專利名稱:信號(hào)分析器以及用于信號(hào)分析的方法
信號(hào)分析器以及用于信號(hào)分析的方法
背景
本發(fā)明的實(shí)施例涉及用于信號(hào)分析器的掩模設(shè)置,更具體來(lái)說(shuō),涉及 一種表征自動(dòng)掩模設(shè)置的信號(hào)分析器以及用于實(shí)現(xiàn)這些功能的方法。
比如用于移動(dòng)電話的無(wú)線通信系統(tǒng)之類的系統(tǒng)需要進(jìn)行測(cè)試以便確 認(rèn)所使用的信號(hào)有沒(méi)有錯(cuò)誤??梢允褂眯盘?hào)分析器來(lái)測(cè)量這種待測(cè)信號(hào)
(SUT)。所述信號(hào)分析器把所述SUT轉(zhuǎn)換成時(shí)域的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù),并且隨后 產(chǎn)生作為頻域的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的頻譜數(shù)據(jù)??梢岳每焖俑道锶~變換(FFT) 或者類似的計(jì)算計(jì)算來(lái)獲得所述頻鐠數(shù)據(jù)。把所獲得的數(shù)據(jù)作為波形或 數(shù)字值顯示在所述信號(hào)分析器的顯示屏上。所述信號(hào)分析器不僅能夠提 供所述SUT的頻語(yǔ)數(shù)據(jù),而且還提供對(duì)應(yīng)于所述頻i普數(shù)據(jù)的時(shí)域數(shù)據(jù), 因此其可以通過(guò)從頻域和時(shí)域兩個(gè)角度進(jìn)行數(shù)字計(jì)算而提供各種信號(hào) 分析。例如,美國(guó)專利6, 377, 61 7公開(kāi)了一種產(chǎn)生頻域和時(shí)域數(shù)據(jù)并且 同時(shí)對(duì)其進(jìn)行彼此相關(guān)的技術(shù)。
圖l (現(xiàn)有技術(shù))是信號(hào)分析器10的方框圖。所述信號(hào)分析器10除 了
圖1中示出的各塊之外還具有等效于PC的功能和硬件,但是圖中并 沒(méi)有示出。所述信號(hào)分析器采用了典型的PC的通用CPU,其通過(guò)具有鍵 盤和鼠標(biāo)的圖形用戶接口提供各種設(shè)置,并且可以把大量數(shù)據(jù)和程序存 儲(chǔ)在硬盤驅(qū)動(dòng)器(HDD)中。
輸入衰減器12把所述SUT調(diào)節(jié)到適當(dāng)電平,并且將其提供到模擬下 轉(zhuǎn)換器20。所述下轉(zhuǎn)換器20具有混頻器14、本地振蕩器16以及帶通 濾波器18,并且其對(duì)輸入信號(hào)的頻率進(jìn)行下轉(zhuǎn)換,從而利用模擬處理產(chǎn) 生中頻(IF)信號(hào)。模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC) 22把所述模擬IF信號(hào)轉(zhuǎn) 換成數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)(時(shí)域數(shù)據(jù))。存儲(chǔ)器24存儲(chǔ)所述IF信號(hào)的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。 數(shù)字信號(hào)處理器(DSP) 26從所述存儲(chǔ)器24中讀出所述IF信號(hào)數(shù)據(jù)并 且實(shí)施數(shù)字下轉(zhuǎn)換和快速傅里葉變換(FFT),以便產(chǎn)生頻域數(shù)據(jù)的頻 譜數(shù)據(jù)。所述頻譜數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器24中,并且隨后由顯示器 30將其顯示為波形或數(shù)字值。根據(jù)存儲(chǔ)在所述HDD中的程序,所述DSP 26可以被用于其他各種計(jì)算。觸發(fā)檢測(cè)電路28接收來(lái)自所述ADC 22的時(shí)域數(shù)據(jù)以及來(lái)自所述DSP 26的頻域數(shù)據(jù),以便識(shí)別出滿足用戶設(shè)置 的觸發(fā)條件的數(shù)據(jù),并且控制所述存儲(chǔ)器24以把所述用戶期望的時(shí)域 數(shù)據(jù)和/或頻譜數(shù)據(jù)保持在所述存儲(chǔ)器24中。
