專利名稱：具有電子羅盤的便攜式電子裝置及電子羅盤的校正方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種方位指示裝置，尤其是涉及一種方位指示裝置的校正裝 置以及相關(guān)方法。
背景技術(shù)：
隨著集成電路以及機(jī)電整合技術(shù)的日新月異，具有導(dǎo)航與定位功能的電
子產(chǎn)品也越來越多樣化，其中電子羅盤在車用導(dǎo)航、飛航、船只航行以及個(gè)
人手持式裝置的應(yīng)用領(lǐng)域中，提供了相當(dāng)于傳統(tǒng)羅盤的能力。而作為電子羅 盤其中一個(gè)類型的磁感式電子羅盤則通過提供地磁北向與目標(biāo)方向的角度
變化所代表的方位角數(shù)據(jù)，以作為方向?qū)б闹饕袦y(cè)數(shù)據(jù)。通常磁感式電
子羅盤包含一個(gè)或兩個(gè)以上的磁力計(jì)---種可以檢測(cè)》茲場(chǎng)的裝置或具有
一或多個(gè)方向磁場(chǎng)的磁性元件，而磁感式電子羅盤便利用磁力計(jì)檢測(cè)電子羅 盤周圍的地3求,茲場(chǎng)以決定電子羅盤的導(dǎo)向。
上述磁感式電子羅盤容易受到周圍的合成磁場(chǎng)(包含地球磁場(chǎng)以及其它 外在磁場(chǎng))的干擾而影響精度，因此為了確保磁感式電子羅盤檢測(cè)地球磁場(chǎng) 的精度，通常需要針對(duì)電子羅盤進(jìn)行校正，以排除其它外在磁場(chǎng)對(duì)電子羅盤 的干擾。 一般而言，當(dāng)電子羅盤在使用中遭受周圍磁場(chǎng)的干擾(如電子羅盤 位于汽車內(nèi)、高壓電塔、電子設(shè)備、如揚(yáng)聲器等具有磁鐵的設(shè)備附近、或具 磁性物體經(jīng)過電子羅盤)時(shí)，這些相對(duì)于地磁強(qiáng)度大上好幾倍的異常磁場(chǎng)常
會(huì)造成電子羅盤檢測(cè)訊號(hào)溢位(overflow)的情況，此時(shí)電子羅盤會(huì)通過加 大檢測(cè)范圍，以取得較佳的地磁訊號(hào)，但也因此導(dǎo)致電子羅盤的精度下降， 當(dāng)外在磁場(chǎng)消失時(shí)，電子羅盤在恢復(fù)檢測(cè)范圍(縮小檢測(cè)范圍)以獲得具有 較佳精度的數(shù)值前需先進(jìn)行校正的操作，且校正的過程中電子羅盤會(huì)處于無 法使用的狀態(tài)。
由于這些異常的周圍磁場(chǎng)通常為暫時(shí)性的，當(dāng)電子羅盤離開具磁場(chǎng)的設(shè) 備達(dá)到一定距離后，這些異常磁場(chǎng)對(duì)電子羅盤的影響將消失，在此情況下， 電子羅盤的校正操作往往顯得多此一舉。在現(xiàn)有技術(shù)中，有通過判斷異常的
4周圍磁場(chǎng)存在的時(shí)間長(zhǎng)度以決定是否啟動(dòng)前述校正操作，當(dāng)異常磁場(chǎng)于一預(yù) 設(shè)時(shí)間后消失時(shí)，電子羅盤則判斷其為暫時(shí)性的干擾，不進(jìn)行校正操作。反 之，則進(jìn)行前述校正操作。然而此種解決方案通常隨著判定時(shí)間長(zhǎng)度的設(shè)定 而有適用場(chǎng)合的限制。此外，對(duì)于目前許多結(jié)合指向、定位等導(dǎo)航功能的便
攜式電子裝置，如個(gè)人凄史字助理(personal digital assistant, PDA )、移 動(dòng)電話、智能型手機(jī)(smart phone )、全球定位系統(tǒng)(global positioning system, GPS)等便攜式裝置，有越來越多如觸碰筆等具磁性配件可插拔地 設(shè)計(jì)在便攜式電子裝置上，以方便使用者隨時(shí)使用。然而，這些磁性配件在 便攜式電子裝置上的插拔操作都會(huì)造成電子羅盤周圍的磁場(chǎng)變化，導(dǎo)致高頻 率的校正操作被執(zhí)行。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種磁性感測(cè)元件的校正方法。該磁性感測(cè)元件用來檢測(cè)一 第一磁場(chǎng)強(qiáng)度。該校正方法包含有依據(jù)一設(shè)定值檢測(cè)該第一磁場(chǎng)強(qiáng)度；當(dāng)檢 測(cè)到一第二磁場(chǎng)強(qiáng)度超過一閾值時(shí)，檢查一第 一感測(cè)器的狀態(tài)是否發(fā)生改 變；以及當(dāng)該第一感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改變時(shí)，依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第一磁場(chǎng) 強(qiáng)度并根據(jù)該磁場(chǎng)強(qiáng)度輸出 一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
