專利名稱：一種電磁抗擾度測試裝置的制作方法
技術領域：
一種電磁抗擾度測試裝置
技術領域：
本實用新型涉及電磁兼容測試領域，尤其涉及一種電磁抗擾度測 試裝置。
背景^t術
電磁兼容(Electromagnetic Compatibility, 簡稱EMC)，是研 究在有限的空間、時間和頻語資源的功能條件下，各種電氣設備可以 共同工作，并不發(fā)生降級的科學。國內(nèi)外的汽車EMC標準，對汽車電 子產(chǎn)品的EMC試驗都有強制要求，現(xiàn)有技術中對電磁兼容測試已經(jīng)有 了很多成熟的設備，其中，EMC試驗包括電磁騷擾和電磁抗擾度兩個 部分，現(xiàn)在對電磁抗擾度測試中的瞬態(tài)傳導抗干擾測試的試驗進行說 明，如圖l所示，將成熟的測試設備的輸出端通過直流電源線與被測 對象的輸入端相連，并將干擾脈沖直接疊加在直流電源上，從而一起 施加到被測對象上。
隨著汽車的電子化程度越來越高，車上的電動部件也越來越多， 如搖窗電機總成、雨刮電機總成、電動外后視鏡、暖風電機總成等， 這些電動部件通常是通過直流電機驅(qū)動的，而進行上述試驗時會由于 電流的方向問題而使電機處于堵轉狀態(tài)，而電機的堵轉會使電機發(fā) 熱，最終導致電機的損壞。
實用新型內(nèi)容
本實用新型解決的技術問題為提供一種避免待測機構發(fā)生堵轉 的電磁抗擾度測試裝置。
為了解決上述問題，本實用新型采用的技術方案為 一種電》茲抗擾度測試裝置，包括EMC測試單元、待測機構，其中， 所述測試裝置還包括輔助機構，所述輔助機構一端與所述EMC測試單 元電連4妾，另一端與待測才幾構電連接。
采用這樣的結構后，由于在EMC測試單元和待測機構之間增設了 輔助機構，所述輔助機構可以實現(xiàn)線路的切換，從而解決了由于待測 機構的極性變化而造成與EMC測試單元極性不同的問題，最終確保整 個測試能順利地進行，從根本上保證了測試質(zhì)量，確保了待測機構的 安全性。


圖l是現(xiàn)有技術中的電磁抗擾度測試裝置的結構示意圖； 圖2是本實用新型涉及的電磁抗擾度測試裝置的結構示意圖； 圖3是圖2中輔助機構的一個具體實施方式
的結構示意圖； 圖4是圖3中切換單元的第一實施方式的結構示意圖； 圖5是圖3中切換單元的第二實施方式的結構示意圖； 圖6是本實用新型電磁抗擾度測試裝置增加檢測模塊后的結構 示意圖；具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下 結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解， 此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本 實用新型。
本實用新型涉及的一種電磁抗擾度測試裝置，包括EMC測試單元 100、待測才幾構300，其中，所述測試裝置還包4舌輔助才幾構200，所述 輔助機構200 —端與所述EMC測試單元100電連接，另一端和待測機 構300電連接。圖2示出了 EMC測試單元100、輔助機構200以及待 測機構300三者之間的連接關系，所述EMC測試單元100為市場上現(xiàn) 有設備，其在試驗時可以提供各種具體的測試信號，此為本領域常用 的設備，在此不做贅述，具體的生產(chǎn)廠商包括瑞士 EM Test,瑞士 TeseQ，德國Hilo TEST,上海三基等。所述輔助才幾構200連#~所述 EMC測試單元100和待測機構200,所述輔助機構200實現(xiàn)了待測機 構300所需極性變化，從而防止了待測機構300因電流反向而發(fā)生堵 轉。
具體的，作為輔助機構200的較佳實施方式，所述輔助機構200 包括控制單元210和切換單元240，如圖3所示，所述切換單元240 切換EMC測試單元100和待測機構300之間的連接方式，所述切換單 元240與控制單元210電連接；所述連接方式包括第一連接方式和第 二連接方式，所述EMC測試單元100包括正極輸出端110和負極端120，所述待測才幾構300包括第一輸入端310和第二輸入端320， 第一連接方式為EMC測試單元100的正極輸出端110與待測機構300 的第一輸入端310相連，所述EMC測試單元100的負極輸出端120與 待測機構300的第二輸入端320相連；第二連接方式為EMC測試單 元100的正4及輸出端110與待測機構300的第二輸入端320相連，EMC 測試單元100的負極輸出端120與待測機構300的第一輸入端310相 連。所述控制單元210根據(jù)待測機構300所需的電流極性控制切換單 元240執(zhí)行切換動作，同時也通過跟蹤待測機構300所需極性的時間 來確定切換動作的切換頻率，具體的，所述控制單元210可以采用本 領域常用的單片機，其具體的控制方式為本領域公知技術，在此就不 做贅述；
