專利名稱：線圈高頻真空檢測儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測儀，特別是涉及一種用于檢測薄膜電磁線表面缺陷的線圈高頻真空檢測儀。

背景技術(shù)：
對于電機(jī)的電磁線需要檢測其表面的薄膜是否存在缺陷，現(xiàn)在只能用在導(dǎo)體與絕緣之間加電壓的方式，檢測電磁線表面的薄膜是否存在缺陷，該檢測方法雖然可行，但操作性不夠，工作時的電壓較高，安全性不夠，且對被檢測物可能造成損傷。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種便于操作、安全性高且對被檢測物不會造成損傷的線圈高頻真空檢測儀。
為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供的線圈高頻真空檢測儀，一個高頻高壓發(fā)生器電連接有一個測試探頭，所述的測試探頭安裝在絕緣測試手柄上。
采用上述技術(shù)方案的線圈高頻真空檢測儀，通過高頻高壓發(fā)生器(即磁場變壓器)產(chǎn)生高頻率的高電壓，再在被測物體表面上移動測試探頭，若被測表面無缺陷，則高電壓經(jīng)放電后卸載；反之，則在缺陷處形成集中點(diǎn)?？朔瞬僮鞣矫娴睦щy，增強(qiáng)了安全性及可操作性，運(yùn)用高頻真空的放電原理，快速地查找出所檢測物的表面缺陷。
綜上所述，本實(shí)用新型是一種便于操作、安全性高，對被檢測物不會造成損傷且結(jié)構(gòu)簡單、性能可靠、制造方便的線圈高頻真空檢測儀。

附圖是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
參見附圖，一個高頻高壓發(fā)生器3通過一根2米的連接線電連接有一個測試探頭1，測試探頭1安裝在絕緣測試手柄2上，高頻高壓發(fā)生器3的電源線4有2米長。
參見附圖，通過高頻高壓發(fā)生器3(即磁場變壓器)產(chǎn)生高頻率的高電壓，操作者手握絕緣測試手柄2在被測物體表面上移動測試探頭1，若被測表面無缺陷，則高電壓經(jīng)放電后卸載；反之，則在缺陷處形成集中點(diǎn)。
本實(shí)用新型運(yùn)用高頻真空的放電原理，快速地查找出所檢測物的表面缺陷?？捎糜跈z測薄膜電磁線表面缺陷，也可用于玻璃表面缺陷的真空測試。
權(quán)利要求一種線圈高頻真空檢測儀，其特征是一個高頻高壓發(fā)生器(3)電連接有一個測試探頭(1)，所述的測試探頭(1)安裝在絕緣測試手柄(2)上。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種線圈高頻真空檢測儀，一個高頻高壓發(fā)生器(3)電連接有一個測試探頭(1)，所述的測試探頭(1)安裝在絕緣測試手柄(2)上。本實(shí)用新型運(yùn)用高頻真空的放電原理，快速地查找出所檢測物的表面缺陷?？捎糜跈z測薄膜電磁線表面缺陷，也可用于玻璃表面缺陷的真空測試。本實(shí)用新型是一種便于操作、安全性高，對被檢測物不會造成損傷且結(jié)構(gòu)簡單、性能可靠、制造方便的線圈高頻真空檢測儀。
文檔編號G01N27/00GK201130159SQ20072006558
公開日2008年10月8日 申請日期2007年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月27日
發(fā)明者韋在鳳, 楊振中 申請人:株洲南車電機(jī)股份有限公司