本發(fā)明還提供一種便攜式電子裝置，其包含有一殼體、 一磁性感測(cè)元件、 一磁性元件以及一第一感測(cè)器。該磁性感測(cè)元件設(shè)置于該殼體內(nèi)，用來依據(jù) 一設(shè)定值4全測(cè)一第 一石茲場(chǎng)強(qiáng)度。該石茲性元件以可相對(duì)該》茲性感測(cè)元件移動(dòng)的 方式設(shè)置于該殼體內(nèi)，當(dāng)該磁性元件相對(duì)該,茲性感測(cè)元件移動(dòng)時(shí)，該^茲性元 件產(chǎn)生一第二磁場(chǎng)，該磁性元件可選擇性地位于一第一位置。該第一感測(cè)器 設(shè)置于該殼體內(nèi)的該第一位置，當(dāng)該磁性元件位于該第一位置時(shí)，該第一感 測(cè)器具有一第一狀態(tài)，當(dāng)該磁性元件離開該第一位置時(shí)，該第一感測(cè)器具有 一第二狀態(tài)，當(dāng)該第一感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改變時(shí)，該磁性感測(cè)元件依據(jù)該設(shè) 定值檢測(cè)該第 一》茲場(chǎng)并輸出 一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。


圖1為本發(fā)明所披露具有校正感測(cè)器的便攜式電子裝置第一實(shí)施例的 示意圖。
圖2為便攜式電子裝置的電子羅盤進(jìn)行校正判斷的校正方法第一實(shí)施例的流程圖。
圖3為本發(fā)明所披露具有校正感測(cè)器的便攜式電子裝置第二實(shí)施例的 示意圖。
圖4為便攜式電子裝置的電子羅盤進(jìn)行校正判斷的校正方法第二實(shí)施 例的流程圖。
附圖符號(hào)說明
1、 2便攜式電子裝置10、20殼體
11、 21、 22感測(cè)器13、23電子羅盤
14、 24觸控筆15、25磁性部
100--180'步驟
16、 26容納槽
200--280
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明在如個(gè)人數(shù)字助理(personal digital assistant, PDA )、移動(dòng) 電話、智能型手機(jī)(smart phone)或全球定位系統(tǒng)(global positioning system, GPS)等結(jié)合指向、定位等導(dǎo)航功能的便攜式電子裝置中，通過在 裝置中設(shè)置一用來檢測(cè)觸控筆或具磁性配件的感測(cè)器與電子羅盤的狀態(tài)搭 配檢查，以確定異常磁場(chǎng)是否為已知暫時(shí)性的磁場(chǎng)變化，以決定是否進(jìn)行電 子羅盤校正的操作。
請(qǐng)參考圖1,圖1為本發(fā)明所披露具有校正感測(cè)器的便攜式電子裝置1 第一實(shí)施例的示意圖。便攜式電子裝置1中包含有一電子羅盤13,設(shè)置于殼 體10內(nèi)一第二位置II，電子羅盤13可檢測(cè)地^U茲場(chǎng)并輸出方位數(shù)據(jù)以供便 攜式電子裝置l使用。除了電子羅盤13以外，本發(fā)明也可應(yīng)用在任何對(duì)于 磁場(chǎng)變化具高度敏感度的磁性感測(cè)元件。便攜式電子裝置1還包含一具磁性 的觸控筆14 (或具磁性的便攜式電子裝置配件)，容納于殼體10的一容納槽 16內(nèi)，當(dāng)使用者要自容納槽16抽出觸控筆14或?qū)⒂|控筆14插入便攜式電 子裝置1的容納槽16時(shí)，觸控筆14沿著Nl或N2方向相對(duì)殼體10 (同時(shí)相 對(duì)電子羅盤13移動(dòng))移動(dòng)。由于觸控筆14的一端具有磁性部15 (或'便攜式 電子裝置配件于一端或全部具有磁性)，磁性部15會(huì)在周圍產(chǎn)生一局部磁場(chǎng)， 且由于電子羅盤13通常會(huì)在可正常檢測(cè)(即無地磁以外其它異常磁場(chǎng)干擾的情形下)地磁的環(huán)境下依據(jù)一預(yù)設(shè)的工作設(shè)定值進(jìn)行地磁檢測(cè)，當(dāng)觸控筆
