專利名稱：電子標(biāo)簽rfid測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
]本發(fā)明涉及一種電子標(biāo)簽RFID測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
RFID已經(jīng)成為IT領(lǐng)域的熱點(diǎn)，許多國家都在不遺余力地推廣這種 技術(shù)。然而，盡管RFID技術(shù)在各行各業(yè)中正逐步為人們所認(rèn)識(shí)和重視， 但它還是未能走向大規(guī)模應(yīng)用，仍局限于小范圍的示范應(yīng)用。造成這種 現(xiàn)狀的根本原因在于，無論RFID技術(shù)本身還是基于這項(xiàng)技術(shù)所衍生出的 各種應(yīng)用系統(tǒng)都還存在著尚未解決的問題。這些棘手的問題制約了 RFID 技術(shù)在眾多行業(yè)中應(yīng)用的全面展開。因此，在實(shí)際應(yīng)用前對(duì)RFID系統(tǒng)和 應(yīng)用環(huán)境進(jìn)行測(cè)試，就會(huì)降低RFID在企業(yè)中部署和應(yīng)用的困難，從而有 助于促進(jìn)整個(gè)RFID產(chǎn)業(yè)鏈的形成和發(fā)展。目前，各國都在積極開展RFID技術(shù)和設(shè)備的測(cè)試工作。為了從容
地參與國際竟?fàn)?，我國政府和相關(guān)企業(yè)應(yīng)仔細(xì)著手建立自己的RFID測(cè)試
中心，對(duì)RFID產(chǎn)業(yè)化中的共性1^出和關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行針對(duì)性研究。 RFID系統(tǒng)測(cè)試通過提出RFID技術(shù)的系列測(cè)試方法，建立開放式
RFID軟硬件產(chǎn)品的聯(lián)合測(cè)試平臺(tái)，制定系列RFID軟硬件產(chǎn)品測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與
規(guī)范，形成RFID技術(shù)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)體系，滿足RFID技術(shù)研究測(cè)試、應(yīng)用
測(cè)試等公共服務(wù)需求。從國際國內(nèi)RFID測(cè)試技術(shù)發(fā)展的動(dòng)向來看，RFID測(cè)試技術(shù)將由功 能測(cè)試向性能測(cè)試發(fā)展。性能測(cè)試如測(cè)試標(biāo)簽的一致性、物理特性、 讀取距離、讀取角度、動(dòng)態(tài)讀取率、調(diào)制深度、可靠性、貼附強(qiáng)度、材 料特性(阻燃性、扭曲特性、變形特性、溫度穩(wěn)定性、濕度等)、環(huán)境適應(yīng)性(抗磁場(chǎng)、抗靜電、抗紫外線、抗x射線、抗靜電、交變磁場(chǎng)、交 變電場(chǎng)、振動(dòng)、波形失真)、使用壽命等；測(cè)試讀寫器的覆蓋范圍、發(fā)射 功率、發(fā)射頻語、協(xié)議符合性、抗干擾特性、外觀結(jié)構(gòu)、電源適應(yīng)能力、
噪聲、安全、EMC無線電干擾、可靠性、工作溫度、EMS輻射敏感度、環(huán) 境適應(yīng)性(振動(dòng)、沖擊、碰撞、耐電強(qiáng)度等)、對(duì)標(biāo)簽的適應(yīng)性、使用壽 命等；測(cè)試讀寫器空間布局的合理性、系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能(如傳送帶，分揀 系統(tǒng))，特殊環(huán)境(金屬，液體)下系統(tǒng)性能，系統(tǒng)安全性，可靠性等。
要建立一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)而權(quán)威的RFID測(cè)試環(huán)境，就必須從硬件和軟件環(huán) 境兩方面入手，要綜合考慮位置、距離、溫度、濕度、干擾等諸多影響 因素，建立一個(gè)多角度的測(cè)試環(huán)境；另一方面，在測(cè)試軟件上，要考慮 到可針對(duì)不同廠家的RFID產(chǎn)品的通用測(cè)試程序。此外，在測(cè)試過程中還 應(yīng)嚴(yán)格遵守一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試規(guī)范進(jìn)行。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種RFID測(cè)試系統(tǒng)。使得RFID測(cè)試通過監(jiān)管 要求并符合所用標(biāo)準(zhǔn)。本發(fā)明目的是通過如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的主才幾，用于控制測(cè)試流程、紀(jì)錄和測(cè)試數(shù)據(jù)；電子標(biāo)簽，由芯片以及耦合元器件組成，芯片上有EEPROM用來儲(chǔ)
存識(shí)別碼或其它數(shù)據(jù)，標(biāo)簽內(nèi)含有內(nèi)置天線，用于完成與讀寫器的通信； RFID讀寫器用于控制射頻模塊向標(biāo)簽發(fā)射讀取信號(hào)，并接收標(biāo)簽
