專利名稱：：一種掃描鏈診斷向量生成方法和裝置及掃描鏈診斷方法
技術領域：
：本發(fā)明涉及邏輯集成電路的故障定位方法，尤其涉及一種邏輯集成電路中掃描鏈故障的診斷向量生成方法和裝置及掃描鏈診斷方法。
背景技術：
：掃描技術是一種廣泛采用的結構化可測試性設計(DesignForTestability,DFT)技術?；趻呙璧倪壿嬙\斷已經(jīng)成為量產(chǎn)加速階段(yieldramp-up)不可缺少的手段。通過邏輯診斷可以幫助失效分析設備快速尋找到引起失效的缺陷位置，從而加速失效分析過程。掃描技術是在邏輯集成電路中插入一種稱為掃描鏈的移位寄存器結構，通過掃描鏈可以非常方便地實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)的有效傳遞以及芯片內(nèi)部狀態(tài)的有效導出。插入了掃描鏈的邏輯集成電路有兩種工作模式由測試使能(ScanEnable)控制的測試模式和工作模式。在測試模式下，掃描鏈接通，可以檢測邏輯集成電路的輸出和掃描鏈上的掃描單元的輸出(即偽輸出)；而在工作模式下，掃描鏈被旁路，邏輯集成電路按照原來的結構工作。在邏輯集成電路器件內(nèi)部實現(xiàn)的掃描又分為"全掃描"和"部分掃描"兩種。全掃描是將電路中所有的時序單元都置換為掃描單元，并且接入一個或者多個掃描鏈中，這樣可以非常容易地實現(xiàn)故障的控制和傳導。部分掃描則是選擇性地組成掃描鏈，比如可以將關鍵路徑上的時序單元以及難于滿足掃描結構要求的單元排除在掃描鏈之外，以確保芯片滿足面積和性能方面的要求。掃描測試的實施過程是(1)測試綜合；讀入芯片的電路網(wǎng)表并且實施設計規(guī)則檢查(DesignRuleCheck,DRC)，確保符合掃描測試的設計規(guī)則；將電路中原有的觸發(fā)器或者鎖存器置換為特定類型的掃描觸發(fā)器或者鎖存器(如多路選擇D觸發(fā)器，時鐘控制的掃描觸發(fā)器，以及電平敏感的掃描設計)，并且將這些掃描單元鏈接成一個或者多個掃描鏈，這一過程稱之為測試綜合。(2)測試向量生成；測試向量自動生成(AutomaticTestPatternGenaration，ATPG)工具根據(jù)插入的掃描電路以及形成的掃描鏈自動產(chǎn)生測試向量；故障仿真器(FaultSimulator,FS)對這些測試向量實施評估并且確定故障覆蓋率情況，將滿足故障覆蓋率的測試向量作為最終的測試向量。(3)施加測試向量并觀測響應；將測試向量施加到芯片上，對失效響應進行分析，發(fā)現(xiàn)故障。掃描單元及其控制電路可能會占到芯片總面積的30%。即使是在存儲部件占多數(shù)的面積的微處理器芯片中，掃描電路及其控制邏輯所占的硅片面積相對于組合邏輯電路來說仍然很大。這使得在掃描單元及其控制電路上發(fā)生的故障可能占到故障總數(shù)的50%。因此掃描鏈故障診斷對于芯片故障診斷具有重大意義。通過在掃描鏈中直接移入移出0011模式的向量，技術人員可以很容易地檢測到故障掃描鏈，但是要定位掃描鏈中的故障掃描單元卻十分具有挑戰(zhàn)性。首先，掃描鏈中的故障效果只有通過掃描移位輸出才能直接觀察到；其次，掃描鏈中的故障效果會因為掃描移位而具有全局性。以固定為l故障為例，如果掃描鏈中的某個掃描單元發(fā)生固定為l故障，無論移入何種向量，直接移出觀察到的向量總為全l。從測試角度而言，發(fā)現(xiàn)掃描鏈中的掃描單元是否存在故障并不困難。只要將0011格式的向量移入并直接移出掃描鏈，即可判斷掃描鏈是否存在故障。但從診斷角度而言，定位故障掃描單元卻具有很大的挑戰(zhàn)性，這是因為在向量移入過程中，故障掃描單元的上游將會被污染，而在移出過程中，故障掃描單元的下游會被污染，所以經(jīng)過掃描移入移出過程后整條掃描鏈已被污染。此處移入和移出是同一方向進行的，上游是指當前掃描單元的前一掃描單元，下游是指當前掃描單元的下一掃描單元，即靠近輸出方向的掃描單元。為了定位掃描鏈中的故障掃描單元，目前有三類可行的方案，第一類方案就是專門為待測掃描鏈生成一組診斷向量；第二類方案將己有的失效向量注入故障模擬器，通過比較失效向量和故障模擬器的響應進行診斷；最后一類方案通過修改電路中的觸發(fā)器單元提高電路的可診斷性。在第一類方案中，測試向量生成方法又可分成三種，一種是將待測掃描單元的故障效果通過組合邏輯傳播給輸出或者傳播給可以正常觀測的偽輸出；第二種方法是把可以反映故障效果的邏輯值通過組合邏輯傳播給待測掃描單元。對于以上兩種方法，在待測掃描單元上發(fā)現(xiàn)與期望響應不相同的結果，就可以認為該待測掃描單元是存在故障的。第三種方法不是確定性測試生成方法，而是從功能向量中選取可以使得待測掃描鏈中所有掃描單元置1和置0概率相當?shù)墓δ芟蛄?，通過比較失效芯片各輸出的0、1出現(xiàn)概率和期望輸出的0、1出現(xiàn)概率推斷出故障掃描單元的位置。第二類方案不需要為待測掃描鏈生成專門的診斷向量，而是利用已有的測試向量和這些向量的失效響應進行故障模擬。在診斷過程中，故障被注入到模擬器中，并施加向量得到相應的失效響應。通過比較從模擬器得到的失效響應和從測試設備上得到的實際失效響應估計故障注入位置與實際故障發(fā)生位置是否相同，如果相同則診斷過程結束，如果不同則反復迭代上述過程，直到得出滿意的診斷結果。在以上兩種方案中，在掃描鏈診斷過程中是假設組合邏輯是無故障的，但是在實際情況中發(fā)現(xiàn)，在掃描鏈發(fā)生故障的情況下，組合邏輯往往也存在故障。這樣導致在組合邏輯和掃描鏈都發(fā)生故障的情況下如果使用己有的掃描鏈診斷方案，有可能將組合邏輯中的故障導致故障效果歸因于掃描鏈故障，從而導致誤診斷。第三類方案是通過修改電路設計提高電路的可診斷性。大致分成兩種方法，第一種方法為掃描單元提供旁路掃描鏈，使得掃描單元的掃描輸出結果可以傳播到多條掃描鏈上。第二種方法是為掃描單元提供某種置位的機制，在故障發(fā)生時，故障掃描鏈里的掃描單元被置成某種特殊的向量。