14在容納槽16內(nèi)移動(dòng)時(shí)，磁性部15所造成的磁場(chǎng)變化會(huì)對(duì)電子羅盤13造 成干擾，使電子羅盤13發(fā)生檢測(cè)訊號(hào)溢位的情況，而無法輸出正確的方位數(shù)據(jù)。
由于觸控筆14在容納槽16的移動(dòng)屬于暫時(shí)且可預(yù)期的磁場(chǎng)變化，因此 當(dāng)便攜式電子裝置1的一第一位置I(在本實(shí)施例中為當(dāng)觸控筆14完全插入 容納槽16時(shí)，磁性部15所在的位置)設(shè)置一感測(cè)器11，感測(cè)器ll可為機(jī) 械式觸動(dòng)的開關(guān)或電子式的感測(cè)器(如可檢測(cè)磁場(chǎng)變化的霍爾元件)。當(dāng)觸 控筆14的磁性部15位在第一位置I時(shí)，感測(cè)器11具有一第一狀態(tài)(如機(jī) 械開關(guān)中的開啟狀態(tài)或電子式開關(guān)中磁場(chǎng)強(qiáng)度大于一閥值的狀態(tài))，當(dāng)觸控 筆14的》茲性部15離開第一位置I時(shí)，感測(cè)器11具有一第二狀態(tài)(如機(jī)械 開關(guān)中的關(guān)閉狀態(tài)或電子式開關(guān)中磁場(chǎng)強(qiáng)度小于一閥值的狀態(tài))。因此當(dāng)觸 控筆14的磁性元件15移開或移入第一位置I時(shí)，都會(huì)觸動(dòng)感測(cè)器11，使感 測(cè)器ll的狀態(tài)發(fā)生變化(第一狀態(tài)改變至第二狀態(tài)或反之)，而電子羅盤13 即依據(jù)感測(cè)器11的狀態(tài)產(chǎn)生變化來判斷其所檢測(cè)到的異常磁場(chǎng)屬于暫時(shí)且 可預(yù)期的磁場(chǎng)變化，故不進(jìn)行校正操作。待此異常磁場(chǎng)消失(觸控筆14完 全離開殼體1Q或完全插入容納槽16 )后，電子羅盤13再依據(jù)現(xiàn)有預(yù)設(shè)的工 作設(shè)定值進(jìn)行地》茲4全測(cè)并輸出方位數(shù)據(jù)。
請(qǐng)參考圖2,圖2為便攜式電子裝置1的電子羅盤13進(jìn)行校正判斷的 校正方法第一實(shí)施例的流程圖，其步驟如下
步驟100:啟動(dòng)電子羅盤測(cè)量流程；
步驟120:該電子羅盤依據(jù)一預(yù)設(shè)的工作設(shè)定值檢測(cè)地磁^t場(chǎng)，并輸出 方位數(shù)據(jù)；
步驟130:判斷電子羅盤是否檢測(cè)到環(huán)境中具有異常磁場(chǎng)；若是，則執(zhí) 行步驟140，若否，則執(zhí)行步驟180;
步驟140:;險(xiǎn)查感測(cè)器的狀態(tài)，并判斷感測(cè)器的狀態(tài)是否改變；若是， 執(zhí)行步驟150,若否，執(zhí)行步驟160;
步驟150:判定步驟130所檢測(cè)到的異常磁場(chǎng)為便攜式電子裝置中的觸 控筆(或其它具有磁性的配件)在便攜式電子裝置內(nèi)的插拔操作，因此保持 該電子羅盤檢測(cè)地磁磁場(chǎng)的工作設(shè)定值，同時(shí)判斷電子羅盤所檢測(cè)到的周圍磁場(chǎng)是否恢復(fù)正常；若是，則執(zhí)行步驟180;
步驟160:判定為周圍環(huán)境中存在異常的磁性物質(zhì)，電子羅盤啟動(dòng)校正 程序進(jìn)行校正；
步驟170:電子羅盤依據(jù)檢測(cè)到的地磁磁場(chǎng)以及異常磁場(chǎng)的合成磁場(chǎng)修 改其工作設(shè)定值；
步驟180:依據(jù)目前感測(cè)器的狀態(tài)存儲(chǔ)為該感測(cè)器的狀態(tài)參數(shù)。
