專利名稱：實現(xiàn)電壓檢測的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種實現(xiàn)電壓檢測的方法及裝置。
背景技術(shù)：
在工程系統(tǒng)中，通常需要對一些至關(guān)重要的物理量(如溫度、壓力、位移 等)進行實時檢測，以便采取相應(yīng)的應(yīng)對措施保證系統(tǒng)正常運行。在對這些物 理量進行檢測時， 一般先將這些物理量轉(zhuǎn)換為電壓信號，通過檢測電壓值來實 現(xiàn)物理量的間接;險測。
目前，電壓檢測主要通過模數(shù)(A/D, Analog to Digital)轉(zhuǎn)換器來實現(xiàn)。 A/D轉(zhuǎn)換器能將一定范圍內(nèi)的輸入電壓轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的數(shù)字信號，送入微處理器 進行計算處理后，可得到實際的輸入電壓值。
發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)中，當(dāng)實際應(yīng)用中需要對多路電壓進行檢測時，A/D 轉(zhuǎn)換器對多電壓檢測只能分時進行，無法實現(xiàn)多路電壓同時檢測，導(dǎo)致檢測速 度慢；并且，在對多路電壓分時檢測時，需要增加模擬開關(guān)對多路待測電壓進 行切換，或者采用具有多路輸入的A/D轉(zhuǎn)換器，電路的實現(xiàn)成本高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供一種實現(xiàn)電壓檢測的方法及裝置，可實現(xiàn)多路電壓同時 檢測，提高電壓檢測速度。
本發(fā)明實施例提供了 一種實現(xiàn)電壓檢測的方法，包括 產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓；
將所述參考電壓與待測電壓進行比較，根據(jù)兩者大小關(guān)系變化時刻的參考 電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值。
相應(yīng)地，本發(fā)明實施例還提供了一種電壓檢測裝置，包括-. 參考電壓產(chǎn)生^t塊，用于產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓； 電壓比較模塊，用于將所述參考電壓與待測電壓進行比較； 控制處理模塊，用于根據(jù)所述參考電壓與待測電壓的大小關(guān)系變化時刻的參考電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值；
所述參考電壓產(chǎn)生模塊與所述電壓比較模塊相連接、與所述控制處理模塊 相連接，所述控制處理模塊與所述電壓比4交模塊相連接。
實施本發(fā)明實施例，具有如下有益效果
本發(fā)明實施例提供的實現(xiàn)電壓檢測的方法及裝置，將電壓值逐漸遞變的參 考電壓與待測電壓進行比較，在兩者的大小關(guān)系發(fā)生變化時，根據(jù)所述大小關(guān) 系變化時刻的參考電壓值獲得待測電壓，從而可以實現(xiàn)多路待測電壓同時檢測， 提高電壓檢測速度。


臥1是本發(fā)明實施例一提供的實現(xiàn)電壓檢測的方法的流程示意圖2是本發(fā)明實施例二提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖3是如圖2所示的電壓檢測裝置的電壓比較模塊的結(jié)構(gòu)示意圖4是如圖2所示的電壓檢測裝置的控制處理模塊的結(jié)構(gòu)示意圖5是本發(fā)明實施例三提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖6是本發(fā)明實施例四提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖7是本發(fā)明實施例五提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清 楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是 全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造 性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
