專利名稱：掃描測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種測(cè)試裝置，尤指一種對(duì)電子裝置的內(nèi)部元器件進(jìn)行除 錯(cuò)或更新的掃描測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
先前一般基板測(cè)試的方式，大都由基板的表面，利用探針?lè)▉?lái)進(jìn)行所謂「插
入式電路測(cè)試(in-Circuit Test,簡(jiǎn)稱ICE)」，以得知元器件的功能正常與否， 然而，隨著計(jì)算機(jī)及各種信息產(chǎn)品的生產(chǎn)技術(shù)不斷的推陳出新，加上現(xiàn)今電子 信息產(chǎn)品的設(shè)計(jì)導(dǎo)向均是以輕薄短'小為趨勢(shì)，使得各種電子產(chǎn)品的內(nèi)部以及電 路板上所裝設(shè)的芯片及元器件的數(shù)量與密度均快速提高，導(dǎo)致安裝各元器件的 腳端的節(jié)距，已逐漸小于測(cè)試用探針的節(jié)距，因此，先前插入式電路測(cè)試的方 法即無(wú)法滿足現(xiàn)今的需求。
因此，另一種稱之為「JTAG (即所謂邊界掃描測(cè)試Boundary Scan Test )」 的測(cè)試方式即因應(yīng)而生，而所謂JTAG的測(cè)試方法，是依序掃描集成電路元器件 的全部外界輸入輸出腳端，擷取輸入輸出端的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)而測(cè)試元器件內(nèi)部 的功能，而一般使用JTAG的測(cè)試方式，是可針對(duì)元器件的誤插接、外界電路與 元器件間的輸入/輸出信號(hào)監(jiān)視、元器件間的互接測(cè)試，以及內(nèi)部邏輯電路的功 能測(cè)試，不僅測(cè)試方便，且由于其測(cè)試速度快，故深受各制造廠商所歡迎，此 外，經(jīng)由外界計(jì)算機(jī)主機(jī)即可進(jìn)行JTAG測(cè)試，在使用上極具彈性。
而目前開(kāi)發(fā)中的芯片或微處理器均具有JTAG接口 ，以供用以進(jìn)行偵測(cè)或除 錯(cuò)，然而，當(dāng)該所述芯片或微處理器在研發(fā)完成后，通常該JTAG接口即再無(wú)機(jī) 會(huì)進(jìn)行使用，特別是體積輕薄短小的電子產(chǎn)品，要迸行JTAG測(cè)試即需拆除外殼， 并在JTAG的信號(hào)在線加焊連接接口后，方能進(jìn)行偵測(cè)、除錯(cuò)或更新韌體程序， 不僅相當(dāng)不便，且往往對(duì)該電子產(chǎn)品造成破壞，因此，便有業(yè)者開(kāi)發(fā)出一種「具 USB的JTAG除錯(cuò)界面(Debugging Interface",該除錯(cuò)接口是具有USB (Universal Serial Bus,萬(wàn)用串行總線)連接端口及一控制芯片，通過(guò)該USB 連接端口連接在一電子產(chǎn)品上，即可以該控制芯片快速地對(duì)該電子產(chǎn)品進(jìn)行除 錯(cuò)和程序燒錄，由于方便且即具彈性，深受電子產(chǎn)品相關(guān)的使用者及工作者所 歡迎。
此外，對(duì)于另一種對(duì)于「芯片系統(tǒng)」(System-On-Chip,簡(jiǎn)稱S0C)的測(cè)試， 亦遭遇與上述JTAG測(cè)試相同的問(wèn)題，即一般的芯片系統(tǒng)上雖均設(shè)有一通用異步 收發(fā)傳輸(Universal Asynchronous Receiver / Transmitter)接口， 以輔助
軟件開(kāi)發(fā)人員在進(jìn)行程序除錯(cuò)時(shí)輸出除錯(cuò)信息，但當(dāng)該芯片系統(tǒng)進(jìn)入量產(chǎn)階段 后，為避免占用空間，該通用異步收發(fā)傳輸接口即不再保留，若要再進(jìn)行除錯(cuò)
或固件更新，即需拆除產(chǎn)品外殼。前述具USB的JTAG除錯(cuò)接口雖可解決JTAG的測(cè) 試問(wèn)題，但卻無(wú)法對(duì)于芯片系統(tǒng)進(jìn)行除錯(cuò)，且由于前述具USB的JTAG除錯(cuò)接口的 價(jià)格過(guò)于昂貴，亦令消費(fèi)者望之卻步，因?yàn)楫?dāng)一產(chǎn)品需花費(fèi)昂貴的代價(jià)購(gòu)得時(shí)， 該產(chǎn)品即需具有極優(yōu)異的功能，方能提高消費(fèi)者之購(gòu)買意愿，因此，如何使用 最低成本以解決上述問(wèn)題，即成為相關(guān)制造商的一大挑戰(zhàn)。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于前述使用JTAG的測(cè)試方法，成本過(guò)于昂貴及無(wú)法對(duì)芯片系統(tǒng)進(jìn)行測(cè) 試等諸多缺失，發(fā)明人經(jīng)過(guò)長(zhǎng)久努力研究與實(shí)驗(yàn)，終于開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)出本發(fā)明的一 種掃描測(cè)試裝置，以期降低所需的成本，并借此提供更多測(cè)試功能。