其中在步驟110中，感測(cè)器11初始狀態(tài)(不論是第一狀態(tài)或第二狀態(tài)) 在檢測(cè)后被存儲(chǔ)為一狀態(tài)參數(shù)，電子羅盤13則在步驟140中檢查感測(cè)器11 的狀態(tài)參數(shù)是否改變以檢查感測(cè)器11的狀態(tài)變化。因此本發(fā)明所披露的校 正方法在步驟130中電子羅盤13先檢測(cè)到異常磁場(chǎng)(實(shí)作上檢測(cè)異常磁場(chǎng) 大于一閾值造成電子羅盤13檢測(cè)訊號(hào)溢位)，接著在步驟140檢查感測(cè)器11 的狀態(tài)參數(shù)是否改變。若感測(cè)器ll狀態(tài)參數(shù)改變，則判斷為觸控筆14在殼 體10內(nèi)的插拔操作，因此保持電子羅盤13的工作設(shè)定值，同時(shí)當(dāng)檢測(cè)到其 周圍磁場(chǎng)恢復(fù)正常(實(shí)作上檢測(cè)異常磁場(chǎng)是否小于該閾值，亦即異常磁場(chǎng)不 至干擾電子羅盤13造成檢測(cè)訊號(hào)溢位的狀況)時(shí)，繼續(xù)執(zhí)行步驟120,即依 據(jù)預(yù)設(shè)的工作設(shè)定值檢測(cè)地;茲磁場(chǎng)，并輸出方位數(shù)據(jù)。
而在步驟150中，電子羅盤13 ;險(xiǎn)測(cè)到的周圍》茲場(chǎng)恢復(fù)正常還可細(xì)分為 兩種狀況觸控筆14完全抽離開便攜式電子裝置1、觸控筆14再回到完全 插入容納槽16使磁性部15位于第一位置I。其中在后者的狀況中，感測(cè)器 11的狀態(tài)再次發(fā)生變化，為了能正確運(yùn)用感測(cè)器11的狀態(tài)參數(shù)以判斷其變 化，因此不論是兩種狀況的哪一種，在步驟180中都依據(jù)目前感測(cè)器11的 狀態(tài)存儲(chǔ)為感測(cè)器11的狀態(tài)參數(shù)。
若電子羅盤13在步驟130先檢測(cè)到異常磁場(chǎng)，接著在步驟140檢查到 感測(cè)器11的狀態(tài)參數(shù)并未發(fā)生改變，則判斷為此異常磁場(chǎng)并非屬于暫時(shí)且 可預(yù)期的^f茲場(chǎng)變化(即觸控筆14在殼體10內(nèi)的插拔^喿作)，因此在步驟160 進(jìn)行電子羅盤13的校正操作，并在步驟170中修改其工作設(shè)定值，接著執(zhí) 行步驟120，此時(shí)電子羅盤13依據(jù)校正后的工作設(shè)定值檢測(cè)地磁磁場(chǎng)，并輸 出方位數(shù)據(jù)。
請(qǐng)參考圖3,圖3為本發(fā)明所披露具有校正感測(cè)器的便攜式電子裝置2 第二實(shí)施例的示意圖。便攜式電子裝置2中包含有一電子羅盤23,設(shè)置于殼 體20內(nèi)一第二位置H,便攜式電子裝置2還包含一觸控筆24,容納于殼體
820內(nèi)的一容納槽26內(nèi)，當(dāng)使用者要自容納槽26抽出觸控筆24或?qū)⒂|控筆 24插入便攜式電子裝置2的容納槽26時(shí)，觸控筆24沿著Nl或N2方向相對(duì) 殼體20 (同時(shí)相對(duì)電子羅盤23移動(dòng))移動(dòng)。
在便攜式電子裝置2的一第一位置I (在本實(shí)施例中為觸控筆24完全 插入容納槽26時(shí)，磁性部25所在的位置)設(shè)置一第一感測(cè)器21，在第二位 置II設(shè)置一第二感測(cè)器22，第一感測(cè)器21以及第二感測(cè)器22可為機(jī)械式 觸動(dòng)的開關(guān)或電子式的感測(cè)器(如可檢測(cè)磁場(chǎng)變化的霍爾元件)。當(dāng)觸控筆 24的^f茲性部25位于第一位置I時(shí)，第一感測(cè)器21具有一第一狀態(tài)，當(dāng)觸控 筆24的磁性部25離開第一位置I時(shí)，第一感測(cè)器21具有一第二狀態(tài)，當(dāng) 觸控筆24的磁性部25位于第二位置II時(shí)，第二感測(cè)器22具有一第三狀態(tài)， 當(dāng)觸控筆24的磁性部25離開第二位置II時(shí)，第二感測(cè)器22具有一第四狀 態(tài)。因此當(dāng)觸控筆24的磁性部25移開或移入第一位置I或第二位置II時(shí)， 都會(huì)觸動(dòng)第一感測(cè)器21或第二感測(cè)器22,使第一感測(cè)器21或第二感測(cè)器 22的狀態(tài)發(fā)生變化，而電子羅盤23即依據(jù)第一感測(cè)器21或第二感測(cè)器22 的狀態(tài)產(chǎn)生變化判斷其所檢測(cè)到的異常磁場(chǎng)屬于暫時(shí)且可預(yù)期的磁場(chǎng)變化， 故不進(jìn)行校正操作。待此異常磁場(chǎng)消失(觸控筆24完全離開殼體20或完全 插入容納槽26 )后，電子羅盤23再依據(jù)現(xiàn)有預(yù)設(shè)的工作設(shè)定值進(jìn)行地;茲?rùn)z