所述存儲(chǔ)器24可以是RAM,其能夠提供比所述HDD更快的數(shù)據(jù)讀取和 寫入,因此其適于臨時(shí)保存快速產(chǎn)生的時(shí)域數(shù)據(jù)和/或頻譜數(shù)據(jù)。HDD具 有大的容量,但是數(shù)據(jù)讀取/寫入慢,因此其很難連續(xù)記錄所述快速的 時(shí)域數(shù)據(jù)和/或頻譜數(shù)據(jù)。因此輯供一個(gè)觸發(fā)條件,滿足所述觸發(fā)條件 的數(shù)據(jù)被臨時(shí)存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器24中,隨后僅僅把必要的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在 所述HDD中。
利用所述觸發(fā)檢測(cè)電路28所控制的各種觸發(fā)條件設(shè)置是已知的。利 用時(shí)域數(shù)據(jù)的觸發(fā)條件設(shè)置類似于數(shù)字示波器的那些設(shè)置。在傳統(tǒng)的觸 發(fā)設(shè)置中設(shè)置給定的閾值,在觸發(fā)點(diǎn)附近的SUT的時(shí)域數(shù)據(jù)或者超出所 述閾值的SUT部分被存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器中,只要所述存儲(chǔ)器容量接受以將其 顯示為波形。除了傳統(tǒng)的觸發(fā)條件設(shè)置之外,還廣泛使用另一種觸發(fā)條 件設(shè)置,其中設(shè)置掩模以便將其與所顯示的波形進(jìn)行比較,從而確定所 述波形是否進(jìn)入所述掩模。關(guān)于適當(dāng)?shù)难谀TO(shè)置,美國(guó)專利6,728,648 (對(duì)應(yīng)于日本專利3, 670, 944 )公開(kāi)了它基于傳統(tǒng)的觸發(fā)條件顯示波形, 并且隨后作為普通波形自動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試掩模位置以不接觸所述掩模。
對(duì)于頻語(yǔ)數(shù)據(jù)使用掩模的觸發(fā)條件設(shè)置也是已知的。例如,美國(guó)專利 公開(kāi)2003/0085925 (對(duì)應(yīng)于日本專利公開(kāi)2003-194855 )公開(kāi)了把頻語(yǔ) 數(shù)據(jù)顯示為波形,并且設(shè)置及編輯用于所述波形的掩模。
一般來(lái)說(shuō),很難捕獲發(fā)生頻度較低的間歇性現(xiàn)象。但是如果利用信號(hào) 分析器來(lái)測(cè)量待測(cè)信號(hào)(SUT),并且如果可以大致預(yù)測(cè)出所述間歇性 現(xiàn)象何時(shí)發(fā)生以及在什么頻率附近發(fā)生,則可以通過(guò)在采集所述SUT數(shù) 據(jù)之前基于所述預(yù)測(cè)設(shè)置頻率掩模觸發(fā)而有效地把所述間歇性現(xiàn)象捕 獲為頻域數(shù)據(jù)。相反,如果不能做出所述預(yù)測(cè),那么所述捕獲效率就會(huì) 大大降低。
在難以預(yù)測(cè)如何設(shè)置掩模的情況下或者甚至在可以進(jìn)行所迷預(yù)測(cè)的 情況下,如果用戶能夠很容易地利用掩模來(lái)設(shè)置觸發(fā)條件,則可以很容 易地把所期望的部分(比如所述SUT中的缺陷)捕獲在信號(hào)分析器的存 儲(chǔ)器內(nèi)。
因此,期望使得信號(hào)分析器自動(dòng)設(shè)置掩模,以便很容易地捕獲SUT中的所期望的時(shí)域數(shù)據(jù)或頻域數(shù)據(jù)。 概要
本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種信號(hào)分析器,其從待測(cè)信號(hào)中導(dǎo)出時(shí)域數(shù)據(jù) 和/或頻域數(shù)據(jù)以便將其作為波形數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,從而分析所述待測(cè)信