本發(fā)明的一目的，在于提供一種掃描測(cè)試裝置，且該掃描測(cè)試裝置設(shè)有一 掃描測(cè)試單元，在該掃描測(cè)試單元上設(shè)有一信號(hào)傳輸部，該信號(hào)傳輸部與該掃 描測(cè)試裝置內(nèi)所設(shè)的一標(biāo)準(zhǔn)連接接口相連接，而該標(biāo)準(zhǔn)連接接口是另外與一電 子裝置相連接，通過(guò)該標(biāo)準(zhǔn)連接接口，該掃描測(cè)試單元與該電子裝置的內(nèi)部元 器件之間，是可傳送邊界掃描測(cè)試數(shù)據(jù)或芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)，以對(duì)該電子裝置 的內(nèi)部元器件進(jìn)行偵測(cè)、除錯(cuò)或更新等動(dòng)作。
通過(guò)本發(fā)明所述，可很方便的對(duì)芯片系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，并且該測(cè)試簡(jiǎn)單，測(cè) 試速度快，且成本較低，另，還可提供多種測(cè)試功能。


圖1為本發(fā)明的掃描測(cè)試裝置示意圖； 圖2為本發(fā)明的掃描測(cè)試裝置電路圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明為一種掃描測(cè)試裝置，請(qǐng)參閱圖1所示，其為一掃描測(cè)試單元2及 一標(biāo)準(zhǔn)連接接口4所組成，其中該掃描測(cè)試單元2設(shè)有一信號(hào)傳輸部21，而該 標(biāo)準(zhǔn)連接接口4的一側(cè)供與一電子裝置5上所設(shè)的另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口50的連接， 該標(biāo)準(zhǔn)連接接口4的另一側(cè)則與該信號(hào)傳輸部21相接，如此，通過(guò)該標(biāo)準(zhǔn)連接 接口4，所述掃描測(cè)試單元2與電子裝置5的內(nèi)部元器件間，是可進(jìn)行邊界掃描 測(cè)試數(shù)據(jù)或芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)的傳輸，以對(duì)所述電子裝置5進(jìn)行偵測(cè)、除錯(cuò)或 更新等動(dòng)作。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖1所示，所述掃描測(cè)試單元2是包括一 第一測(cè)試模塊23及一第二測(cè)試模塊25，其中所述第一測(cè)試模塊23是提供產(chǎn)生 邊界掃描測(cè)試數(shù)據(jù)，用以對(duì)所述電子裝置5進(jìn)行邊界掃描測(cè)試，所述邊界掃描
測(cè)試數(shù)據(jù)至少包括一輸入信號(hào)、 一頻率信號(hào)、 一操作信號(hào)及一重置信號(hào)，而所
述第二測(cè)試模塊25是供產(chǎn)生所述芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)，用以對(duì)所述電子裝置5進(jìn) 行芯片系統(tǒng)測(cè)試，所述芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)至少包括另一輸入信號(hào)。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖2所示，所述信號(hào)傳輸部21包括一測(cè)試信號(hào)輸入 腳211、 一測(cè)試信號(hào)輸出腳212、 一頻率信號(hào)傳輸腳213、 一測(cè)試模式控制腳214 及一重置信號(hào)傳輸腳215，其中所述測(cè)試信號(hào)輸入腳211是可傳送該輸入信號(hào)或 另一輸入信號(hào)到所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4，所述測(cè)試信號(hào)輸出腳212是可接收自該標(biāo) 準(zhǔn)連接接口 4所傳輸?shù)囊惠敵鲂盘?hào)或另一輸出信號(hào)，所述頻率信號(hào)傳輸腳213 