測(cè)并輸出方位數(shù)寺居。
請(qǐng)參考圖4，圖4為便攜式電子裝置2的電子羅盤23進(jìn)行校正判斷的 校正方法第二實(shí)施例的流程圖，其步驟如下
步驟200:啟動(dòng)電子羅盤測(cè)量流程；
步驟210:檢測(cè)第一感測(cè)器以及第二感測(cè)器的狀態(tài)并分別存儲(chǔ)為該第一 感測(cè)器以及第二感測(cè)器的狀態(tài)參數(shù)；
步驟220:該電子羅盤依據(jù)一預(yù)設(shè)的工作設(shè)定值檢測(cè)地磁磁場(chǎng)，并輸出 方位數(shù)據(jù)；
步驟230:判斷電子羅盤是否檢測(cè)到環(huán)境中具有異常磁場(chǎng)；若是，則執(zhí) 行步驟240,若否，則執(zhí)行步驟280;
步驟240:檢查第一感測(cè)器以及第二感測(cè)器的狀態(tài)參數(shù)，并判斷第一感 測(cè)器或第二感測(cè)器的狀態(tài)是否改變；若是，執(zhí)行步驟250,若否，二執(zhí)行步驟 260;
步驟250:判定步驟230所檢測(cè)到的異常磁場(chǎng)為便攜式電子裝置中的觸
9控筆(或其它具有磁性的配件)在便攜式電子裝置內(nèi)的插拔操作，因此保持 該電子羅盤檢測(cè)地磁磁場(chǎng)的工作設(shè)定值，同時(shí)將狀態(tài)改變的感測(cè)器狀態(tài)存儲(chǔ)
為該感測(cè)器的狀態(tài)參數(shù)；
步驟255:檢查第一感測(cè)器以及第二感測(cè)器的狀態(tài)參數(shù)，并判斷第一感 測(cè)器或第二感測(cè)器的狀態(tài)是否改變；若是，則執(zhí)行步驟280;
步驟260:判定為周圍環(huán)境中存在異常的^f茲性物質(zhì)，電子羅盤啟動(dòng)校正 程序進(jìn)行校正；
步驟270:電子羅盤依據(jù)檢測(cè)到的地磁磁場(chǎng)以及異常磁場(chǎng)的合成磁場(chǎng)修 改其工作設(shè)定值；
步驟280:依據(jù)目前第一感測(cè)器以及第二感測(cè)器的狀態(tài)分別存儲(chǔ)為該第 一感測(cè)器以及該第二感測(cè)器的狀態(tài)參數(shù)。
其中在步驟210中，第一感測(cè)器21以及第二感測(cè)器22初始狀態(tài)(不論 是第一狀態(tài)或第二狀態(tài)、第三狀態(tài)或第四狀態(tài))在檢測(cè)后各自被存儲(chǔ)為一狀 態(tài)參數(shù)，電子羅盤23則在步驟240中檢查第一感測(cè)器21或第二感測(cè)器22 的狀態(tài)參數(shù)是否改變以;險(xiǎn)查第一感測(cè)器21或第二感測(cè)器22的狀態(tài)變化。若 第一感測(cè)器21 (此處為觸控筆24自容納槽26開始抽離)或第二感測(cè)器22 (此處為觸控筆24開始插入容納槽26 )狀態(tài)參數(shù)改變，則判斷為觸控筆24 在殼體20內(nèi)的插拔操作，因此保持電子羅盤23的工作設(shè)定值并將發(fā)生狀態(tài) 改變的感測(cè)器的狀態(tài)存儲(chǔ)起來(步驟250 )。接著在步驟255判斷是否有后續(xù) 的感測(cè)器狀態(tài)變化以判定觸控筆24所產(chǎn)生的異常磁場(chǎng)是否消失。
舉例而言，若觸控筆24的磁性部25自第一位置I離開沿N2方向抽離 容納槽26，此時(shí)第一感測(cè)器21發(fā)生狀態(tài)變化(步驟240 )，且變化后的狀態(tài) 被存儲(chǔ)為狀態(tài)參數(shù)(步驟250 ),磁性部25繼續(xù)向N2方向移動(dòng)到第二位置 II并離開時(shí)，第二感測(cè)器22的狀態(tài)發(fā)生變化(步驟255,實(shí)際上其變化為 第三狀態(tài)—第四狀態(tài)—第三狀態(tài))，因此電子羅盤23判定觸控筆24已完全 離開便攜式電子裝置2 ，其所造成的異常磁場(chǎng)已消失，因此繼續(xù)執(zhí)行步驟220， 即依據(jù)預(yù)設(shè)的工作設(shè)定值檢測(cè)地磁磁場(chǎng)，并輸出方位數(shù)據(jù)。