專利名稱：用于在生物傳感器檢驗(yàn)條上編碼信息的系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于測量生物流體內(nèi)的分析物的濃度的設(shè)備。本發(fā)明更 特別地涉及用于在生物傳感器檢驗(yàn)條上編碼信息的系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)：
測量生物流體中的物質(zhì)的濃度是用于診斷和治療許多醫(yī)學(xué)狀態(tài)的 重要的工具。例如，對諸如血液的體液中的葡萄糖的測量對于有效地治 療糖尿病是及其重要的。糖尿病的療法通常包括兩種類型的胰島素治療基礎(chǔ)的，和進(jìn)餐時 的。基礎(chǔ)的胰島素指的是連續(xù)的，例如隨時間釋放的胰島素，經(jīng)常在睡 覺前攝取。進(jìn)餐時的胰島素治療提供附加的劑量的更快作用的胰島素以 調(diào)節(jié)由包括糖和碳水化合物的新陳代謝的各種因素導(dǎo)致的血糖的波 動。對血糖波動的適當(dāng)?shù)恼{(diào)節(jié)需要準(zhǔn)確地測量血液中的葡萄糖的濃度。 無法準(zhǔn)確地測量血液中的葡萄糖的濃度能夠產(chǎn)生嚴(yán)重的并發(fā)癥，包括失 明和喪失末端循環(huán)，其能夠最終導(dǎo)致糖尿病人喪失使用他或她的手指、 手、腳等等的能力。已知用于確定血液樣本中的諸如例如葡萄糖的分析物的濃度的多 種方法。這樣的方法通常屬于兩種分類其中之一光學(xué)方法和電化學(xué)方 法。光學(xué)方法通常包括分光術(shù)以觀察通過分析物的濃度導(dǎo)致的流體內(nèi)的
光譜偏移，通常與當(dāng)與分析物結(jié)合時產(chǎn)生已知的顏色的反應(yīng)物協(xié)同。電 化學(xué)方法通常依靠電流(電流分析法)、電位(電位分析法)或積聚的 電荷(庫侖分析法)和分析物濃度之間的相互關(guān)系，通常與當(dāng)與分析物結(jié)合時產(chǎn)生電荷載體的反應(yīng)物協(xié)同。參看例如Columbus的美國專利No. 4,233,029、 Pace的4,225,410、 Columbus的4,323,536、 Muggli的 4,008,448、 Lilja等人的4,654,197、 Szuminsky等人的5,108,564、 Nankai 等人的5,120,420、 Szuminsky等人的5,128,015、 White的5,243,516、 Diebold等人的5,437,999、 Pollmann等人的5,288,636、 Carter等人的 5,628,890、 Hill等人的5,682,884、 Hill等人的5,727,548、 Crismore等人 的5,997,817、 Fujiwara等人的6,004,441、 Priedel等人的4,919,770、和 Shieh的6,054,039，以上專利特此全文作為參考加入這里。用于實(shí)施檢 驗(yàn)的生物傳感器典型地為其上具有與生物流體內(nèi)的感興趣的分析物化 學(xué)地反應(yīng)的反應(yīng)物的 一次性的檢驗(yàn)條。檢驗(yàn)條配合到非 一次性的檢驗(yàn)儀 表，使得檢驗(yàn)儀表能夠測量分析物和反應(yīng)物之間的反應(yīng)以便確定和為使 用者顯示分析物的濃度。在這樣的檢驗(yàn)儀表/檢驗(yàn)條系統(tǒng)中，確保對檢驗(yàn)條的正確的識別以便 確保正確的檢驗(yàn)結(jié)果是一般慣例。例如，單一的檢驗(yàn)儀表可以能夠分析 數(shù)個不同類型的檢驗(yàn)條，其中，每個類型的檢驗(yàn)條設(shè)計為用于檢驗(yàn)生物 流體內(nèi)的不同的分析物的存在。為了正確地實(shí)施檢驗(yàn)，檢驗(yàn)儀表必須知 道要對當(dāng)前使用中的檢驗(yàn)條執(zhí)行哪種類型的檢驗(yàn)。而且，檢驗(yàn)條內(nèi)的批到批的差異通常需要將校準(zhǔn)信息裝載到檢驗(yàn)儀 表內(nèi)以便確保準(zhǔn)確的檢驗(yàn)結(jié)果。用于將這樣的校準(zhǔn)信息下載到檢驗(yàn)儀表 內(nèi)的 一般慣例為使用插入檢驗(yàn)儀表的插座內(nèi)的電子只讀存儲器密鑰 (key) (ROM密鑰)。因?yàn)榇诵?zhǔn)數(shù)據(jù)可以僅對于特別的生產(chǎn)批的檢 驗(yàn)條是準(zhǔn)確的，使用者通常需要確認(rèn)當(dāng)前使用中的檢驗(yàn)條的批號是否匹 配ROM密鑰被編程的批號。本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員已知希望具有與檢驗(yàn)條相關(guān)的信息的許 多其它情況。試圖將信息編碼在檢驗(yàn)條上以用于通過檢驗(yàn)儀表讀取的現(xiàn) 有技術(shù)遇到許多問題，包括能夠編碼的信息的量嚴(yán)格地受限制和使用相 對大量的檢驗(yàn)條面積用于信息編碼功能。從而，需要允許將信息編碼到生物傳感器上以用于通過檢驗(yàn)儀表讀 取的系統(tǒng)和方法。本發(fā)明的目的為滿足此需要。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度的檢驗(yàn)條，其中，檢驗(yàn)條可以編碼有能夠通過檢驗(yàn)條插入的檢驗(yàn)儀表讀取的信 自在本發(fā)明的一個形式中，披露了用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分 析物的濃度的系統(tǒng)。系統(tǒng)包括檢驗(yàn)儀表和具有第一掩模構(gòu)造、第一電阻元件、和第二電阻元件的第一檢驗(yàn)條。第一掩模構(gòu)造包括能夠連接到 檢驗(yàn)儀表的第一測量電極；具有第一關(guān)聯(lián)的電阻和第一間隙的第一跡線 回路，其中，第一跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表；和具有第二關(guān)聯(lián)的電 阻和第二間隙的第二跡線回路，其中，第二跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀 表。第一電阻元件導(dǎo)電地連接到第一跡線回路以及橋接第一間隙，以及 第二電阻元件導(dǎo)電地連接到第二跡線回路以及橋^妻第二間隙。系統(tǒng)還包 括具有第二掩模構(gòu)造、第三電阻元件、和第四電阻元件的第二檢驗(yàn)條， 其中，第二掩模構(gòu)造與第一掩模構(gòu)造大致相似。第二掩模構(gòu)造包括能 夠連接到檢驗(yàn)儀表的第二測量電極；具有第三關(guān)聯(lián)的電阻和第三間隙的 第三跡線回路，其中，跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表；和具有第四關(guān)聯(lián) 的電阻和第四間隙的第四跡線回路，其中，第四跡線回路能夠連接到檢 驗(yàn)儀表。第三電阻元件導(dǎo)電地連接到第三跡線回路以及橋接第三間隙， 以及第四電阻元件導(dǎo)電地連接到第四跡線回路以及橋接第四間隙。檢驗(yàn) 儀表適合接收第一和第二檢驗(yàn)條，連接到第一和第二測量電極，以及連 接到第一和第二跡線回路。檢驗(yàn)儀表還適合通過比較第一和第二關(guān)聯(lián)的 電阻獲得第一電阻比，連接到第三和第四跡線回路，以及通過比較第三 和第四關(guān)聯(lián)的電阻獲得第二電阻比。檢驗(yàn)儀表還可以適合使得第一和第 二電阻比中的每個與對應(yīng)關(guān)于第一和/或第二條的信息的一個或多個預(yù) 先確定的值相關(guān)。在本發(fā)明的另 一 個形式中，披露了用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的 分析物的濃度的系統(tǒng)。系統(tǒng)包括檢驗(yàn)儀表和第一檢驗(yàn)條。第一檢驗(yàn)條包 括能夠連接到檢驗(yàn)儀表的第一測量電極；具有第一關(guān)聯(lián)的電阻的第一 跡線回路，其中，第一跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表；和具有第二關(guān)聯(lián) 的電阻的第二跡線回路，其中，第二跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表。檢 驗(yàn)儀表適合接收第一檢驗(yàn)條；連接到第一測量電極、第一跡線回路、
和第二跡線回路；以及通過比較第一和第二關(guān)聯(lián)的電阻獲得第一電阻 比。在本發(fā)明的另 一 個形式中，披露了用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的 分析物的濃度的方法。該方法包括提供檢驗(yàn)儀表以及提供第 一檢驗(yàn)條。 第一檢驗(yàn)條包括能夠連接到檢驗(yàn)儀表的第一測量電極；具有第一關(guān)聯(lián) 的電阻的第一跡線回路，其中，第一跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表；和 具有第二關(guān)聯(lián)的電阻的第二跡線回路，其中，第二跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表。方法還包括在檢驗(yàn)儀表內(nèi)接收第一檢驗(yàn)條；通信地連接第 一測量電極、第一跡線回路、和第二跡線回路與測量儀表；以及通過比 較第 一 和第二關(guān)聯(lián)的電阻獲得第 一 電阻比。在本發(fā)明的另 一 個形式中，披露了用于將能夠通過檢驗(yàn)儀表讀取的 信息編碼到檢驗(yàn)條上的方法，其中，檢驗(yàn)條適合用于測量生物流體內(nèi)的 感興趣的分析物的濃度。方法包括選擇與希望編碼到檢驗(yàn)條上的第 一詞 關(guān)聯(lián)的第一電阻比以及在檢驗(yàn)條襯底的表面上形成測量電極，其中，測 量電極能夠連接到檢驗(yàn)儀表。方法還包括在檢驗(yàn)條襯底的表面上形成第 一電跡線和第二電跡線，其中，能夠通過檢驗(yàn)儀表獲得第一和第二電跡 線中的每個的電阻，以及其中，第一電跡線的電阻和第二電跡線的電阻 比有效地匹配第一電阻比。


將參考附圖僅作為示例更進(jìn)一 步地描述本發(fā)明，其中圖1為用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度的第一典型的檢驗(yàn)條的分解透視圖。圖2為用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度的第二典型的檢驗(yàn)條的透視圖。圖3示出了適合與本發(fā)明一起使用的燒蝕設(shè)備的視圖。圖4為示出了第二掩模的圖3所示的激光燒蝕設(shè)備的視圖。圖5為適合與本發(fā)明一起使用的燒蝕設(shè)備的視圖。圖6為用于校驗(yàn)檢驗(yàn)儀表內(nèi)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)對當(dāng)前插入檢驗(yàn)儀表的檢驗(yàn)條的適用性的現(xiàn)有技術(shù)的過程的示意性的過程流程圖。圖7為用于校驗(yàn)檢驗(yàn)儀表內(nèi)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)對當(dāng)前插入檢驗(yàn)儀表的檢驗(yàn)條的適用性的本發(fā)明的第 一 實(shí)施例的過程的示意性的過程流程圖。
圖8為根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的檢驗(yàn)條電極和觸點(diǎn)墊設(shè)置的示意 性的平面圖。圖9為示出了修改的跡線的圖8所示的檢驗(yàn)條電極和觸點(diǎn)墊設(shè)置的示意性的平面圖。圖10為示出了另一個修改的跡線的圖8所示的檢驗(yàn)條電極和觸點(diǎn) 墊設(shè)置的示意性的平面圖。圖11為示出了再一個修改的跡線的圖8所示的檢驗(yàn)條電極和觸點(diǎn) 墊設(shè)置的示意性的平面圖。圖12為根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的檢驗(yàn)條電極和觸點(diǎn)墊設(shè)置的示 意性的平面圖。圖13為根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施例的檢驗(yàn)條電極和觸點(diǎn)墊設(shè)置的示 意性的平面圖。圖14為根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施例的檢驗(yàn)條電極和觸點(diǎn)墊設(shè)置的示 意性的平面圖。圖15為示出了替代的電阻元件和修改的跡線的圖14所示的檢驗(yàn)條 電極和觸點(diǎn)墊設(shè)置的示意性的平面圖。