號(hào)。所述信號(hào)分析器的特征在于以下功能重復(fù)存儲(chǔ)關(guān)于所述待測(cè)信號(hào) 的波形數(shù)據(jù)的功能;檢測(cè)所述波形數(shù)據(jù)的峰值的功能;通過(guò)評(píng)估所述波 形數(shù)據(jù)在比對(duì)應(yīng)的峰值低預(yù)定電平的掩模參考電平處的波形寬度來(lái)檢 測(cè)掩模參考寬度的功能;以及利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度在 所述對(duì)應(yīng)的峰值處設(shè)置掩模的功能。這樣允許所述信號(hào)分析器根據(jù)所述 待測(cè)信號(hào)的特性自動(dòng)設(shè)置掩模,從而使得用戶可以很容易地獲得包括所 述待測(cè)信號(hào)中的特征部分的時(shí)域數(shù)據(jù)和/或頻域數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的信號(hào)分析器的特征還在于設(shè)置峰值頻率條件 的功能以及僅僅設(shè)置對(duì)應(yīng)于滿足所述峰值頻率條件的峰值的掩模的功 能。如果所述峰值頻率條件被設(shè)置到低頻率,則可以有效地僅僅收集所 述待測(cè)信號(hào)中的很少發(fā)生的峰值部分的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的另 一個(gè)實(shí)施例是一種使得信號(hào)分析器執(zhí)行下面描述的功能 的方法。所述功能具體來(lái)說(shuō)是以下功能重復(fù)存儲(chǔ)關(guān)于所述待測(cè)信號(hào)的 波形數(shù)據(jù)的功能;檢測(cè)所述波形數(shù)據(jù)的峰值的功能;通過(guò)評(píng)估所述波形 數(shù)據(jù)在比對(duì)應(yīng)的峰值低預(yù)定電平的掩模參考電平處的波形寬度來(lái)檢測(cè) 掩模參考寬度的功能;以及利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度在所 述對(duì)應(yīng)的峰值處設(shè)置掩模的功能。除了以上功能之外,本發(fā)明的實(shí)施例 還使得所述信號(hào)分析器執(zhí)行設(shè)置峰值頻率條件的功能以及僅僅設(shè)置對(duì) 應(yīng)于滿足所述峰值頻率條件的峰值的掩模的功能。
在所述掩模設(shè)置功能中,可以利用掩模參考電平和掩模參考寬度直接 設(shè)置所述掩模。但是也可以利用關(guān)于所述掩模參考電平具有一定偏移量 的電平以及關(guān)于所述掩模參考寬度具有給定調(diào)節(jié)(例如-10%)的寬度來(lái) 設(shè)置所述掩模。
在本發(fā)明的實(shí)施例中,所述信號(hào)分析器具有用于重復(fù)存儲(chǔ)關(guān)于所述待 測(cè)信號(hào)的波形數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器。峰值檢測(cè)器檢測(cè)所述波形數(shù)據(jù)的峰值。掩
模寬度評(píng)估器通過(guò)評(píng)估所述波形數(shù)據(jù)在比對(duì)應(yīng)的峰值低預(yù)定電平的掩 模參考電平處的波形寬度來(lái)確定所述參考寬度;掩模發(fā)生器利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度在所述對(duì)應(yīng)的峰值處設(shè)置掩模。可以用諸如
ASIC或FPGA之類的硬件來(lái)實(shí)現(xiàn)所述峰值檢測(cè)器、掩模寬度評(píng)估器以及 掩模發(fā)生器??商鎿Q地,可以利用軟件以及諸如PC之類的通用處理器 來(lái)實(shí)現(xiàn)上述功能。
附圖簡(jiǎn)述
圖1 (現(xiàn)有技術(shù))是信號(hào)分析器的例子的功能方框圖。 圖2是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的功能處理步驟的流程圖。 圖3示出了把頻域數(shù)據(jù)(頻譜數(shù)據(jù))顯示為波形的例子,其中把深度 方向作為時(shí)間軸。
圖4示出了把圖3的波形數(shù)據(jù)顯示為其中示出了具有強(qiáng)度或顏色信息
的頻率信,t、的波形的例子。
圖5示出了圖4中獲得的波形數(shù)據(jù)的最大值的包絡(luò)波形。
圖6示出了顯示具有根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例設(shè)置的掩模的波形的例子。
圖7示出了顯示具有根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例設(shè)置的掩模的波形的
另一個(gè)例子。
圖8示出了通過(guò)調(diào)節(jié)掩模參考寬度和掩模參考電平設(shè)置掩模的例子。 詳細(xì)描述
本發(fā)明的實(shí)施例使用與圖1(現(xiàn)有技術(shù))中所示的相同的基本硬件。 當(dāng)前典型的信號(hào)分析器采用類似于PC的硬件來(lái)控制整個(gè)系統(tǒng),并且能 夠運(yùn)行與PC相同的操作系統(tǒng)。因此,可以利用PC來(lái)開(kāi)發(fā)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的