當(dāng)觸控筆24自 第二位置II插入容納槽26時(shí)，第二感測(cè)器22發(fā)生狀態(tài)變化(步驟240 ), 且變化后的狀態(tài)被存儲(chǔ)為狀態(tài)參數(shù)(步驟250,實(shí)際上其變化為第三狀態(tài)— 第四狀態(tài)—第三狀態(tài))，磁性部25繼續(xù)向Nl方向移動(dòng)到第一位置I時(shí)，第 一感測(cè)器21的狀態(tài)發(fā)生變化(步驟255 ),因此電子羅盤23判定觸控毫24已完全插入便攜式電子裝置2,其所造成的異常磁場(chǎng)已消失，因此繼續(xù)執(zhí)行
步驟220，即依據(jù)預(yù)設(shè)的工作設(shè)定值檢測(cè)地;茲>磁場(chǎng)，并輸出方位數(shù)據(jù)。此外， 當(dāng)；茲性部25自第一位置I沿N2方向離開(步驟240 ),但在尚未到達(dá)第二位 置II前即折返回至第一位置I (步驟255 ),或當(dāng)磁性部25自第二位置II 插入容納槽26 (步驟240 )，但在尚未到達(dá)第一位置I前即向N2方向再度抽 離至第二位置II (步驟255 )時(shí)，為同一感測(cè)器(第一感測(cè)器21或第二感 測(cè)器22 )的狀態(tài)先后發(fā)生二次變化，其結(jié)果也適用本發(fā)明第二實(shí)施例的校正 方法。而為了能正確運(yùn)用第一感測(cè)器21以及第二感測(cè)器22的狀態(tài)參數(shù)以判 斷其變化，因此不論是上述各種狀況的哪一種，在步驟28G中都依據(jù)目前第 一感測(cè)器21以及第二感測(cè)器22的狀態(tài)分別存儲(chǔ)為第一感測(cè)器21以及第二 感測(cè)器22的狀態(tài)參數(shù)。
此外，對(duì)于第一實(shí)施例中，由于電子羅盤13本身的磁性檢測(cè)特性，電 子羅盤13也同時(shí)具有如第二實(shí)施例中第二感測(cè)器22的功能。而第二實(shí)施例 通過另外設(shè)置一第二感測(cè)器22以獨(dú)立進(jìn)行感測(cè)操作還可減輕電子羅盤23的 運(yùn)算負(fù)擔(dān)以及增加控制的精確度。
若電子羅盤23在步驟230先檢測(cè)到異常磁場(chǎng)，接著在步驟240檢查到 第一感測(cè)器21或第二感測(cè)器22的狀態(tài)參數(shù)都未發(fā)生改變，則判斷為此異常 磁場(chǎng)并非屬于暫時(shí)且可預(yù)期的磁場(chǎng)變化(即觸控筆24在殼體20內(nèi)的插拔操 作)，因此在步驟260進(jìn)行電子羅盤23的校正操作，并在步驟27Q中修改其 工作設(shè)定值，接著執(zhí)行步驟220，此時(shí)電子羅盤23依據(jù)校正后的工作設(shè)定值 才企測(cè)地》茲》茲場(chǎng)，并輸出方位數(shù)據(jù)。
本發(fā)明所披露應(yīng)用于電子羅盤等方位指示裝置的校正裝置以及校正方 法，通過一個(gè)或一個(gè)以上的機(jī)械式或電子式的感測(cè)器與電子羅盤的狀態(tài)相互 搭配檢查，可有效判斷如觸控筆等暫時(shí)性磁場(chǎng)干擾以減少高頻率的羅盤校正 工作。當(dāng)電子羅盤檢測(cè)到異常磁場(chǎng)時(shí)，檢查感測(cè)器的狀態(tài)是否發(fā)生改變，若 感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生變化，則判定該異常磁場(chǎng)為觸控筆或裝置內(nèi)的磁性配件移 動(dòng)所造成的暫時(shí)磁場(chǎng)，電子羅盤不進(jìn)行校正，并在異常磁場(chǎng)消失后，繼續(xù)依 據(jù)原先工作設(shè)定值進(jìn)行磁場(chǎng)檢測(cè)，以減少校正操作頻率。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變 化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1. 一種磁性感測(cè)元件的校正方法，該磁性感測(cè)元件用來檢測(cè)一第一磁場(chǎng)強(qiáng)度，該校正方法包含有依據(jù)一設(shè)定值檢測(cè)該第一磁場(chǎng)強(qiáng)度；當(dāng)檢測(cè)到一第二磁場(chǎng)強(qiáng)度超過一閾值時(shí)，檢查一第一感測(cè)器的狀態(tài)是否發(fā)生改變；以及當(dāng)該第一感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改變時(shí)，依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第一磁場(chǎng)強(qiáng)度并根據(jù)該磁場(chǎng)強(qiáng)度輸出一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
