專利名稱：一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種研究電觸頭材料電侵蝕性能的測試裝置，屬于機(jī)電一體 化設(shè)備領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
盡管目前半導(dǎo)體器件在電氣工業(yè)領(lǐng)域獲得了越來越廣泛的應(yīng)用，但是在 變配電領(lǐng)域，有觸點(diǎn)電器依然占據(jù)主導(dǎo)地位。和半導(dǎo)體器件相比，有觸點(diǎn)電 器具有價格低廉，接觸電阻小、絕緣性能好、抗過載能力強(qiáng)、動作直觀可靠 和抗干擾性能好的特點(diǎn)。但是由于在接通和分?jǐn)嗖僮鬟^程中所伴隨的電弧過 程對有觸點(diǎn)電器電觸頭材料的電侵蝕作用，有觸點(diǎn)電器的電壽命和電力半導(dǎo) 體器件相差甚遠(yuǎn)。提高有觸點(diǎn)電器中電觸頭材料的耐電弧侵蝕能力和降低電 觸頭材料的電侵蝕速率是提高有觸點(diǎn)電器使用壽命和可靠性的關(guān)鍵因素之 一。目前對不同電器產(chǎn)品中電觸頭材料電侵蝕速率的研究還主要停留在經(jīng)驗(yàn) 和反復(fù)試驗(yàn)的基礎(chǔ)上。在新產(chǎn)品設(shè)計(jì)時首先是在已有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上進(jìn)行改進(jìn)， 然后將制造出的樣機(jī)送到檢測站進(jìn)行檢測，根據(jù)檢測結(jié)果再對樣機(jī)進(jìn)行調(diào)整。 如此經(jīng)過幾個反復(fù)，最終得到經(jīng)過優(yōu)化的機(jī)械結(jié)構(gòu)、動作特性與使用的電觸 頭材料之間的優(yōu)化配合。這種研究方式，經(jīng)驗(yàn)的積累和研究人員的判斷很重 要，不但設(shè)計(jì)周期很長而且費(fèi)用極高。
國內(nèi)外的多個研究機(jī)構(gòu)都設(shè)計(jì)和制造了有自己特色的研究電觸頭材料電 侵蝕性能的專用實(shí)驗(yàn)設(shè)備。其中由西安交通大學(xué)電氣工程學(xué)院榮命哲教授課 題組(劉定新，李艷培，榮命哲，王小華，鄒洪超.觸點(diǎn)電接觸性能測試裝置的
研制.貴金屬.2005, 26(4): 44-47;榮命哲,李艷培,劉定新，王小華.新型觸點(diǎn)電 接觸性能測試系統(tǒng)的研制.電工材料.2005(1): 17-21)設(shè)計(jì)制造的觸點(diǎn)電接觸 性能測試系統(tǒng)是這種設(shè)備的代表性產(chǎn)品。該測試系統(tǒng)具有較高的先進(jìn)程度， 采用電磁激振器作為電觸頭對的動作執(zhí)行機(jī)構(gòu)，和常用的凸輪機(jī)械式和電磁 鐵推動的實(shí)驗(yàn)設(shè)備相比，這種操作方案可以靈活地設(shè)置電觸頭對接觸過程的 行程曲線，具有很強(qiáng)的通用性。但該系統(tǒng)不能檢測電觸頭對的位移響應(yīng)曲線，
無法實(shí)現(xiàn)對電觸頭對接通和分?jǐn)嗖僮髋c電源位相關(guān)系的同步之間的控制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決現(xiàn)有對電觸頭材料電侵蝕速率的測試方法中存在的不能檢 測電觸頭對的位移，不具有電觸頭對接通和分?jǐn)鄤幼髋c電源位相關(guān)系的同步 控制功能的問題，提供一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置。本發(fā)明包含電
觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置l、低電壓恒流電源3、交流電源4、上位機(jī)5和 可控硅開關(guān)7，可控硅開關(guān)7的陽極與交流電源4的第一電源端連接，可控硅 開關(guān)7的陰極與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端連接，交流電 源4的第二電源端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第二電源端連接，可 控硅開關(guān)7的控制信號輸入端與數(shù)據(jù)采集卡6的控制信號輸出端連接，低電 壓恒流電源3的正極端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端連接， 低電壓恒流電源3的負(fù)極端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第二電源端 連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端與上位機(jī)5的數(shù)據(jù)采集 卡6的第一電壓信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第二電 源端與上位機(jī)5的數(shù)據(jù)采集卡6的第二電壓信號輸入端連接，電流傳感器15 設(shè)置在電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端和第二電源端之間的電 路上，電流傳感器15的電流信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡6的電流信號輸入端連 接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的熔焊力信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡6的 熔焊力信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的位移信號輸出端 與數(shù)據(jù)采集卡6的位移信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的 電磁激振器控制信號輸入端與數(shù)據(jù)采集卡6的電磁激振器控制信號輸出端連 接。
