專利名稱：等離子顯示器面板電極測(cè)試筆的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種等離子顯示器測(cè)試工具，尤其是一種電極測(cè)試筆，具體 地說是一種等離子顯示器面板電極測(cè)試筆。
技術(shù)背景在通常情況下，由于面板電極數(shù)量多、位置密集等原因，在人工測(cè)試電 極是否有斷線現(xiàn)象的時(shí)候，容易造成測(cè)試偏差，這主要是由測(cè)試工具以及人為 誤差造成的。為了便于準(zhǔn)確的測(cè)試每根電極的導(dǎo)通情況，同時(shí)提高工作效率， 因此急需設(shè)計(jì)一種新型的電極測(cè)試工具，即面板電極測(cè)試筆。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是針對(duì)目前尚無專用的電極測(cè)試工具，從而造成了實(shí)際測(cè) 試工作中偏差率較高的問題，設(shè)計(jì)一種等離子顯示器面板電極測(cè)試筆。 本發(fā)明的技術(shù)方案是一種等離子顯示器面板電極測(cè)試筆，包括筆身、筆頭，筆身的筆頭相連， 其特征是所述的筆頭中安裝有金屬針頭，金屬針頭的一端伸出筆頭外，筆身 上設(shè)有一導(dǎo)線腔，導(dǎo)線的一端穿過導(dǎo)線腔與金屬針頭相連，導(dǎo)線的另一端與 測(cè)試儀器相連。所述的金屬針頭位于筆頭外的一端呈圓錐型。本發(fā)明的有益效果本發(fā)明的測(cè)試筆解決了以往工作中電極測(cè)試不準(zhǔn)確的問題，具有結(jié)構(gòu)簡 單，使用效果好的優(yōu)點(diǎn)，有利于提高電極測(cè)試工作的質(zhì)量和效率。


圖l是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。如圖1所示。一種等離子顯示器面板電極測(cè)試筆，包括筆身1、筆頭2,筆身1的筆頭 2相連，所述的筆頭2中安裝有金屬針頭3，金屬針頭3的一端伸出筆頭2外 且呈圓錐形結(jié)構(gòu)，筆身1上設(shè)有一導(dǎo)線腔5,導(dǎo)線4的一端穿過導(dǎo)線腔5與金 屬針頭3相連，導(dǎo)線4的另一端與測(cè)試儀器相連。本發(fā)明通過將測(cè)試工具的外型制造成筆型，這樣讓使用者手持方便。筆 頭處鑲嵌一根金屬探針，其目的是用針頭準(zhǔn)確的點(diǎn)擊面板電極。筆身為空心 圓柱體，用一根導(dǎo)線穿過其內(nèi)部。導(dǎo)線的一端和金屬針的末端相連，另一端 可與測(cè)試儀器相連。當(dāng)使用者手持測(cè)試筆并用金屬針頭接觸被測(cè)電極時(shí)，電 極的導(dǎo)通情況將由針頭傳遞給導(dǎo)線，導(dǎo)線將信號(hào)再傳遞給測(cè)試儀器，從而在 測(cè)試儀器上反映出相應(yīng)結(jié)果。
權(quán)利要求
1、一種等離子顯示器面板電極測(cè)試筆，包括筆身(1)、筆頭(2)、金屬針頭(3)、導(dǎo)線(4)和導(dǎo)線腔(5)。筆身(1)和筆頭(2)相連，其特征是所述的筆頭(2)中安裝有金屬針頭(3)，金屬針頭(3)的一端伸出筆頭(2)外，筆身(1)上設(shè)有導(dǎo)線腔(5)，導(dǎo)線(4)的一端穿過導(dǎo)線腔(5)與金屬針頭(3)相連，導(dǎo)線(4)的另一端與測(cè)試儀器相連。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的等離子顯示器面板電極測(cè)試筆，其特征是所述的金 屬針頭(3)位于筆頭(2)夕卜，且呈圓錐型。
全文摘要
一種等離子顯示器面板電極測(cè)試筆，包括筆身(1)、筆頭(2)，筆身(1)的筆頭(2)相連，其特征是所述的筆頭(2)中安裝有金屬針頭(3)，金屬針頭(3)的一端伸出筆頭(2)外，筆身(1)上設(shè)有一導(dǎo)線腔(5)，其中穿過一根導(dǎo)線，導(dǎo)線(4)的一端穿過導(dǎo)線腔(5)與金屬針頭(3)相連，導(dǎo)線(4)的另一端與測(cè)試儀器相連。本發(fā)明較好地解決了以往工作中電極測(cè)試不準(zhǔn)確的問題，具有結(jié)構(gòu)簡單，使用效果好的優(yōu)點(diǎn)，有利于提高電極測(cè)試工作的質(zhì)量和效率。
文檔編號(hào)G01R1/067GK101308186SQ200810123030
公開日2008年11月19日 申請(qǐng)日期2008年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月15日
發(fā)明者朱立鋒, 霞 李, 豪 林, 林青園, 王保平 申請(qǐng)人:南京華顯高科有限公司