雖然利用這類方案診斷掃描鏈不會受到組合邏輯中的故障影響，但是這類方案會給電路設計帶來額外的面積和布線開銷，更重要的是，特殊的DFT設計會改變傳統(tǒng)的工業(yè)流程。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明針對現(xiàn)有技術在進行掃描鏈診斷時由于組合邏輯中存在故障可能導致誤診斷的不足，從而提出了一種能夠容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷向量生成方法和裝置及掃描鏈診斷方法。為了上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷向量生成方法，包括如下步驟步驟S1，確定掃描鏈的故障類型；步驟S2，根據(jù)掃描鏈的故障類型設定約束條件；步驟S3，在約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向量。優(yōu)選地，在步驟S1中，所述故障類型包括固定為1故障、固定為O故障、過緩上升故障、過緩下降故障、過速上升故障和過速下降故障。優(yōu)選地，在步驟S1中，通過將由0011模式組成的向量在掃描鏈中移入后直接移出的結果確定掃描鏈的故障類型。優(yōu)選地，在步驟S2中，所述設定約束條件包括為了敏化當前候選掃描單元上的時序故障，設定當前候選掃描單元的相鄰掃描單元的邏輯狀態(tài)為與時序故障相應的特定值。優(yōu)選地，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到芯片的輸出或掃描單元的偽輸出，設置所述路徑上的組合邏輯的旁路輸入取非控制值。優(yōu)選地，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使所述非控制值在診斷向量移入過程中不被故障掃描單元污染，設置所述非控制值的相鄰掃描單元為相應保護值。優(yōu)選地，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)傳輸?shù)降膫屋敵鰭呙鑶卧谝瞥鲞^程中不被污染，設置該偽輸出掃描單元的相鄰掃描單元為相應保護值。優(yōu)選地，所述步驟S3，具體包括如下步驟步驟S301，通過分析邏輯集成電路，建立當前掃描單元能夠扇出(fan-out)到的輸出組成輸出集合；步驟S302,在約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到所述輸出集合中的原始輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向步驟S303，保存所述診斷向量。優(yōu)選地，在步驟S302中還包括將設定的約束條件構建成一個約束電路，在約束電路的輸出端連接固定型故障診斷向量生成部件，將掃描單元的時序故障診斷向量生成轉化為固定型故障的診斷向量生成。一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷向量生成裝置，包括如下部件故障類型判別單元，用于判別掃描鏈的故障類型；約束條件設定單元，用于根據(jù)故障類型設定約束條件；診斷向量生成單元，用于在所述約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的原始輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向優(yōu)選地，所述故障類型包括固定為1故障、固定為0故障、過緩上升故障、過緩下降故障、過速上升故障、過速下降故障。優(yōu)選地，所述設定約束條件包括為了敏化當前候選掃描單元上的時序故障，設定當前候選掃描單元的相鄰掃描單元的邏輯狀態(tài)為與時序故障相應的特定值。優(yōu)選地，所述設定約束條件還包括；為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到芯片的原始輸出或掃描單元的偽輸出，設置所述路徑上的組合邏輯的旁路輸入取非控制值。優(yōu)選地，所述設定約束條件還包括為了使所述非控制值在診斷向量移入過程中不被故障掃描單元污染，設置所述非控制值的相鄰掃描單元為相應保護值。優(yōu)選地，所述設定約束條件包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)傳輸?shù)降膫屋敵鰭呙鑶卧谝瞥鲞^程中不被污染，設置該偽輸出掃描單元的相鄰掃面單元為相應保護值。優(yōu)選地，所述約束條件設定單元包括按照設定的約束條件構建的一個約束電路。優(yōu)選地，所述診斷向量生成單元包括在所述約束電路的輸出端連接的固定型故障診斷向量生成部件，使掃描單元的時序故障診斷向量生成轉化為固定型故障的診斷向量生成。一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，包括如下步驟步驟S21，根據(jù)掃描鏈故障類型生成掃描鏈診斷向量；步驟S22，將掃描鏈診斷向量施加到待測芯片上，輸出失效響應;步驟S23，對所述失效響應進行分析，找出故障掃描單元。優(yōu)選地，所述步驟S23具體包括如下步驟步驟S23a，計算掃描單元的每個診斷向量的權重w;歩驟S23b，計算掃描單元在每個診斷向量在移入移出過程中的故障概率LEP;步驟S23c，計算掃描單元的總故障概率WLEP等于該掃描單元的所有診斷向量的權重w和在對應診斷向量移入移出過程中的故障概率LEP之積的累加。優(yōu)選地，還包括步驟S23d，根據(jù)掃描單元的總故障概率WLEP計算掃描單元的可疑得分，得分最高的為故障可疑掃描單元。優(yōu)選地，在步驟S23a中，所述診斷向量的權重其中i為掃描單元的索引號，nunuobs(Ci,j)表示為診斷掃描單元d所生成的第j個測試向量所能建立的敏化輸出的個數(shù)。