本發(fā)明的有益效果是在電磁激振器操作機(jī)構(gòu)的基礎(chǔ)上增加了對測試電 觸頭的位移檢測電路，形成閉環(huán)控制，可以檢測電觸頭在電侵蝕性能檢測過 程中的位移特性；增加了電觸頭接通和分?jǐn)鄤幼髋c電源位相關(guān)系的同步控制， 可以避免在電觸頭接通和分?jǐn)噙^程中由于電源電路相位的變化造成的電觸頭 材料電侵蝕性能測試結(jié)果的離散；通過本發(fā)明還可在研究電壓、電流強(qiáng)度、 電路的功率因數(shù)、電觸頭接通和分?jǐn)嗟乃俣?、電觸頭接通和分?jǐn)噙^程中電源 的相位角等因素發(fā)生的變化對電觸頭材料電侵蝕過程的影響，再結(jié)合對電觸
頭材料在電侵蝕過程中發(fā)生的組織結(jié)構(gòu)變化和化學(xué)成份變化過程的分析方法 的綜合運(yùn)用，為逐步深入研究電觸頭材料的電侵蝕機(jī)理提供了設(shè)備和方法手 段。


圖1是本發(fā)明的電路結(jié)構(gòu)示意圖2是電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1 的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式
具體實(shí)施方式
一參見圖l、圖2，本實(shí)施方式由電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測 試裝置l、低電壓恒流電源3、交流電源4、上位機(jī)5和可控硅開關(guān)7組成， 可控硅開關(guān)7的陽極與交流電源4的第一電源端連接，可控硅開關(guān)7的陰極 與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端連接，交流電源4的第二電 源端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第二電源端連接，可控硅開關(guān)7的 控制信號輸入端與數(shù)據(jù)采集卡6的控制信號輸出端連接，低電壓恒流電源3 的正極端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端連接，低電壓恒流 電源3的負(fù)極端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第二電源端連接，電觸 頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端與上位機(jī)5的數(shù)據(jù)采集卡6的第一 電壓信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第二電源端與上位 機(jī)5的數(shù)據(jù)采集卡6的第二電壓信號輸入端連接，電流傳感器15設(shè)置在電觸 頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第一電源端和第二電源端之間的電路上，電流 傳感器15的電流信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡6的電流信號輸入端連接，電觸頭 機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的熔焊力信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡6的熔焊力信號 輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的位移信號輸出端與數(shù)據(jù)采集 卡6的位移信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的電磁激振器 控制信號輸入端與數(shù)據(jù)采集卡6的電磁激振器控制信號輸出端連接。交流電 源4可采用工業(yè)交流電源；數(shù)據(jù)采集卡6可采用PCI 14512E/500K-12bit-4CH 型數(shù)據(jù)采集卡。
工作原理接通交流電源4和可控硅開關(guān)7后電路只在電觸頭機(jī)械運(yùn)動 操作測試裝置1的兩個電觸頭之間形成斷路，在兩個電觸頭接觸過程中測量 得到的交流電源4的位相關(guān)系條件和兩個電觸頭閉合過程的運(yùn)動特性曲線在給定的相位角閉合電路，同時測量兩個電觸頭的行程變化曲線以及兩個電觸 頭之間的電壓電流波形曲線，計(jì)算出接通過程中的電弧功率；當(dāng)兩個電觸頭 穩(wěn)定閉合后，斷開交流電源4并接通低電壓恒流電源3，根據(jù)測得的電壓降和 電流值計(jì)算出接通狀態(tài)下的接觸電阻；再將低電壓恒流電源3斷開并接通交 流電源4，控制兩個電觸頭在特定的相位角分?jǐn)?，在分?jǐn)噙^程中同時測量兩個 電觸頭的行程變化過程、兩個電觸頭之間的熔焊力大小以及電弧過程的電流 和電壓波形，計(jì)算出分?jǐn)噙^程中電觸頭對之間的電弧過程的功率變化和電弧 過程的總能量的大小。