具體實(shí)施方式
為了促進(jìn)理解本發(fā)明的原理，現(xiàn)在將參考附圖中示出的實(shí)施例，以 及將使用特定的語言來描述實(shí)施例。然而，應(yīng)該理解，不打算限制本發(fā) 明的范圍。希望保護(hù)本發(fā)明涉及的領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員通常地能夠想 到的說明的裝置的替代和修改和如在這里說明的本發(fā)明的原理的更進(jìn) 一步的應(yīng)用。特別地，雖然針對血糖儀表討論本發(fā)明，預(yù)想本發(fā)明能夠 與用于測量其它分析物和其它樣本類型的裝置 一起使用。這樣的替代的 實(shí)施例需要對這里討論的實(shí)施例進(jìn)行某些改造，如對于本領(lǐng)域中的普通 技術(shù)人員顯而易見的。雖然本發(fā)明的系統(tǒng)和方法可以與具有多種設(shè)計以及用多種構(gòu)成技 術(shù)和過程制造的檢驗(yàn)條一起使用，典型的電化學(xué)檢驗(yàn)條在圖1中示出， 以及通常用IO指示。參考圖1,檢驗(yàn)條10包括由在頂部表面上涂敷有 50納米厚的導(dǎo)電(金)層(例如，通過濺射或氣相淀積)的350微米厚 的聚酯(諸如可以從DuPont購買到的Melinex329)的不透明的件形成 的底部襯底12。電極、連接跡線和觸點(diǎn)墊隨后通過激光燒蝕過程在導(dǎo)電 層內(nèi)形成圖案。依靠通過石英上鉻的掩模的準(zhǔn)分子激光執(zhí)行激光燒蝕過 程。掩模圖案導(dǎo)致反射激光場的部分，同時允許場的其它部分通過，在 激光接觸的位置燒蝕的金上產(chǎn)生圖案。在下文中更加詳細(xì)地描述激光燒蝕過程。例如，工作電極20、反電極22、劑量充足工作電極24、和劑 量充足反電極26可以如圖所示形成以及分別聯(lián)結(jié)到測量觸點(diǎn)墊W、 C、 DW和DC。這些觸點(diǎn)墊在檢驗(yàn)條IO上提供導(dǎo)電區(qū)域，以一旦檢驗(yàn)條IO 插入檢驗(yàn)儀表接觸檢驗(yàn)儀表的連接器觸點(diǎn)。當(dāng)在這里使用時，術(shù)語"測 量觸點(diǎn)墊"限定為導(dǎo)電地聯(lián)結(jié)到檢驗(yàn)條的測量電極以及為用于測量諸如的檢驗(yàn)條上的觸點(diǎn)墊。當(dāng)在這里使用時，術(shù)語"信息觸點(diǎn)墊"限定為不 是測量觸點(diǎn)墊以及用于將信息編碼到檢驗(yàn)條上的檢驗(yàn)條上的觸點(diǎn)墊。隨后在底部襯底12在電極上方延伸的區(qū)域內(nèi)涂敷作為連續(xù)的、特 別薄的反應(yīng)物膜的反應(yīng)物層14。反應(yīng)物層14為在圖1所示的標(biāo)記為"反 應(yīng)物層"的區(qū)內(nèi)橫過襯底12的大約6毫米寬的帶。例如，此區(qū)可以以 50克每平方米涂敷的表面積的濕涂層重量涂敷。反應(yīng)物條傳統(tǒng)地用在線 干燥系統(tǒng)干燥，其中，標(biāo)稱的空氣溫度為IIO攝氏度。處理的速率標(biāo)稱 為30 - 38米每分鐘以及取決于反應(yīng)物的流變能力。在襯底12的情況中，在連續(xù)的巻軸內(nèi)處理材料，使得電極圖案與 巻軸的長度正交。 一旦襯底12已經(jīng)涂敷有反應(yīng)物，切開隔離物16以及 在巻軸到巻軸過程中將隔離物16放置到襯底12上。由在全部背部的和 腹部的表面涂敷有25微米的PSA (疏水的粘合劑)的100微米的聚酯 (例如，可以從DuPont購買到的Melinex329 )形成的兩個隔離物16施 加到底部襯底12,使得隔離物16分開1.5毫米以及工作電極、反電極 和劑量充足電極在此間隙內(nèi)居中。由在腹部的表面上涂敷有親水的膜的 IOO微米的聚酯形成的頂部箔層18 (使用美國專利No.5,997,817中描述 的過程)放置在隔離物16上方。親水的膜涂敷有標(biāo)稱厚度為IO微米的 Vitel和Rhodapex表面活性劑的混合物。使用巻軸到巻軸過程層壓頂部 箔層18。能夠隨后依靠切開和切割從作為結(jié)果的材料的巻軸生產(chǎn)檢驗(yàn) 條。雖然圖1所示的基本的檢驗(yàn)條10能夠提供對全血樣本內(nèi)的血糖的 準(zhǔn)確的測量，檢驗(yàn)條10不能為檢驗(yàn)條10插入的檢驗(yàn)儀表提供任何識別關(guān)于檢驗(yàn)條的任何信息的手段。本發(fā)明提出能夠?qū)⑴c檢驗(yàn)條相關(guān)的信息 直接編碼到檢驗(yàn)條自身上的系統(tǒng)，使得能夠?qū)⒋诵畔⑤斔偷綑z驗(yàn)條插入 的檢驗(yàn)儀表。如在這里描述的制備編碼有信息的檢驗(yàn)條的一個方法為通過使用激光燒蝕技術(shù)。使用這些技術(shù)制備用于生物傳感器的電極的示例在2001 年5月25日提交的題目為"Biosensor"的美國專利申請出版物號 2002/0192115以及在2003年12月16日提交的題目為"Laser Defined Features for Patterned Laminates and Electrodes" 的美國專利號6,662,439 中描述，全部兩篇披露物特此全文作為參考加入這里。當(dāng)在這里使用 時，術(shù)語"編碼"限定為從一個通信系統(tǒng)轉(zhuǎn)換到另一個以及包括以將為 檢驗(yàn)儀表提供信息的方式控制或操縱檢驗(yàn)條的特別的方面的情況。這里 披露的系統(tǒng)和方法包括模擬比較的方法和信息通過檢驗(yàn)儀表讀取、輸送 到檢驗(yàn)儀表、和從檢驗(yàn)條收集的情況。在本發(fā)明中，希望提供電部件相對于彼此和相對于整個的生物傳感 器的準(zhǔn)確的放置。在另一個實(shí)施例中，至少部分地通過使用通過具有用 于電部件的精確的圖案的掩模或其它裝置執(zhí)行的寬場激光燒蝕實(shí)現(xiàn)部 件的相對放置。這允許鄰近的邊緣的準(zhǔn)確的定位，還通過邊緣的光滑度 的緊公差增強(qiáng)鄰近的邊緣的準(zhǔn)確的定位。圖2示出了用于說明本發(fā)明的激光燒蝕過程的簡單的生物傳感器 401，包括襯底402，襯底402具有形成在其上的導(dǎo)電材料403，導(dǎo)電材 料403限定電極系統(tǒng)，電極系統(tǒng)包括第 一 電極組404和第二電極組405 ， 和分別對應(yīng)的跡線406、 407和觸點(diǎn)墊408、 409。導(dǎo)電材料403可以包 含純的金屬或合金或其它金屬化的導(dǎo)體的材料。導(dǎo)電材料通常在用于形 成電極的激光的波長是吸收性的以及厚度適合迅速和精確的處理。非限 制性的示例包括鋁、碳、銅、鉻、金、銦錫氧化物(ITO) 、 4巴、拍、 銀、錫氧化物/金、鈦、以上的混合物、和這些元素的合金或金屬化合物。 在一些實(shí)施例中，導(dǎo)電材料包括貴金屬或合金或它們的氧化物。在其它 實(shí)施例中，導(dǎo)電材料包括金、釔、鋁、鈦、柏、ITO和鉻。在其它實(shí)施 例中，導(dǎo)電材料的厚度范圍為從大約IO納米到80納米。在更進(jìn)一步的 實(shí)施例中，導(dǎo)電材料的厚度范圍為從大約30納米到70納米。在更進(jìn)一 步的實(shí)施例中，導(dǎo)電材料的厚度等于大約50納米。應(yīng)該理解，導(dǎo)電材 料的厚度取決于材料的透射性質(zhì)和與生物傳感器的使用相關(guān)的其它因 素。
雖然沒有說明，應(yīng)該理解，作為結(jié)果的形成圖案的導(dǎo)電材料能夠涂 敷或鍍有附加的金屬層。例如，導(dǎo)電材料可以為銅，隨后用激光將銅燒蝕形成電極圖案；隨后，可以為銅鍍鈦/鵠層，以及隨后鍍金層，以形成 希望的電極。在一些實(shí)施例中，使用位于底基402上的單一層導(dǎo)電材料。 雖然通常不是必要的，如在本領(lǐng)域中眾所周知的，可以通過使用諸如鉻 鎳或鈦的種子或輔助層增強(qiáng)導(dǎo)電材料到底基的附著。在其它實(shí)施例中， 生物傳感器401具有單一層金、釔、鉑或ITO。如圖3-5所示，分別使用兩個設(shè)備410、 410'示例性地制造生物傳 感器401。應(yīng)該理解，除非另外描述，設(shè)備410、 410，以相似的方式操作。 首先參考圖3，通過將具有80納米的金疊片的大約40毫米寬的帶狀物 420的巻軸饋送到定制配合寬場激光燒蝕設(shè)備410內(nèi)制造生物傳感器 401。設(shè)備410包括產(chǎn)生激光412的束的激光源411、鍍鉻的石英掩模 414、和光學(xué)器件416。應(yīng)該理解，雖然說明的光學(xué)器件416為單一透鏡， 在一些實(shí)施例中，光學(xué)器件416為合作以形成預(yù)先確定的形狀的光412 的多種透鏡。適合的燒蝕設(shè)備410 (圖3-4)的非限制性的示例為可以從LPKF Laser Electronic GmbH, of Garbsen, Germany 購買到的定制的 MicrolineLaser 200-4 ;敫光系統(tǒng)，其結(jié)合了可以乂人Lambda Physik AG, Gottingen, Germany購買到的LPX-400 、 LPX-300或LPX-200激光系統(tǒng)和 可以/人International Phototool Company, Colorado Springs, Co購買到的 鍍鉻的石英掩模。對于MicrolmeLaser 200-4激光系統(tǒng)(圖3-4),激光源411為LPX-200 KrF-UV-laser。然而，應(yīng)該理解，根據(jù)本披露物，能夠使用更高波長的 UV激光。激光源411工作在248納米，脈沖能量為600mJ,以及脈沖 重復(fù)頻率為50Hz。激光束412的強(qiáng)度可以通過電介質(zhì)光束衰減器(沒有 示出)在3%和92%之間無限地調(diào)節(jié)。束型面為27x 15平方毫米(0.62 平方英寸)以及脈沖持續(xù)時間為25納秒。掩模414上的布局通過光學(xué) 元件光束擴(kuò)展器、均化器、和物鏡(沒有示出)均勻地投射。已經(jīng)通過 測量能量型面確定了均化器的性能。成像光學(xué)器件416將掩模414的結(jié) 構(gòu)傳遞到帶狀物420上。成像比率為2:1以一方面允許移除大的區(qū)域， 另一方面保持能量密度低于施加的鉻掩模的燒蝕點(diǎn)。雖然說明了 2:1的 成像，應(yīng)該理解，根據(jù)本披露物，根據(jù)希望的設(shè)計需求，任何數(shù)量的替 代的比率是可能的。帶狀物420如箭頭425所示般運(yùn)動以允許接連地?zé)?蝕多個布局段。掩模414的定位、帶狀物420的運(yùn)動、和激光能量由計算機(jī)控制。 如圖3所示，激光束412投射到要燒蝕的帶狀物420上。通過掩模414 的透明區(qū)域或窗418的光412從帶狀物420燒蝕金屬。掩模414的鉻涂 敷的區(qū)域424阻塞激光412以及防止在那些區(qū)域燒蝕，在帶狀物420的 表面上導(dǎo)致金屬化的結(jié)構(gòu)。現(xiàn)在參考圖4,電部件的完整的結(jié)構(gòu)可能需 要通過第二掩模414，的附加的燒蝕步驟。應(yīng)該理解，根據(jù)本披露物，根 據(jù)光學(xué)器件和要燒蝕的電部件的尺寸，僅單一燒蝕步驟或多于兩個燒蝕 步驟可以是必要的。此外，應(yīng)該理解，根據(jù)本披露物，代替多個掩模， 可以在同 一 掩模上形成多個場。特別地，適合的燒蝕設(shè)備410'(圖5)的第二非限制性的示例為可 以從LPKF Laser Electronic GmbH, of Garbsen， Germany購買到的定制的 激光系統(tǒng)，其結(jié)合了可以從Lambda Physik AG, Gottingen, Germany購買 到的Lambda STEEL(穩(wěn)定能量準(zhǔn)分子激光)激光系統(tǒng)和可以從 International Phototool Company, Colorado Springs, Co購買到的鍍4各的石 英掩模。激光系統(tǒng)特征為在308納米波長達(dá)到1000mJ脈沖能量。此外， 激光系統(tǒng)的頻率為100Hz。設(shè)備410'可以形成為如圖3和4所示以兩次 通過生產(chǎn)生物傳感器。在某些實(shí)施例中，設(shè)備410'的光學(xué)器件允許以25 納秒單次通過形成10 x 40毫米圖案。雖然不希望被特定的理論束縛，相信通過掩模414、 414，、 414"的 激光脈沖或束412在帶狀物420上的表面402的小于1微米內(nèi)被吸收。 束412的光子的能量足夠?qū)е鹿饨庾饔煤驮诮饘?聚合物分界面處的化 學(xué)鍵的迅速破壞。相信此迅速的化學(xué)鍵破壞導(dǎo)致吸收區(qū)內(nèi)的突然的壓力 增加以及推動材料(金屬膜403 )從聚合物底基表面驅(qū)逐。因?yàn)榈湫偷?脈沖持續(xù)時間為20-25納秒左右，與材料的互相作用非常迅速地發(fā)生以 及對導(dǎo)電材料403的邊緣和周圍結(jié)構(gòu)的熱損害最小。和本發(fā)明預(yù)想的一 樣，作為結(jié)果的電部件的邊緣具有高邊緣質(zhì)量和準(zhǔn)確的放置。用于從帶狀物420移除或燒蝕金屬的能流能量取決于形成帶狀物 420的材料、金屬膜到底基材料的粘附、金屬膜的厚度、以及可能取決 于用于將膜放置到底基材料上的過程，即支撐和氣相沉積。對于金在 KALADEX⑧上的能流級范圍為從大約50到大約90mJ/平方厘米，在聚