優(yōu)選地，在步驟S23b中，掃描單元d在第j個向量下的故障概率LEP(d，j)二q/p;其中，p為該向量可以敏化的傳播通路的輸出數(shù)目，q為觀測到候選掃描單元的故障邏輯狀態(tài)的傳播通路的輸出數(shù)目。優(yōu)選地，所述步驟S23d中，計算每個掃描單元的可疑得分Suspect的方法如下式其中r為設定的窗半徑。本發(fā)明所產(chǎn)生的有益技術效果是1、利用本發(fā)明提出的掃描鏈診斷向量生成方法可以有效的診斷掃描鏈中存在的故障。2、在掃描鏈診斷過程中，有效的容忍組合邏輯中的故障，掃描鏈診斷結果盡量避免了組合邏輯故障的影響。<formula>formulaseeoriginaldocumentpage12</formula>3、利用本發(fā)明提出的掃描鏈診斷向量生成方法不會給電路帶來任何的硬件開銷也不會改變現(xiàn)有的設計測試流程。4、本發(fā)明提出的掃描鏈診斷向量生成方法，根據(jù)故障類型生成診斷向量，可以將針對時序故障的生成診斷向量過程轉化為利用通用的固定型故障測試生成工具生成掃描鏈診斷向量。圖1是本發(fā)明中的一個實施例的掃描鏈診斷流程圖2是本發(fā)明中的一個實施例中的利用約束電路設定約束條件的示意圖；圖3是本發(fā)明中的另一個實施例中的利用約束電路設定約束條件的示意圖4是本發(fā)明中的一個實施例中的輸出集合和掃描單元的邏輯狀態(tài)傳輸所覆蓋輸出或偽輸出的示意圖。圖5是本發(fā)明的掃描鏈診斷向量生成流程圖；圖6是圖5中所示的步驟3的具體步驟；圖7是本發(fā)明的掃描鏈測試方法流程圖8是圖7中步驟S23的具體步驟。具體實施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明的掃描鏈診斷向量生成方法和裝置及掃描鏈診斷方法進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。為了方便描述具體實施方式，首先對后面用到的術語進行如下說明本發(fā)明設定掃描鏈的長度是該掃描鏈中掃描單元的個數(shù)。從掃描輸入到掃描輸出，對每一個掃描單元從大到小編號，稱為掃描單元的索引。對于一個給定的掃描單元，它的上游掃描單元由所有索引值大于該掃描單元的掃描單元組成，類似的，它的下游掃描單元由所有索引值小于該掃描單元的掃描單元組成。作為一種可實施方式，掃描單元采用可測性設計中廣泛采用的多路選擇觸發(fā)器(MUX-DFF)，其包括DI輸入端和SI輸入端，其中，SI輸入端輸入來自直接上游掃描單元的掃描移出，DI輸入端為數(shù)據(jù)輸入端，當邏輯集成電路被設置處于非掃描模式下時，數(shù)據(jù)經(jīng)由DI輸入端進入掃描單元。當邏輯集成電路被設置處于掃描模式時，數(shù)據(jù)經(jīng)由SI輸入端進入掃描單元。如圖5所示，一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷向量生成方法，包括如下步驟步驟S1，確定掃描鏈的故障類型；步驟S2，根據(jù)掃描鏈的故障類型設定約束條件；步驟S3，在約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向量。較佳地，在步驟S1中，本發(fā)明采用了6種故障類型。這6種故障類型分別是固定為l故障(SA1)、固定為0故障(SA0)、過緩上升故障(STR)、過緩下降故障(STF)、過速上升故障(FTR)、過速下降故障(FTF)。作為舉例，它們的故障效果如表1所示。本發(fā)明是試圖找到掃描鏈中發(fā)生表1所示故障效果的掃描單元。表1本發(fā)明使用的掃描鏈故障模型<table>tableseeoriginaldocumentpage14</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage15</column></row><table>表l中的下劃線用于突出顯示。從表l可以看出，故障總體分為兩類，第一類故障是固定型故障，對于固定型故障來說，在掃描移出過程中，它會將所有下游掃描單元的邏輯狀態(tài)污染固定型故障的故障值。第二類故障是時序故障，對于時序故障來說只有滿足一定的敏化條件，故障才會被激活。例如，對于STR故障來說，存在0到1跳變才能引起故障。也就是說，對于某個候選掃描單元i來說，其直接下游掃描單元i-l邏輯狀態(tài)為0且掃描單元i的邏輯狀態(tài)為1才會在掃描移入或者移出時引起掃描單元i的故障，故障使得掃描單元i上期望為l的邏輯值變?yōu)榱薕。較佳地，在步驟S1中，通過將由0011模式組成的向量在掃描鏈中移入后直接移出的結果來確定掃描鏈的故障類型。例如一個由8個掃描單元組成的掃描鏈，移入并直接移出flush向量11001100，那么根據(jù)表1，對于固定為1故障，觀察到的移出向量為11111111;對于固定為0故障，觀察到的移出向量是00000000。對于STR故障，觀察到的移出向量為10001000，對于STF故障，觀察到的移出向量為IIOIIIOO，對于FTR故障，觀察到的向量為11101110，對于FTF故障，觀察到的向量為11000100。較佳地，在步驟S2中，所述設定約束條件包括為了敏化當前候選掃描單元上的時序故障，設定當前候選掃描單元的相鄰掃描單元的邏輯狀態(tài)為與時序故障相應的特定值。為了敏化候選掃描單元上的時序故障，候選掃描單元的相鄰掃描單元同樣也應該約束成某些特定的邏輯狀態(tài)以使得候選掃描單元上存在的故障得以敏化。例如圖2所示，為了敏化索引號為16的候選掃描單元201上的STR故障，索引號為15的掃描單元202應當被約束為0。較佳地，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到芯片的原始輸出或掃描單元的偽輸出，設置所述路徑上的組合邏輯的旁路輸入取非控制值。如果要把一個候選掃描單元(當前掃描單元)的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯傳播到一個輸出(po)或者偽輸出(PP0)，必須存在一條敏化的傳播通路。