的應(yīng)答，對(duì)標(biāo)簽的對(duì)象標(biāo)識(shí)信息進(jìn)行解碼，將對(duì)象標(biāo)識(shí)信息連帶標(biāo)簽上
其它相關(guān)信息傳輸?shù)街鳈C(jī)以供處理；
數(shù)字信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào)，通過射頻發(fā)生/識(shí)別電路產(chǎn)生符 合ISO國際標(biāo)準(zhǔn)的射頻信號(hào)，待測(cè)試RFID芯片收到該信號(hào)后，在正常情 況下會(huì)產(chǎn)生一個(gè)返回信號(hào)，此時(shí)射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路的識(shí)別部分即捕 獲該信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換成為相應(yīng)的數(shù)字信號(hào)，通過測(cè)試系統(tǒng)與事先保存
4的期待值進(jìn)行比較，判別芯片的通訊功能是否實(shí)現(xiàn)；[oi3]測(cè)試設(shè)備，用于接收待測(cè)RFID芯片的檢測(cè)數(shù)據(jù)項(xiàng)目信息，包括物理特性檢測(cè)、靜態(tài)性能檢測(cè)、動(dòng)態(tài)性能檢測(cè)及射頻識(shí)別與電子標(biāo)簽產(chǎn)品應(yīng)用模擬試驗(yàn)場(chǎng)，并將測(cè)試結(jié)果傳輸?shù)街鳈C(jī)。


圖1表示RFID測(cè)試系統(tǒng)框圖；圖2表示RFID測(cè)試方法流程。

發(fā)明內(nèi)容
在技術(shù)測(cè)試中，針對(duì)高頻、超高頻和微波頻段的不同設(shè)備和產(chǎn)品分別進(jìn)行性能和可靠性測(cè)試。通過對(duì)它們?cè)诓煌橘|(zhì)、不同材料、不同磁場(chǎng)、不同速度、不同距離、不同障礙等條件下的讀取率進(jìn)行記錄和整理，研究各種標(biāo)簽及讀寫器的性能，從而得到 一份完整全面的系統(tǒng)共性基礎(chǔ)評(píng)測(cè)報(bào)告。此外，還研究多個(gè)閱讀器和多個(gè)標(biāo)簽下的信號(hào)的時(shí)空分布模型和防干擾處理算法。在應(yīng)用測(cè)試中，主要對(duì)實(shí)際應(yīng)用中存在的關(guān)鍵技術(shù)問題進(jìn)行研究，并試圖找到解決方案，包括客戶應(yīng)用的設(shè)備和實(shí)際環(huán)境；不同頻段所表現(xiàn)的不同性能；標(biāo)簽容量大小對(duì)業(yè)務(wù)和系統(tǒng)的影響；主動(dòng)標(biāo)簽、半主動(dòng)標(biāo)簽與被動(dòng)標(biāo)簽的選擇；系統(tǒng)性能和業(yè)務(wù)優(yōu)勢(shì)的實(shí)現(xiàn)；復(fù)雜環(huán)境下的電磁干擾問題；與現(xiàn)有條形碼的共存問題；以及與企業(yè)原有系統(tǒng)，如ERP等商業(yè)應(yīng)用軟件進(jìn)行無縫連接等。測(cè)試中對(duì)標(biāo)簽測(cè)試、讀寫器測(cè)試、空中接口一致性測(cè)試、協(xié)議一致性測(cè)試、中間件測(cè)試等進(jìn)行規(guī)范。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試，測(cè)試待測(cè)目標(biāo)是否符合某項(xiàng)國內(nèi)或國際標(biāo)準(zhǔn)(例如ISO18000標(biāo)準(zhǔn))定義的空中接口協(xié)議。具體內(nèi)容包括讀寫器功能測(cè)試(讀寫器調(diào)制方式測(cè)試、讀寫器解調(diào)方式和返回時(shí)間測(cè)試、讀寫器功能測(cè)試(包括標(biāo)簽解調(diào)方式和返回時(shí)間測(cè)試，標(biāo)簽反應(yīng)時(shí)間測(cè)試，標(biāo)簽反向散射測(cè)試，標(biāo)簽返回位準(zhǔn)確率測(cè)試，標(biāo)簽返回速率測(cè)試等)。對(duì)于可互操作性測(cè)試，測(cè)試待測(cè)設(shè)備與其他設(shè)備的協(xié)同工作能力。
例如待測(cè)的讀寫器對(duì)其他電子標(biāo)簽的讀寫能力，待測(cè)電子標(biāo)簽在其他讀寫器的有效工作距離范圍內(nèi)的讀寫特性，待測(cè)的讀寫器讀取其他讀寫
器寫入標(biāo)簽的數(shù)據(jù)等等。測(cè)試又可分為單讀寫器對(duì)單標(biāo)簽，單讀寫器對(duì)多標(biāo)簽，多讀寫器對(duì)單標(biāo)簽，多讀寫器對(duì)多標(biāo)簽等不同的環(huán)境。
