專利名稱：熱阻測試設備的校驗裝置的制作方法
技術領域：
熱阻測試設備的校驗裝置技術領域：
本實用新型有關一種校驗裝置，特別是有關一種熱阻測試設備的校驗裝置。背景技術：
目前熱阻測試設備，尤其是電子產(chǎn)品散熱器的熱阻測試設備在業(yè)界尚缺乏 一種精密的裝置用來做設備本身的校驗，只能用一般散熱裝置在各測試機臺之 間做簡單的對比測試，借此來減小各測試單元之間的測試誤差，此方法有如下弊端1、 測試環(huán)境如環(huán)境溫度、濕度，測試機臺通過接觸界面的熱功率等變化引 起測試對比數(shù)據(jù)不夠準確；2、 測試設備沒有做統(tǒng)一的標準的校驗，測試數(shù)據(jù)缺乏通用性，因此測出的 數(shù)據(jù)只能做對比使用，并不能代表真實的熱阻值3、 不同的測試設備可能由于采集數(shù)據(jù)的方法不同，可能使用的結(jié)構(gòu)特征不 同而存在不等的系統(tǒng)誤差。有鑒于此，實有必要開發(fā)一種熱阻測試設備的校驗裝置，利用該熱阻測試 設備的校驗裝置可以實現(xiàn)對熱阻測試設備的校驗，從而解決熱阻測試設備因為 上述原因而導致測試結(jié)果不準確的問題。
發(fā)明內(nèi)容因此，本實用新型的目的在于提供一種熱阻測試設備的校驗裝置，利用該 熱阻測試設備的校驗裝置可以實現(xiàn)對熱阻測試設備的校驗，從而解決由于測試 環(huán)境影響、測試設備沒有做統(tǒng)一的標準的校驗、不同的測試設備采集數(shù)據(jù)的方 法不同而導致測試結(jié)果不準確的問題。為達成上述目的，本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置，該裝置可以用 于對熱阻測試設備的校驗，該裝置包括一導熱底板；一標準熱阻塊，設于上述導熱底板上； 一散熱器，設于上述標準熱阻塊上；一風扇，設于上述散熱器上，該風扇上設有一與之電性連接的受控電源線;一控制器，其上設有一第一探頭連接部、 一第二探頭連接部、 一第三探頭 連接部、 一第三溫度探頭。較佳地，上述標準熱阻塊底面設有一第一探頭容置槽，該第一探頭容置槽 內(nèi)設有一第一溫度探頭，該標準熱阻塊于底面相對一面設有一第二探頭容置槽， 該第二探頭容置槽內(nèi)設有一第二溫度探頭
較佳地，上述第一探頭連接部與第一溫度探頭連接、第二探頭連接部與第 二溫度探頭連接、第三探頭連接部與第三溫度探頭連接。較佳地，上述散熱器底部設有一第一凸沿，上述導熱底板頂部設有一第二 凸沿，而熱阻測試設備的校驗裝置還包括一隔熱材料，而上述標準熱阻塊、第 一凸沿、第二凸沿皆設于該隔熱材料內(nèi)。較佳地，上述隔熱材料為玻璃纖維，上述導熱底板與散熱器皆比標準熱阻 塊的熱阻小。相較于現(xiàn)有技術，本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置，其等效熱阻可 以在一段時間內(nèi)達到一個預先設定的穩(wěn)定值上，以此來校驗熱阻測試設備可以 實現(xiàn)對熱阻測試設備的校驗，從而解決由于測試環(huán)境影響、測試設備沒有做統(tǒng) —的標準的校驗、不同的測試設備采集數(shù)據(jù)的方法不同而導致測試結(jié)果不準確 的問題。為對本發(fā)明的目的、構(gòu)造特征及其功能有進一步的了解，茲配合附圖詳細 說明如下
圖1繪示本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置一較佳實施例的立體組裝 結(jié)構(gòu)圖。圖2繪示本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置一較佳實施例的正面剖示圖。圖3繪示本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置一較佳實施例的立體分解 結(jié)構(gòu)圖。圖4繪示本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置一較佳實施例的局部結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式
請共同參閱圖1、圖2、圖3、圖4，其分別繪示為本實用新型的熱阻測試 設備的校驗裝置一較佳實施例的立體組裝結(jié)構(gòu)圖、本實用新型的熱阻測試設備 的校驗裝置一較佳實施例的正面剖示圖、本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝 置一較佳實施例的立體分解結(jié)構(gòu)圖、本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置一 較佳實施例的局部結(jié)構(gòu)圖。本實用新型的熱阻測試設備的校驗裝置，該裝置可以用于對熱阻測試設備 的校驗，與本較佳實施例，該裝置包括--導熱底板1;一標準熱阻塊2，設于上述導熱底板l上，該標準熱阻塊2底面設有一第一 探頭容置槽22，該第一探頭容置槽22內(nèi)設有一第一溫度探頭5，該標準熱阻塊 2于底面相對一面設有一第二探頭容置槽21，該第二探頭容置槽21內(nèi)設有一第 二溫度探頭6; 一散熱器3，設于上述標準熱阻塊2上一風扇4，設于上述散熱器3上，該風扇4上設有一與之電性連接的受控電 源線40;一控制器8，其上設有一第一探頭連接部81、 一第二探頭連接部82、 ~^第 三探頭連接部83、 一第三溫度探頭7，該第--探頭連接部81與第一溫度探頭5 連接、第二探頭連接部82與第二溫度探頭6連接、第三探頭連接部83與第三 溫度探頭7連接。