例如，在圖2中，如果要把索引號為16的掃描單元201的邏輯狀態(tài)傳播給索引號4的掃描單元216必須要通過組合邏輯電路中的或非門207和與非門210組成的通路。為了敏化該通路Pl，門207和210的旁路輸入必須取非控制值，也就是說，索引號14的掃描單元203的輸出c208必須為0，索引號5的掃描單元204的輸出d209的輸出必須為1，稱這些為了敏化一條路徑而必須使得一些偽輸入(PseudoPrimaryInput,PPI)為特定值的PPI為關鍵PPI，例如索引號為14的掃描單元203和索引號為5的掃描單元204是兩個關鍵PPI。較佳地，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使所述輸入關鍵掃描單元的在診斷向量移入過程中不被故障掃描單元污染，設置輸入關鍵掃面單元的相鄰掃描單元為相應保護值。在掃描鏈存在時序故障的情況下，關鍵PPI的邏輯狀態(tài)有可能在向量移入過程中，被故障掃描單元污染。為了防止這種情況的發(fā)生，關鍵掃描單元的相鄰掃描單元根據(jù)關鍵掃描單元的邏輯狀體賦予保護值，被賦予保護值的掃描單元稱為保護PPI。保護PPI的賦值與掃描單元的故障類型存在著關系。以STR故障為例，如果關鍵掃描單元的期望邏輯狀態(tài)為1且它的直接下游掃描單元的邏輯狀態(tài)期望為O，那么該掃描單元的邏輯狀態(tài)對STR敏感。在STR故障的影響下，該掃描單元在移入過程中可能會被故障污染為0。為了防止敏感跳變出現(xiàn)在關鍵PPI上，需要約束保護PPI的邏輯狀態(tài)。例如，為了把索引號為16的掃描單元201的邏輯狀態(tài)b207傳播到索引號為4的掃描單元216，關鍵PPI204應該設置為l，為了防止敏感跳變在關鍵PPI204上發(fā)生，保護PPI205的邏輯狀態(tài)約束為1。注意，此處關鍵PPI203的保護PPI沒有賦值，因為關鍵PPI203的期望邏輯狀態(tài)為O，該邏輯狀態(tài)對STR故障不敏感，因此不需要設置它的保護PPI對其邏輯狀態(tài)進行保護。與此類似，如果一個敏化通路的輸出是一個偽輸出(PseudoPrimaryOutput,PPO)，稱這個PPO為關鍵PPO。比如索引號為4的掃描單元216就是一個關鍵PPO。更佳地，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)傳輸?shù)降膫屋敵鰭呙鑶卧谝瞥鲞^程中不被污染，設置該偽輸出掃描單元的相鄰掃面單元為相應保護值。在掃描移出過程中關鍵PPO有可能被掃描鏈中存在的故障污染。因此為了防止敏感跳變出現(xiàn)在關鍵PPO上，關鍵PPO的直接下游掃描單元應該被約束成某些特定值，防止敏感跳變的發(fā)生，稱這樣的PPO為保護PPO。在圖2中，為了防止敏感跳變出現(xiàn)在關鍵PPO216上，保護PPO217應當捕獲邏輯值1。較佳地，如圖6所示，所述步驟S3，具體包括如下步驟步驟S301，通過分析邏輯集成電路，建立當前掃描單元能夠扇出(fan-out)到的輸出組成輸出集合；步驟S302,在約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到所述輸出集合中的原始輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向步驟S303，保存所述診斷向量。較佳地，在步驟S302中將設定的約束條件構建成一個約束電路，在約束電路的輸出端連接固定型故障診斷向量生成部件，使掃描單元的時序故障診斷向量生成轉化為固定型故障的診斷向量生成。固定型故障診斷向量生成部件為本領域技術人員熟知的診斷向量生成工具，不再贅述。上述傳播通路敏化方法通過構建一個約束電路中的與門218實現(xiàn)，如果通路上某個門的旁路輸入的非控制值為1那么就直接與這個與門相連，比如門210的旁路輸入d209直接與與門218連接，如果通路上的一個門的旁路輸入的非控制值為0，那么先把這個值反向再與對應的與門連接，例如或非門207的非控制值為0，因此它的旁路輸入c208反向后連接到與門218上。在圖2中，關鍵PP0216的輸入被連接到了約束電路中與門218的一個輸入上。在圖2中可以看到，索引號為15的掃描單元的一個輸出取反后連接到約束電路中與門218上的一個輸入上?？偟膩碚f，如果索引號為16的掃描單元201的邏輯狀態(tài)可以通過組合邏輯傳播到索引號為4的掃描單元216上，且滿足輸入輸出約束；那么與門218的輸出為1，否則與門218的輸出為0。類似地，可以為每一個傳播通路建立一個相應的與門，當一條路徑可以被約束條件敏化時，所對應的與門輸出為l，否則與門輸出為0。為了生成的診斷向量可以使得當前候選掃描單元的邏輯狀態(tài)盡可能多地傳播到原始輸出或偽輸出上，就應當使得選定的路徑盡可能多的被約束條件敏化。由上述可知，每一個可能的傳輸路徑可以由一個與門代替。例如在圖2中，兩個與門218和219分別代表了路徑pl:b207-f209-i(212)和路徑p2:b207-f209-h211。當一條路徑可以約束條件敏化時，其對應的與門的輸出為l。因此，可以利用計算電路計算對應與門輸出為1的個數(shù)，當與門輸出為1的個數(shù)大于等于設定的整數(shù)n時，計算電路的輸出為l，否則為0。例如在圖2中，設置n為2，也就是說，索引號為16的掃描單元201的邏輯狀態(tài)至少應傳播到兩個或者兩個以上的P0或者PPO上，因此利用與門220計算是否會有兩個或者兩個以上的路徑被敏化，也就是計算與門218和219中輸出為1的個數(shù)是否大于或等于2，與門218和219的兩個輸出被連接到了與門220上，可以利用固定型故障診斷向量生成工具對與門220的輸出端j221進行固定為0故障的測試生成。如果生成成功，那么說明該診斷向量存在。作為另一個具體實施方式，當從候選掃描單元到P0或者PPO的數(shù)目大于3時，可以采用如圖3所示的約束電路，與圖2類似，當路徑301、路徑302和路徑303可以被約束條件敏化時，相應的約束電路中的與門304、305、306的輸出為1。