是可傳送所述頻率信號(hào)到所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4，所述測(cè)試模式控制腳214是可傳 送該操作信號(hào)到該所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4，而該所述重置信號(hào)傳輸腳215可傳送該 重置信號(hào)到所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4，如此，經(jīng)由所述信號(hào)傳輸部21及標(biāo)準(zhǔn)連接接 口4傳送該等信號(hào)，即可對(duì)該所述電子裝置5進(jìn)行偵測(cè)、除錯(cuò)或更新等動(dòng)作。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D2中所示，所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4的一側(cè)是設(shè)有 一命令信號(hào)傳輸端40，該命令信號(hào)傳輸端40是可接收該測(cè)試信號(hào)輸入腳211傳 送的輸入信號(hào)或另一輸入信號(hào)，并傳送到所述另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口 50上所設(shè)的另 一命令信號(hào)傳輸端，使得該所述輸入信號(hào)或另一輸入信號(hào)被傳送到所述電子裝 置5內(nèi)部所設(shè)的各元器件，以對(duì)該所述電子裝置5進(jìn)行除錯(cuò)或偵測(cè)等動(dòng)作。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖2中所示，該所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4的一側(cè)設(shè)有一 第一數(shù)據(jù)傳輸端42，該所述第一數(shù)據(jù)傳輸端42與所述另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口 50上 所設(shè)的另一第一數(shù)據(jù)傳輸端連接，供接收所述電子裝置5內(nèi)的各元器件所傳送 的輸出信號(hào)或另一輸出信號(hào)，并經(jīng)所述測(cè)試信號(hào)輸出腳212傳送到所述掃描測(cè) 試單元2，即可得知對(duì)該所述電子裝置5進(jìn)行偵測(cè)或除錯(cuò)的結(jié)果。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖2中所示，該所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4的一側(cè)設(shè)有一 頻率信號(hào)傳輸端44，該所述頻率信號(hào)傳輸端44與另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口 50上所設(shè) 的另一頻率信號(hào)傳輸端連接，所述頻率信號(hào)傳輸腳213傳送的該頻率信號(hào)即可 經(jīng)該頻率信號(hào)傳輸端44，被傳送到所述電子裝置5內(nèi)所設(shè)的一計(jì)時(shí)單元，以校 正該電子裝置5內(nèi)的一計(jì)時(shí)單元所記錄的時(shí)間。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖2中所示，該所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4的一側(cè)設(shè)有一 第二數(shù)據(jù)傳輸端46,該所述第二數(shù)據(jù)傳輸端46是與所述另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口 50 上所設(shè)的另一第二數(shù)據(jù)傳輸端相連接，所述測(cè)試模式控制腳214傳送的該操作 信號(hào)即可經(jīng)該所述第二數(shù)據(jù)傳輸端46，被傳送到該所述電子裝置5內(nèi)部所設(shè)的 各元器件，該所述電子裝置5內(nèi)的各元器件即產(chǎn)生不同的動(dòng)作狀態(tài)，如此，即 可在各個(gè)狀態(tài)下通過(guò)傳送該等輸入信號(hào)以進(jìn)行偵測(cè)。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖2所示，該圖標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4的一側(cè)設(shè)有一第三 數(shù)據(jù)傳輸端48，該圖第三數(shù)據(jù)傳輸端48是與另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口 50上所設(shè)的另 一第三數(shù)據(jù)傳輸端相連接，該重置信號(hào)傳輸腳215傳送的該重置信號(hào)，是被傳