具體實(shí)施方式
二參見圖1，本實(shí)施方式在具體實(shí)施方式
一的基礎(chǔ)上增加 了電容器組2，電容器組2的第一電源端與可控硅開關(guān)7的陽極連接，電容器 組2的第二電源端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的第二電源端連接。當(dāng) 交流電源4采用普通的交流電系統(tǒng)時，具有簡單直接、電源的波形條件好、 對電壓進(jìn)行調(diào)節(jié)方便的優(yōu)點(diǎn)；缺點(diǎn)是在一般條件下的實(shí)驗(yàn)室的電氣容量有限、 其實(shí)驗(yàn)電流水平多小于100A、而且頻繁的接通與分?jǐn)嗖僮鲿﹄娐分械钠渌?電氣設(shè)備尤其是電子儀器和計(jì)算機(jī)設(shè)備產(chǎn)生嚴(yán)重的干擾、影響其使用壽命、 測量精度或?qū)е抡`操作；電容器組2可實(shí)現(xiàn)在不提高負(fù)載水平的條件下進(jìn)行 大電流實(shí)驗(yàn)，通過電容器組2預(yù)先貯能，然后再將貯存的能量統(tǒng)一釋放出來， 通過這種方法，對低壓電接觸設(shè)備的進(jìn)行電弧侵蝕性能檢測的能力可以很方 便的達(dá)到較高的水平。首先根據(jù)測試過程中的電流大小計(jì)算出需要并聯(lián)接入 的電容器組的容量，然后對接入的電容器分別進(jìn)行充電，將充電后的電容器 并聯(lián)，然后閉合電容器組2的控制開關(guān)，在兩個電觸頭閉合時電容器組2放 電，同時記錄電觸頭兩端的電壓波形、電觸頭之間流過的電流的波形、計(jì)算 出接通過程中電弧的功率和能量、測量和記錄動觸頭閉合過程中的運(yùn)動過程 的行程曲線；然后斷開電容器組2的控制開關(guān)，并接通低電壓恒流電源3，測 量兩個電觸頭之間的接觸電阻，同時對放電后的電容器組2充電；充電過程 結(jié)束后斷開低電壓恒流電源3，閉合電容器組2的控制開關(guān)，當(dāng)電容器組2的 放電過程到達(dá)預(yù)定的相位角時控制兩個電觸頭斷開，同時測量和記錄兩個電 觸頭斷開過程中的運(yùn)動過程的行程曲線，并同時測量兩個電觸頭之間的熔焊 力、電壓和電流波形、計(jì)算出分?jǐn)嚯娀〉墓β屎湍芰俊?br> 具體實(shí)施方式
三參見圖2，本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
一或二的不同之 處在于電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1包含靜觸頭底座8-1、動觸頭底座8-2、 測力裝置9、靜觸頭IO、動觸頭ll、電磁激振器20、頂桿20-l、倒T型傳動 桿20-2、矩形框20-3和位移測量傳感器23，測力裝置9設(shè)置在電觸頭機(jī)械運(yùn) 動操作測試裝置外殼體1-1的內(nèi)側(cè)壁的上端面上，測力裝置9的熔焊力信號輸 出端與數(shù)據(jù)采集卡6的熔焊力信號輸入端連接，靜觸頭底座8-1設(shè)置在測力裝 置9下端面上，靜觸頭10設(shè)置在靜觸頭底座8-1上，靜觸頭10的電源端與電 觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置1的一個電壓信號輸入端連接，電磁激振器20設(shè) 置在電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置外殼體1-1的內(nèi)側(cè)壁的下端面上，電磁激振 器20的控制信號端與數(shù)據(jù)采集卡6的控制信號輸入端連接，頂桿20-1的下端 設(shè)置在電磁激振器20的力矩輸出端上，矩形框20-3設(shè)置在頂桿20-1的上端 面上，倒T型傳動桿20-2的下端設(shè)置在矩形框20-3的內(nèi)部，倒T型傳動桿 20-2的上端從矩形框20-3上端的通孔穿過并與動觸頭底座8-2的下端固定連 接，動觸頭11設(shè)置在動觸頭底座8-2上，動觸頭11的電源端與電觸頭機(jī)械運(yùn) 動操作測試裝置1的另一個電壓信號端連接，位移測量傳感器23的測量端設(shè) 置在動觸頭底座8-2上，以測量動觸頭11的位移變化，位移測量傳感器23 的位移信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡6的位移信號輸入端連接。測力裝置9可采 用ICP 209C11微型石英力傳感器；電磁激振器20可采用HEV-20型20N高 能激振器；位移測量傳感器23可采用LC-2450型非接觸式激光位移傳感器。
具體實(shí)施方式
四參見圖2，本實(shí)施方式與具體實(shí)施方式
三的不同之處在 于靜觸頭IO通過靜觸頭夾持螺釘12-1與靜觸頭底座8-1活動鉚接，動觸頭11 通過動觸頭夾持螺釘12-2與動觸頭底座8-2活動鉚接。靜觸頭10和動觸頭11 分別采用靜觸頭夾持螺釘12-1和動觸頭夾持螺釘12-2以活動鉚接方式進(jìn)行安 裝的，因而在測試的過程中可以很方便地按照設(shè)定的操作次數(shù)將靜觸頭10和 動觸頭11卸下稱重，計(jì)算出電侵蝕過程中靜觸頭IO和動觸頭11的重量損失 速率。
具體實(shí)施方式