這三個輸出與一個敏化路徑計數(shù)器連接，該計數(shù)器當輸入1的個數(shù)大于或等于2時，或門310的輸出端j為1。因此，同樣只要對或門310的輸出上進行固定為0故障的向量生成，則該掃描單元的故障可診斷，路徑301、302、303可被約束條件敏化。當然，如果這三個路徑不能同時被約束條件敏化，也不可能生成該診斷向量。類似的，本領域技術人員可以推廣到多個路徑被約束條件敏化的情況。對于掃描鏈中的每個掃描單元，通過反復執(zhí)行步驟S1至步驟S3，可以生成一個或多個診斷向量，將當前掃描單元的邏輯狀態(tài)盡可能多地通過組合邏輯傳播到原始輸出或偽輸出。本發(fā)明的一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷向量生成裝置，包括故障類型判別單元，用于判別掃描鏈的故障類型；約束條件設定單元，用于根據(jù)故障類型設定約束條件；診斷向量生成單元，用于在所述約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的原始輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向較佳地，所述故障類型包括固定為1故障(SA1)、固定為0故障(SAO)、過緩上升故障(STR)、過緩下降故障(STF)、過速上升故障(FTR)、過速下降故障(FTF)。較佳地，所述設定約束條件包括為了敏化當前候選掃描單元上的時序故障，設定當前候選掃描單元的相鄰掃描單元的邏輯狀態(tài)為與時序故障相應的特定值。較佳地，所述設定約束條件還包括；為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到芯片的原始輸出或掃描單元的偽輸出，設置所述路徑上的組合邏輯的旁路輸入取非控制值。較佳地，所述設定約束條件還包括為了使所述輸入關鍵掃描單元的在診斷向量移入過程中不被故障掃描單元污染，設置輸入關鍵掃面單元的相鄰掃描單元為相應保護值。更佳地，所述設定約束條件還包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)傳輸?shù)降膫屋敵鰭呙鑶卧谝瞥鲞^程中不被污染，設置該偽輸出掃描單元的相鄰掃面單元為相應保護值。較佳地，所述約束條件設定單元包括按照設定的約束條件構建的一個約束電路。更佳地，所述診斷向量生成單元包括在所述約束電路的輸出端連接的固定型故障診斷向量生成部件，使掃描單元的時序故障診斷向量生成轉化為固定型故障的診斷向量生成。如圖7所示，本發(fā)明的一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，包括如下步驟步驟S21，根據(jù)掃描鏈故障類型生成掃描鏈診斷向量；較佳地，如圖1所示，所述步驟S21具體包括如下步驟步驟S2101:通過在芯片的掃描鏈中移入后直接移出由0011組成的flush向量確定掃描鏈的故障類型。步驟S2102:設定循環(huán)控制變量i，從最靠近掃描輸入的索引號為L-1的掃描單元至最靠近掃描輸出的索引號為0的掃描單元依次為每個掃描單元生成診斷向量。為了建立循環(huán)控制變量，迭代從最上游掃描單元開始因此令i=L-l，其中L為掃描鏈長度。步驟S2103:為候選掃描單元i建立輸出集合；輸出集合可以通過靜態(tài)的分析待測芯片的電路網(wǎng)表得到，在輸出集合中包含了候選掃描單元可以扇出到的所有輸出P0和偽輸出PP0。該歩驟2103是為了構建一個求解的搜索空間，因為本發(fā)明期望將候選掃描單元的邏輯狀態(tài)盡可能多的傳播到可靠的輸出上。而這些輸出只可能是候選掃描單元可以扇出到的輸出，因此只有從這些可以扇出到的輸出中來確定候選掃描單元的邏輯狀態(tài)傳播的輸出或偽輸出。為了減少搜索空間，可以預先通過靜態(tài)的分析芯片電路將所有候選掃描單元可以扇出到的輸出和/或偽輸出組成一個集合。步驟S2104:在滿足所設定的約束條件的情況下，將掃描單元i的邏輯狀態(tài)傳播到輸出集合中的n個可靠觀察點，即輸出P0和/或偽輸出PP0，開始生成診斷向量。n的值是設定的。該步驟S2104是為了根據(jù)給定的n值構建一個求解模型，n指明了一次診斷向量生成時，候選掃描單元的邏輯狀態(tài)最少傳播到的輸出的數(shù)目。步驟S2105:如果診斷向量生成成功，則轉向步驟S2106，否則轉向步驟S2107步驟S2106:如果候選掃描單元i的邏輯狀態(tài)可以傳播到n個可靠的輸出和/或偽輸出，那么一條診斷向量生成成功，把這個向量保存下來。步驟S2107:如果n大于l，則轉至步驟S2108，否則轉至步驟S2111。在步驟S2104中，如果診斷向量生成失敗，有可能是因為n設置的過大，因此，可以設法減小n的大小重新進行生成。在此步驟S2107中是為了放寬診斷向量生成的約束條件。在步驟S2105中，向量生成可能失敗，其原因可能有兩個第一，設定的n值過大，向量生成工具無法同時敏化n條路徑，那么轉入步驟S2108將n的值降低，然后重新進行向量生成；第二，候選掃描單元的故障邏輯狀態(tài)無法傳播到輸出，因此該掃描單元不可診斷，則直接跳轉到步驟S2111。步驟S2108:將故障掃描單元i期望傳播到的可靠輸出數(shù)目n減1，然后轉到步驟S2104重新進行診斷向量生成。步驟S2109:如果在一個向量的作用下，候選掃描單元i的邏輯狀態(tài)可以傳播到幾個輸出，那么就把這幾個輸出從輸出集合中刪除。在該步驟S2109中是為了盡可能多的覆蓋輸出集合中的元素，因此當一個向量可以把候選掃描單元的邏輯狀態(tài)傳播到幾個輸出時，就把這幾個輸出從輸出集合中刪除。從而可以重新生成向量，覆蓋以前沒有覆蓋到的輸出。步驟S2110:如果輸出集合在經(jīng)過步驟S2109后為空，說明候選掃描單元可以通過一個或者多個診斷向量將自己的邏輯狀態(tài)傳播到所有最初狀態(tài)的輸出集合所包含的輸出或偽輸出中，在這種情況下轉向步驟S2111，否則轉向步驟S2104，繼續(xù)進行診斷向量生成，盡量覆蓋輸出集合中所有元素。