2. 如權(quán)利要求1所述的校正方法，其中在當(dāng)該第一感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改 變時(shí)，依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第 一磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)的步驟中還包 含檢查該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度是否低于該閾值，當(dāng)該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度低于該閾值時(shí)， 依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第 一磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
3. 如權(quán)利要求1所述的校正方法，還包含當(dāng)檢測(cè)到該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度超 過該閾值且該第 一感測(cè)器的狀態(tài)未發(fā)生改變時(shí)，對(duì)該磁性感測(cè)元件進(jìn)行校 正。
4. 如權(quán)利要求1所述的校正方法，其中依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第一磁場(chǎng)強(qiáng) 度并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)檢測(cè)地球磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出方位數(shù)據(jù)。
5. 如權(quán)利要求1所述的校正方法，還包含當(dāng)檢測(cè)到該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度超過該閾值時(shí)，檢查一第二感測(cè)器的狀態(tài)是否 發(fā)生改變；以及當(dāng)該第二感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改變時(shí)，依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第 一磁場(chǎng)強(qiáng)度 并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
6. 如權(quán)利要求5所述的校正方法，其中在當(dāng)該第二感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改 變時(shí)，依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第一磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)的步驟中包含 檢查該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度且當(dāng)該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度低于該閾值時(shí)，依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè) 該第 一磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
