專利名稱：電路板的測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種電路板的測試治具，特別是指一種結(jié)構(gòu)簡易、成本低廉、可有效降低測試成本的電路板的測試治具。
背景技術(shù)：
習(xí)見的電路板測試治具結(jié)構(gòu)，主要是由一萬用密度板及一針板所組成，于該萬用密度板內(nèi)設(shè)有多個貫通的導(dǎo)電組件，并使各導(dǎo)電組件經(jīng)由導(dǎo)線連接至多個預(yù)設(shè)的測試插槽，利用該多個測試插槽可插接各測試儀器的插頭，針板是依一預(yù)設(shè)待測電路板的電路上待測試點而設(shè)有多個貫通的探針；以該針板固定于萬用密度板上的定位，可使探針與對應(yīng)的導(dǎo)電組件形成一導(dǎo)通，而該待測電路板則可固定于針板上，利用各探針接觸待測電路板上的待測試點，經(jīng)由各導(dǎo)電組件至測試插槽輸出至測試儀器而可形成一測試回路。
然而，上述的電路板測試治具結(jié)構(gòu)于應(yīng)用上有下列缺失1.由于銜接測試插槽的導(dǎo)線是經(jīng)由萬用密度板的導(dǎo)電組件以及針板的探針而與待測電路板上的各待測試點連通，此種復(fù)雜的接觸導(dǎo)通關(guān)系，使得待測試點接觸不良的機(jī)會增加，嚴(yán)重影響測試質(zhì)量。
2.由于萬用密度板及針板的使用，造成設(shè)備成本的增加，整體的測試成本難以降低，不符合經(jīng)濟(jì)效益。
3.由于萬用密度板上各導(dǎo)電組件密度設(shè)定是依針板的探針間距而定，而該針板的探針則隨待測電路板不同而改變，因此，測試各不同待測電路板的測試治具無法共享，而必須依各不同待測電路板設(shè)計各適用的的測試治具，不但增加產(chǎn)品開發(fā)時程，亦增加產(chǎn)品測試的成本。

發(fā)明內(nèi)容有鑒于習(xí)見的電路板測試治具結(jié)構(gòu)有上述的缺點，本發(fā)明的目的旨在提供一種電路板的測試治具，主要包括測試座板、導(dǎo)線及夾持板等部份，其中該測試座板內(nèi)部設(shè)有多個測試孔分別對應(yīng)于預(yù)設(shè)待測電路板的待測試點，于該多個測試孔之外，另設(shè)有多個定位孔，導(dǎo)線的一端是銜接于預(yù)設(shè)的測試插槽，可供插接各測試儀器的插頭，而于各導(dǎo)線的另端則設(shè)有一導(dǎo)體外露的裸露段，且各裸露段是貫通于該測試座板的測試孔，夾持板內(nèi)部設(shè)有多個定位孔分別對應(yīng)于該測試座板的定位孔，而于該多個定位孔之外，另設(shè)有多個夾孔，該夾孔是分別對應(yīng)于測試座板的測試孔并呈一偏位，使該夾持板、測試座板以定位孔加以定位結(jié)合，可使該相對偏位的夾孔夾持該伸入測試孔的裸露段，并使該裸露段頂端伸出于夾持板上方而形成測試接觸點，具有結(jié)構(gòu)簡易、組裝便捷的優(yōu)點。
本發(fā)明的的另一目的是提供一種電路板的測試治具，其于該夾持板與待測電路板之間可分別設(shè)置導(dǎo)電膠片、針板或密度板，以滿足不同場合的需求。
于是，本發(fā)明的一種電路板的測試治具，其特征在于其至少包括一測試座板，設(shè)有多個分別對應(yīng)于預(yù)設(shè)待測電路板的待測試點的測試孔，該測試座板另設(shè)有多個定位孔；多條導(dǎo)線，導(dǎo)線的一端銜接于預(yù)設(shè)的測試插槽，該測試插槽插接各測試儀器的插頭，而于各導(dǎo)線的另端則設(shè)有一導(dǎo)體外露的裸露段，且使各裸露段貫通于該測試座板的測試孔；一夾持板，設(shè)有多個定位孔分別對應(yīng)于該測試座板的定位孔，另設(shè)有多個夾孔，該夾孔是分別對應(yīng)于測試座板的測試孔并呈一偏位，借助多個定位銷分別插入測試座板及夾持板的定位孔，使該相對偏位的夾孔夾持該伸入測試孔的裸露段，并使該裸露段頂端伸出于夾持板上方而形成測試接觸點，以與待測電路板的待測試點接觸。