實(shí)施例的程序并且隨后將其安裝到所述信號(hào)分析器中。
圖2是示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的處理步驟的流程圖。在步驟42 中,重復(fù)存儲(chǔ)波形數(shù)據(jù)。圖3是把頻域數(shù)據(jù)(頻語(yǔ)數(shù)據(jù))顯示為波形數(shù) 據(jù)的例子,其中把深度方向作為時(shí)間軸。由701-711所表示的波形的 頻度最高,721 - 723的波形的頻度在下一個(gè)水平上,波形741的頻度較 低,這是因?yàn)槠湓谶@里僅僅出現(xiàn)一次。
圖4是顯示具有所述波形數(shù)據(jù)的頻率信息的波形的例子,其中所述波 形數(shù)據(jù)具有強(qiáng)度(或顏色)信息。波形70對(duì)應(yīng)于圖3中的波形701-711。 波形72和74分別對(duì)應(yīng)于圖3中的波形72 1 - 723和波形741。它們-故顯 示在所述顯示器30的顯示屏上。對(duì)于每一個(gè)間隔(幀)產(chǎn)生所述頻域
7數(shù)據(jù),并且將其重復(fù)存儲(chǔ)到所述存儲(chǔ)器24中。美國(guó)專利公開(kāi)
2005/0057253 (對(duì)應(yīng)于日本專利公開(kāi)No. 2005-7741 3 )公開(kāi)了一種用于 產(chǎn)生把所述波形數(shù)據(jù)的頻率信息變換成強(qiáng)度或顏色信息的位圖數(shù)據(jù)的 技術(shù)。如下所述,可以在產(chǎn)生所述位圖數(shù)據(jù)的同時(shí)存儲(chǔ)多個(gè)幀的波形數(shù) 據(jù),并且將其用于檢測(cè)所述各幀的波形的峰值。
圖3和4用于描述如何存儲(chǔ)頻域數(shù)據(jù)的波形數(shù)據(jù),但是類似地也可以 把所述時(shí)域數(shù)據(jù)重復(fù)存儲(chǔ)為波形數(shù)據(jù),其中沒(méi)有"幀"的概念,而是公 知地利用給定的觸發(fā)條件(下文中稱作第一觸發(fā)條件)來(lái)捕獲重復(fù)波形。 隨后,基于滿足所述第一觸發(fā)條件的SUT的觸發(fā)參考點(diǎn)重復(fù)存儲(chǔ)所述波 形數(shù)據(jù)(時(shí)域數(shù)據(jù))。下面主要描述所述頻域數(shù)據(jù)的例子,如果在時(shí)域 數(shù)據(jù)的情況下有差異的話,則將每次描述它們。
圖5示出了圖4中的波形數(shù)據(jù)的最大值的包絡(luò)波形,并且其中例如有 6個(gè)峰值Pl-P6。在本發(fā)明的實(shí)施例中,設(shè)置掩模參考電平(如在圖2 的步驟44中所提供的那樣),并且將其應(yīng)用于所述最大值包絡(luò)波形的 每一個(gè)峰值。所述掩才莫參考電平例如可以是-10dB,該值可以由用戶每 次設(shè)置,或者可以是先前被存儲(chǔ)在所述信號(hào)分析器中的默認(rèn)值??商鎿Q 地可以把所述掩模參考電平設(shè)置在較低電平處,比如-10%或-5%。如果 所述波形數(shù)據(jù)是時(shí)域數(shù)據(jù),其例如可以是-0. 8伏特。通常把相同的掩沖臭 參考電平應(yīng)用于所有所述峰值,但是也可以把不同的電平應(yīng)用于對(duì)應(yīng)的 峰值。
隨后,用戶可以在必要時(shí)為所述信號(hào)分析器設(shè)置峰值頻率條件,正如 圖2的步驟46和48所提供的那樣。所述峰值頻率條件設(shè)置是通過(guò)利用 所述顯示器30的屏幕上的菜單和所述鼠標(biāo)的操作來(lái)進(jìn)行的。圖6示出 了其中沒(méi)有所述峰值頻率條件的情況。圖7示出了把所述峰值頻率條件 設(shè)置到6%的情況。所述峰值頻率條件菜單70可以是下拉菜單,其允許 通過(guò)從所出現(xiàn)的各數(shù)字值當(dāng)中選擇一個(gè)來(lái)設(shè)置所述峰值頻率條件的值, 其中所述選擇是通過(guò)利用鼠標(biāo)光標(biāo)74點(diǎn)擊指向下方的三角形72而從進(jìn) 行的。
所述信號(hào)分析器利用公知的方法檢測(cè)具有峰值的頻率和電平(對(duì)應(yīng)于 圖2的步驟50),其中如果所述波形數(shù)據(jù)是時(shí)域數(shù)據(jù),則替代所述頻率 檢測(cè)與所述觸發(fā)參考點(diǎn)的時(shí)間距離。如圖2的步驟52所提供的那樣, 所述信號(hào)分析器計(jì)算所述峰值電平以下的所述電平處的波形寬度以作為與滿足所述峰值頻率條件的峰值相關(guān)的掩模參考寬度,并且在圖2的 步驟52中利用所述掩模參考寬度來(lái)設(shè)置掩模。在圖6的情況下,由于