五參見圖2，本實(shí)施方式在具體實(shí)施方式
三的基礎(chǔ)上增加 了動觸頭配重19，動觸頭配重19設(shè)置在動觸頭11和動觸頭底座8-2之間。 動觸頭配重19是根據(jù)所模擬的實(shí)際電器產(chǎn)品中動觸頭運(yùn)動機(jī)構(gòu)的重量進(jìn)行選 擇的，目的是彌補(bǔ)由于實(shí)驗(yàn)設(shè)備運(yùn)動機(jī)構(gòu)對連接結(jié)構(gòu)的統(tǒng)一設(shè)計(jì)所帶來的運(yùn) 動部件的重量的差異。這種重量上的差異將會影響到電觸頭接觸過程中發(fā)生 的彈跳現(xiàn)象，而彈跳過程的特性是和電觸頭材料的電弧侵蝕過程直接相關(guān)的。 為了降低接觸過程中的沖擊，提高運(yùn)動部件的運(yùn)動速度，實(shí)際電器中的動觸 頭機(jī)構(gòu)的重量一般不會太大，當(dāng)然大電流產(chǎn)品的動觸頭部件的重量會是小電 流產(chǎn)品的數(shù)倍到數(shù)十倍，這種差異就需要通過在模擬設(shè)備中添加動觸頭配重 來彌補(bǔ)。
具體實(shí)施方式
六參見圖2，本實(shí)施方式在具體實(shí)施方式
三的基礎(chǔ)上增加 了分離彈簧21和閉合彈簧22，分離彈簧21套接在倒T型傳動桿20-2位于矩 形框20-3內(nèi)的部分上，閉合彈簧22套接在倒T型傳動桿20-2位于矩形框20-3 和動觸頭底座8-2之間的部分上。電磁激振器20推動閉合彈簧22使動觸頭 11上升，靜觸頭IO和動觸頭11閉合后電磁激振器的頂桿20-l還將繼續(xù)推進(jìn) 一段距離以模擬實(shí)際開關(guān)電器閉合過程中的運(yùn)動超程。動觸頭11在實(shí)際閉合 過程中的位移變化將通過位移傳感器23進(jìn)行實(shí)時測量，在測試設(shè)備中通過電 磁激振器20對動觸頭11運(yùn)動過程中行程曲線的控制和位移傳感器實(shí)際檢測 到的行程數(shù)據(jù)之間的調(diào)節(jié)形成的閉環(huán)的控制系統(tǒng)，可以補(bǔ)償在動觸頭11運(yùn)動 系統(tǒng)中使用的彈簧柔性推動過程在控制信號與執(zhí)行結(jié)果之間造成的延遲，實(shí) 現(xiàn)靜觸頭IO和動觸頭11的接通與分?jǐn)噙^程與電路相位角之間的同步。對在 檢測過程中分離彈簧21和閉合彈簧22的倔強(qiáng)系數(shù)和預(yù)加載荷的大小都將根 據(jù)實(shí)際電器中的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)。
權(quán)利要求
1、一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置，其特征在于它包含電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)、低電壓恒流電源(3)、交流電源(4)、上位機(jī)(5)和可控硅開關(guān)(7)，可控硅開關(guān)(7)的陽極與交流電源(4)的第一電源端連接，可控硅開關(guān)(7)的陰極與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第一電源端連接，交流電源(4)的第二電源端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第二電源端連接，可控硅開關(guān)(7)的控制信號輸入端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的控制信號輸出端連接，低電壓恒流電源(3)的正極端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第一電源端連接，低電壓恒流電源(3)的負(fù)極端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第二電源端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第一電源端與上位機(jī)(5)的數(shù)據(jù)采集卡(6)的第一電壓信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第二電源端與上位機(jī)(5)的數(shù)據(jù)采集卡(6)的第二電壓信號輸入端連接，電流傳感器(15)設(shè)置在電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第一電源端和第二電源端之間的電路上，電流傳感器(15)的電流信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的電流信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的熔焊力信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的熔焊力信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的位移信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的位移信號輸入端連接，電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的電磁激振器控制信號輸入端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的電磁激振器控制信號輸出端連接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置，其特征 在于它增加了電容器組(2)，電容器組(2)的第一電源端與可控硅開關(guān)(7)的陽極 連接，電容器組(2)的第二電源端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的第二電 源端連接。