本發(fā)明的又一種電路板的測試治具，其特征在于其至少包括一測試座板，設(shè)有多個分別對應(yīng)于預(yù)設(shè)待測電路板的待測試點的測試孔，該測試座板另設(shè)有多個定位孔；多個導(dǎo)線，導(dǎo)線一端銜接于預(yù)設(shè)的測試插槽，該測試插槽插接各測試儀器的插頭，而于各導(dǎo)線的另端則設(shè)有一導(dǎo)體外露的裸露段，且使各裸露段貫通于該測試座板的測試孔；一夾持板，設(shè)有多個定位孔分別對應(yīng)于該測試座板的定位孔，另設(shè)有多個夾孔與測試座板的測試孔相對應(yīng)，借助多個定位銷分別插入測試座板及夾持板的定位孔，并以黏膠將導(dǎo)線的裸露段黏合固定于夾孔及測試孔內(nèi)，使該裸露段頂端伸出于夾持板上方而形成測試接觸點，以與待測電路板的待測試點接觸。
由上所述可知，本發(fā)明的電路板的測試治具確實具有結(jié)構(gòu)簡易、成本低廉且可降低測試成本的功效，確已具有產(chǎn)業(yè)上的利用性、新穎性及進(jìn)步性。
至于本發(fā)明的詳細(xì)構(gòu)造、應(yīng)用原理、作用與功效，則參照下列依附圖所作的說明即可得到完全的了解圖式簡單說明

圖1是本發(fā)明第一實施例的構(gòu)造分解圖。
圖2是本發(fā)明第一實施例的組合示意圖。
圖3是本發(fā)明第一實施例的組合剖面圖。
圖4是本發(fā)明第一實施例的導(dǎo)線裸露段組合部位放大剖面圖。
圖5是本發(fā)明第二實施例的構(gòu)造分解圖。
圖6是本發(fā)明第二實施例的組合剖面圖。
圖7是本發(fā)明第二實施例的導(dǎo)線裸露段組合部位放大剖面圖。
圖8是本發(fā)明第三實施例的構(gòu)造分解圖。
圖9是本發(fā)明第三實施例的組合剖面圖。
圖10是本發(fā)明第四實施例的構(gòu)造分解圖。
圖11是本發(fā)明第四實施例的組合剖面圖。
圖12是本發(fā)明第五實施例的組合剖面圖。
圖13是圖12的局部放大圖。
圖14是本發(fā)明第六實施例的組合剖面圖。
圖15是圖14的局部放大圖。
具體實施方式圖1是本發(fā)明第一實施例的構(gòu)造分解圖，參照圖2、3的組合示意圖、剖面圖及圖4的導(dǎo)線裸露段組合部位放大剖面圖，可以很明顯地看出，本發(fā)明主要包括測試座板1、導(dǎo)線2及夾持板3等部份，其中該測試座板1內(nèi)部設(shè)有多個測試孔11分別對應(yīng)于預(yù)設(shè)待測電路板4的待測試點，于該多個測試孔11之外周側(cè)另設(shè)有多個定位孔12，導(dǎo)線2的一端是銜接于預(yù)設(shè)的測試插槽5，可供插接各測試儀器的插頭，而于各導(dǎo)線2的另端則設(shè)有一導(dǎo)體外露的裸露段21，且各裸露段21是由下向上貫通于該測試座板1的測試孔11，夾持板3上設(shè)有多個定位孔32分別對應(yīng)于該測試座板1的定位孔12，而于該夾持板3上另設(shè)有多個夾孔31，該夾孔31是以一偏位的方式分別對應(yīng)于測試座板1的測試孔11，借助多個定位銷33分別插嵌于該夾持板3的定位孔32與測試座板1的定位孔12，使該夾持板3的夾孔31以相對偏位配合測試座板1的測試孔11夾持伸入的裸露段21，并使該裸露段21頂端突伸出于夾持板3上方而形成測試接觸點，當(dāng)該待測電路板4置于夾持板3上方預(yù)設(shè)位置時，可使該裸露段21頂端的測試接觸點直接與該待測電路板4的待測試點接觸導(dǎo)通，其不但結(jié)構(gòu)簡易、可靠，且成本低廉可有效降低測試成本。