酰亞胺上為大約100到大約120mJ/平方厘米，以及在MELINEX⑧上為 大約60到大約120mJ/平方厘米。應(yīng)該理解，根據(jù)本披露物，小于或大 于上面提到的能流級的能流級可能適用于其它底基材料。通過使用掩模414、 414'和414"實(shí)現(xiàn)帶狀物420的區(qū)域的圖案形 成。每個掩模414、 414'和414"示例性地包括包含要形成的電極部件圖 案的預(yù)先確定的部分的精確的兩維圖的掩模場422。圖3示出了包括觸 點(diǎn)墊和跡線的一部分的摘^莫場422。如圖4所示，第二4務(wù);漠414'包含跡 線的第二對應(yīng)的部分和包含指狀物的電極圖案。如前所述，應(yīng)該理解， 根據(jù)要燒蝕的區(qū)域的尺寸，掩模414能夠包含電極圖案的完整的圖(圖 5)，或與根據(jù)本披露物的那些在圖3和4中示出的不同的圖案的部分。 預(yù)想在本發(fā)明的 一 個方面， 一 次激光燒蝕檢驗(yàn)條上的電部件的整個圖 案，即，包圍檢驗(yàn)條的整個尺寸的寬場，如通過圖5所示的掩模414" 示出的。在替代物中，以及如圖3和4所示，接連地制作整個生物傳感 器的多個部分。雖然將在下文中討論掩模414，應(yīng)該理解，除非另有說明，討論將 同樣適用于掩模414'、 414"。參考圖3，被鉻保護(hù)的掩模場422的區(qū)域 424將阻塞激光束412投射到帶狀物420。掩模場422內(nèi)的透明區(qū)域或 窗418允許激光束412通過掩模414以及沖擊帶狀物的預(yù)先確定的 區(qū)域。如圖3所示，掩模場422的透明的區(qū)域418對應(yīng)導(dǎo)電材料403將 要從其被移除的帶狀物420的區(qū)域。此外，掩模場422的長度通過線430示出以及寬度通過線432示出。 給定LPX-200的成像比率為2:1,應(yīng)該理解，掩模的長度430為作為結(jié) 果的圖案的長度434的長度的兩倍，以及掩模的寬度432為帶狀物上420 上的作為結(jié)果的圖案的寬度436的寬度的兩倍。光學(xué)器件416減小沖擊 帶狀物420的激光束412的尺寸。應(yīng)該理解，根據(jù)本披露物，掩模場422 和作為結(jié)果的圖案的相對尺寸可以改變。掩模414'(圖4)用于完成電 部件的兩維圖。繼續(xù)參考圖3，在激光燒蝕設(shè)備410中，準(zhǔn)分子激光源411發(fā)射束 412,束412通過石英上鉻的掩模414。掩模場422導(dǎo)致激光束412的部 分反射，同時允許束的其它部分通過，在金膜上被激光束412沖擊的地 方形成圖案。應(yīng)該理解，帶狀物420可以相對于設(shè)備410靜止或通過設(shè) 備410在巻軸上連續(xù)地運(yùn)動。因此，帶狀物420的非限制性的運(yùn)動速率
可以從大于0m/min到大約100m/min。在一些實(shí)施例中，帶狀物420的解，根據(jù)本披露物，一 帶;犬二42。的運(yùn)動速率僅受到選擇的設(shè)備4ll)的限 制以及才艮據(jù)激光源411的脈沖持續(xù)時間可以超過100m/min。一旦在帶狀物420上形成掩模414的圖案，重繞帶狀物以及將其再 次饋送通過設(shè)備410，進(jìn)行掩模414'(圖4)。應(yīng)該理解，替代地，根 據(jù)本披露物，激光設(shè)備410可以串聯(lián)定位。從而，通過使用掩模4M、 414'，能夠使用重復(fù)步驟工藝為帶狀物420的大的區(qū)域形成圖案，包括 在相同的掩模區(qū)域內(nèi)的多個掩模場422，以使得能夠在底基的襯底上經(jīng) 濟(jì)地形成復(fù)雜的電極圖案和其它電部件、形成電極部件的精確的邊緣、 和從底基材料移除更大量的金屬膜。將信息直接編碼到檢驗(yàn)條上的能力能夠顯著地增加檢驗(yàn)條的性能 以及增強(qiáng)檢驗(yàn)條與檢驗(yàn)儀表的交互作用。例如，本領(lǐng)域中眾所周知為檢通過與i瓶檢驗(yàn)條一起供應(yīng)只讀存儲器密鑰(ROM密鑰)實(shí)現(xiàn)'，其中， 在ROM密鑰上編碼適用于瓶內(nèi)的檢驗(yàn)條的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。在使用來自瓶的 檢驗(yàn)條之前，使用者將ROM密鑰插入檢驗(yàn)儀表內(nèi)的端口 ，使得檢驗(yàn)儀 表可以在使用檢驗(yàn)條執(zhí)行檢驗(yàn)的同時獲取此數(shù)據(jù)。能夠通過允許儀表電 子地評定ROM密鑰數(shù)據(jù)對當(dāng)前插入儀表的檢驗(yàn)條的適用性校驗(yàn)測量結(jié) 果的質(zhì)量，不需要如在現(xiàn)有技術(shù)中教示的光學(xué)讀取器讀取檢驗(yàn)條上的條 形碼信息。當(dāng)前從市場上可以購買到的產(chǎn)品要求使用者涉及到校驗(yàn)是否已經(jīng) 將對于當(dāng)前使用的檢驗(yàn)條的正確的ROM密鑰插入檢驗(yàn)儀表。例如，圖6 示出了用于校驗(yàn)ROM密鑰數(shù)據(jù)和檢驗(yàn)條批標(biāo)識符(ID )號碼之間的匹 配的典型的現(xiàn)有技術(shù)的過程。在執(zhí)行此過程之前，已經(jīng)將ROM密鑰插 入檢驗(yàn)儀表，已經(jīng)將ROM數(shù)據(jù)裝載到檢驗(yàn)儀表內(nèi)，以及關(guān)閉檢驗(yàn)儀表。 過程通過將檢驗(yàn)條插入檢驗(yàn)儀表(步驟100)開始，這導(dǎo)致檢驗(yàn)儀表自 動地開啟(步驟102)。檢驗(yàn)儀表顯示當(dāng)前裝載的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的批ID (步 驟104 )以便給使用者機(jī)會以校驗(yàn)此批ID是否匹配印刷在包含來自與當(dāng) 前插入檢驗(yàn)儀表內(nèi)的檢驗(yàn)條相同的生產(chǎn)批的多個檢驗(yàn)條的瓶/包裝(例 如)上的糸匕ID。因?yàn)檫^程依靠使用者執(zhí)行此檢查，不能保證進(jìn)行或如果進(jìn)行了不能 保證準(zhǔn)確地進(jìn)行此檢查。因此，圖6所示的過程指示使用者比較檢驗(yàn)儀表顯示器上的批ID與檢驗(yàn)條瓶上的批ID (步驟106)以及確定(步驟 108)是否匹配的可選的步驟。如果兩個批ID不匹配，那么使用者應(yīng)該 移除檢驗(yàn)條(步驟110)以及將匹配檢驗(yàn)條瓶的ROM密鑰插入檢驗(yàn)儀 表(步驟112),使得能夠?qū)⒄_的校準(zhǔn)編碼裝載到檢驗(yàn)儀表內(nèi)。過程 將隨后當(dāng)檢驗(yàn)條插入時在步驟100開始。 一旦已經(jīng)確定檢驗(yàn)儀表的校準(zhǔn) 編碼批ID匹配^r一瞼條的批ID (步驟108)，那么能夠通過將血供應(yīng)到 檢驗(yàn)條(步驟24)以及開始血糖測量周期(步驟116)繼續(xù)測量順序。應(yīng)該理解，在圖6所示的現(xiàn)有技術(shù)的過程中，校驗(yàn)測量校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的 準(zhǔn)確性的責(zé)任完全由使用者承擔(dān)。有時會遇到使用者忽略與檢驗(yàn)條一起 提供的規(guī)定的使用指導(dǎo)的情況。 一個這樣的示例為從第 一瓶移除在批X 中制造的檢驗(yàn)條以及將這些檢驗(yàn)條合并在包含在批Y中制造的檢驗(yàn)條 的第二瓶內(nèi)。因此，希望將批特有的校準(zhǔn)信息提供到單獨(dú)的檢驗(yàn)條級而 不是如在現(xiàn)有技術(shù)中的提供到瓶級。為了從過程移除人的錯誤或疏忽的可能性，以及由此改進(jìn)測量的質(zhì) 量，本發(fā)明的信息觸點(diǎn)墊允許檢驗(yàn)儀表自身執(zhí)行關(guān)于當(dāng)前裝載的校準(zhǔn)數(shù) 據(jù)對當(dāng)前插入的檢驗(yàn)條的適用性的檢查。圖7示出了允許檢驗(yàn)儀表主動 地參與這樣的校驗(yàn)的本發(fā)明的第一實(shí)施例的過程。與圖6中的對應(yīng)的步 驟相同的圖7所示的過程的步驟用相同的參考指示符編號。在執(zhí)行此過程之前，已經(jīng)將ROM密鑰插入檢驗(yàn)儀表，已經(jīng)將ROM 數(shù)據(jù)裝載到檢驗(yàn)儀表內(nèi)，以及關(guān)閉檢驗(yàn)儀表。過程通過將檢驗(yàn)條插入檢 驗(yàn)儀表(步驟100)開始，這導(dǎo)致檢驗(yàn)儀表自動地開啟(步驟10"。 檢驗(yàn)儀表隨后測量已經(jīng)被指定為用于將信息編碼到檢驗(yàn)條上的檢驗(yàn)條 上的不同的信息和測量觸點(diǎn)墊之間的導(dǎo)電率以便確定檢驗(yàn)條的批或族 ID(步驟200)。根據(jù)可以編碼到檢驗(yàn)條上的信息的數(shù)量，可能或不可 能將獨(dú)特的生產(chǎn)批號編碼到檢驗(yàn)條上。如果沒有足夠的空間編碼獨(dú)特的 生產(chǎn)批ID,仍然可能將校準(zhǔn)族信息編碼到檢驗(yàn)條上。例如，能夠用于檢 驗(yàn)儀表的檢驗(yàn)條可以為兩個或更多族，其中，在族檢驗(yàn)條設(shè)計之間存在 顯著的差異。例如，兩個族可以在檢驗(yàn)條上使用不同的反應(yīng)物。在這樣 的情況中，檢驗(yàn)儀表仍然能夠校驗(yàn)裝載的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)匹配編碼到檢驗(yàn)條上 的檢驗(yàn)條族，即使不可能校驗(yàn)檢驗(yàn)條的精確的生產(chǎn)批。因此，當(dāng)在這里 使用時，術(shù)語"批ID"打算包括識別檢驗(yàn)條或校準(zhǔn)數(shù)據(jù)屬于的組的任何 信息，即使組沒有小到檢驗(yàn)條的生產(chǎn)批。返回圖7所示的過程，檢驗(yàn)儀表比較(步驟202 )存儲在當(dāng)前插入 儀表內(nèi)的ROM密鑰內(nèi)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)(或之前裝載到檢驗(yàn)儀表內(nèi)部存儲器 內(nèi)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù))的批ID與從檢驗(yàn)條讀取的批ID。如果它們不匹配，檢 驗(yàn)儀表顯示當(dāng)前裝載的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的批ID (步驟204)和警告，以便給使 用者機(jī)會將正確的檢驗(yàn)條或不同的ROM密鑰插入檢驗(yàn)儀表。替代地， 檢驗(yàn)儀表可以簡單地為使用者顯示錯誤訊息。在檢驗(yàn)儀表的結(jié)果存儲器 208內(nèi)標(biāo)記(步驟206)批ID不匹配的事實(shí)，使得在存儲器208內(nèi)記錄 由于批ID差異，獲得的測量結(jié)果可疑。替代地，可以禁止使用者進(jìn)行 檢驗(yàn)以及可以異常終止過程。因?yàn)樵谝恍?shí)施例中希望如果批ID不匹配不完全地去能檢驗(yàn)儀 表，圖7所示的過程指示使用者比較檢驗(yàn)儀表顯示器上的批ID與檢驗(yàn) 條瓶上的批ID (步驟106)以及確定(步驟108)是否匹配的可選的步 驟。如果兩個批ID不匹配，那么使用者應(yīng)該移除檢驗(yàn)條(步驟110)以 及將匹配檢驗(yàn)條瓶的ROM密鑰插入檢驗(yàn)儀表(步驟112)，使得能夠 將正確的校準(zhǔn)編碼裝載到檢驗(yàn)儀表內(nèi)。過程將隨后當(dāng)檢驗(yàn)條插入時在步 驟100開始。還可選地，如果檢驗(yàn)儀表能夠在儀表的內(nèi)部存儲器內(nèi)存儲多于一個個批ID以及自動地選擇匹配當(dāng)前插入儀表內(nèi)的檢驗(yàn)條的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)組。 儀表隨后返回步驟24。一旦已經(jīng)確定檢驗(yàn)儀表的校準(zhǔn)編碼批ID匹配檢驗(yàn)條的批ID (步驟 108)，那么能夠通過將血供應(yīng)到檢驗(yàn)條(步驟24)以及開始血糖測量 周期(步驟116)繼續(xù)測量順序。