實施例一
參見圖1，是本發(fā)明實施例一提供的實現(xiàn)電壓檢測的方法的流程示意圖，如 圖所示
S100,產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓。
所述參考電壓是電壓值逐次遞增或者逐次遞減的電壓信號，其具體實現(xiàn)方 式，例如，可產(chǎn)生一個逐次變化的(逐漸增大或者逐漸減小)的數(shù)字信號，根 據(jù)所述數(shù)字信號進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，產(chǎn)生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓。在具體實施當(dāng)中，可通過數(shù)模(D/A， Digital to Analog )轉(zhuǎn)換器或者其它電 路產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓。
S101,將所述參考電壓與待測電壓進行比較，根據(jù)兩者大小關(guān)系變化時刻 的參考電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值。
一些應(yīng)用場景下，包括將所述參考電壓與待測電壓進行比較，在兩者的 大小關(guān)系發(fā)生變化時，可選的，產(chǎn)生觸發(fā)信號，利用觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻的參考 電壓計算待測電壓值；進一步的，還可對所述觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻的參考電壓值 進行消除誤差處理，以獲得更精確的待測電壓值。
當(dāng)具體實現(xiàn)中對多路待測電壓進行檢測時，參考電壓分別與各路待測電壓 進行比較，其中
若所述參考電壓值是逐次遞增的，則在遞增的過程中，當(dāng)參考電壓值由小 于某路待測電壓值，變?yōu)榇笥谠撀反郎y電壓值時，產(chǎn)生對應(yīng)于該路待測電壓的 觸發(fā)信號；若所述參考電壓值是逐次遞減的，則在遞減的過程中，當(dāng)參考電壓 值由大于某路待測電壓值，變?yōu)樾∮谠撀反郎y電壓值時，產(chǎn)生對應(yīng)于該路待測 電壓的觸發(fā)信號。
當(dāng)檢測到觸發(fā)信號后，計算各路待測電壓值，具體包括分別對各觸發(fā)信 號產(chǎn)生時刻的參考電壓值進行消除誤差處理，得出各路待測電壓值。例如，對 于某一路待測電壓來說，所述消除誤差處理可以是當(dāng)檢測到對應(yīng)于該路待測 電壓的觸發(fā)信號時，則將該觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻的參考電壓值減去比較誤差電壓 值，得出該路待測電壓值。其中，所述比較誤差電壓值的大小需要根據(jù)實際電 路測量獲得。在具體實施當(dāng)中，若采用D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生逐漸遞變的參考電壓， 且采用電壓比較器對參考電壓與待測電壓進行比較時，則比較誤差電壓值的大 小與電壓比較器的失調(diào)電壓、D/A轉(zhuǎn)換器輸出電壓的精度、溫度等有關(guān)， 一種 實施場景下，比較誤差電壓值的范圍可定量為電壓比較器失調(diào)電壓和D/A轉(zhuǎn)換 器輸出電壓精度上下限的和。
本發(fā)明實施例提供的實現(xiàn)電壓檢測的方法，將電壓值逐漸遞變的參考電壓 與各路待測電壓分別進行比較，在參考電壓與待測電壓的大小關(guān)系發(fā)生變化時 產(chǎn)生對應(yīng)的觸發(fā)信號，根據(jù)各觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻的參考電壓值進行計算，可獲 得各路待測電壓值，實現(xiàn)多路電壓同時檢測，提高電壓檢測速度。
實施例二參見圖2,是本發(fā)明實施例二提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，
該電壓檢測裝置包括