在該步驟S2110中，如果輸出集合為空，說明候選掃描單元的邏輯狀態(tài)可以傳播到輸出集合中所有的元素，則轉入步驟S2111。否則，說明輸出集合中還有元素沒有捕獲過選掃描單元的邏輯狀態(tài)，因此轉入步驟S2104，重新生成向量。步驟S2111:判斷是否己經(jīng)完成了故障掃描鏈上所有候選掃描單元的診斷向量生成，如果完成轉向步驟S2113。否則轉向步驟S2112。在該步驟S2111中是為了判斷是否所有的掃描單元都已經(jīng)進行過診斷向量生成。如果已經(jīng)完成所有掃描單元的診斷向量生成，則轉入步驟S2113，如果沒有完成，則轉入步驟S2112,也就是為當前掃描單元的直接下游掃描單元生成向量。步驟S2112:把當前所在候選掃描單元的直接下游掃描單元作為當前掃描單元，并轉向歩驟S2103進行下一輪的診斷向量生成。步驟S22，將掃描鏈診斷向量施加到待測芯片上，輸出失效響應；該步驟相當于如圖l所示的步驟S2113:將生成的診斷向量通過ATE施加到待測芯片上，并記錄失效日志，收集失效響應信息。步驟S23，對所述失效響應進行分析，找出故障掃描單元。(圖l中的步驟S2114:根據(jù)故障響應分析出故障位置。)較佳地，所述步驟S23中，為了對故障的失效響應進行分析，找出可疑掃描單元，進行故障定位，本發(fā)明采用基于概率的失效響應分析方法，如圖8所示，具體包括如下步驟步驟S23a，計算掃描單元的每個診斷向量的權重w;歩驟S23b，計算掃描單元在每個診斷向量在移入移出過程中的故障概率LEP;步驟S23c，計算掃描單元的總故障概率W等于該掃描單元的所有診斷向量的權重w和在對應診斷向量移入移出過程中的故障概率LEP之積的累加。進一步地，還包括步驟S23d,計算掃描單元的可疑得分，得分最高的為故障掃描單元。進一步地，在步驟S23a中，所述診斷向量的權重『(/,力=""附—。fc(c,，y)/t"歸—oMC。其中i為掃描單元的索引號，num—obs(d,j)表示診斷掃描單元Ci所生成的第j個測試向量所能建立的敏化輸出和偽輸出的個數(shù)。由此看出W(i，j)實際上是計算了為第i個掃描單元生成的第j個向量所擁有的可靠觀察點(可觀測的輸出或偽輸出)的數(shù)目占所有為第i個掃描單元生成向量擁有的可靠觀察點的比值。每一個候選掃描單元對應著一個或者多個診斷向量。對應每個掃描單元的一組診斷向量的權重之和為1。每個診斷向量的權重由其可以觀察到故障邏輯狀態(tài)的輸出數(shù)目而定。一個向量可以敏化的通路數(shù)目越多，其對應的權重也就越大。例如一個掃描單元可以通過兩個診斷向量將自身的邏輯狀態(tài)傳播到輸出上，其中第一個向量可以通過3個輸出觀察該掃描單元的邏輯狀態(tài)，第二個向量可以通過2個輸出觀察該掃描單元的邏輯狀態(tài)，那么第一個向量的權重為3/5，第二個向量的權重2/5。進一步地，在步驟S23b中，掃描單元在每個診斷向量在移入移出過程中的故障概率LEP，即掃描單元d在第j個向量下的故障概率LEP(d，j)二q/p，其中，P為該向量可以敏化的傳播通路的輸出數(shù)目，q為觀察到候選掃描單元的故障邏輯狀態(tài)的傳播通路的輸出數(shù)目。如果p條通路的輸出都觀察到了候選掃描單元的邏輯狀態(tài)是故障的，那么故障概率為1，即LEP(d，jX，如果這p個通路中的q條通路的輸出觀察到了候選掃描單元的故障邏輯狀態(tài)，那么<formula>formulaseeoriginaldocumentpage24</formula>。進一歩地，在步驟S23c中，利用公式1，計算所述掃描單元的總故障概率:<formula>formulaseeoriginaldocumentpage24</formula>其中，^(;7《,,)為每條診斷向量所對應的權重。進一步地，所述步驟S23d中，利用公式2計算每個掃描單元的可疑得分，得分最高的為可疑掃描單元。<formula>formulaseeoriginaldocumentpage24</formula>公式2是采用中值濾波的原理。在掃描鏈中，如果一個掃描單元發(fā)生故障，在掃描移入過程中，故障的邏輯狀態(tài)會傳染到其下游所有掃描單元，因此，在該掃描單元的上游掃描單元，發(fā)現(xiàn)故障邏輯狀態(tài)的概率小于在該掃描單元下游的掃描單元。因此，會出現(xiàn)一個類似階躍響應曲線。利用公式2可以發(fā)現(xiàn)這個"階躍"信號跳變點所對應的掃描單元。在公式2中，r為窗半徑，對于掃描單元i來說，該函數(shù)首先計算從i-r至i+r所有掃描單元的故障狀態(tài)概率的平均值，然后用0.5減去該平均值后求絕對值，得到的結果，再用1去減。下面通過另一實施例進一步詳細說明本發(fā)明的掃描鏈故障診斷過程。設定為掃描單元c進行診斷向量生成，如圖4所示，首先，為掃描單元c建立輸出集合，即c可以扇出到五個掃描單元CO，C4，C8，C16，C21和一個原始輸出03。隨后，對掃描單元c進行第一個診斷向量生成，發(fā)現(xiàn)c在向量Pl的作用下可以把其邏輯狀態(tài)傳播到C4，C8和C21，且在無故障情況下，期望響應為100，因此在故障情況下期望響應為011。第一個診斷向量生成完成后將C4，C8和C21從輸出集合中刪除，輸出集合中還剩下C0和C16。第二次向量生成時，產(chǎn)生了向量P2，它可以將c的邏輯狀態(tài)傳播到CO,C8，C2和03，在無故障情況下，其期望響應為IOIO，因此在故障情況下期望響應為0101。因為CO還在輸出集合中，因此把CO從輸出集合中刪除。此時輸出集合中只有C16。開始進行第三次向量生成，經(jīng)過向量生成，得到向量P3，P3可以把c的邏輯狀態(tài)傳播給C8、C16和03，在無故障情況下，其期望響應為OOl，因此在故障情況下期望響應為110。向量生成完畢，將向量打入ATE得到失效響應。下面介紹失效響應分析。