應(yīng)該理解，圖7所示的過程在當(dāng)檢驗(yàn) 條的批ID不匹配當(dāng)前選擇的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)組的批ID時自動地警告使用者方 面對圖6所示的現(xiàn)有技術(shù)的過程進(jìn)行了改進(jìn)。此外，如果用此不匹配的 組合實(shí)施檢驗(yàn)，那么標(biāo)記檢驗(yàn)儀表內(nèi)的結(jié)果存儲器以指示結(jié)果可能不會 像使用正確的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)組的情況中那樣準(zhǔn)確。作為將信息直接編碼到檢驗(yàn)條上的有用性的更進(jìn)一 步的示例，本發(fā)明允許檢驗(yàn)條激活或去活編程到檢驗(yàn)儀表內(nèi)的某些特征。例如，單一的 同的語言。通過為檢驗(yàn)條編碼指示檢驗(yàn)條在哪個市場銷售的信息，編碼 的信息能夠?qū)е聶z驗(yàn)儀表以適用于該市場的語言顯示使用者指導(dǎo)和數(shù) 據(jù)。而且，儀表可以設(shè)計為用于在某個地區(qū)市場銷售，以及希望儀表不 與在不同的地區(qū)市場獲得的檢驗(yàn)條一起使用(例如當(dāng)政府法規(guī)要求在一 個地區(qū)市場銷售的檢驗(yàn)條具有與那些在其它地區(qū)市場銷售的檢驗(yàn)條不 同的特征時)。在此情況中，檢驗(yàn)儀表可以使用編碼到檢驗(yàn)條上的信息 確定檢驗(yàn)條不是來自指定的地區(qū)市場以及因此可能沒有提供法規(guī)要求 的特征，在該情況中可以異常終止或標(biāo)記檢驗(yàn)。此外，商業(yè)模式(預(yù)訂商業(yè)模式)可以應(yīng)用于檢驗(yàn)條的分配，其中， 將檢驗(yàn)條擴(kuò)散到其它銷售渠道中是不希望的。例如，使用者可以參加預(yù) 定程序，其中，為他們提供設(shè)計為用于預(yù)訂參與者使用的檢驗(yàn)條，以及 可以為預(yù)訂參與者定期地提供預(yù)訂檢驗(yàn)條(例如通過郵件或任何其它方 便的遞送形式)。使用本發(fā)明的技術(shù)，"預(yù)訂檢驗(yàn)條"可以編碼為指示 它們是供應(yīng)給預(yù)訂參與者的。為了各種原因，預(yù)訂檢驗(yàn)條的制造者可能 不希望在其它的貿(mào)易渠道中銷售預(yù)訂檢驗(yàn)條。防止此現(xiàn)象的一個方法為 設(shè)計提供給不是預(yù)訂參與者的使用者的檢驗(yàn)儀表不與預(yù)訂檢驗(yàn)條一起 工作。因此，本發(fā)明可以用于在預(yù)訂商業(yè)模式中為預(yù)訂參與者提供檢驗(yàn) 儀表，該檢驗(yàn)儀表編程序?yàn)榻邮芫幋a為指示它們是遞送給基于預(yù)訂的使 用者的預(yù)訂檢驗(yàn)條，而且其它檢驗(yàn)儀表編程序?yàn)椴唤邮苓@樣編碼的預(yù)訂 檢驗(yàn)條。作為更進(jìn)一 步的示例，檢驗(yàn)儀表可以具有當(dāng)?shù)?一 次銷售檢驗(yàn)儀表時 不是活性的設(shè)計在儀表內(nèi)的某些功能(軟件和/或硬件實(shí)現(xiàn)的)。在以后 的日期能夠通過包括將被儀表認(rèn)可為激活這些潛在的特征的指令的編 碼在該以后的時間銷售的檢驗(yàn)條上的信息來升級檢驗(yàn)儀表的性能。當(dāng)在 這里使用時，術(shù)語"激活檢驗(yàn)儀表的潛在的特征"包括開啟以前為非活 性的檢驗(yàn)儀表的功能，使得檢驗(yàn)儀表的功能從那時以后無限地保持被激 活(即，在用本檢驗(yàn)條的當(dāng)前的檢驗(yàn)結(jié)束之后)。能夠使用本發(fā)明編碼到檢驗(yàn)條上的信息的另 一 個示例為指示檢驗(yàn) 條是銷售給醫(yī)院市場還是消費(fèi)者市場。具有此信息可以允許檢驗(yàn)儀表相 應(yīng)地采取動作，諸如為醫(yī)院專業(yè)人員顯示細(xì)節(jié)較少的使用者指導(dǎo)。本領(lǐng) 域中的普通技術(shù)人員應(yīng)該理解，可以通過經(jīng)由本發(fā)明提供信息編碼促進(jìn) 檢驗(yàn)條和檢驗(yàn)儀表之間的不同類型的通信。圖8-15示出了用于將信息編碼到檢驗(yàn)條上的系統(tǒng)和方法。這些編
碼系統(tǒng)和方法可以專門地在檢驗(yàn)條上使用，以及也能夠結(jié)合其它編碼系統(tǒng)和方法使用。 一般而言，圖8-15所示的編碼系統(tǒng)和方法提供為連接 到一對關(guān)聯(lián)的觸點(diǎn)墊的至少一個跡線或跡線回路的電阻4艮據(jù)要編碼到 每個單獨(dú)的檢驗(yàn)條上的信息在檢驗(yàn)條之間改變。檢驗(yàn)儀表又測量插入的 檢驗(yàn)條上的觸點(diǎn)墊的特別的對之間的跡線或跡線回路的電阻，以及解碼 編碼在檢驗(yàn)條上的電阻相關(guān)的信息。 一般而言，檢驗(yàn)儀表能夠以數(shù)字的 方式確定某個連接存在或不存在，以及能夠以模擬的方式測量任何連接 的觸點(diǎn)墊之間的電阻。檢驗(yàn)儀表獲得數(shù)字和模擬信息的能力允許本發(fā)明 的系統(tǒng)和方法與其它編碼系統(tǒng)結(jié)合。當(dāng)與其它編碼系統(tǒng)和方法結(jié)合時， 諸如在特此全文作為參考加入這里的JP 2000/000352034 A2和EP 1152239 Al中披露的編碼系統(tǒng)和方法，與單獨(dú)使用其它系統(tǒng)能夠編碼的 相比，能夠顯著地增加可以編碼在檢驗(yàn)條上的詞的數(shù)量。也可以^吏用替代的編碼方案，其中，跡線或跡線回路電阻比至少一 個其它跡線或跡線回^各電阻或"t安比例地與至少 一個其它跡線或跡線回 路電阻比較。此替代的編碼方案在補(bǔ)償由從檢驗(yàn)條到檢驗(yàn)條的跡線或跡 線回路電阻的變化導(dǎo)致的不 一 致性方面具有好處。與本發(fā)明的編碼系統(tǒng)和方法相比， 一些現(xiàn)有系統(tǒng)將已經(jīng)4全查過^全-驗(yàn) 條電阻作為對非有意的斷開、刮痕、或多點(diǎn)缺陷的故障保險。其它現(xiàn)有 系統(tǒng)試圖補(bǔ)償有害的檢驗(yàn)條跡線電阻。再其它的現(xiàn)有系統(tǒng)僅確定重要的 跡線電阻是否存在，以及使用重要的電阻的存在或不存在作為對存在兩 種類型的條中的哪種的二進(jìn)制指示器，打算用于測量或校準(zhǔn)目的的條。 在使用電阻作為二進(jìn)制指示器的系統(tǒng)中，通過比較測量的電阻與接近零 的閾值電阻值完成對特別的跡線是否具有重要的電阻的確定。如果測量 的電阻在閾值以上，認(rèn)為跡線電阻是重要的，由此指示一種類型的條。 如果測量的電阻低于閾值，認(rèn)為跡線電阻是不重要的以及基本上為零， 以及指示另一種類型的條。從而，系統(tǒng)僅區(qū)分基本上為零和非零的電阻 值。相反地，本發(fā)明的系統(tǒng)和方法通常能夠區(qū)分至少兩個大致非零的電 阻值。一般而言，在本發(fā)明中披露的用于將信息編碼到檢驗(yàn)條上的系統(tǒng)和 方法用于辨別特定類型的檢驗(yàn)條；確定插入的檢驗(yàn)條是否匹配插入才僉 驗(yàn)儀表的分開的編碼密鑰；將校準(zhǔn)信息直接編碼到檢驗(yàn)條上；識別與檢 驗(yàn)條相關(guān)的重要參數(shù)，諸如來自的國家、目的地、或特別的檢驗(yàn)條化學(xué) 性質(zhì)；以及確定哪種反應(yīng)物在檢驗(yàn)條上。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法還用于將 信息編碼到檢驗(yàn)條上，能夠用于選擇檢驗(yàn)儀表顯示使用者操作指導(dǎo)的 語言；確定檢驗(yàn)儀表和檢驗(yàn)條是否在相同的地區(qū)市場內(nèi)銷售；如果檢驗(yàn) 條為預(yù)訂檢驗(yàn)條，防止檢驗(yàn)儀表使用檢驗(yàn)條；激活檢驗(yàn)儀表的潛在的特 征；改變使用者操作指導(dǎo)；或者執(zhí)行如本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員明白的 其它功能。允許將信息直接編碼到檢驗(yàn)條上的第二實(shí)施例的檢驗(yàn)條構(gòu)造在圖8 中示出以及通常用700指示。檢驗(yàn)條700可以通常如上面關(guān)于檢驗(yàn)條10 和401所描述地形成，其中，工作電極720、反電極"2、劑量充足工 作電極724、和劑量充足反電極726如圖所示形成以及分別聯(lián)結(jié)到分別 更進(jìn)一步地聯(lián)結(jié)到測量觸點(diǎn)墊W、 C、 DW和DC的工作電極跡線721、 反電極跡線723、劑量充足工作電極跡線725、和劑量充足反電極跡線 727。檢驗(yàn)條700還包括分別聯(lián)結(jié)到測量觸點(diǎn)墊WS和CS的工作電極感 測跡線730和反電極感測跡線732。觸點(diǎn)墊在檢驗(yàn)條700上提供導(dǎo)電區(qū) 域，以一旦檢驗(yàn)條700插入檢驗(yàn)儀表就接觸檢驗(yàn)儀表的電連接器觸點(diǎn)。 電連接器允許將電信號從檢驗(yàn)儀表施加到檢驗(yàn)條以及反之亦然。作為示 例，檢驗(yàn)條可以在4企驗(yàn)條的遠(yuǎn)端內(nèi)形成有樣本入口 (如圖8所示)，或 者樣本入口在檢驗(yàn)條的側(cè)上(如圖1所示)。樣本入口的類型與這里描 述的實(shí)施例的功能無關(guān)。參考連接到觸點(diǎn)墊W和WS的跡線，可以通過檢驗(yàn)儀表評價沿觸點(diǎn) 墊W和WS之間的三個部分的電阻沿觸點(diǎn)墊W和工作電才及感測跡線 730連接的點(diǎn)之間的工作電極跡線721的電阻，沿觸點(diǎn)墊WS和電極感 測跡線720連接的點(diǎn)之間的感測跡線730的電阻，和觸點(diǎn)墊W和WS 之間的跡線回路電阻-"跡線回路W-WS"。在第一情況中，檢驗(yàn)儀 表能夠通過使用電壓跟隨器電路或本技術(shù)領(lǐng)域中已知的其它相似的方 法(例如，參看在上文中作為參考加入的共同未決的申請的申請序號 10/961,352中披露的方法和電路)使用工作電極感測跡線730在感測跡 線730連接到電極跡線721的點(diǎn)測量工作電極跡線721的電位。因?yàn)槟?夠通過檢驗(yàn)儀表直接測量觸點(diǎn)墊W處的電位和電流，能夠通過檢驗(yàn)儀 表計算電位的改變以及從而計算沿觸點(diǎn)墊W和工作電極感測跡線730 交叉工作電才及跡線721的點(diǎn)之間的工作電極跡線721的電阻。能夠相似 地通過檢驗(yàn)儀表計算沿工作電極感測跡線730的電阻。 替代地，能夠通過測量觸點(diǎn)墊w和ws之間的電位的總的改變和其 間的電流計算跡線回路w-ws的電阻。計算的沿跡線回路的電阻包括 檢驗(yàn)儀表和觸點(diǎn)墊之間的連4妄器觸點(diǎn)電阻、跡線回路電阻、和才全驗(yàn)4義表 的測量路徑內(nèi)的任何模擬開關(guān)的電阻。在示例性的實(shí)施例中，跡線回路W-WS包括金導(dǎo)電材料以及標(biāo)稱電阻為大約287歐姆。在另一個示例 性的實(shí)施例中，跡線回路W-WS包括4巴導(dǎo)電材料以及標(biāo)稱電阻為大約 713歐姆?？梢酝ㄟ^交流或直流激勵測量跡線回路的電阻。在一個示例性的實(shí) 施例中，通過直流激勵測量W-WS回路電阻，而通過交流激勵測量C -CS回路電阻。其它示例性的實(shí)施例利用交流和/或直流激勵的不同的 組合測量檢驗(yàn)條上的跡線和跡線回路電阻， 一些實(shí)施例專門地利用交流 激勵，而其它的實(shí)施例專門地利用直流激勵。參考連接到觸點(diǎn)墊C和CS的跡線，能夠通過檢驗(yàn)儀表以與上面關(guān)于連接到觸點(diǎn)墊w和ws的跡線描述的相似的方式確定沿觸點(diǎn)墊c和反電極感測跡線732連接的點(diǎn)之間的反電極跡線723的電阻、沿觸點(diǎn)墊 CS和電極跡線723連接的點(diǎn)之間的感測跡線732的電阻、和觸點(diǎn)墊C 和CS之間的跡線回路C-CS電阻中的每個。在示例性的實(shí)施例中，跡 線回路C - C S包括金導(dǎo)電材料以及電阻為大約2 8 5歐姆。在另 一 個示例 性的實(shí)施例中，跡線回路C-CS包括鈀導(dǎo)電材料以及電阻為大約712 歐姆。檢驗(yàn)條700還包括分別連接到信息觸點(diǎn)墊B1和B2的信息跡線734 和736。信息跡線734和736更進(jìn)一步地分別連接到劑量充足反電極跡 線727和反電極跡線723。不僅信息觸點(diǎn)墊Bl和B2和它們的關(guān)聯(lián)的跡 線回路能夠與圖1 - 15中示出以及在上面描述的編碼系統(tǒng)和方法一起使 用，跡線回路DC-Bl和C-B2的不同的跡線電阻值能夠用于更進(jìn)一步 地將信息編碼到檢驗(yàn)條700上。