參考電壓產(chǎn)生模塊201、電壓比較模塊202以及控制處理模塊203,其中 參考電壓產(chǎn)生模塊201 ，用于產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓； 電壓比較模塊202,用于將所述參考電壓與待測電壓進行比較； 控制處理模塊203,用于根據(jù)所述參考電壓與待測電壓的大小關(guān)系變化時刻 的參考電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值。模塊間的連接方式如圖2所示， 參考電壓產(chǎn)生模塊201與電壓比較模塊202和控制處理模塊相連接203,控制處 理模塊203與電壓比較模塊202相連接。
具體的，所述參考電壓產(chǎn)生模塊201包括數(shù)模(D/A, Digital to Analog )轉(zhuǎn) 換器。所述D/A轉(zhuǎn)換器接收逐次變化的數(shù)字信號，根據(jù)所述數(shù)字信號進行數(shù)模 轉(zhuǎn)換，產(chǎn)生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓。例如，本實施例采用并 行D/A轉(zhuǎn)換器時，可將并行二進制的數(shù)字量轉(zhuǎn)換為直流電壓，電壓值的大小由 所述數(shù)字量決定，因此，通過改變所述數(shù)字量的大小，依次向所述D/A轉(zhuǎn)換器 發(fā)送逐漸增大或逐漸減小的數(shù)字信號，可產(chǎn)生逐次變化的電壓信號。
在具體實現(xiàn)時，還可以采用其它的可控電壓源來產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參
考電壓，如將脈寬調(diào)制信號轉(zhuǎn)換成電壓信號的電路，該電路通過接收不同占空 比的周期信號，可根據(jù)不同的占空比產(chǎn)生不同電壓值的參考電壓。
參見圖3，是如圖2所示的電壓檢測裝置的電壓比較模塊202的結(jié)構(gòu)示意圖。 該電壓比較模塊202包括至少一個電壓比較器(如圖3中所示的電壓比較器 2021、電壓比較器2022、電壓比較器n)，可實現(xiàn)一路或多路電壓檢測。所述電 壓比較器的一個輸入端接入電壓值逐漸遞變的參考電壓，另一個輸入端接入待 測電壓，將電壓值逐漸遞變的參考電壓和待測電壓進行比較，在兩者的大小關(guān) 系發(fā)生變化時，輸出高低電平翻轉(zhuǎn)的觸發(fā)信號。
當(dāng)具體實現(xiàn)中需要對多路待測電壓進行檢測時，電壓比較模塊202包括多
個電壓比較器，各電壓比較器的其中一個輸入端與參考電壓產(chǎn)生模塊201相連 接，接收所述參考電壓產(chǎn)生模塊201產(chǎn)生的電壓值逐漸遞變的參考電壓，另一 個輸入端則接入一路待測電壓。在參考電壓逐次遞增或者逐次遞減的過程中， 同時檢測所有電壓比較器的輸出端。當(dāng)參考電壓與某一路的待測電壓的大小關(guān) 系發(fā)生變化時，則相應(yīng)的電壓比較器輸出高低電平翻轉(zhuǎn)的觸發(fā)信號。參見圖4,是如圖2所示的電壓檢測裝置的控制處理模塊203的結(jié)構(gòu)示意圖。 所述控制處理模塊203分別與參考電壓產(chǎn)生模塊201、電壓比較模塊202相
連接，具體包括如圖4所示的電壓調(diào)整信號產(chǎn)生單元2031及^f寺測電壓計單元
2032,其中
電壓調(diào)整信號產(chǎn)生單元2031,用于產(chǎn)生數(shù)字信號，控制所述參考電壓產(chǎn)生 模塊201產(chǎn)生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓；
待測電壓計算單元2032,用于獲取所述電壓比較模塊202產(chǎn)生觸發(fā)信號時 的參考電壓值，對所述參考電壓值進行消除誤差處理，獲得待測電壓值。
在具體實施例當(dāng)中，所述控制處理模塊203的功能可采用微處理器、可編 程邏輯器件等具有控制及計算處理能力的電路模塊來實現(xiàn)。
下面僅以如圖3所示的待測電壓Vt。的檢測原理為例進行說明，其它各路待 測電壓以相同的原理進行;險測。
電壓比較器n的兩個輸入端分別接入?yún)⒖茧妷篤f及待測電壓Vtn;
若參考電壓產(chǎn)生模塊201輸出的參考電壓Vf是逐次遞增的電壓信號，則當(dāng) 逐次遞增的參考電壓Vf由小于待測電壓Vtn，變?yōu)榇笥谠摯郎y電壓Vtn時，電壓 比較器n的輸出信號U。n的電平發(fā)生翻轉(zhuǎn)；