送到圖電子裝置5內(nèi)部所設(shè)的各元器件，以解除該電子裝置5內(nèi)的各元器件不 同的動(dòng)作狀態(tài)。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖2中所示，所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4尚設(shè)有一接地端 49，該接地端49是與另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口 50所設(shè)的另一接地端相連接。結(jié)合上 述結(jié)構(gòu)，即可通過(guò)該所述第一測(cè)試模塊23與標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4，對(duì)所述電子裝置 5進(jìn)行邊界掃描測(cè)試，而該所述第二測(cè)試模塊25是可產(chǎn)生另一輸入信號(hào)并傳送 到該所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口4，又可接收另一輸出信號(hào)，使所述第二測(cè)試模塊25即 可通過(guò)該所述測(cè)試信號(hào)輸入腳211及測(cè)試信號(hào)輸出腳212,作為通用異步收發(fā)傳 輸(Universal Asynchronous Receiver / Transmitter)端PI, 對(duì)所述電子裝 置5內(nèi)的芯片系統(tǒng)(S0C)進(jìn)行測(cè)試。如此，即可達(dá)到對(duì)該所述電子裝置5進(jìn)行 其內(nèi)各元器件的誤插接測(cè)試，外界電路與元器件間的輸入/輸出信號(hào)監(jiān)視，元器 件間的互接測(cè)試，以及內(nèi)部邏輯電路的功能測(cè)試等目的。
在該實(shí)施例中，請(qǐng)參閱圖1所示，所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4、 50可為一 SD(Serial Data)接口，也可為一安全數(shù)字輸出入(Serial Data Input/Output)接口， 而所述電子裝置5是可為具有該SD接口或該安全數(shù)字輸出入接口的一行動(dòng)電 話，或一個(gè)人數(shù)字助理器(Personal Digital Assistant,簡(jiǎn)稱PDA),如此， 通過(guò)該標(biāo)準(zhǔn)連接接口 4及另一標(biāo)準(zhǔn)連接接口 50，即可對(duì)該電子裝置5進(jìn)行JTAG 及S0C之測(cè)試方法，不僅成本低廉，并擴(kuò)大該掃描測(cè)試裝置的測(cè)試功能。
按，以上所述，僅為本發(fā)明最佳的一具體實(shí)施例，惟本發(fā)明的構(gòu)造特征并 不局限于此，任何熟悉該項(xiàng)技藝者在本發(fā)明領(lǐng)域內(nèi)，可輕易思及的變化或修飾， 皆可涵蓋在以下本案之專利范圍。
權(quán)利要求
1、一種掃描測(cè)試裝置，其特征在于，包括一標(biāo)準(zhǔn)連接接口，該標(biāo)準(zhǔn)連接接口的一側(cè)至少包括一命令信號(hào)傳輸端、一第一數(shù)據(jù)傳輸端及一第二數(shù)據(jù)傳輸端；及一掃描測(cè)試單元，其設(shè)有一信號(hào)傳輸部，且該信號(hào)傳輸部是與上述標(biāo)準(zhǔn)連接接口的另一側(cè)連接，該掃描測(cè)試單元是通過(guò)所述命令信號(hào)傳輸端、第一數(shù)據(jù)傳輸端及第二數(shù)據(jù)傳輸端傳送邊界掃描測(cè)試數(shù)據(jù)，或通過(guò)所述命令信號(hào)傳輸端及第一數(shù)據(jù)傳輸端傳送芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)。
2、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口的 一側(cè)上分別設(shè)有一頻率信號(hào)傳輸端及一第三數(shù)據(jù)傳輸端，且該頻率信號(hào)傳輸端 與第三數(shù)據(jù)傳輸端為分別用以傳送該邊界掃描測(cè)試數(shù)據(jù)。