圖5是本發(fā)明第二實施例的構(gòu)造分解圖，由其參照圖6的組合剖面圖及圖7的導(dǎo)線裸露段組合部位放大剖面圖，可知該第二實施例的構(gòu)造是以第一實施例的構(gòu)造為基礎(chǔ)，于該夾持板3與待測電路板4之間設(shè)有一導(dǎo)電膠片6，使該導(dǎo)線2的裸露段21經(jīng)由導(dǎo)電膠片6而可與待測電路板4的待測試點接觸。
圖8是本發(fā)明第三實施例的構(gòu)造分解圖，由其參照圖9的組合剖面圖，可知該第三實施例亦是以第一實施例的構(gòu)造為基礎(chǔ)，于該夾持板3與待測電路板4之間設(shè)有一針板7，使該導(dǎo)線2的裸露段21經(jīng)由針板7的各探針71而可與待測電路板4的待測試點接觸。
圖10是本發(fā)明第四實施例的構(gòu)造分解圖，由其參照圖11的組合剖面圖，可知于該第四實施例中，該夾持板3的夾孔31與測試座板1的測試孔11間是完全對應(yīng)，使該導(dǎo)線2的裸露段21穿過該測試孔11、夾孔31時是利用黏膠22黏合固定，并使該裸露段21頂端凸伸于該夾孔31上方，而于該夾持板3與待測電路板4之間設(shè)有一密度板8，使該導(dǎo)線2的裸露段21經(jīng)由密度板8的各彈性導(dǎo)電組件81(彈簧)而可與待測電路板4的待測試點接觸。
圖12是本發(fā)明第五實施例的構(gòu)造分解圖，由其參照圖9的組合剖面圖，可知該第五實施例亦是以第一實施例的構(gòu)造為基礎(chǔ)，于該夾持板3與待測電路板4之間設(shè)有一導(dǎo)針9；圖13是圖12待測電路板和測試座板1間的放大圖，如圖13所示，使該導(dǎo)線2的裸露段21經(jīng)由導(dǎo)針9的裸露段91而可與待測電路板4的待測試點接觸。
圖14是本發(fā)明第六實施例的構(gòu)造分解圖，由其參照圖9的組合剖面圖，可知該第六實施例亦是以第一實施例的構(gòu)造為基礎(chǔ)，于該夾持板3與待測電路板4之間設(shè)有一導(dǎo)電體10；圖15是圖14待測電路板4和測試座板1間的放大圖，如圖15所示，使該導(dǎo)線2的裸露段21經(jīng)由導(dǎo)電體10而可與待測電路板4的待測試點接觸。該導(dǎo)電體10可以是一錫球或其它具導(dǎo)電性的無鉛替代物。
由該上述第二、三、四、五和六實施例的構(gòu)造，可知本發(fā)明第一實施例的構(gòu)造可依實際需要而(于夾持板3與待測電路板4之間)分別增加導(dǎo)電膠片6、針板7、密度板8、導(dǎo)針9或?qū)щ婓w10，以滿足不同應(yīng)用場合的需求。
以上所述，僅為本發(fā)明的一較佳實施例而已，并非用來限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。即凡依本發(fā)明所作的均等變化與修飾，皆應(yīng)為本發(fā)明保護(hù)范圍所涵蓋。
主要組件符號說明1 測試座板11 測試孔12、32 定位孔2 導(dǎo)線21 裸露段
22 黏膠3 夾持板31 夾孔33 定位銷4 待測電路板5 測試插槽6 導(dǎo)電膠片7 針板71 探針8 密度板81 彈性導(dǎo)電組件9 導(dǎo)針10 導(dǎo)電體
權(quán)利要求
1.一種電路板的測試治具，其特征在于其至少包括一測試座板，設(shè)有多個分別對應(yīng)于預(yù)設(shè)待測電路板的待測試點的測試孔，該測試座板另設(shè)有多個定位孔；多條導(dǎo)線，導(dǎo)線的一端銜接于預(yù)設(shè)的測試插槽，該測試插槽插接各測試儀器的插頭，而于各導(dǎo)線的另端則設(shè)有一導(dǎo)體外露的裸露段，且使各裸露段貫通于該測試座板的測試孔；一夾持板，設(shè)有多個定位孔分別對應(yīng)于該測試座板的定位孔，另設(shè)有多個夾孔，該夾孔是分別對應(yīng)于測試座板的測試孔并呈一偏位，借助多個定位銷分別插入測試座板及夾持板的定位孔，使該相對偏位的夾孔夾持該伸入測試孔的裸露段，并使該裸露段頂端伸出于夾持板上方而形成測試接觸點，以與待測電路板的待測試點接觸。