若參考電壓產(chǎn)生模塊201輸出的參考電壓Vf是逐次遞減的電壓信號，則當(dāng)
逐次遞減的參考電壓Vf由大于待測電壓Vtn，變?yōu)樾∮谠摯郎y電壓Vtn時，電壓
比較器n的輸出信號U。n的電平發(fā)生翻轉(zhuǎn)。
其中，所述電壓比較器n的輸出信號U。n的電平發(fā)生翻轉(zhuǎn)，是指輸出端電平
由高電平"r變?yōu)榈碗娖?o"，或者由低電平"o"變?yōu)楦唠娖?r，電平的 翻轉(zhuǎn)方向由電壓比較器的兩個輸入端電壓的大小關(guān)系決定，這是本領(lǐng)域技術(shù)人 員所熟知的，在此不作詳細說明。
所述電壓比較器n輸出的高低電平翻轉(zhuǎn)信號即為觸發(fā)信號，控制處理模塊 203在檢測到所述觸發(fā)信號時，對該觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻的參考電壓Vf進行消除 誤差處理，將參考電壓Vf與比較誤差電壓Vd的差值(Vf - Vd )作為待測電壓Vm 的電壓值。
比較誤差電壓Vf的大小與電壓比較器的失調(diào)電壓、電壓源輸出電壓的精度、 溫度等有關(guān)，比較誤差電壓Vf的范圍可定量為電壓比較器失調(diào)電壓和電壓源輸 出電壓精度上下限的和。例如，電壓比較器的失調(diào)電壓為±2mV,電壓源的電壓精度在± 3mV,那么比較誤差電壓值范圍為± 5 mV。在具體實施當(dāng)中，可根 據(jù)電路工作的溫度范圍及其它因素，在比較誤差電壓值范圍內(nèi)合理選擇一個值， 用于對待測電壓值進行計算。必要時，可根據(jù)電路實測來確定比較誤差電壓Vf最 優(yōu)值。
本發(fā)明實施例提供的電壓檢測裝置，電壓值逐漸遞變的參考電壓同時驅(qū)動 多個電壓比較器，各電壓比較器的一個輸入端接入?yún)⒖茧妷?，另一輸入端分別 接入一路待測電壓，當(dāng)參考電壓與某一路的待測電壓的大小關(guān)系發(fā)生變化時， 則相應(yīng)的電壓比較器輸出高低電平翻轉(zhuǎn)的觸發(fā)信號。根據(jù)各觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻 的參考電壓值進行計算，獲得各路待測電壓值，從而實現(xiàn)多路電壓同時檢測， 提高電壓檢測速度。
實施例三
參見圖5，是本發(fā)明實施例三提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。本實施例 的電壓檢測裝置為一個電路，可對單路待測電壓的進行檢測，如圖5所示，該 電壓檢測裝置的參考電壓產(chǎn)生模塊包括D/A轉(zhuǎn)換器501,電壓比較模塊包括一 個電壓比較器502,控制處理模塊包括控制器503,具體的
控制器503向D/A轉(zhuǎn)換器501發(fā)送電壓值逐次變化的電壓調(diào)整信號，所述 電壓調(diào)整信號為數(shù)字信號。
D/A轉(zhuǎn)換器501接收控制器503輸出的電壓調(diào)整信號，根據(jù)所述電壓調(diào)整 信號進行數(shù);漠轉(zhuǎn)換，生成對應(yīng)的參考電壓Vf;其中，所述控制器503可控制所 述D/A轉(zhuǎn)換器501輸出電壓值逐次遞增或逐次遞減的參考電壓Vf 。
電壓比較器502的"同相端"接入?yún)⒖茧妷篤f,"反相端，，接入待測電壓Vt 。
若D/A轉(zhuǎn)換器501輸出的參考電壓Vf是逐次遞增的，則在參考電壓Vf逐次 遞增變化過程中，當(dāng)參考電壓Vf小于待測電壓Vt時，電壓比較器502的輸出信 號U。為低電平"0";當(dāng)參考電壓Vf繼續(xù)遞增大于待測電壓Vt時，輸出信號U。變 為高電平T。
若D/A轉(zhuǎn)換器501輸出的參考電壓Vf是逐次遞減的，則當(dāng)參考電壓Vf大于 待測電壓Vt時，電壓比較器502的輸出信號U。為高電平"1";當(dāng)參考電壓Vf小 于待測電壓時，輸出信號U。變?yōu)榈碗娖?0"。
當(dāng)控制器503檢測到電壓比較器502的輸出信號U。由低電平"0"翻轉(zhuǎn)為 高電平"1"，或者由高電平"1"翻轉(zhuǎn)為低電平"0"時，根據(jù)U。電平翻轉(zhuǎn)時刻的參考電壓進行計算，可獲得待測電壓Vt的電壓值。所述計算方法為將U。電 平翻轉(zhuǎn)時刻的參考電壓值Vf減去比較誤差電壓值Vd，所得差值(Vf - Vd )即 為待測電壓Vt的電壓值。