3、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述掃描測(cè)試單元包括一第一測(cè)試模塊，是供產(chǎn)生邊界掃描測(cè)試數(shù)據(jù)，且該邊界掃描測(cè)試數(shù)據(jù)至 少包括一輸入信號(hào)、 一頻率信號(hào)、 一操作信號(hào)及一重置信號(hào)；及一第二測(cè)試模塊，是供產(chǎn)生芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)，且該芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)至 少包括另一輸入信號(hào)。
4、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)傳輸部設(shè)有 一用以傳送輸入信號(hào)或另一輸入信號(hào)到命令信號(hào)傳輸端的測(cè)試信號(hào)輸入腳。
5、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)傳輸部設(shè)有 一用以接收第一數(shù)據(jù)傳輸端傳輸?shù)囊惠敵鲂盘?hào)或另一輸出信號(hào)的測(cè)試信號(hào)輸出 腳。
6、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)傳輸部設(shè)有 一頻率信號(hào)傳輸腳，該頻率信號(hào)傳輸腳與所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口之是一側(cè)所設(shè)有的 一頻率信號(hào)傳輸端連接，且該頻率信號(hào)經(jīng)該頻率信號(hào)傳輸腳傳送到所述頻率信 號(hào)傳輸端。
7、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)傳輸部設(shè)有 一用以傳送操作信號(hào)到所述第二數(shù)據(jù)傳輸端的測(cè)試模式控制腳。
8、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)傳輸部設(shè)有 一重置信號(hào)傳輸腳，該重置信號(hào)傳輸腳與所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口的側(cè)所設(shè)有的一第 三數(shù)據(jù)傳輸端連接，且重置信號(hào)是經(jīng)該重置信號(hào)傳輸腳傳送到所述第三數(shù)據(jù)傳
9、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口的 一側(cè)上設(shè)有一接地端。
10、 如權(quán)利要求1所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口為一SD接口。
11、如權(quán)利要求l所述的掃描測(cè)試裝置，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)連接接口 為一安全數(shù)字輸出入接口。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種掃描測(cè)試裝置，其包括一掃描測(cè)試單元及一標(biāo)準(zhǔn)連接接口，該標(biāo)準(zhǔn)連接接口的一側(cè)至少包括一命令信號(hào)傳輸端、一第一數(shù)據(jù)傳輸端及一第二數(shù)據(jù)傳輸端，且該掃描測(cè)試單元上是通過(guò)其上所設(shè)的一信號(hào)傳輸部與該標(biāo)準(zhǔn)連接接口的另一側(cè)相接，另，該掃描測(cè)試單元是通過(guò)命令信號(hào)傳輸端、第一數(shù)據(jù)傳輸端及第二數(shù)據(jù)傳輸端傳送邊界掃描測(cè)試數(shù)據(jù)，或通過(guò)命令信號(hào)傳輸端及第一數(shù)據(jù)傳輸端傳送芯片系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)，使得所述掃描測(cè)試單元得以對(duì)一電子裝置進(jìn)行偵測(cè)、除錯(cuò)或更新等動(dòng)作。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101339228SQ200710028968
公開(kāi)日2009年1月7日 申請(qǐng)日期2007年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月2日
發(fā)明者楊益彰 申請(qǐng)人:佛山市順德區(qū)順達(dá)電腦廠有限公司;神達(dá)電腦股份有限公司