2.如權(quán)利要求1所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一導(dǎo)電膠片。
3.如權(quán)利要求1所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一針板。
4.如權(quán)利要求1所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一密度板。
5.如權(quán)利要求1所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一導(dǎo)針。
6.如權(quán)利要求1所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一導(dǎo)電體。
7.如權(quán)利要求6所述的電路板的測試治具，其特征在于該導(dǎo)電體是一錫球。
8.如權(quán)利要求6所述的電路板的測試治具，其特征在于該導(dǎo)電體是一具導(dǎo)電性的無鉛替代物。
9.一種電路板的測試治具，其特征在于其至少包括一測試座板，設(shè)有多個分別對應(yīng)于預(yù)設(shè)待測電路板的待測試點的測試孔，該測試座板另設(shè)有多個定位孔；多個導(dǎo)線，導(dǎo)線一端銜接于預(yù)設(shè)的測試插槽，該測試插槽插接各測試儀器的插頭，而于各導(dǎo)線的另端則設(shè)有一導(dǎo)體外露的裸露段，且使各裸露段貫通于該測試座板的測試孔；一夾持板，設(shè)有多個定位孔分別對應(yīng)于該測試座板的定位孔，另設(shè)有多個夾孔與測試座板的測試孔相對應(yīng)，借助多個定位銷分別插入測試座板及夾持板的定位孔，并以黏膠將導(dǎo)線的裸露段黏合固定于夾孔及測試孔內(nèi)，使該裸露段頂端伸出于夾持板上方而形成測試接觸點，以與待測電路板的待測試點接觸。
10.如權(quán)利要求9所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一導(dǎo)電膠片。
11.如權(quán)利要求9所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一針板。
12.如權(quán)利要求9所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一密度板。
13.如權(quán)利要求9所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一導(dǎo)針。
14.如權(quán)利要求9所述的電路板的測試治具，其特征在于該夾持板與待測電路板之間設(shè)有一導(dǎo)電體。
全文摘要
一種電路板的測試治具，是于一測試座板內(nèi)部設(shè)有多個對應(yīng)于預(yù)設(shè)待測電路板上待測試點的測試孔，可供多個導(dǎo)線以一端導(dǎo)體外露的裸露段由下方貫通伸入，而各導(dǎo)線的另端則銜接于預(yù)設(shè)的測試插槽，而于該測試座板上方設(shè)有一夾持板，于該夾持板內(nèi)部設(shè)有多個夾孔，且該夾孔是分別對應(yīng)于測試座板的測試孔并呈一偏位，使該夾持板、測試座板相互結(jié)合定位后，可利用該相對偏位的夾孔夾持該伸入測試孔的裸露段，并使該裸露段頂端伸出于夾持板上方而形成測試接觸點，以與待測電路板的待測試點接觸。本發(fā)明的電路板的測試治具具有結(jié)構(gòu)簡易、成本低廉且可降低測試成本的功效。
文檔編號G01R31/28GK1945340SQ200610091818
公開日2007年4月11日 申請日期2006年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月9日
發(fā)明者呂坤茂 申請人:陳淑美