沒(méi)有峰值頻率條件設(shè)置,因此為所有的所述峰值P1-P6都設(shè)置掩模。在 圖7中,僅僅為所述峰值P6設(shè)置掩模M6,這是因?yàn)槠錆M足6%的峰值頻 率條件。
如圖6和7中所示,可以利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度直接 設(shè)置所述掩模。但是也可以利用關(guān)于所述掩模參考電平具有一定偏移量 的電平以及關(guān)于所述掩模參考寬度具有給定調(diào)節(jié)(例如+10%)的寬度來(lái) 設(shè)置所述掩模。圖8的掩模A是具有與所述掩模參考寬度相同的掩模寬 度但是具有關(guān)于所述掩模參考電平經(jīng)過(guò)調(diào)節(jié)的底部電平的例子。掩模B 是所述掩模寬度和底部電平都經(jīng)過(guò)調(diào)節(jié)的例子??梢杂捎脩魹樗鲂盘?hào) 分析器設(shè)置這些調(diào)節(jié)值,或者所述信號(hào)分析器可以重新使用先前的設(shè)置 值。
如圖6和7中所示,可以把所述峰值信息(峰值頻率和電平)以及掩 模信息(頻率寬度以及掩模的開(kāi)/關(guān))顯示為表(步驟56)。如在圖2 中所示的步驟5 8和6 0中所提供的那樣,如果所述掩模設(shè)置是不必要的, 則用戶可以通過(guò)使用所述表來(lái)關(guān)閉所述掩模設(shè)置??梢酝ㄟ^(guò)利用所述鼠 標(biāo)光標(biāo)74指定不必要的掩模并且按下所述鍵盤上的預(yù)定按鍵(例如刪 除鍵)來(lái)實(shí)現(xiàn)該處理。另一種方式可以是點(diǎn)擊對(duì)應(yīng)于所述表上的所期望 的峰值的所述掩模的開(kāi)/關(guān)字段以便切換開(kāi)關(guān)。
下面是具有根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例設(shè)置的掩模的所述掩模設(shè)置和SUT測(cè) 量的例子。首先,在適于設(shè)置掩模的時(shí)間(例如一個(gè)小時(shí))內(nèi)接收SUT, 并且隨后自動(dòng)設(shè)置所述掩模。如果用戶想要捕獲可能每一個(gè)小時(shí)發(fā)生一 次左右的現(xiàn)象,則將必須適當(dāng)?shù)卦O(shè)置峰值頻率條件??商鎿Q地,當(dāng)一個(gè) 小時(shí)已經(jīng)過(guò)去并且設(shè)置了所述掩模時(shí),關(guān)閉對(duì)于正常信號(hào)的各峰值所設(shè) 置的所有掩模,以便僅僅剩下假定是由異常峰值所設(shè)置的掩模。
在完成了所述掩模設(shè)置之后,如果還接收所述SUT并且所述SUT的波 形數(shù)據(jù)進(jìn)入其中一個(gè)所述掩模,則滿足觸發(fā)條件,并且把該時(shí)間附近的 波形數(shù)據(jù)保持在所述存儲(chǔ)器24中,并且在必要時(shí)將其傳送到所述HDD。 因此,可以在以后讀取進(jìn)入所述掩模的波形數(shù)據(jù)。如果所述掩模是在頻 域內(nèi)設(shè)置的,所述波形數(shù)據(jù)就是頻域數(shù)據(jù),但是同時(shí)也可以保存對(duì)應(yīng)于 所述頻域數(shù)據(jù)的時(shí)域數(shù)據(jù),以便能夠在以后讀取,這可以通過(guò)使用在上
9面描述的美國(guó)專利6, 377, 617中所公開(kāi)的技術(shù)而實(shí)現(xiàn)。
雖然用戶很難設(shè)置信號(hào)分析器掩模以便捕獲包括待測(cè)信號(hào)中的未知 的間歇性峰值的信號(hào)部分,但是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的信號(hào)分析器可以 如上所述地自動(dòng)設(shè)置掩模以便由其自身適當(dāng)?shù)夭东@這種間歇性峰值。于 是如果隨后接收到包括類似的間歇性峰值的信號(hào),則所述信號(hào)分析器可
要時(shí)讀出所述數(shù)據(jù)。因此,本發(fā)明的實(shí)施例對(duì)于分析在待測(cè)信號(hào)中很少 發(fā)生的異?,F(xiàn)象是非常有效的。
權(quán)利要求