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置，其 特征在于電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)包含靜觸頭底座(8-1)、動觸頭底座 (8-2)、測力裝置(9)、靜觸頭(IO)、動觸頭(ll)、電磁激振器(20)、頂桿(20畫1)、 倒T型傳動桿(20-2)、矩形框(20-3)和位移測量傳感器(23)，測力裝置(9)設(shè)置 在電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置外殼體(1-1)的內(nèi)側(cè)壁的上端面上，測力裝置(9) 的熔焊力信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的熔焊力信號輸入端連接，靜觸頭底座(8-l)設(shè)置在測力裝置(9)下端面上，靜觸頭(10)設(shè)置在靜觸頭底座(8-1)上，靜觸 頭(10)的電源端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)的一個電壓信號輸入端連 接，電磁激振器(20)設(shè)置在電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置外殼體(1-1)的內(nèi)側(cè)壁 的下端面上，電磁激振器(20)的力矩控制信號端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的力矩控制信 號輸入端連接，頂桿(20-l)的下端設(shè)置在電磁激振器(20)的力矩輸出端上，矩 形銜20-3)設(shè)置在頂桿(20-1)的上端面上，倒T型傳動桿(20-2)的下端設(shè)置在矩 形框(20-3)的內(nèi)部，倒T型傳動桿(20-2)的上端從矩形框(20-3)上端的通孔穿過 并與動觸頭底座(8-2)的下端固定連接，動觸頭(ll)設(shè)置在動觸頭底座(8-2)上， 動觸頭(ll)的電源端與電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(l)的另一個電壓信號端 連接，位移測量傳感器(23)的測量端設(shè)置在動觸頭底座(8-2)上，以測量動觸頭 (ll)的位移變化，位移測量傳感器(23)的位移信號輸出端與數(shù)據(jù)采集卡(6)的位移信號輸入端連接。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置，其特征 在于靜觸頭(10)通過靜觸頭夾持螺釘(12-1)與靜觸頭底座(8-1)活動鉚接，動觸 頭(ll)通過動觸頭夾持螺釘(12-2)與動觸頭底座(8-2)活動鉚接。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置，其特征 在于電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)增加了動觸頭配重(19)，動觸頭配重(19) 設(shè)置在動觸頭(ll)和動觸頭底座(8-2)之間。
6、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置，其特征 在于電觸頭機(jī)械運(yùn)動操作測試裝置(1)增加了分離彈簧(21)和閉合彈簧(22)，分 離彈簧(21)套接在倒T型傳動桿(20-2)位于矩形框(20-3)內(nèi)的部分上，閉合彈簧 (22)套接在倒T型傳動桿(20-2)位于矩形框(20-3)和動觸頭底座(8-2)之間的部 分上。
全文摘要
一種測試電觸頭材料電侵蝕性的裝置，它涉及一種研究電觸頭材料電侵蝕性能的測試設(shè)備。本發(fā)明包括電源、電氣負(fù)載、控制電路、電觸頭動作執(zhí)行機(jī)構(gòu)和監(jiān)測系統(tǒng)以及電弧過程的控制與測量系統(tǒng)。該測試設(shè)備可以方便地調(diào)整測試電路的電氣參數(shù)和被檢測的電觸頭對的動作參數(shù)，解決了現(xiàn)有電觸頭材料電侵蝕測試裝置中存在的不能檢測和控制電觸頭對的位移，不能實(shí)現(xiàn)電觸頭對接通和分?jǐn)鄤幼髋c電源位相關(guān)系的同步控制的問題。通過對檢測過程中的電觸頭對的位移過程的精確控制和對電觸頭對接通和分?jǐn)噙^程所對應(yīng)的電源的位相角條件的嚴(yán)格限制，避免了電觸頭材料電侵蝕性能測試結(jié)果的離散性，為電觸頭材料電侵蝕機(jī)理的研究提供了設(shè)備手段和試驗(yàn)依據(jù)。
文檔編號G01N33/00GK101196506SQ200710144988
公開日2008年6月11日 申請日期2007年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月29日
發(fā)明者崔玉勝, 麗 楊, 良 甄, 邵文柱 申請人:哈爾濱工業(yè)大學(xué)