在本實施例中，所述比較誤差電壓值Vd的大小根據(jù)各個電路的不同，可以 由實際測量獲得；所能檢測的待測電壓Vt的范圍在O至(Vg^-Vd)區(qū)間內(nèi)。 其中，V^,為參考電壓Vf的最大值。對于大于該范圍的待測電壓可進行分壓處 理，再對分壓后的電壓進行檢測，最后對4全測得出的(Vf - Vd )乘以分壓系數(shù)， 即可獲得分壓前的待測電壓值。
可選的，本實施例還可以在電壓比較器502的待測電壓Vt輸入端設(shè)置RC 濾波電路(如圖5所示的R1、 Cl電路)，以濾除待測電壓線路上的干擾。其中， 出于電壓檢測靈敏度的考慮，RC數(shù)值將根據(jù)噪聲的分布和檢測靈敏度進行選 擇。
進一步的，如圖5所示，電壓比較器502的參考電壓Vf輸入端串阻Rlll, 與待測電壓Vt輸入端串阻Rl相匹配，兩者耳又相同阻值。由于電壓比較器502 的輸出端為集電極開路(OC, Open Collector)或漏極開路(OD, Open Drain) 結(jié)構(gòu)的開漏輸出，因此增加上拉電阻Rll以便檢測輸出端的電平變化，該上拉 電阻R11的取值范圍為1K 10K。
需要說明的是，上述僅以電壓比較器的"同相端，，接入?yún)⒖茧妷海?反相端，， 接入待測電壓為例進行說明，在具體的實施當(dāng)中，參考電壓和待測電壓還可以 分別接入電壓比較器的"反相端"及"同相端"，這是本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知的， 在ji匕不進4亍^M田i兌明。
本發(fā)明實施例提供的電壓檢測裝置，采用控制器、D/A轉(zhuǎn)換器及電壓比較 器相結(jié)合的方式，由控制器控制D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生電壓值逐次變化的參考電壓， 電壓比較器兩輸入端分別接入?yún)⒖茧妷?、待測電壓，當(dāng)兩者大小關(guān)系發(fā)生變化 時，輸出高低電平翻轉(zhuǎn)的觸發(fā)信號，根據(jù)翻轉(zhuǎn)時刻的參考電壓值進行計算，即 可獲得待測電壓值，實現(xiàn)對電壓瞬時值的準(zhǔn)確檢測，通過這種方式實現(xiàn)多路同 時才企測。
實施例四
參見圖6,是本發(fā)明實施例四提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。 本發(fā)明實施例四提供的電壓檢測裝置是一個電路，與圖5所示的電路的不同之處在于，本實施例利用D/A轉(zhuǎn)換器輸出的參考電壓可以驅(qū)動多個電壓比較 器輸入端的特性，在圖5所示的單路電壓檢測裝置的基礎(chǔ)上，對電路進行了擴
展，參考電壓接入多個電壓比較器(如圖6所示^電壓比較器6021、6022、602n), 以實現(xiàn)多路電壓同時檢測，提高電壓檢測速度。
具體的，如圖6所示，D/A轉(zhuǎn)換器601在控制器603的控制下，輸出電壓 值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓Vf,各個電壓比較器的"同相端，，均接入 參考電壓Vf，另一端"反相端，，分別接入一路待測電壓，在參考電壓逐次遞增 或逐次遞減的過程中，同時檢測所有電壓比較器的輸出信號。當(dāng)控制器603檢 測到某個電壓比較器的輸出信號U。由高電平'T，翻轉(zhuǎn)為低電平"0"，或由低 電平"0"翻轉(zhuǎn)為高電平"1"時，控制器603獲得該電壓比較器的輸出信號U。 翻轉(zhuǎn)時刻的轉(zhuǎn)換器輸出的參考電壓Vf,計算參考電壓Vf與比H〖吳差電壓Vd的差 值，該差值(Vf - Vd )即為該路待測電壓Vt的電壓值，實現(xiàn)電壓的準(zhǔn)確檢測。
本發(fā)明實施例四提供的電壓檢測裝置，所能檢測的最大電壓路數(shù)N取決于 DA轉(zhuǎn)換器的最大負(fù)載能力、每個電壓比較器的等效負(fù)載以及控制器的可用I/O 數(shù)量。本實施例所能檢測的最大電壓路數(shù)N滿足兩個條件N不超過控制器的 可用1/0數(shù)；多個電壓比較器總的等效負(fù)載不超過D/A轉(zhuǎn)換器的最大負(fù)載。
可選的，如圖6所示，以虛線表示的電阻和電容(Rlll、 Rl、 Cl, R222、 R2、 C2...Rnnn、 Rn、 Cn)所構(gòu)成的濾波電路，可以根據(jù)具體應(yīng)用去除或保留。 若所述以虛線表示的電阻去除后，參考電壓及待測電壓直接接入電壓比較器輸 入端。