對(duì)于性能測(cè)試具體內(nèi)容有RFID標(biāo)簽測(cè)試、RFID讀寫器測(cè)試和RFID系統(tǒng)測(cè)試。RFID標(biāo)簽測(cè)試包括工作距離測(cè)試、標(biāo)簽天線方向性測(cè)試、標(biāo)簽最小工作場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試、標(biāo)簽返回信號(hào)強(qiáng)度測(cè)試、抗噪聲測(cè)試、頻帶寬度測(cè)試、各種環(huán)境下標(biāo)簽讀取率測(cè)試、標(biāo)簽讀取速度測(cè)試等；RFID讀寫器測(cè)試包括靈敏度測(cè)試，發(fā)射頻鐠測(cè)試等；RFID系統(tǒng)測(cè)試包括電子標(biāo)簽和讀寫器，測(cè)試不同參數(shù)(改變標(biāo)簽的移動(dòng)速度、附著材質(zhì)、數(shù)量、環(huán)境、方向、操作數(shù)據(jù)小、以及多標(biāo)簽的空間組合方案等)的系統(tǒng)通信距離、系統(tǒng)通信速率。等信息通過電子標(biāo)簽內(nèi)置發(fā)送天線發(fā)送出去；系統(tǒng)接收天線接收到從射頻電子標(biāo)簽發(fā)送來的載波信號(hào)，經(jīng)天線調(diào)節(jié)器傳送到讀寫器，讀寫器對(duì)接收的信號(hào)進(jìn)行解調(diào)和解碼，然后送到后臺(tái)主系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)處理；主系統(tǒng)根據(jù)邏輯運(yùn)算判斷該電子標(biāo)簽的合法性，針對(duì)不同的設(shè)定做出相應(yīng)的處理和控制，發(fā)出指令信號(hào)控制執(zhí)行機(jī)構(gòu)動(dòng)作。[irn]讀寫器通過發(fā)射天線發(fā)送一定頻率的射頻信號(hào)，當(dāng)RFID標(biāo)簽進(jìn)入發(fā)射天線工作區(qū)域時(shí)產(chǎn)生感應(yīng)電流，RFID標(biāo)簽獲得能量被激活；RFID標(biāo)簽將自身編碼等信息通過電子標(biāo)簽內(nèi)置發(fā)送天線發(fā)送出去；系統(tǒng)接收天線接收到從RFID標(biāo)簽發(fā)送來的載波信號(hào)，經(jīng)天線調(diào)節(jié)器傳送到讀寫器，讀寫器對(duì)接收的信號(hào)進(jìn)行解調(diào)和解碼，然后送到后臺(tái)主系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)處理；主系統(tǒng)根據(jù)邏輯運(yùn)算判斷該電子標(biāo)簽的合法性，針對(duì)不同的設(shè)定做號(hào)控制執(zhí)行機(jī)構(gòu)動(dòng)作。閱讀器和標(biāo)簽之間可靠的相互作用要求與ISO 18000-6 C類型規(guī)范等產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)相一致。該要求增加了許多超出基本要求的測(cè)試以滿足政府的頻語發(fā)射要求。RF—致性測(cè)試十分關(guān)鍵，有助于確保標(biāo)簽和閱讀器間的可靠協(xié)同工作。預(yù)編程測(cè)量能減少進(jìn)行這些測(cè)試所需的建立時(shí)間。例如，ISO18000-6 C類型的一個(gè)重要測(cè)量是啟動(dòng)時(shí)間和關(guān)閉時(shí)間。載波能量上升時(shí)間必須足夠快以保證標(biāo)簽采集到使其正常工作的充足能量。信號(hào)也必須迅速達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。發(fā)射結(jié)束時(shí)，載波能量下降時(shí)間必須足夠快，以防止其它發(fā)射受到干擾。 ISO 18000是一系列標(biāo)準(zhǔn)。此標(biāo)準(zhǔn)是目前最新的也是最熱門的標(biāo)準(zhǔn)，原因是它可用于商品的供應(yīng)鏈，其中的部分標(biāo)準(zhǔn)也正在形成之中。其中ISO 18000-6基本上是整合了一些現(xiàn)有RFID廠商的產(chǎn)品規(guī)格和EAN-超CC所提出的標(biāo)簽架構(gòu)要求而訂出的規(guī)范。它只規(guī)定了空氣接口協(xié)議，對(duì)數(shù)據(jù)內(nèi)容和數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)無限制，因此可用于EPC。實(shí)際上，若采用ISO 18000-6對(duì)空氣接口的規(guī)定加上EPC系統(tǒng)的編碼結(jié)構(gòu)再加上ONS架構(gòu)，就可以構(gòu)成一個(gè)完整的供應(yīng)鏈標(biāo)準(zhǔn)。