7. —種便攜式電子裝置，其包含有一殼體；一;茲性感測(cè)元件，設(shè)置于該殼體內(nèi)，用來依據(jù)一設(shè)定值檢測(cè)一第一》茲場(chǎng) 強(qiáng)度；一磁性元件，以可相對(duì)該磁性感測(cè)元件移動(dòng)的方式設(shè)置于該殼體內(nèi)，當(dāng) 該磁性元件相對(duì)該磁性感測(cè)元件移動(dòng)時(shí)，該磁性元件產(chǎn)生一第二磁場(chǎng)，該磁性元件可選擇性地位于一第一位置；以及一第一感測(cè)器，設(shè)置于該殼體內(nèi)的該第一位置，當(dāng)該磁性元件位于該第 一位置時(shí)，該第一感測(cè)器具有一第一狀態(tài)，當(dāng)該磁性元件離開該第一位置時(shí)， 該第一感測(cè)器具有一第二狀態(tài)，當(dāng)該第一感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改變時(shí)，該磁性 感測(cè)元件依據(jù)該設(shè)定值一企測(cè)該第 一磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出 一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
8. 如權(quán)利要求7所述的校正裝置，其中該磁性感測(cè)元件用來當(dāng)該第一感 測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改變時(shí)，檢查該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度且當(dāng)該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度低于一閾 值時(shí)，依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè)該第 一磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
9. 如權(quán)利要求7所述的校正裝置，其中該磁性感測(cè)元件還用來當(dāng)檢測(cè)到 該第二磁場(chǎng)強(qiáng)度超過一 閾值且該第 一感測(cè)器的狀態(tài)未發(fā)生改變時(shí)進(jìn)行校正。
10. 如權(quán)利要求7所述的校正裝置，還包含一第二感測(cè)器，設(shè)置于該殼 體內(nèi)的一第二位置，當(dāng)該磁性元件位于該第二位置時(shí)，該第二感測(cè)器具有一 第三狀態(tài)，當(dāng)該磁性元件離開該第二位置時(shí)，該第二感測(cè)器具有一第四狀態(tài)， 當(dāng)該第二感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生改變時(shí)，該磁性感測(cè)元件用來依據(jù)該設(shè)定值檢測(cè) 該第 一磁場(chǎng)強(qiáng)度并輸出該對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明關(guān)于具有電子羅盤的便攜式電子裝置及電子羅盤的校正方法。通過一個(gè)或一個(gè)以上的機(jī)械式或電子式的感測(cè)器與電子羅盤的狀態(tài)相互搭配檢查，可有效判斷如觸控筆等暫時(shí)性磁場(chǎng)干擾以減少高頻率的羅盤校正工作。當(dāng)電子羅盤檢測(cè)到異常磁場(chǎng)時(shí)，檢查感測(cè)器的狀態(tài)是否發(fā)生改變，若感測(cè)器的狀態(tài)發(fā)生變化，則判定該異常磁場(chǎng)為觸控筆或裝置內(nèi)的磁性配件移動(dòng)所造成的暫時(shí)磁場(chǎng)，電子羅盤不進(jìn)行校正，并在異常磁場(chǎng)消失后，繼續(xù)依據(jù)原先工作設(shè)定值進(jìn)行磁場(chǎng)檢測(cè)，以減少校正操作頻率。
文檔編號(hào)G01C17/00GK101487705SQ200810002198
公開日2009年7月22日 申請(qǐng)日期2008年1月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月18日
發(fā)明者賴玉鵬, 陳贊元 申請(qǐng)人:宏達(dá)國(guó)際電子股份有限公司