例如，跡線734、跡線736、觸點(diǎn)墊DC 和跡線734連接的點(diǎn)之間的跡線727的部分、觸點(diǎn)墊C和跡線736連接 的點(diǎn)之間的跡線723的部分、跡線回路DC-Bl、和跡線回路C-B2的 電阻值全部能夠單獨(dú)地測量以及用于以與上面關(guān)于連4妄到觸點(diǎn)塾W和 WS的跡線描述的相似的方式將信息編碼到檢驗(yàn)條700上。數(shù)字地編碼到檢驗(yàn)條上的信息提供編碼信息的有限的數(shù)量的選 項(xiàng)，例如，檢驗(yàn)條可以被限制為2W個可能的狀態(tài)或詞，其中，N為檢驗(yàn) 條上的信息觸點(diǎn)墊的數(shù)量。相反地，通過檢驗(yàn)儀表測量的電阻通常不限 于離散的值，以及可以測量沿可能的跡線電阻值的連續(xù)區(qū)的任何值。從 而，使用跡線電阻值的連續(xù)區(qū)能夠編碼到檢驗(yàn)條上的詞或狀態(tài)的數(shù)量能 夠超過使用離散的數(shù)字狀態(tài)能夠編碼到檢驗(yàn)條上的詞或狀態(tài)的數(shù)量，使 用離散的數(shù)字狀態(tài)通常僅確定在兩個觸點(diǎn)墊之間是否存在連接。使用檢驗(yàn)條跡線或跡線回路的電阻能夠編碼到檢驗(yàn)條上的可能的 詞的數(shù)量和信息的量典型地受到精確地制造特別的跡線電阻的能力和 準(zhǔn)確地測量該跡線電阻的能力的限制。給定在制造期間精確地控制電阻 和精確地測量跡線或跡線回路電阻的能力，能夠?qū)⒗碚撋蠠o限的信息量 編碼到檢驗(yàn)條上，其中，沿連續(xù)區(qū)的每個可測量的電阻對應(yīng)不同的詞或 狀態(tài)。然而，由于實(shí)際的制造和測量能力，沿連續(xù)區(qū)的可使用的電阻值 的數(shù)量經(jīng)常是有限的。為了解決測量和制造誤差，可以將沿連續(xù)區(qū)的可 使用的狀態(tài)的數(shù)量再分為許多離散的范圍，其中，每個離散的范圍對應(yīng) 不同的詞或狀態(tài)，以及與每個范圍關(guān)聯(lián)的電阻值的范圍大致與累積的測 量和制造誤差一樣大。在一個示例性的實(shí)施例中，關(guān)于離散的范圍的數(shù)量或每個離散的范圍的尺寸的信息可以編程序到插入檢驗(yàn)儀表的ROM 密鑰上。用于測量電阻和諸如檢驗(yàn)條和檢驗(yàn)儀表的溫度的其它因素的方法 也能夠影響通過檢驗(yàn)儀表測量的電阻和可以使用的每個離散的范圍的 最小尺寸。例如，在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，測量的跡線或跡線回3各電 阻包括檢驗(yàn)儀表內(nèi)部的至少一個模擬開關(guān)的電阻，其中，根據(jù)溫度和制 造容差，模擬開關(guān)電阻在10到180歐姆之間變化。為了示例性的目的， 如果假定檢驗(yàn)儀表的電阻測量準(zhǔn)確度為+/-30歐姆，那么可以用于將信 息編碼到檢驗(yàn)條上的每個離散的范圍的最小尺寸為至少60歐姆。如上所述，跡線或跡線回3各電阻編系統(tǒng)和方法的 一 個優(yōu)點(diǎn)為它們 能夠與其它系統(tǒng)結(jié)合使用。即使當(dāng)將沿可能的電阻值的連續(xù)區(qū)的可使用 的狀態(tài)限制為離散的范圍時，與單獨(dú)使用其它方法能夠編碼的相比，結(jié) 合跡線回路電阻編碼與其它編碼方法能夠顯著地增加能夠編碼到檢驗(yàn) 條上的詞的總的數(shù)量。作為示例的編碼系統(tǒng)和方法利用電阻的離散的范圍，假定沿圖8所 示的W - WS和C - CS跡線回路中的每個的電阻被限制在通過范圍號碼 1、 2、和3表示的三個能夠測量的電阻范圍中的一個內(nèi)。從而，通過測
量跡線回路W - WS和C - CS的電阻，能夠在檢驗(yàn)條700上編碼總共九 個不同的詞WS1/CS1， WS1/CS2, WS1/CS3, WS2/CS1, WS2/CS2, WS2/CS3, WS3/CS1， WS3/CS2，和WS3/CS3。結(jié)合此電阻編碼方案與 另一個編碼方案，能夠編碼的狀態(tài)的總數(shù)量能夠增加因子9。例如，JP 2000/000352034 A2潛在地披露了能夠用測量電極編碼到檢驗(yàn)條的側(cè)上 的總共8個狀態(tài)。結(jié)合當(dāng)前示例與JP 2000/000352034 A2導(dǎo)致總共72 個可以編碼到4全驗(yàn)條上的狀態(tài)。 一般而言，專門地使用跡線或跡線回鴻^ 電阻編碼系統(tǒng)和方法提供可以編碼到檢驗(yàn)條上的總共RL個獨(dú)特的詞， 而使用結(jié)合另 一 個編碼系統(tǒng)的跡線或跡線回路電阻編碼系統(tǒng)使得與其 它編碼系統(tǒng)相比，可以編碼到檢驗(yàn)條上的總的詞增加因子RL個。一般而言，通過檢驗(yàn)儀表測量的特別的跡線的電阻至少部分地隨 跡線寬度、跡線長度、跡線厚度、跡線導(dǎo)電材料、跡線溫度、和檢驗(yàn)4義 表開關(guān)電阻變化。能夠在制造期間控制諸如跡線的精確的寬度、長度、 厚度和導(dǎo)電材料的因素，但是制造的不一致性可以導(dǎo)致電阻的非故意的 變化，導(dǎo)致跡線電阻值與預(yù)定的不同。此外，盡管檢驗(yàn)條掩模構(gòu)造相同， 這些因素還能夠從檢驗(yàn)條到檢驗(yàn)條以及從生產(chǎn)批到生產(chǎn)批變化。然而， 盡管存在這些制造不一致性，兩個跡線或跡線回路電阻值的比通常對于 給定的檢驗(yàn)條掩模構(gòu)造保持相對一致。從而，檢驗(yàn)儀表可以用于抵消制 造不一致性的4支術(shù)為使兩個跡線或跡線回路電阻測量值比。使用此或相 似的技術(shù)，檢驗(yàn)儀表能夠通過評價跡線或跡線回路之間的電阻比有效地 補(bǔ)償電阻的變化，特別是如果必要的檢驗(yàn)儀表模擬開關(guān)在類型、尺寸、 過程和包裝方面是成對的。作為示例，沉積在襯底上的導(dǎo)電材料的量的制造不一致性能夠?qū)е?對于給定的檢驗(yàn)條掩模構(gòu)造跡線厚度從檢驗(yàn)條到檢驗(yàn)條變化，而跡線寬 度和長度保持相對恒定。然而，沉積的導(dǎo)電材料的量的這些不一致性傾 向于足夠緩慢地變化，使得跡線厚度傾向于在單一檢驗(yàn)條上是均勻的， 同時從檢驗(yàn)條到檢驗(yàn)條變化。從而，盡管存在制造不一致性，同一個檢 驗(yàn)條上的兩個跡線之間的跡線電阻的比將保持基本上恒定。在制造期間可以操縱跡線寬度、長度、厚度和材料成分的變化以控 制單獨(dú)的跡線電阻值，因?yàn)?，如上所述，這些特性影響每個跡線的電阻。 例如，能夠通過增加反電極跡線723或反電極感測跡線732的寬度或者 通過減小回路的總長度減小C-CS跡線回路的電阻。相似地，能夠通過減小跡線723或732的寬度或通過增加回路的有效的總長度增加C - CS 回^各的電阻。替代的實(shí)施例利用不同的檢驗(yàn)條掩模構(gòu)造。信息跡線可以連接到的 電極跡線的數(shù)量、位置、或特別的類型能夠變化，僅有的限制為不能通 過例如將任何電極或電極跡線連接到彼此危害檢驗(yàn)條的功能性。現(xiàn)在參考圖9，示出了除了下面指明的以外與檢驗(yàn)條700相似的替 代的示例性的實(shí)施例的檢驗(yàn)條700，。工作電極感測跡線730，比工作電極 感測跡線730寬。在此示例性的替代的實(shí)施例中，檢驗(yàn)條700，內(nèi)的W-WS跡線回路電阻小于檢驗(yàn)條700內(nèi)的W-WS跡線回路電阻。相似地， 由于感測跡線730，的寬度增加，檢驗(yàn)條700，內(nèi)的W-WS回路電阻對C -CS回路電阻的比小于檢驗(yàn)條700內(nèi)的W-WS回路電阻對C-CS回 路電阻的比。從而，通過變化跡線寬度將信息編碼到檢驗(yàn)條700和700' 上。因此，檢驗(yàn)儀表可以通過例如測量跡線回路W - WS內(nèi)的絕對電阻、 測量跡線回路W-WS的^爻內(nèi)的絕對電阻、或通過確定W-WS跡線回 路電阻和C - CS跡線回路電阻的比區(qū)分檢驗(yàn)條700和檢驗(yàn)條700，?，F(xiàn)在參考圖10，示出了除了下面指明的以外與檢驗(yàn)條700相似的再 一個示例性的實(shí)施例的檢驗(yàn)條700"。檢驗(yàn)條700"包括替代的工作電極 感測跡線730"。感測跡線730"與感測跡線730不同在于感測跡線730" 比感測跡線730短。在此示例性的替代的實(shí)施例中，檢驗(yàn)條700"內(nèi)的 W-WS跡線回路電阻小于檢驗(yàn)條700內(nèi)的W-WS跡線回路電阻。相 似地，由于感測跡線730"的長度減小，檢驗(yàn)條700"內(nèi)的W-WS回路 電阻對C - CS回路電阻的比小于檢驗(yàn)條700內(nèi)的W - WS回路電阻對C -CS回路電阻的比。從而，通過變化跡線長度將信息編碼到檢驗(yàn)條700 和700，上。因此，檢驗(yàn)儀表可以通過例如測量跡線回路W-WS內(nèi)的絕 對電阻、測量跡線回路W-WS的段內(nèi)的絕對電阻、或通過確定W-WS跡線回路電阻和C - CS跡線回路電阻的比區(qū)分檢驗(yàn)條700和檢驗(yàn)條 700"。圖11示出了再一個示例性的實(shí)施例的檢驗(yàn)條700'"，檢驗(yàn)條700'" 為檢驗(yàn)條700的變體以及如在下面指明地與檢驗(yàn)條700不同。檢驗(yàn)條 700，"包括反電極感測跡線732'， 反電極感測跡線732'具有比感測跡線 732更長以及更窄的電3各徑長度以及從而具有比感測跡線732更高的電 阻。在此示例性的替代的實(shí)施例中，檢驗(yàn)條700"，內(nèi)的C-CS跡線回路
電阻大于檢驗(yàn)條700內(nèi)的C-CS跡線回路電阻。相似地，由于感測跡線 732，的長度增加，檢驗(yàn)條700，"內(nèi)的W-WS回路電阻對C-CS回路電 阻的比小于檢驗(yàn)條700內(nèi)的W-WS回路電阻對C-CS回路電阻的比。 從而，通過變化跡線長度將信息編碼到檢驗(yàn)條700和700，上。因此，檢 驗(yàn)儀表可以通過例如測量跡線回路C - CS內(nèi)的絕對電阻、測量跡線回路 C-CS的段內(nèi)的絕對電阻、或通過確定W-WS跡線回路電阻和C-CS 跡線回路電阻的比區(qū)分檢驗(yàn)條700和4企驗(yàn)條700"，。第三實(shí)施例的檢驗(yàn)條構(gòu)造在圖12中示出以及通常用800指示。除 非另外指示，檢驗(yàn)條800通常與上面描述的檢驗(yàn)條700相似，其中，工 作電極820、反電極822、劑量充足工作電極824、劑量充足反電極826、 工作電極感測跡線830、和反電極感測跡線832如圖所示形成以及分別 聯(lián)結(jié)到測量觸點(diǎn)墊W、 C、 DW、 DC、 WS和CS。和檢驗(yàn)條700對比， 檢驗(yàn)條800包括分別連接到信息觸點(diǎn)墊B1和B2以及更進(jìn)一步地連接到 彼此的信息跡線834和信息跡線836。這些觸點(diǎn)墊在檢驗(yàn)條800上提供 導(dǎo)電區(qū)域，以一旦檢驗(yàn)條800插入檢驗(yàn)儀表就接觸檢驗(yàn)儀表的電連接器 觸點(diǎn)。在檢驗(yàn)條800的示出的實(shí)施例中，信息跡線834和信息跡線836結(jié) 合提供信息觸點(diǎn)墊B1和B2之間的跡線回路B1 - B2 。能夠變化信息跡 線834和836中的至少一個的電阻以編碼除了可以j吏用跡線回路W-WS和C-CS編碼的信息以外的信息。當(dāng)插入檢驗(yàn)儀表時，因?yàn)橛|點(diǎn)墊 DC和B1沒有連接、因?yàn)橛|點(diǎn)墊C和B2沒有連接、以及因?yàn)橛|點(diǎn)墊B1 和B2連接，能夠區(qū)分檢驗(yàn)條800和檢驗(yàn)條700。還能夠基于B1-B2回 路電阻的測量的值區(qū)分檢驗(yàn)條800和檢驗(yàn)條700。 一般而言，檢驗(yàn)儀表 能夠以數(shù)字的方式確定某個連接存在或不存在，以及能夠以模擬的方式 測量任何連接的觸點(diǎn)墊之間的電阻。能夠通過在制造期間變化信息跡線 834和836的寬度、厚度、長度或用于構(gòu)造信息跡線834和836的材料 來變化信息跡線834和836的電阻。第四實(shí)施例的檢驗(yàn)條構(gòu)造在圖13中示出以及通常用900指示。檢 驗(yàn)條900可以形成為工作電極920、劑量充足工作電極924、信息跡線 934和信息跡線936如圖所示形成以及分別聯(lián)結(jié)到測量觸點(diǎn)墊W和DW 和信息觸點(diǎn)墊B1和B2。另外，檢驗(yàn)條900包括分別連接到又分別更進(jìn) 一步地連接到測量觸點(diǎn)墊C和DC的反電極跡線923和劑量充足反電極 跡線927的反電極922和劑量充足反電極926。與檢驗(yàn)條700和800相 似，觸點(diǎn)墊在檢驗(yàn)條900上提供導(dǎo)電區(qū)域，以一旦檢驗(yàn)條900插入檢驗(yàn) 儀表就接觸檢驗(yàn)儀表的電連接器觸點(diǎn)。