專利名稱：射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)k值的搭接標(biāo)記物的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于x射線檢測(cè)焊縫的裝置，具體涉及一種x射
線檢測(cè)焊縫用于評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記。
背景技術(shù)：
國(guó)內(nèi)在承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)中利用鍋爐、壓力容器等設(shè)備的焊 接質(zhì)量，是安全運(yùn)行的重要保證。射線探傷是檢測(cè)焊接內(nèi)部缺陷 檢驗(yàn)方法之一 ，射線檢測(cè)就是通過(guò)投影把具有三維尺寸的試件 (包括其中的缺陷)投射到底片上，轉(zhuǎn)化為二維尺寸的影像。 由于射線源、物體(含其中缺陷)、膠片三者之間的相對(duì)位置、 角度變化，會(huì)使底片上的影像與實(shí)物尺寸、形狀、位置有所不 同，常見(jiàn)有放大、畸變、重迭、相對(duì)位置改變等現(xiàn)象。裂紋是 焊縫中最具危險(xiǎn)性的缺陷，由于裂紋寬度很小，它的檢出率與射 線透照角6有關(guān)，而e-cos-'K"(透照厚度比),在實(shí)際射線探傷 工藝中，往往通過(guò)控制K值來(lái)達(dá)到裂紋檢出率的要求。長(zhǎng)期以來(lái)， 國(guó)內(nèi)、外在射線照相底片的評(píng)定中，尚無(wú)可以直觀地檢驗(yàn)出有效 區(qū)段焊縫的透照厚度比K是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求的技術(shù)，如果K值不 能滿足標(biāo)準(zhǔn)要求，就可能造成對(duì)裂紋類(lèi)危害性缺陷漏檢。
目前國(guó)內(nèi)在進(jìn)行X射線拍照時(shí)，采用T作為搭接標(biāo)記。在實(shí) 際底片拍攝工作中由于機(jī)頭偏靶、劃線、現(xiàn)場(chǎng)條件、操作水平、 視覺(jué)誤差等因素的影響常常會(huì)出現(xiàn)射線束偏移透照區(qū)中心，使該 透照中心與被檢區(qū)平面的切面不垂直，產(chǎn)生角度偏移、水平偏移、 垂直偏移，這樣底片兩端K值不能滿足工藝設(shè)計(jì)的規(guī)定，此時(shí)透 照厚度差就失去了控制，經(jīng)暗室處理后的底片存在影象失真和底 片兩端的黑度差異增大，甚至?xí)霈F(xiàn)"白頭"現(xiàn)象，影響了射線 照相質(zhì)量，這樣會(huì)使有效區(qū)段兩端的危害性缺陷漏檢。因此現(xiàn)有 的搭接標(biāo)記不能反映出所拍攝的底片是否能正確的反映出K值， 也就是所拍著出的底片是否合格。 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭 接標(biāo)記物，以解決上述問(wèn)題。
本實(shí)用新型的技術(shù)方案為射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接 標(biāo)記物，它包括指針，與指針同圓心的控制圓環(huán)或與指針同圓心 的在同一圓周上均勻分布的凸點(diǎn)，指針與控制圓環(huán)之間有間隙或 指針與凸點(diǎn)之間有間隙；指針與控制圓環(huán)或指針與凸點(diǎn)是X射線 吸收性能相同或相似的材料。
通過(guò)搭接標(biāo)記物在拍攝時(shí)的影像就能直觀的，定性分析所拍 攝的底片是否符合要求，該搭接標(biāo)記物結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便。它 是一個(gè)全新的用于射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的物品。


圖1 射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物結(jié)構(gòu)示意圖I 。 圖2 射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物結(jié)構(gòu)示意圖II。 圖3 搭接標(biāo)記物使用放置位置示意圖。 圖4 K值有效評(píng)價(jià)示意圖。 圖具體實(shí)施方式
本實(shí)施例用于對(duì)本實(shí)用新型權(quán)利要求的解釋，本發(fā)明的保護(hù) 范圍并不限于下列實(shí)施例。
如圖l所示，該結(jié)構(gòu)為三個(gè)同心圓的零件組成(圖2)，指針 l是圓柱形，與指針1同圓心的控制圓環(huán)2是環(huán)狀，指針l與控 制圓環(huán)2設(shè)有保持環(huán)3 ，保持環(huán)3與指針1 、控制圓環(huán)2之間為過(guò) 盈配合。保持環(huán)3的高度不超過(guò)控制圓環(huán)的高度。指針l的高度 大于控制圓環(huán)的高度2，在垂直面內(nèi)，指針1側(cè)邊AC頂A與控 制圓環(huán)內(nèi)環(huán)底B之間夾角(即CA與BA之間的夾角)大小與評(píng) 價(jià)K值的6角相同。指針1與控制圓環(huán)2是X射線吸收性能相同 或相似的材料，可以采用鉛或其他適宜的重金屬材料。保持環(huán)3 的X射線吸收性能與指針1與控制圓環(huán)2的X射線吸收性能相反。 本實(shí)施例中指針與控制圓環(huán)采用金屬材料或磁性材料。保持環(huán)采 用非金屬材料或非磁性材料。本實(shí)施例中指針1與控制圓2環(huán)采 用磁鐵，保持環(huán)3采用工程塑料。