作為切換單元240的第一實施方式，如圖4所示，所述切換單元 240包括四個MOS管組成的推挽電路220，所述控制單元210設置有 兩個控制輸出端，分別為正極控制輸出端211和負極控制輸出端212， 所述正極控制輸出端211分別與四個MOS管的柵極相連，從而控制 MOS管的通斷情況，所述負極控制輸出端212接地。作為一種實施方 式，所述四個MOS管包括兩個IRF4905和兩個IRF3205,其中兩個 IRF4905與EMC測試單元100的正極輸出端110相連，兩個IRF3205 與EMC測試單元100的負極輸出端120相連，在所述正極控制輸出端 211處設置有一個反相器221,通過正極控制輸出端211的信號和其 反向信號來控制構成推挽電路220的四個MOS管，從而控制IRF4905 和IRF3205中漏;f及和源才及之間的通斷。作為切換單元240的第二實施方式，如圖5所示，所述切換單元 240包括雙路大功率繼電器230，所述雙路大功率繼電器230的主回 路接觸電阻小于0. 05歐姆，所述雙路大功率繼電器230與控制單元 210相連。圖4所示的為所述雙路大功率繼電器230的功能簡化示意 圖，其中包括等效電阻233、第一雙向開關231以及第二雙向開關232， 所述控制單元210控制雙路大功率繼電器230，具體是通過控制第一 雙向開關231和第二雙向開關232的開關方向，/人而使EMC測試單元 IOO和待測機構300之間的連接方式在第一連接方式和第二連接方式 之間實現(xiàn)轉換。
為了避免在干擾脈沖輸出的過程中，切換單元240進行切換動 作，如圖6所示，所述控制單元210還包括檢測模塊(圖中未示出)， 所述檢測模塊檢測干擾脈沖是否存在，并將干擾脈沖的存在與否的信 息傳遞給控制單元210，從而選擇在沒有干擾脈沖的情況下控制切換 單元240進行切換動作，所述檢測模塊包括正檢測端213和負檢測端 214，所述正檢測端213和負4企測端214分別與EMC測試單元100的 正極輸出端IIO和負極輸出端120相連。對于汽車12V的系統(tǒng)，干擾 脈沖的最大絕對值為150V，基于檢測模塊中的A/D轉換電路的模擬 采集電壓為-5V~+5V，此僅為150V的1/30，故在正檢測端213和負 檢測端214之間:沒置了兩個分壓電阻，分別為第一電阻R1和第二電 阻R2，所述第一電阻R1與第二電阻R2串^:，同時由于第一電阻R1、 第二電阻R2和待測機構300之間的關系相當于并聯(lián)，為了不影響施 加到待測機構300的干擾度，必須使得第一電阻Rl、第二電阻R2的阻值很大，作為一種實施方式，第一電阻R1選取100K歐姆，第二電 阻R2選取2900K歐姆，并將A/D轉換電路與第一電阻R1并聯(lián)，從而 采集第一電阻R1兩端的電壓信號，數(shù)據(jù)經(jīng)過模數(shù)轉換后，將是否有 干擾的信息傳遞給控制單元210,從而實現(xiàn)在非干擾的狀態(tài)下進行切 換動作。
步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對 于本實用新型所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新
型構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于 本實用新型由所提交的權利要求書確定的專利保護范圍。
權利要求1、一種電磁抗擾度測試裝置，包括EMC測試單元、待測機構，其特征在于所述測試裝置還包括輔助機構，所述輔助機構一端與所述EMC測試單元電連接，另一端與待測機構電連接。
2、 如權利要求l所述的電磁抗擾度測試裝置，其特征在于所 述輔助機構包括控制單元、以及切換所述EMC測試單元和待測機構之 間連接方式的切換單元，所述切換單元與控制單元電連接。
3、 如權利要求2所述的電磁抗擾度測試裝置，其特征在于所 述切換單元包括四個MOS管組成的推挽電路，控制單元與各MOS管的 柵極相連。
4、 如權利要求3所述的電磁抗擾度測試裝置，其特征在于所 述四個M0S管為兩個IRF4905和兩個IRF3205。
5、 如權利要求2所述的電磁抗擾度測試裝置，其特征在于所 述切換單元包括雙路大功率繼電器。
6、 如權利要求l-5任一項所述的電磁抗擾度測試裝置，其特征 在于所述控制單元還包括檢測模塊，所述檢測模塊包括正檢測端、 負檢測端、以及與正檢測端和負檢測端相連的檢測電路，所述正檢測 端與EMC測試單元的正才及輸出端相連，負4企測端與EMC測試單元的負 才及輸出端相連。
7、 如權利要求6所述的電磁抗擾度測試裝置，其特征在于所 述檢測電路包括第一電阻、與第一電阻串聯(lián)的第二電阻以及與第一電 阻并聯(lián)的A/D轉換電路，所述A/D轉換電路與控制單元相連。
專利摘要本實用新型公開一種電磁抗擾度測試裝置，包括EMC測試單元、待測機構，其中，所述測試裝置還包括輔助機構，所述輔助機構一端與所述EMC測試單元電連接，另一端與待測機構電連接。通過增加輔助機構，從而能夠切換EMC測試單元和待測機構之間的連接關系，從而避免待測機構由于極性的錯誤而發(fā)生堵轉，從而損壞待測機構。
文檔編號G01R31/00GK201293813SQ20082021235
公開日2009年8月19日 申請日期2008年9月27日 優(yōu)先權日2008年9月27日
發(fā)明者周宇奎, 董長旭 申請人:比亞迪股份有限公司