于本實施例，上述散熱器3底部設有一第一凸沿30，上述導熱底板l頂部 設有一第二凸沿10，而該熱阻測試設備的校驗裝置還包括一隔熱材料9，而上 述標準熱阻塊2、第一凸沿30、第二凸沿10皆設于該隔熱材料內(nèi)。于本實施例，上述隔熱材料9為玻璃纖維，上述散熱器3帶有鰭片，上述 導熱底板1與散熱器3皆比標準熱阻塊的熱阻小。其中，風扇4通過一般方式安裝在散熱器3上，散熱器3在風扇4的作用 下作強制對流散熱；熱阻塊2與導熱底板1、散熱器3之間設有的第一溫度探頭 5，第二溫度探頭6，用于測量標準熱阻塊2兩個面的溫度，風扇4上方設有第 三溫度探頭7，用于測量吹入散熱器3中空氣的原始溫度，也稱為散熱器3的環(huán) 境溫度，控制器8，負責提供風扇4電源，采集三個溫度探頭的信號，其中風扇 4電源是一受控電源，輸出電壓大小受限于控制器8，通過受控電源線40電性 連接風扇4并根據(jù)上述三個溫度探頭采集的信號來控制風扇4，進而控制整個裝 置在一段時間內(nèi)達到一個預先設定的穩(wěn)定值。上述導熱底板1上增加第二凸沿 10以及上述散熱器3上的第一凸沿30，以及上述隔熱材料9的設置，此處隔熱 材料9為玻璃纖維，都是為了整個裝置的精度。且導熱底板1與散熱器3所用 材料皆為純銅，而標準熱阻塊2的材料為純鋁。忽略材料不均勻的修正系數(shù)，設導熱底板1的熱阻為R。，標準熱阻塊2的 橫截面積為A。，長度為X。，導熱系數(shù)為K。，其兩端的溫度差為T。；散熱器3輸 入端與環(huán)境端的溫差為T，散熱器3的熱阻為Ks，校驗裝置總熱阻為Rth，貝廿Rs=(T* Xo)〃 K0* A0* To);Rth=Ro+Rs+ Xo/( Ko* A0)控制器8通過控制供給風扇4的電壓使Rth為預定值。從而實現(xiàn)整個裝置 的熱阻不變。由于同一材料在不同溫度下的導熱系數(shù)不同，因此控制器8還需 根據(jù)標準熱阻塊2的溫度高低按預定變化規(guī)律校準整個裝置的總熱阻。而將該熱阻測試設備的校驗裝置設定為一預定熱阻，將其熱阻在待校驗熱 阻測試設備上測試得到一測試熱阻，通過預定熱阻和測試熱阻的比較進而對待 校驗熱阻測試設備進行校驗。
權利要求1、一種熱阻測試設備的校驗裝置，該裝置可以用于對熱阻測試設備的校驗，其特征在于，該裝置包括一導熱底板；一標準熱阻塊，設于上述導熱底板上；一散熱器，設于上述標準熱阻塊上；一風扇，設于上述散熱器上，該風扇上設有一與之電性連接的受控電源線；一控制器，其上設有一第一探頭連接部、一第二探頭連接部、一第三探頭連接部、一第三溫度探頭。
2、 如權利要求l所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述標準 熱阻塊底面設有一第一探頭容置槽，該第一探頭容置槽內(nèi)設有一第一溫度探頭， 該標準熱阻塊于底面相對一面設有一第二探頭容置槽，該第二探頭容置槽內(nèi)設 有-第二溫度探頭。
3、 如權利要求2所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，該第一探 頭連接部與第一溫度探頭連接、第二探頭連接部與第二溫度探頭連接、第三探 頭連接部與第三溫度探頭連接。
4、 如權利要求3所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述散熱 器底部設有一第一凸沿。
5、 如權利要求3所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述導熱底板頂部設有一第二凸沿。
6、 如權利要求3或4或5所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于， 熱阻測試設備的校驗裝置還包括一隔熱材料。
7、 如權利要求6所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述標準 熱阻塊設于該隔熱材料內(nèi)。
8、 如權利要求6所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述第一 凸沿設于該隔熱材料內(nèi)。
9、 如權利要求6所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述第二 凸沿設于該隔熱材料內(nèi)。
10、 如權利要求6所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述隔 熱材料為玻璃纖維。
11、 如權利要求1所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述導 熱底板與散熱器皆比標準熱阻塊的熱阻小。
12、 如權利要求1所述的熱阻測試設備的校驗裝置，其特征在于，上述散 熱器帶有鰭片。
專利摘要實用新型揭示一種熱阻測試設備的校驗裝置，該裝置包括一導熱底板；一標準熱阻塊，設于上述導熱底板上，該標準熱阻塊底面設有一第一探頭容置槽，該標準熱阻塊于底面相對一面設有一第二探頭容置槽，該第一、第二探頭容置槽內(nèi)分別設有一第一、第二溫度探頭；一散熱器，設于上述標準熱阻塊上；一風扇，設于上述散熱器上，該風扇上設有一與之電性連接的受控電源線；控制器，其上設有一第一探頭連接部、一第二探頭連接部、一第三探頭連接部、一第三溫度探頭，該第一、第二、第三探頭連接部分別與第一、第二、第三溫度探頭連接。利用該熱阻測試設備的校驗裝置可以實現(xiàn)對熱阻測試設備的校驗。
文檔編號G01N25/18GK201025478SQ20072003572
公開日2008年2月20日 申請日期2007年3月27日 優(yōu)先權日2007年3月27日
發(fā)明者江大陽 申請人:漢達精密電子(昆山)有限公司