如圖2所示，指針1、控制圓環(huán)2和保持環(huán)3固定在底板4 上。底底4板上標(biāo)識(shí)有K值以及方向指示箭頭5。
所述指針的高度不超過(guò)射線源到被檢工件垂直距離Ll的—1% ,射線源到被檢工件垂直距離Ll依據(jù)JB/T 4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)而 定。本實(shí)施例中指針為5毫米。
如圖使用時(shí)，根據(jù)被監(jiān)測(cè)物的要求選擇符合要求的K值搭接 標(biāo)記物，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定要求位置擺放，將指示箭頭5放置在焊縫的 邊緣5mm搭接定位標(biāo)記(有效區(qū)段透照標(biāo)記)處(圖3、 4所示)， 此時(shí)透明底板4、在4個(gè)磁鐵6的作用力下，緊貼在鐵磁性材料 工件表面。當(dāng)射線束照射到緊貼在工件表面兩邊的指針1和控制 圓環(huán)2時(shí)，在照相膠片上能產(chǎn)生幾何投影潛影。經(jīng)暗室處理后， 底片兩端搭接標(biāo)記處就會(huì)出現(xiàn)評(píng)價(jià)(顯示)K值的搭接標(biāo)記中指 針的投影長(zhǎng)度在控制環(huán)邊緣投影圖像，在射線照相底片評(píng)定和監(jiān) 督檢驗(yàn)時(shí)，通過(guò)底片兩端評(píng)價(jià)(顯示)K值的搭接標(biāo)記的指針1 和控制圓環(huán)2投影圖像的相切、相割與否，就可以來(lái)評(píng)價(jià)和監(jiān)測(cè) 射線照相工藝控制的質(zhì)量。圖中7-中心標(biāo)記8-焊縫9-底片 10 -射線源11 -搭接標(biāo)記物
權(quán)利要求1、一種射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物，其特征在于它包括指針，與指針同圓心的控制圓環(huán)或與指針同圓心的在同一圓周上均勻分布的凸點(diǎn)，指針與控制圓環(huán)之間有間隙或指針與凸點(diǎn)之間有間隙；指針與控制圓環(huán)或指針與凸點(diǎn)是X射線吸收性能相同或相似的材料。
2、 如權(quán)利要求1所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物， 其特征在于指針的高度大于控制圓環(huán)高度或凸點(diǎn)的高度，在垂直 面內(nèi)，指針側(cè)邊頂與控制圓環(huán)內(nèi)環(huán)底之間或指針側(cè)邊頂與凸點(diǎn)內(nèi) 側(cè)底的夾角大小與評(píng)價(jià)K值的6角相同。
3、 如權(quán)利要求1或2所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo) 記物，其特征在于指針與控制圓環(huán)之間設(shè)有保持環(huán)，保持環(huán)與指 針、控制圓環(huán)之間為過(guò)盈配合，保持環(huán)的X射線吸收性能與指針 與控制圓環(huán)的X射線吸收性能相反。
4、 如權(quán)利要求1或2所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo) 記物，其特征在于指針與控制圓環(huán)釆用重金屬材料或磁性材料。
5、 如權(quán)利要求3所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物， 其特征在于保持環(huán)采用非金屬材料或非磁性材料。
6、 如權(quán)利要求3所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物， 其特征在于保持環(huán)的高度不超過(guò)控制圓環(huán)的高度。
7、 如權(quán)利要求1或2所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo) 記物，其特征在于它還包括與指針、控制圓環(huán)、保持環(huán)和凸點(diǎn)固 定的底+反。
8、 如權(quán)利要求7所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物， 其特征在于所述底板上標(biāo)識(shí)有K值以及方向指示箭頭。
9、 如權(quán)利要求1所述射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物， 其特征在于所述指針的高度不超過(guò)射線源到被檢工件垂直距離 U的1 % 。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的搭接標(biāo)記物，它包括指針，與指針同圓心的控制圓環(huán)或與指針同圓心的在同一圓周上均勻分布的凸點(diǎn)，指針與控制圓環(huán)之間有間隙或指針與凸點(diǎn)之間有間隙；指針與控制圓環(huán)或指針與凸點(diǎn)是X射線吸收性能相同或相似的材料。通過(guò)搭接標(biāo)記物在拍攝時(shí)的影像就能直觀的，定性分析所拍攝的底片是否符合要求，該搭接標(biāo)記物結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便。它是一個(gè)全新的用于射線檢測(cè)焊縫評(píng)價(jià)K值的物品。
文檔編號(hào)G01N23/02GK201340397SQ200820192408
公開(kāi)日2009年11月4日 申請(qǐng)日期2008年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月13日
發(fā)明者吳開(kāi)斌, 張敏潔, 張起群, 楊元慶, 陳中榮 申請(qǐng)人:武漢市鍋爐壓力容器檢驗(yàn)研究所