在示例性的實(shí)施例的檢驗(yàn)條900中，信息跡線934電連接到劑量充 足反電極跡線927,以及信息跡線936電連接到反電極跡線923。這些 電連接提供附加的跡線回路，其中，可以測量觸點(diǎn)墊DC和B1、以及C 和B2之間的電阻。當(dāng)連接到檢驗(yàn)儀表時，在觸點(diǎn)墊B1和B2之間缺乏 電連接、在觸點(diǎn)墊B1和DC之間存在電連接、以及在觸點(diǎn)墊B2和C之 間存在電連接每個分開地用于編碼信息和區(qū)分檢驗(yàn)條900與檢驗(yàn)條 800。另外，沿劑量充足反電極跡線927、信息跡線934、信息跡線936、 和反電極跡線923的電阻能夠更進(jìn)一步地編碼關(guān)于檢驗(yàn)條900的附加的 信息。此外，當(dāng)與檢驗(yàn)條700比較時，信息跡線934和936更長以及具有 比信息跡線734和736更大的電阻。從而，檢驗(yàn)條900內(nèi)的DC-Bl和 C - B2跡線回路電阻分別大于檢驗(yàn)條700內(nèi)的DC - Bl和C - B2跡線回 路電阻。從而，檢驗(yàn)儀表可以通過例如測量跡線回路DC - B1或C - B2 的絕對電阻、或通過比較跡線回路DC - Bl或C - B2對卩皮此或?qū)χT如跡驗(yàn)條700?，F(xiàn)在轉(zhuǎn)向圖14和15,示出了允許將信息直接編碼到檢驗(yàn)條上的第 五實(shí)施例的檢驗(yàn)條1000。檢驗(yàn)條1000可以形成為工作電極1020、劑量 充足工作電極1024、工作電極感測跡線l(BO、反電極感測跡線1(B2、 信息跡線1034、和信息跡線1036如圖所示形成以及分別聯(lián)結(jié)到測量觸 點(diǎn)墊W、 DW、 WS和CS和信息觸點(diǎn)墊Bl和B2。另外，反電極1022 和劑量充足反電極1026分別連接到又分別更進(jìn)一步地連接到測量觸點(diǎn) 墊C和DC的反電極跡線1023和劑量充足反電極跡線1027。信息跡線 1034包括電阻元件1038以及連接到劑量充足反電極跡線1027。信息跡 線1036包括電阻元件1040以及連接到反電極跡線1023。觸點(diǎn)墊在檢驗(yàn) 條1000上提供導(dǎo)電區(qū)域，以一旦檢驗(yàn)條1000插入檢驗(yàn)儀表就接觸檢驗(yàn) 儀表的電連接器觸點(diǎn)。如圖14和15所示，跡線回路DC-B1和C-B2分別形成在測量墊 DC和B1、和C和B2之間。如上所述，能夠在制造期間通過變化跡線 回路的寬度、厚度、長度、或材料控制跡線回路DC-Bl和C-B2的電 阻。然而，在制造期間具有大量不同的檢驗(yàn)條掩模構(gòu)造以便提供大量編 碼的詞或狀態(tài)可能是困難以及昂貴的?？梢詼p'J、檢驗(yàn)條掩模構(gòu)造的總數(shù) 量的 一個方法為使用具有電阻元件能夠被包括以及整合到跡線內(nèi)的沿 跡線的位置的單一的掩模構(gòu)造。此方法能夠擴(kuò)展到將多個電阻元件整合 到一個或多個跡線內(nèi)。在制造期間，能夠通過變化包括在特別的跡線內(nèi) 的一個或多個電阻元件的電阻控制特別的跡線的電阻，從而提供控制跡 線或跡線回^各電阻的簡單的和方{更的方式。作為示例性的示例，圖14所示的檢驗(yàn)條1000利用信息跡線1034 內(nèi)的膜類型的電阻元件1038。從而，全部信息跡線1034和跡線回路B1 -DC內(nèi)的總的電阻包括電阻元件1038的電阻。相似地，全部信息跡線 1036和跡線回路C-B2內(nèi)的總的電阻包括電阻元件1040的電阻。在制 造期間，可以使用在信息跡線1034和1036內(nèi)具有間隙的檢驗(yàn)條掩模構(gòu) 造初始地形成檢驗(yàn)條1000。稍后，將電阻元件1038和1034分別放置為 跨接信息跡線1034和1036內(nèi)的間隙?，F(xiàn)在參考圖15，檢驗(yàn)條IOOO，示出了圖15所示的DC-Bl跡線回路 電阻與圖14所示的DC-Bl跡線回3各電阻不同而圖15所示的C-B2 跡線回路電阻等于圖14所示的C - B2跡線回路電阻的實(shí)施例。檢驗(yàn)條 1000'利用與檢驗(yàn)條IOOO相對相似的基本的總的掩模構(gòu)造，其中，間隙 初始地形成在信息跡線1034和1036'內(nèi)以及信息跡線1036'比信息跡線 1036更長。與檢驗(yàn)條1000相比，導(dǎo)電墨跨接檢驗(yàn)條IOOO，內(nèi)的間隙以形 成電阻元件1038，和1040'。對于此示例，假定對于給定的長度，導(dǎo)電墨 的電阻小于圖14所示的膜類型的電阻元件的電阻。電阻元件1038'的電 阻小于電阻元件1038的電阻，^/v而，圖15所示的跡線1034的電阻小 于圖14所示的跡線1034的電阻。然而，跡線回路C-B2的增加的長度 和電阻元件1040'的增加的長度導(dǎo)致圖15所示的跡線回路C - B2的電阻 等于圖14所示的跡線回路C-B2的電阻。從而，檢驗(yàn)儀表能夠通過測 量例如跡線1034的電阻、跡線回路DC-Bl的電阻、或跡線回路DC -Bl電阻和跡線回路C-B2電阻的比區(qū)分檢驗(yàn)條1000和檢驗(yàn)條 1000，。電阻元件1038、 1038，、 1040和1040，可以包括本領(lǐng)域中眾所周知 的不同的導(dǎo)電材料以修改跡線電阻。這些材料包括導(dǎo)電墨、絲網(wǎng)印刷的
厚膜混合電路電阻器、和標(biāo)準(zhǔn)的固定值厚或薄膜電阻器。一般而言，可以使用圖16-23中示出以及在上面描述的系統(tǒng)和方 法編碼到檢驗(yàn)條上的可能的狀態(tài)的總數(shù)量受限于檢驗(yàn)條表面上可以使 用的空間或可用于操縱跡線或跡線回路電阻的材料；準(zhǔn)確地控制檢驗(yàn)條 上的導(dǎo)電特征的分辨率的能力，諸如跡線或跡線回路尺寸、形狀、和布 置；和準(zhǔn)確地測量檢驗(yàn)條上的電阻值的能力。增強(qiáng)的準(zhǔn)確地控制跡線幾 何形狀的能力減小制造相關(guān)的跡線電阻的變化以及允許對于給定的檢 驗(yàn)條尺寸和形狀將附加的詞或狀態(tài)編碼到檢驗(yàn)條上。相似地，增強(qiáng)的準(zhǔn) 確地控制跡線幾何形狀的能力允許將增加的數(shù)量的跡線和信息觸點(diǎn)墊 放置到檢驗(yàn)條上，由此允許對于給定的檢驗(yàn)條尺寸和形狀將附加的詞或 狀態(tài)編碼到檢驗(yàn)條上。線幾何形狀以及增加跡線和觸點(diǎn)墊密度的能力是對于現(xiàn)有技術(shù)的顯著 改進(jìn)。上文中描述的激光燒蝕過程允許之前使用諸如絲網(wǎng)印刷術(shù)和光刻 的現(xiàn)有技術(shù)不能實(shí)現(xiàn)的檢驗(yàn)條導(dǎo)電特征的分辨率。因此，當(dāng)使用激光燒 蝕過程形成導(dǎo)電特征時，能夠?qū)⑾鄬Υ罅康臄?shù)據(jù)編碼到檢驗(yàn)條上。例 如，出版的歐洲專利申請EP 1 024 358 Al披露了在單一的檢驗(yàn)條上使用 多達(dá)35個觸點(diǎn)墊的系統(tǒng)；然而，特征的密度如此低，以致迫使發(fā)明者 每次僅接觸這些觸點(diǎn)墊中的五個。這不僅需要比本發(fā)明多得多的檢驗(yàn)條 表面區(qū)域來形成相同數(shù)量的觸點(diǎn)墊，而且因?yàn)闄z驗(yàn)儀表每次不能接觸多 于五個觸點(diǎn)墊，檢驗(yàn)儀表不可能測量觸點(diǎn)墊中的每個之間的電阻。通過 本發(fā)明的激光燒蝕過程使能的對特征尺寸的緊密控制允許使用在現(xiàn)有 技術(shù)中從未實(shí)現(xiàn)的跡線和觸點(diǎn)墊密度。還應(yīng)該理解，術(shù)語跡線回路不打算是限制性的以及不暗示特別的跡 線幾何形狀，諸如圓形的路徑，以及包括沿能夠確定電阻的電通路的任 何部分。還應(yīng)該理解，檢驗(yàn)儀表能夠區(qū)分兩個或更多檢驗(yàn)條的檢驗(yàn)條特性為 能夠用于將信息編碼到檢驗(yàn)條上的特性。由此，這里陳述的全部出版物、現(xiàn)有申請、和其它文件如同每個一皮 單獨(dú)地作為參考加入以及完全地陳述一樣特此全文作為參考加入。雖然在附圖和前面的描述中已經(jīng)詳細(xì)地說明和描述了本發(fā)明，描述
例和認(rèn)為有助于更進(jìn)一步地解釋如何制造或使用說明的實(shí)施例的某些 其它實(shí)施例。希望保護(hù)屬于本發(fā)明的精神的全部改變和修改。
權(quán)利要求
1.一種用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度的系統(tǒng)，包括檢驗(yàn)儀表；第一檢驗(yàn)條，包括能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表的第一測量電極，具有第一關(guān)聯(lián)的電阻的第一跡線回路，所述第一跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表，及具有第二關(guān)聯(lián)的電阻的第二跡線回路，所述第二跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表；以及其中，所述檢驗(yàn)儀表適合接收所述第一檢驗(yàn)條，連接到所述第一測量電極、所述第一跡線回路、和所述第二跡線回路，以及通過比較所述第一和第二關(guān)聯(lián)的電阻獲得第一電阻比。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合測量所 述第一和第二關(guān)聯(lián)的電阻。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述第一電阻比構(gòu)造為與 預(yù)先確定的值相關(guān)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合確定所 述第一電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述 第一電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分析 物。
6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述 第一電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時抑制檢驗(yàn)生物流體的感興趣的 分析物。
7. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述 第 一 電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時記錄與所述第 一檢驗(yàn)條相關(guān)的信息。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合比較所 述第一電阻比與至少兩個離散的、不重疊的范圍，以及其中，所述第一 電阻比屬于所述離散的范圍中的第一個。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述第一跡線回路包括第 一材料以及所述第二跡線回路包括與所述第一材料不同的第二材料。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中 所述第一和第二關(guān)聯(lián)的電阻不同； 所述第一跡線回路包括第一特性長度、寬度、和厚度； 所述第二跡線回路包括第二特性長度、寬度、和厚度；以及 所述第一特性長度、寬度、和厚度中的至少一個與所述第二特性長度、寬度、和厚度中的對應(yīng)的一個不同。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述第一關(guān)聯(lián)的電阻和所 述第二關(guān)聯(lián)的電阻和與所述第一檢驗(yàn)條關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信息相關(guān)。
12. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，還包括導(dǎo)電地連接到所述第一測 量電極的第一測量電極跡線，其中，所述第一跡線回路包括所述第一測 量電才及跡線的至少 一部分。
13. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述第 一跡線回路的一部分包括具有第 一電阻性質(zhì)的材料；以及 所述第一跡線回路的剩余的部分包括具有與所述第一電阻性質(zhì)不 同的第二電阻性質(zhì)的不同的材料。
14. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，還包括 第二檢驗(yàn)條，包括能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表的第二測量電極， 具有第三關(guān)聯(lián)的電阻的第三跡線回路，所述第三跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表，及具有第四關(guān)聯(lián)的電阻的第四跡線回路，所述第四跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表；以及 其中，所述檢驗(yàn)儀表適合 接收所述第二檢驗(yàn)條，連4妄到所述第二測量電極、所述第三跡線回路、和所述第四跡 線回3各，以及通過比較所述第三和第四關(guān)聯(lián)的電阻獲得第二電阻比。
15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中，所述第一和第二電阻比不同。
16. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中所述檢驗(yàn)儀表適合確定所述第 一 電阻比是否與預(yù)先確定的值相 關(guān)，以及所述檢驗(yàn)儀表適合確定所述第二電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)。
17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述第 一 電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時 檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分析物，以及所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述第二電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時 檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分析物。
18. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述第 一 電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時 抑制檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分析物，以及所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述第二電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時 抑制檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分析物。
19. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述第 一 電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時 記錄與所述第一檢驗(yàn)條相關(guān)的信息，以及所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述第二電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)時 記錄與所述第 一檢驗(yàn)條相關(guān)的信息。
20. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中所述檢驗(yàn)儀表適合比較所述第 一 電阻比與至少兩個離散的、不重疊 的范圍，以及其中，所述第一電阻比屬于所述離散的范圍中的第一個， 以及所述檢驗(yàn)儀表適合比較所述第二電阻比與至少兩個離散的、不重疊 的范圍，以及其中，所述第二電阻比屬于所述離散的范圍中的第二個。
21. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中所述第一關(guān)聯(lián)的電阻和所述第二關(guān)聯(lián)的電阻和與所述第一檢驗(yàn)條 關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信息相關(guān)，以及所述第三關(guān)聯(lián)的電阻和所述第四關(guān)聯(lián)的電阻和與所述第二檢驗(yàn)條 關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信息相關(guān)。
22. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中 所述第一和第三關(guān)聯(lián)的電阻不同； 所述第一跡線回路包括第一特性長度、寬度、和厚度； 所述第三跡線回路包括第三特性長度、寬度、和厚度；以及 所述第一特性長度、寬度、和厚度中的至少一個與所述第三特性長 度、寬度、和厚度中的對應(yīng)的一個不同。
23. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中所述第一檢驗(yàn)條包括具有所述第 一 跡線回^各內(nèi)的第 一 間隙和所述第二跡線回3各內(nèi) 的第二間隙的第 一掩模構(gòu)造，導(dǎo)電地連接到所述第 一跡線回^各以及橋4姿所述第 一間隙的第 一電阻元件，及導(dǎo)電地連接到所述第二跡線回路以及橋接所述第二間隙的第 二電阻元件； 所述第二檢驗(yàn)條包括具有所述第三跡線回路內(nèi)的第三間隙和所述第四跡線回路內(nèi) 的第四間隙的第二掩模構(gòu)造，導(dǎo)電地連接到所述第三跡線回路以及橋接所述第三間隙的第 三電阻元件，及導(dǎo)電地連接到所述第四跡線回路以及橋接所述第四間隙的第 四電阻元件；以及其中，所述第一掩模構(gòu)造與所述第二掩模構(gòu)造大致相似。
24. 根據(jù)權(quán)利要求23所述的系統(tǒng)，其中，所述第一電阻元件具有 關(guān)聯(lián)的電阻以及所述第三電阻元件具有關(guān)聯(lián)的電阻，以及其中，所述第 一電阻元件關(guān)聯(lián)的電阻與所述第三電阻元件關(guān)聯(lián)的電阻不同。
25. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述第 一 檢驗(yàn)條包括具有第三關(guān)聯(lián)的電阻的第三跡線回路， 所述第三跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表，以及其中，所述檢驗(yàn)儀表適合連接到所述第三跡線回路以及通過比較所 述第一和第三關(guān)聯(lián)的電阻獲得第二電阻比。
26. 根據(jù)權(quán)利要求25所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合確定 所述第二電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)。
27. —種用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度的方法，其 包括提供檢驗(yàn)儀表；提供第一檢驗(yàn)條，第一檢驗(yàn)條包括能夠連接到檢驗(yàn)儀表的第 一 測量電極，具有第一關(guān)聯(lián)的電阻的第一跡線回路，第一跡線回^各能夠連4矣 到檢驗(yàn)儀表，及具有第二關(guān)聯(lián)的電阻的第二跡線回路，第二跡線回路能夠連^妄到檢驗(yàn)儀表；將第一檢驗(yàn)條接收在檢驗(yàn)儀表內(nèi)；通信地連接第一測量電極、第一跡線回路、和第二跡線回路與檢驗(yàn) 4義表；以及通過比較第一和第二關(guān)聯(lián)的電阻獲得第一電阻比。
28. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，還包括 測量第 一和第二關(guān)聯(lián)的電阻。
29. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，還包括選擇預(yù)先確定的電阻比值；以及將第一關(guān)聯(lián)的電阻和第二關(guān)聯(lián)的電阻的比構(gòu)造為與預(yù)先確定的電 阻比值相關(guān)。
30. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，還包括確定第一電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)。
31. 根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法，還包括當(dāng)?shù)谝浑娮璞扰c預(yù)先確定的值相關(guān)時檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分 析物。
32. 根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法，還包括當(dāng)?shù)?一 電阻比與預(yù)先確定的值相關(guān)時抑制檢驗(yàn)生物流體的感興趣 的分析物。
33. 根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法，還包括當(dāng)?shù)?一 電阻比與預(yù)先確定的值相關(guān)時記錄與第 一 檢驗(yàn)條相關(guān)的信息。
34. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，還包括比較第一電阻比與至少兩個離散的、不重疊的范圍，以及其中，第 一電阻比屬于所述離散的范圍中的第一個。
35. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中，第一跡線回路包括第一 材料以及第二跡線回路包括與第一材料不同的第二材料。
36. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中 第一和第二關(guān)聯(lián)的電阻不同； 第一跡線回路包括第一特性長度、寬度、和厚度； 第二跡線回路包括第二特性長度、寬度、和厚度；以及 第一特性長度、寬度、和厚度中的至少一個與第二特性長度、寬度、和厚度中的對應(yīng)的一個不同。
37. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中，第一關(guān)聯(lián)的電阻和第二關(guān)聯(lián)的電阻和與第 一檢驗(yàn)條關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信息相關(guān)。
38. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中，第一檢驗(yàn)條還包括導(dǎo)電 地連接到第一測量電極的第一測量電極跡線，以及其中，第一跡線回路 包括第 一測量電極跡線的至少 一部分。
39. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中第 一跡線回路的一部分包括具有第 一電阻性質(zhì)的材料；以及 第 一跡線回路的剩余的部分包括具有與第 一 電阻性質(zhì)不同的第二 電阻性質(zhì)的不同的材料。
40. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，還包括 提供第二檢驗(yàn)條，第二檢驗(yàn)條包括能夠連接到檢驗(yàn)儀表的第二測量電極，具有第三關(guān)聯(lián)的電阻的第三跡線回路，第三跡線回路能夠連4妄到檢驗(yàn)儀表，及具有第四關(guān)聯(lián)的電阻的第四跡線回路，第四跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表；以及 將第二檢驗(yàn)條接收在檢驗(yàn)儀表內(nèi)；通信地連接第二測量電極、第三跡線回路、和第四跡線回路與檢驗(yàn) 儀表；以及通過比較第三和第四關(guān)聯(lián)的電阻獲得第二電阻比。
41. 根據(jù)權(quán)利要求40所述的方法，其中，第一和第二電阻比不同。
42. 根據(jù)權(quán)利要求40所述的方法，還包括 確定所述第一電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)，以及 確定所述第二電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)。
43. 根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中當(dāng)?shù)谝浑娮璞扰c預(yù)先確定的值相關(guān)時檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分 析物，以及當(dāng)?shù)诙娮璞扰c預(yù)先確定的值相關(guān)時檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分 析物。