需要說明的是，上述圖5、圖6所示的實施例僅以采用D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生電 壓值逐漸遞變的參考電壓為例進行說明，本發(fā)明實施例還可以采用其它的可控 電壓源來產(chǎn)生參考電壓，例如，所述可控電壓源可以是將脈寬調(diào)制信號轉(zhuǎn)換成 電壓信號的電路，通過接收控制器輸出的不同占空比的周期信號，可根據(jù)不同 的占空比產(chǎn)生不同電壓值的參考電壓。
本實施例提供的電壓檢測裝置，利用D/A轉(zhuǎn)換器輸出的參考電壓可以驅(qū)動 多個電壓比較器輸入端的特性，實現(xiàn)多3各電壓同時檢測，提高電壓4全測速度； 并且可以降低電路的實現(xiàn)成本。
實施例五
參見圖7,是本發(fā)明實施例五提供的電壓檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明實施例五提供的電壓檢測裝置，可控電壓源或D/A轉(zhuǎn)換器701置于 控制器703內(nèi)部，在具體實施當(dāng)中，可采用集成了可控電壓源或D/A轉(zhuǎn)換器的 控制器來實現(xiàn)，控制器703通過對內(nèi)部寄存器寫操作實現(xiàn)輸出可調(diào)參考電壓功 能，這是本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知的，在此不進行詳細說明。
可選的，如圖7所示，以虛線表示的電阻和電容(Rlll、 Rl、 Cl, R222、 R2、 C2…Rnnn、 Rn、 Cn)所構(gòu)成的濾波電路，可以根據(jù)具體應(yīng)用去除或保留。 若所述以虛線表示的電阻去除后，參考電壓及待測電壓直接接入電壓比較器輸 入端。
本實施例實現(xiàn)電壓檢測的原理與上述實施例相同，在此不再贅述。 需要說明的是，在具體實施當(dāng)中，上述圖5-圖7所示的電壓檢測裝置中的
控制器，可采用具有控制及計算處理能力的電路元件來實現(xiàn)，如微處理器、可
編程邏輯器件等。
本發(fā)明實施例提供的實現(xiàn)電壓檢測的方法及裝置，將電壓值逐漸遞變的參 考電壓與各路待測電壓分別進行比較，在參考電壓與待測電壓的大小關(guān)系發(fā)生 變化時產(chǎn)生對應(yīng)的觸發(fā)信號，根據(jù)各觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻的參考電壓值進行計算， 獲得各路待測電壓值，可實現(xiàn)多if各電壓同時才企測，提高電壓才企測速度；并且可 降低電路的實現(xiàn)成本。
是可以通過計算機程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可存儲于一計算 機可讀取存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，可包括如上述各方法的實施例的流程。 其中，所述的存儲介質(zhì)可為石茲i茱、光盤、只讀存儲記憶體(Read-Only Memory, 廳)或隨機存儲記憶體(Random Access Memory,謹(jǐn))等。
以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這 些改進和潤飾也視為本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1、一種實現(xiàn)電壓檢測的方法，其特征在于，包括產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓；將所述參考電壓與待測電壓進行比較，根據(jù)兩者大小關(guān)系變化時刻的參考電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值。
2、 如權(quán)利要求1所述的實現(xiàn)電壓檢測的方法，其特征在于，所述產(chǎn)生電壓 值逐漸遞變的參考電壓，包括產(chǎn)生逐次變化的數(shù)字信號；根據(jù)所述數(shù)字信號進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，產(chǎn)生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參 考電壓。
