jié)合測(cè)試要求及生產(chǎn)要求，建議采用3-5層隔柵。
實(shí)施例3 : 參照5和圖6，對(duì)于以上實(shí)施例，在LED光源4底部裝一散熱器5， LED光源4安裝在一個(gè)固定卡圈7上，兩端通過(guò)螺釘鎖緊固定，固定卡圈7固定在在托架2底部，提高LED光源4的散熱性。
實(shí)施例4 : 參照?qǐng)D7和圖8，為了同時(shí)進(jìn)行多個(gè)LED光源4的測(cè)試，提高測(cè)試效率，可以設(shè)計(jì)一個(gè)多層，每層上有多個(gè)安裝孔61的固定架6，每個(gè)安裝孔61內(nèi)安裝一個(gè)筒體1，可同時(shí)進(jìn)行多個(gè)LED光源4的測(cè)試，提高了效率。
實(shí)施例5 : 對(duì)于上述各實(shí)施例，將測(cè)試裝置放進(jìn)一個(gè)恒溫房(圖中未示出)內(nèi)，降低外界環(huán)境的影響測(cè)試全在恒溫房中進(jìn)行，將外界的光、熱、風(fēng)對(duì)測(cè)試的影響降至最低，而且不影響散熱。 本測(cè)試裝置中，只需要一個(gè)照度計(jì)，價(jià)格便宜，主要的筒體、托架、固定架均為自制，成本低，而恒溫房在實(shí)際測(cè)試中也可不用，只是為了更加精確才需要使用。因此，實(shí)際成本比積分球測(cè)試要低出很多。 以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，其步驟是將LED光源固定在一內(nèi)層表面為黑色的中空筒體內(nèi)的一端，在筒體內(nèi)對(duì)應(yīng)位置安裝一個(gè)照度計(jì)探頭，照度計(jì)探頭與LED光源對(duì)應(yīng)，讀取照度值；LED光源不動(dòng)，隔固定時(shí)間讀取一個(gè)照度值，多次讀取，記錄每個(gè)照度值；根據(jù)上述多次讀取的數(shù)據(jù)計(jì)算光衰。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述筒體置于恒溫房?jī)?nèi)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，有一固定架，所述固 定架上有多個(gè)安裝孔，筒體置于所述安裝孔內(nèi)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述LED光源底部安 裝一個(gè)散熱器。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述筒體 內(nèi)LED光源和照度計(jì)之間設(shè)有隔柵，隔柵上開(kāi)孔。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述LED光源的中軸 線與隔柵孔的中軸線以及照度計(jì)探頭中軸線重合。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述隔柵孔的直徑大 于照度計(jì)探頭直徑。
8. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述筒體內(nèi)設(shè)有3-5 層隔柵。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述隔柵等間距設(shè)置。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的LED光源的光衰測(cè)試方法，其特征在于，所述筒體的長(zhǎng)度為 300-350線外徑為50-100mm。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種LED光源的光衰測(cè)試方法，其步驟是將LED光源固定在一內(nèi)層表面為黑色的中空筒體內(nèi)的一端，在筒體內(nèi)對(duì)應(yīng)位置安裝一個(gè)照度計(jì)探頭，照度計(jì)探頭與LED光源對(duì)應(yīng)，讀取照度值；LED光源不動(dòng)，隔固定時(shí)間讀取一個(gè)照度值，多次讀取，記錄每個(gè)照度值；根據(jù)上述多次讀取的數(shù)據(jù)計(jì)算光衰。優(yōu)點(diǎn)是照度計(jì)可直接讀數(shù)，避免了測(cè)試儀器造成的測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確照度計(jì)有光就有讀數(shù)，解決了測(cè)光距離的問(wèn)題，內(nèi)層表面為黑色的筒體避免了雜光影響；一次安裝完畢后，直到測(cè)量出結(jié)果無(wú)需移動(dòng)LED光源，降低光源位置和角度的影響以及人為讀數(shù)差異，因此提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G01J1/00GK101694401SQ200910181020
公開(kāi)日2010年4月14日 申請(qǐng)日期2009年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月28日
發(fā)明者張進(jìn)發(fā), 林志永 申請(qǐng)人:東莞勤上光電股份有限公司;