44. 根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中當(dāng)?shù)谝浑娮璞扰c預(yù)先確定的值相關(guān)時抑制檢驗(yàn)生物流體的感興趣 的分析物，以及當(dāng)?shù)诙娮璞扰c預(yù)先確定的值相關(guān)時抑制檢驗(yàn)生物流體的感興趣 的分析物。
45. 根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中當(dāng)?shù)?一 電阻比與預(yù)先確定的值相關(guān)時記錄與第 一 檢驗(yàn)條相關(guān)的信 息，以及當(dāng)?shù)诙娮璞扰c預(yù)先確定的值相關(guān)時記錄與第 一檢驗(yàn)條相關(guān)的信自、
46. 根據(jù)權(quán)利要求40所述的方法，其中比較第一電阻比與至少兩個離散的、不重疊的范圍，以及其中，第 一電阻比屬于所述離散的范圍中的第一個，以及比較第二電阻比與至少兩個離散的、不重疊的范圍，以及其中，第 二電阻比屬于所述離散的范圍中的第二個。
47. 根據(jù)權(quán)利要求40所述的方法，其中第一關(guān)聯(lián)的電阻和第二關(guān)聯(lián)的電阻和與第 一檢驗(yàn)條關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信 息相關(guān)，以及第三關(guān)聯(lián)的電阻和第四關(guān)聯(lián)的電阻和與第二檢驗(yàn)條關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信 息相關(guān)。
48. 根據(jù)權(quán)利要求40所述的方法，其中 第 一 和第三關(guān)聯(lián)的電阻不同； 第一跡線回路包括第一特性長度、寬度、和厚度； 第三跡線回路包括第三特性長度、寬度、和厚度；以及 第一特性長度、寬度、和厚度中的至少一個與第三特性長度、寬度、和厚度中的對應(yīng)的一個不同。
49. 根據(jù)權(quán)利要求40所述的方法，其中，第一和第二檢驗(yàn)條還包 括大致相似的掩模構(gòu)造，其中第一和第二測量電極大致相似；第 一和第三跡線回路大致相似，每個具有間隙和導(dǎo)電地橋接間隙的電阻元件；以及第二和第四跡線回路大致相似，每個具有間隙和導(dǎo)電地橋4妄間隙的 電阻元件。
50. 根據(jù)權(quán)利要求49所述的方法，其中，每個電阻元件具有關(guān)聯(lián) 的電阻，以及導(dǎo)電地橋4妻第 一跡線回路內(nèi)的間隙的電阻元件的關(guān)聯(lián)的電同。—' 、,口 、曰、 、、'、 、
51. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中，所述提供第 一檢驗(yàn)條包括包含具有第三關(guān)聯(lián)的電阻的第三跡 線回路的檢驗(yàn)條，第三跡線回路能夠連接到檢驗(yàn)儀表；以及其中，所述獲得包括通過比較第 一和第三關(guān)聯(lián)的電阻獲得第二電阻比。
52. 根據(jù)權(quán)利要求51所述的方法，還包括 確定第一電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)；以及 確定第二電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)。
53. —種用于將能夠通過檢驗(yàn)儀表讀取的信息編碼到檢驗(yàn)條上的方 法，檢驗(yàn)條適用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度，該方法包 括選擇與希望編碼到檢驗(yàn)條上的第 一詞關(guān)聯(lián)的第 一 電阻比； 在檢驗(yàn)條村底的表面上形成測量電極，其中，測量電極能夠連接到 檢驗(yàn)儀表；以及在檢驗(yàn)條襯底的表面上形成第一電跡線和第二電跡線，其中，能夠 通過檢驗(yàn)儀表獲得第一和第二電跡線中的每個的電阻，以及其中，第一 電跡線的電阻和第二電跡線的電阻的比有效地匹配第一電阻比。
54. 根據(jù)權(quán)利要求53所述的方法，還包括選擇與希望編碼到檢驗(yàn)條上的第二詞關(guān)聯(lián)的第二電阻比，其中，檢驗(yàn)儀表能夠從大致非零的電阻值區(qū)分所述第二電阻比；以及在檢驗(yàn)條襯底的表面上形成第三電跡線，其中，能夠通過檢驗(yàn)儀表 獲得第三電跡線的電阻，以及其中，第一電跡線的電阻和第三電跡線的電阻的比有效地匹配第二電阻比。
55. 根據(jù)權(quán)利要求54所述的方法，其中，第一詞與電阻值的第一 離散的范圍關(guān)聯(lián)，以及第二詞與電阻值的第二離散的范圍關(guān)聯(lián)，第二離 散的范圍與第一離散的范圍不同。
56. 根據(jù)權(quán)利要求53所述的方法，其中，所述形成第一電跡線和 第二電跡線包括控制第一和第二電跡線的寬度、厚度、和長度以有效地 匹配第一電阻比。
57. 根據(jù)權(quán)利要求53所述的方法，其中，所述形成第一電跡線和 第二電跡線包括控制第一和第二電跡線的材料成分以有效地匹配第一 電阻值。
58. 根據(jù)權(quán)利要求53所述的方法，其中，第一電阻比和與檢驗(yàn)條關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信息相關(guān)。
59. 根據(jù)權(quán)利要求53所述的方法，其中，第一電跡線包括至少兩種不同的導(dǎo)電材料。
60. 根據(jù)權(quán)利要求53所述的方法，其中第 一 電跡線包括第 一 間隙和導(dǎo)電地橋4妄第 一 間隙的第 一 電阻元 件，以及第二電跡線包括第二間隙和導(dǎo)電地橋接第二間隙的第二電阻元件。
61. —種用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度的系統(tǒng)，其 包括檢驗(yàn)儀表；具有第一掩模構(gòu)造、第一電阻元件、和第二電阻元件的第一檢驗(yàn) 條，所述第一掩模構(gòu)造包括能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表的第 一 測量電極，具有第 一關(guān)聯(lián)的電阻和第 一間隙的第 一跡線回路，所述第 一跡 線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表，和具有第二關(guān)聯(lián)的電阻和第二間隙的第二跡線回路，所述第二跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表；其中，所述第 一電阻元件導(dǎo)電地連4姿到所述第一跡線回3各以及橋4妄 所述第一間隙；以及其中，所述第二電阻元件導(dǎo)電地連接到所述第二跡線回路以及橋接 所述第二間隙；具有第二掩模構(gòu)造、第三電阻元件、和第四電阻元件的第二檢驗(yàn) 條，所述第二掩模構(gòu)造與所述第一掩模構(gòu)造大致相似，所述第二掩模構(gòu) 造包括能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表的第二測量電極，具有第三關(guān)聯(lián)的電阻和第三間隙的第三跡線回路，所述第三跡 線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表，和具有第四關(guān)聯(lián)的電阻和第四間隙的第四跡線回^各，所述第四跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表；其中，所述第三電阻元件導(dǎo)電地連接到所述第三跡線回路以及橋接所述第三間隙；以及其中，所述第四電阻元件導(dǎo)電地連接到所述第四跡線回路以及橋接 所述第四間隙；以及其中，所述檢驗(yàn)儀表適合接收所述第 一 和第二檢驗(yàn)條，連接到所述第一和第二測量電極，連接到所述第一和第二跡線回路，通過比較所述第一和第二關(guān)聯(lián)的電阻獲得第一電阻比，連接到所述第三和第四跡線回路，以及通過比較所述第三和第四關(guān)聯(lián)的電阻獲得第二電阻比。
62. 根據(jù)權(quán)利要求61所述的系統(tǒng)，其中，所述第一電阻比和所述 第二電阻比不同。
63. 根據(jù)權(quán)利要求61所述的系統(tǒng)，其中所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述檢驗(yàn)儀表接收所述第 一檢驗(yàn)條時確定所 述第一電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)，以及所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所述檢驗(yàn)儀表接收所述第二檢驗(yàn)條時確定所 述第二電阻比是否與預(yù)先確定的值相關(guān)。
64. 根據(jù)權(quán)利要求63所述的系統(tǒng)，其中如果所述第 一 電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)，所述檢驗(yàn)儀表檢驗(yàn) 生物流體的感興趣的分析物，以及如果所述第二電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)，所述檢驗(yàn)儀表檢驗(yàn) 生物流體的感興趣的分析物。
65. 根據(jù)權(quán)利要求63所述的系統(tǒng)，其中如果所述第 一 電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)，所述檢驗(yàn)儀表抑制 檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分析物，以及如果所述第二電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)，所述檢驗(yàn)儀表抑制 檢驗(yàn)生物流體的感興趣的分析物。
66. 根據(jù)權(quán)利要求63所述的系統(tǒng)，其中如果所述第 一 電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)，所述檢驗(yàn)儀表記錄 與所述第一檢驗(yàn)條相關(guān)的信息，以及如果所述第二電阻比與所述預(yù)先確定的值相關(guān)，所述檢驗(yàn)儀表記錄 與所述第二檢驗(yàn)條相關(guān)的信息。
67. 根據(jù)權(quán)利要求63所述的系統(tǒng)，其中當(dāng)所述檢驗(yàn)儀表接收所述第 一檢驗(yàn)條時，所述檢驗(yàn)儀表比較所述第 一電阻比與至少兩個離散的、不重疊的范圍，以及當(dāng)所述檢驗(yàn)儀表接收所述第二檢驗(yàn)條時，所述檢驗(yàn)儀表比較所述第 二電阻比與所述至少兩個離散的、不重疊的范圍。
68. 根據(jù)權(quán)利要求63所述的系統(tǒng)，其中所述第 一電阻比和與所述第 一檢驗(yàn)條關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信息相關(guān)，以及 所述第二電阻比和與所述第二檢驗(yàn)條關(guān)聯(lián)的校準(zhǔn)信息相關(guān)。
69. 根據(jù)權(quán)利要求63所述的系統(tǒng)，其中所述第 一掩模構(gòu)造還包括具有第五關(guān)聯(lián)的電阻和第五間隙的第五 跡線回路，所述第五跡線回路能夠連接到所述檢驗(yàn)儀表，其中，所述第 五電阻元件導(dǎo)電地連接到所述第五跡線回路以及橋接所述第五間隙；其中，所述檢驗(yàn)儀表適合連接到所述第五跡線回路以及通過比較所 述第一和第五關(guān)聯(lián)的電阻獲得第三電阻比。
70. 根據(jù)權(quán)利要求69所述的系統(tǒng)，其中，所述檢驗(yàn)儀表適合當(dāng)所 述檢驗(yàn)儀表接收所述第 一檢驗(yàn)條時確定所述第三電阻比是否與預(yù)先確 定的值相關(guān)。
全文摘要
本發(fā)明提供用于測量生物流體內(nèi)的感興趣的分析物的濃度的檢驗(yàn)條，其中，檢驗(yàn)條可以編碼有能夠通過檢驗(yàn)條插入的檢驗(yàn)儀表讀取的信息。
文檔編號G01N27/26GK101156066SQ200680011147
公開日2008年4月2日 申請日期2006年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月1日
發(fā)明者T·比蒂 申請人:霍夫曼-拉羅奇有限公司