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Csk-ia類試塊的制作方法

文檔序號(hào):5822455閱讀:710來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:Csk-ia類試塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及超聲波探傷試塊加工技術(shù),具體地說(shuō)是一種CSK-IA類試塊。2、 背景技術(shù)目前,用于超聲波測(cè)試用的試塊品種很多,普遍存在的不足時(shí)測(cè)量精度不高、 需要反復(fù)測(cè)量,因而加大了測(cè)試人員的工作量。3、 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是克服上述缺點(diǎn),提供一種測(cè)量精度相對(duì)較高的CSK-IA類 試塊。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是,試塊體的結(jié)構(gòu)是一長(zhǎng)《300咖,寬《150mm,高 《40mm的長(zhǎng)方體,試塊體的一端加工有圓角臺(tái)階,其中下圓角臺(tái)階的曲率半徑《 180mm,上圓角臺(tái)階的曲率半徑《50mm,在試塊體的中間垂直鉆有通孔和臺(tái)階孔, 試塊體的邊部加工有槽。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是1) 能很好地調(diào)整縱波檢測(cè)范圍和掃描速度;2) 利用試塊的厚度和寬度,測(cè)試儀器的水平線性、直線行和動(dòng)態(tài)范圍;3) 測(cè)量探頭和儀器的分辨率;4) 側(cè)斜探頭的折射角;5) 側(cè)斜探頭的入射角;6) 調(diào)整橫波探測(cè)范圍和掃描速度。7) 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、范圍廣和測(cè)試精度高。4、
附圖1是CSK-IA類試塊的主視結(jié)構(gòu)示意圖; 附圖2是CSK-IA類試塊的俯視結(jié)構(gòu)示意圖; 附圖3是CSK-IA類試塊的左視結(jié)構(gòu)示意圖。附圖中的標(biāo)記分別表示;試塊體l;通孔2;上圓角臺(tái)階3;下圓角臺(tái)階4;槽5; 臺(tái)階孔6;刻字7。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的CSK-IA類試塊作以下詳細(xì)說(shuō)明。 如附圖所示,本實(shí)用新型的CSK-IA類試塊,試塊體1的結(jié)構(gòu)是一長(zhǎng)《300mm, 寬《150mm,高《40ram的長(zhǎng)方體,試塊體1的一端加工有圓角臺(tái)階,其中下圓角臺(tái) 階4的曲率半徑《180mm,上圓角臺(tái)階3的曲率半徑《50mm,在試塊體1的中間垂 直鉆有通孔2和臺(tái)階孔5,試塊體的邊部加工有槽5。試塊體的上表面刻有字7,刻字7內(nèi)容包括試塊名稱、商標(biāo)、標(biāo)準(zhǔn)號(hào)、制造編 號(hào)和制造廠家。實(shí)施例本實(shí)用新型的CSK-IA類試塊的具體型號(hào)包括有以下16種CSK-1A A型護(hù)環(huán)、CSK-1B 瓷絕緣子試塊JYZ-1CSK- I C 瓷絕緣子試塊JYZ-2LIS-STB-A3 瓷絕緣子試塊JYZ-3LS-1 瓷絕緣子試塊JYZ-4LS-2 小徑管(DL-1)SD_ I WGT-1V-1 SGB試塊本實(shí)用新型的CSK-IA類試塊的用途是1) 調(diào)整縱波檢測(cè)范圍和掃描速度;2) 測(cè)試儀器的水平線性、直線行和動(dòng)態(tài)范圍;3) 測(cè)量探頭和儀器的分辨率;4) 測(cè)斜探頭的折射角;5) 測(cè)斜探頭的入射角;6) 調(diào)整橫波探測(cè)范圍和掃描速度。本實(shí)用新型的CSK-IA類試塊和現(xiàn)有技術(shù)相比,具有設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用 方便、測(cè)試范圍寬,既能測(cè)試探頭又能測(cè)試儀器等特點(diǎn),因而,具有很好的推廣 使用價(jià)值。
權(quán)利要求1、CSK-IA類試塊,其特征在于試塊體的結(jié)構(gòu)是一長(zhǎng)≤300mm,寬≤150mm,高≤40mm的長(zhǎng)方體,試塊體的一端加工有圓角臺(tái)階,其中下圓角臺(tái)階的曲率半徑≤180mm,上圓角臺(tái)階的曲率半徑≤50mm,在試塊體的中間垂直鉆有通孔和臺(tái)階孔,試塊體的邊部加工有槽。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種CSK-IA類試塊,其結(jié)構(gòu)是一長(zhǎng)不大于300mm,寬不大于150mm,高不大于40mm的長(zhǎng)方體,其中試塊體左下角加工有圓角,有一定的曲率半徑,一般不大于180mm;在試塊的中間垂直鉆有數(shù)量不等的孔,根據(jù)需要還可以設(shè)置一些槽。該類試塊和現(xiàn)有技術(shù)相比,具有設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制造精度高、測(cè)試范圍寬、使用方便等特點(diǎn),因而在無(wú)損檢測(cè)行業(yè)具有很好的推廣使用價(jià)值。
文檔編號(hào)G01N29/30GK201051094SQ20072001996
公開日2008年4月23日 申請(qǐng)日期2007年4月9日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月9日
發(fā)明者魏忠瑞 申請(qǐng)人:山東濟(jì)寧模具廠
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