在失效響應分析中，首先分別計算向量P1、P2和P3的權重。這三個向量總計可以把c的邏輯狀態(tài)傳播到6個輸出，總計覆蓋輸出10次。對Pl來說其覆蓋三個輸出，其權重為3/10=0.3,類似的P2覆蓋了四個輸出，其權重為4/10=0.4。P3的權重為3/10=0.3。通過施加Pl、P2和P3到芯片上，實際觀察到的響應分別是{011}{0111}{110}。掃描單元c在故障狀態(tài)情況下對向量Pl的期望響應為011，而實際響應也為Oll，所以掃描單元在該向量下故障概率為1;在掃描單元c故障狀態(tài)下對向量P2的期望響應為0101而實際響應為0111(有三位與期望響應一致)，故障概率為3/4=0.75;在掃描單元c故障狀態(tài)下對向量P3的期望響應為110而實際響應也為110，故障概率為1。最后掃描單元c的總故障概率為0.3*1+0.4*0.75+0.3*1=0.9。于是，判定此掃描單元的移入狀態(tài)可能是故障的。實際響應與期望響應不符合的主要原因在于組合邏輯中存在故障，因此本發(fā)明可以有效的容忍組合邏輯中的故障。對整條掃描鏈上的掃描單元都進行如上的測試過程，得出每個掃描單元的總故障概率，然后按照公式2計算可疑得分，可疑得分最高的判定為故障單元。從上述技術方案的詳細描述可以看出，本發(fā)明的技術方案是這樣實現(xiàn)的首先，確定掃描鏈故障類型，隨后，根據(jù)故障掃描鏈的故障類型生成掃描鏈診斷向量，最后將診斷向量加載到測試設備上得出失效響應，并通過失效響應進行故障定位。本發(fā)明具有以下有益效果1、利用本發(fā)明提出的掃描鏈診斷向量生成方法可以有效的診斷掃描鏈中存在的故障。2、在掃描鏈診斷過程中，有效的容忍組合邏輯中的故障，掃描鏈診斷結果盡量避免了組合邏輯故障的影響。2、利用本發(fā)明提出的掃描鏈診斷向量生成方法不會給電路帶來任何的硬件開銷也不會改變現(xiàn)有的設計測試流程。3、利用本發(fā)明提出的掃描鏈診斷向量生成方法任何通用的固定型故障測試生成工具都可以用作掃描鏈診斷向量的生成。通過結合附圖對本發(fā)明具體實施例的描述，本發(fā)明的其它方面及特征對本領域的技術人員而言是顯而易見的。以上對本發(fā)明的具體實施例進行了描述和說明，這些實施例應被認為其只是示例性的，并不用于對本發(fā)明進行限制，本發(fā)明應根據(jù)所附的權利要求進行解釋。以上所述內(nèi)容，僅為本發(fā)明具體的實施方式，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本
技術領域：
的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。2權利要求1、一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷向量生成方法，包括如下步驟步驟S1，確定掃描鏈的故障類型；步驟S2，根據(jù)掃描鏈的故障類型設定約束條件；步驟S3，在約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向量。2、根據(jù)權利要求1所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，在步驟Sl中，所述故障類型包括固定為1故障、固定為0故障、過緩上升故障、過緩下降故障、過速上升故障和過速下降故障。3、根據(jù)權利要求1所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，在步驟Sl中，通過將由0011模式組成的向量在掃描鏈中移入后直接移出的結果來確定掃描鏈的故障類型。4、根據(jù)權利要求1所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，在步驟S2中，所述設定約束條件包括為了敏化當前候選掃描單元上的時序故障，設定當前候選掃描單元的相鄰掃描單元的邏輯狀態(tài)為與時序故障相應的特定值。5、根據(jù)權利要求4所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到芯片的輸出或掃描單元的偽輸出，設置所述路徑上的組合邏輯的旁路輸入取非控制值。6、根據(jù)權利要求5所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使所述非控制值在診斷向量移入過程中不被故障掃描單元污染，設置所述非控制值的相鄰掃描單元為相應保護值。7、根據(jù)權利要求1所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，在步驟S2中，所述設定約束條件還包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)傳輸?shù)降膫屋敵鰭呙鑶卧谝瞥鲞^程中不被污染，設置該偽輸出掃描單元的相鄰掃描單元為相應保護值。8、根據(jù)權利要求1所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，所述步驟S3，具體包括如下步驟步驟S301，通過分析邏輯集成電路，建立當前掃描單元能夠扇出到的輸出組成輸出集合；步驟S302，在約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到所述輸出集合中的原始輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向步驟S303，保存所述診斷向量。9、根據(jù)權利要求8所述的掃描鏈診斷向量生成方法，其特征是，在步驟S302中還包括將設定的約束條件構建成一個約束電路，在約束電路的輸出端連接固定型故障診斷向量生成部件，將掃描單元的時序故障診斷向量生成轉化為固定型故障的診斷向量生成。