3、 如權(quán)利要求1或2所述的實現(xiàn)電壓檢測的方法，其特征在于，將所述參 考電壓與待測電壓進行比較，根據(jù)兩者大小關(guān)系變化時刻的參考電壓值進行計 算，獲得所述待測電壓值，包括將所述參考電壓與待測電壓進行比較，在兩者的大小關(guān)系發(fā)生變化時，產(chǎn) 生觸發(fā)信號；對所述觸發(fā)信號產(chǎn)生時刻的參考電壓值進行消除誤差處理，獲得所述待測 電壓值。
4、 如權(quán)利要求3所述的實現(xiàn)電壓檢測的方法，其特征在于，所述在兩者的 大小關(guān)系發(fā)生變化時，產(chǎn)生觸發(fā)信號，包括當(dāng)所述參考電壓值由小于所述待測電壓值，變化為大于所述待測電壓值時， 產(chǎn)生觸發(fā)信號。
5、 如權(quán)利要求3所述的實現(xiàn)電壓檢測的方法，其特征在于，所述在兩者的 大小關(guān)系發(fā)生變化時，產(chǎn)生觸發(fā)信號，包括當(dāng)所述參考電壓值由大于所述待測電壓值，變化為小于所述待測電壓值時， 產(chǎn)生觸發(fā)信號。
6、 一種電壓檢測裝置，其特征在于，包括 參考電壓產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓； 電壓比較模塊，用于將所述參考電壓與待測電壓進行比較；控制處理模塊，用于根據(jù)所述參考電壓與待測電壓的大小關(guān)系變化時刻的 參考電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值；所述參考電壓產(chǎn)生模塊與所述電壓比較模塊相連接、與所述控制處理模塊 相連接，所述控制處理模塊與所述電壓比較模塊相連接。
7、 如權(quán)利要求6所述的電壓檢測裝置，其特征在于，所述參考電壓產(chǎn)生模 塊包括數(shù)模轉(zhuǎn)換器，用于從所述控制處理模塊接收逐次變化的數(shù)字信號，根據(jù)所 述數(shù)字信號進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，產(chǎn)生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓并輸 出給所述電壓比較模塊。
8、 如權(quán)利要求6或7所述的電壓檢測裝置，其特征在于，所述電壓比較模 塊包括電壓比較器，用于接收所述參考電壓產(chǎn)生模塊輸出的參考電壓，將所述參 考電壓和待測電壓進行比較，在兩者的大小關(guān)系發(fā)生變化時，輸出高低電平翻 轉(zhuǎn)的觸發(fā)信號給所述控制處理模塊。
9、 如權(quán)利要求8所述的電壓檢測裝置，其特征在于，所述控制處理模塊包括待測電壓計算單元，用于獲取所述電壓比較模塊產(chǎn)生觸發(fā)信號時的參考電 壓值，對所述參考電壓值進行消除誤差處理，獲得所述待測電壓值。
10、 如權(quán)利要求9所述的電壓檢測裝置，其特征在于，所述控制處理模塊 還包括電壓調(diào)整信號產(chǎn)生單元，用于產(chǎn)生數(shù)字信號，控制所述參考電壓產(chǎn)生模塊 產(chǎn)生電壓值逐次遞增或者逐次遞減的參考電壓。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種實現(xiàn)電壓檢測的方法及裝置，所述裝置包括參考電壓產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生電壓值逐漸遞變的參考電壓；電壓比較模塊，用于將所述參考電壓與待測電壓進行比較；控制處理模塊，用于根據(jù)所述參考電壓與待測電壓的大小關(guān)系變化時刻的參考電壓值進行計算，獲得所述待測電壓值；所述參考電壓產(chǎn)生模塊與所述電壓比較模塊相連接，所述控制處理模塊與所述電壓比較模塊相連接。采用本發(fā)明實施例，可實現(xiàn)多路電壓同時檢測，提高電壓檢測速度。
文檔編號G01R19/165GK101441230SQ20081022013
公開日2009年5月27日 申請日期2008年12月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月18日
發(fā)明者李耀民 申請人:華為技術(shù)有限公司