1、一種信號(hào)分析器,其包括用于重復(fù)存儲(chǔ)關(guān)于所述待測(cè)信號(hào)的波形數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器;用于檢測(cè)所述波形數(shù)據(jù)的峰值的峰值檢測(cè)器;用于通過(guò)評(píng)估所述波形數(shù)據(jù)在比對(duì)應(yīng)的峰值低預(yù)定電平的掩模參考電平處的波形寬度來(lái)確定所述參考寬度的掩模寬度評(píng)估器;以及用于利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度在所述對(duì)應(yīng)的峰值處設(shè)置掩模的掩模發(fā)生器。
2、 如權(quán)利要求1所述的信號(hào)分析器,其還包括用于允許設(shè)置峰值頻 率條件的峰值頻率條件控制,其中所述掩模發(fā)生器僅僅設(shè)置對(duì)應(yīng)于滿足 所述峰值頻率條件的峰值的掩模。
3、 如權(quán)利要求1所述的信號(hào)分析器,其還包括掩模選擇接口,其中 選擇性地關(guān)閉所設(shè)置的各掩模當(dāng)中的掩模。
4、 如權(quán)利要求2所述的信號(hào)分析器,其還包括掩模選擇接口,其中 選擇性地關(guān)閉所設(shè)置的各掩模當(dāng)中的掩模。
5、 一種用于為信號(hào)分析器產(chǎn)生觸發(fā)掩模的方法,其包括 重復(fù)存儲(chǔ)關(guān)于所述待測(cè)信號(hào)的波形數(shù)據(jù);檢測(cè)所述波形數(shù)據(jù)的峰值;通過(guò)評(píng)估所述波形數(shù)據(jù)在比對(duì)應(yīng)的峰值低預(yù)定電平的掩模參考電平 處的波形寬度來(lái)檢測(cè)掩模參考寬度;以及利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度在所述對(duì)應(yīng)的峰值處設(shè)置掩模。
6、 如權(quán)利要求5所述的方法,其還包括 設(shè)置峰值頻率條件;以及僅僅設(shè)置對(duì)應(yīng)于滿足所述峰值頻率條件的峰值的掩模。
7、 一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其有形地具體實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)程序以便提 供由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的指令,用于執(zhí)行以下方法步驟重復(fù)存儲(chǔ)關(guān)于所述待測(cè)信號(hào)的波形數(shù)據(jù); 檢測(cè)所述波形數(shù)據(jù)的峰值;通過(guò)評(píng)估所述波形數(shù)據(jù)在比對(duì)應(yīng)的峰值低預(yù)定電平的掩模參考電平 處的波形寬度來(lái)檢測(cè)掩模參考寬度;以及利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度在所述對(duì)應(yīng)的峰值處設(shè)置掩模。
8、如權(quán)利要求5所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其還包括由計(jì)算機(jī)執(zhí) 行的指令,用于執(zhí)行以下另外步驟 設(shè)置峰值頻率條件;以及僅僅設(shè)置對(duì)應(yīng)于滿足所述峰值頻率條件的峰值的掩模。
全文摘要
一種信號(hào)分析器重復(fù)存儲(chǔ)待測(cè)信號(hào)的波形數(shù)據(jù),以便檢測(cè)所述波形數(shù)據(jù)的峰值P1-P6。把處在掩模參考電平(或者比所述對(duì)應(yīng)的峰值低預(yù)定電平)處的所述波形數(shù)據(jù)的波形寬度評(píng)估為掩模參考寬度,并且隨后利用所述掩模參考電平和掩模參考寬度來(lái)設(shè)置對(duì)應(yīng)峰值的掩模。因此可以自動(dòng)設(shè)置所述掩模,從而用戶可以很容易地獲得包括所述待測(cè)信號(hào)中的特征部分的時(shí)域數(shù)據(jù)和/或頻域數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G01R13/02GK101495873SQ20078002772
公開(kāi)日2009年7月29日 申請(qǐng)日期2007年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月21日
發(fā)明者奈良明 申請(qǐng)人:特克特朗尼克國(guó)際銷售有限責(zé)任公司