10、一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，包括如下部件故障類型判別單元，用于判別掃描鏈的故障類型；約束條件設定單元，用于根據(jù)故障類型設定約束條件；診斷向量生成單元，用于在所述約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的原始輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向11、根據(jù)權利要求IO所述的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，所述故障類型包括固定為1故障、固定為0故障、過緩上升故障、過緩下降故障、過速上升故障、過速下降故障。12、根據(jù)權利要求10所述的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，所述設定約束條件包括為了敏化當前候選掃描單元上的時序故障，設定當前候選掃描單元的相鄰掃描單元的邏輯狀態(tài)為與時序故障相應的特定值。13、根據(jù)權利要求10所述的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，所述設定約束條件還包括；為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到芯片的原始輸出或掃描單元的偽輸出，設置所述路徑上的組合邏輯的旁路輸入取非控制值。14、根據(jù)權利要求13所述的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，所述設定約束條件還包括為了使所述非控制值在診斷向量移入過程中不被故障掃描單元污染，設置所述非控制值的相鄰掃描單元為相應保護值。15、根據(jù)權利要求IO所述的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，所述設定約束條件包括為了使掃描單元的邏輯狀態(tài)傳輸?shù)降膫屋敵鰭呙鑶卧谝瞥鲞^程中不被污染，設置該偽輸出掃描單元的相鄰掃面單元為相應保護值。16、根據(jù)權利要求10所述的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，所述約束條件設定單元包括按照設定的約束條件構建的一個約束電路。17、根據(jù)權利要求16所述的掃描鏈診斷向量生成裝置，其特征是，所述診斷向量生成單元包括在所述約束電路的輸出端連接的固定型故障診斷向量生成部件，使掃描單元的時序故障診斷向量生成轉化為固定型故障的診斷向量生成。18、一種容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，包括如下步驟步驟S21，根據(jù)掃描鏈故障類型生成掃描鏈診斷向量；步驟S22，將掃描鏈診斷向量施加到待測芯片上，輸出失效響應；步驟S23，對所述失效響應進行分析，找出故障掃描單元。19、根據(jù)權利要求18所述的容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，其特征是，所述步驟S23具體包括如下步驟步驟S23a，計算掃描單元的每個診斷向量的權重w;步驟S23b，計算掃描單元在每個診斷向量在移入移出過程中的故障概率LEP;步驟S23c，計算掃描單元的總故障概率WLEP等于該掃描單元的所有診斷向量的權重w和在對應診斷向量移入移出過程中的故障概率LEP之積的累加。20、根據(jù)權利要求18所述的容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，其特征是，還包括步驟S23d，根據(jù)掃描單元的總故障概率WLEP計算掃描單元的可疑得分，得分最高的為故障可疑掃描單元。21、根據(jù)權利要求19所述的容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，其特征是，在步驟S23a中，所述診斷向量的權重<formula>formulaseeoriginaldocumentpage5</formula>其中i為掃描單元的索引號，nunuobs(Ci,j)表示為診斷掃描單元Ci所生成的第j個測試向量所能建立的敏化輸出的個數(shù)。22、根據(jù)權利要求19所述的容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，其特征是，在步驟S23b中，掃描單元d在第j個向量下的故障概率LEP(Ci，j)=q/p;其中，P為該向量可以敏化的傳播通路的輸出數(shù)目，q為觀測到候選掃描單元的故障邏輯狀態(tài)的傳播通路的輸出數(shù)目。23、根據(jù)權利要求20所述的容忍組合邏輯故障的掃描鏈診斷方法，其特征是，所述步驟S23d中，計算每個掃描單元的可疑得分Suspect的方法如下式<formula>formulaseeoriginaldocumentpage5</formula>(2)叫^22r+1其中r為設定的窗半徑。全文摘要本發(fā)明提供一種掃描鏈診斷向量生成方法和裝置及掃描鏈診斷方法。所述診斷向量生成方法，包括如下步驟確定掃描鏈的故障類型；根據(jù)掃描鏈的故障類型設定約束條件；在約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向量。所述診斷向量生成裝置，包括如下部件故障類型判別單元，用于判別掃描鏈的故障類型；約束條件單元，用于根據(jù)故障類型設定約束條件；診斷向量生成單元，用于在所述約束條件下，使掃描單元的邏輯狀態(tài)通過組合邏輯形成的路徑傳播到的原始輸出或偽輸出數(shù)目最大，生成掃描鏈診斷向量。本發(fā)明能夠有效地容忍組合邏輯中的故障，且不會給電路帶來硬件開銷。文檔編號G01R31/3185GK101285871SQ20081010626公開日2008年10月15日申請日期2008年5月9日優(yōu)先權日2008年5月9日發(fā)明者李曉維,飛王,瑜胡申請人:中國科學院計算技術研究所