盡管通過參照本發(fā)明的某些優(yōu)選實(shí)施例，已經(jīng)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了圖示和描述，但本領(lǐng)褲的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作出各種各樣的改變，而不偏離所附權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種電子標(biāo)簽RFID測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括主機(jī)，用于控制測(cè)試流程、紀(jì)錄和測(cè)試數(shù)據(jù)；電子標(biāo)簽，由芯片以及耦合元器件組成，芯片上有EEPROM用來儲(chǔ)存識(shí)別碼或其它數(shù)據(jù)，標(biāo)簽內(nèi)含有內(nèi)置天線，用于完成與讀寫器的通信；RFID讀寫器用于控制射頻模塊向標(biāo)簽發(fā)射讀取信號(hào)，并接收標(biāo)簽的應(yīng)答，對(duì)標(biāo)簽的對(duì)象標(biāo)識(shí)信息進(jìn)行解碼，將對(duì)象標(biāo)識(shí)信息連帶標(biāo)簽上其它相關(guān)信息傳輸?shù)街鳈C(jī)以供處理；數(shù)字信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào)，通過射頻發(fā)生/識(shí)別電路產(chǎn)生符合ISO國際標(biāo)準(zhǔn)的射頻信號(hào)，待測(cè)試RFID芯片收到該信號(hào)后，在正常情況下會(huì)產(chǎn)生一個(gè)返回信號(hào)，此時(shí)射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路的識(shí)別部分即捕獲該信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換成為相應(yīng)的數(shù)字信號(hào)，通過測(cè)試系統(tǒng)與事先保存的期待值進(jìn)行比較，判別芯片的通訊功能是否實(shí)現(xiàn)；測(cè)試設(shè)備，用于接收待測(cè)RFID芯片的檢測(cè)數(shù)據(jù)項(xiàng)目信息，包括物理特性檢測(cè)、靜態(tài)性能檢測(cè)、動(dòng)態(tài)性能檢測(cè)及射頻識(shí)別與電子標(biāo)簽產(chǎn)品應(yīng)用模擬試驗(yàn)場(chǎng)，并將測(cè)試結(jié)果傳輸?shù)街鳈C(jī)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽RFID測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所 述ISO國際標(biāo)準(zhǔn)為ISO 18000-6 C產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電子標(biāo)簽RFID測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括主機(jī)，用于控制測(cè)試流程、紀(jì)錄和測(cè)試數(shù)據(jù)；電子標(biāo)簽，由芯片以及耦合元器件組成，芯片上有EEPROM用來儲(chǔ)存識(shí)別碼或其它數(shù)據(jù)，標(biāo)簽內(nèi)含有內(nèi)置天線，用于完成與讀寫器的通信；RFID讀寫器用于控制射頻模塊向標(biāo)簽發(fā)射讀取信號(hào)，并接收標(biāo)簽的應(yīng)答，對(duì)標(biāo)簽的對(duì)象標(biāo)識(shí)信息進(jìn)行解碼，將對(duì)象標(biāo)識(shí)信息連帶標(biāo)簽上其它相關(guān)信息傳輸?shù)街鳈C(jī)以供處理；數(shù)字信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào)，通過射頻發(fā)生/識(shí)別電路產(chǎn)生符合ISO國際標(biāo)準(zhǔn)的射頻信號(hào)，待測(cè)試RFID芯片收到該信號(hào)后，在正常情況下會(huì)產(chǎn)生一個(gè)返回信號(hào)，此時(shí)射頻信號(hào)發(fā)射/識(shí)別電路的識(shí)別部分即捕獲該信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換成為相應(yīng)的數(shù)字信號(hào)，通過測(cè)試系統(tǒng)與事先保存的期待值進(jìn)行比較，判別芯片的通訊功能是否實(shí)現(xiàn)；測(cè)試設(shè)備，用于接收待測(cè)RFID芯片的檢測(cè)數(shù)據(jù)項(xiàng)目信息，包括物理特性檢測(cè)、靜態(tài)性能檢測(cè)、動(dòng)態(tài)性能檢測(cè)及射頻識(shí)別與電子標(biāo)簽產(chǎn)品應(yīng)用模擬試驗(yàn)場(chǎng)，并將測(cè)試結(jié)果傳輸?shù)街鳈C(jī)。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)快速而便捷RFID測(cè)試，標(biāo)準(zhǔn)一致性和優(yōu)化測(cè)量。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101592705SQ20081011335
公開日2009年12月2日 申請(qǐng)日期2008年5月28日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月28日
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