專利名稱：電路裝置及其測(cè)試和/或診斷方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電路裝置，具體涉及一種被設(shè)置為產(chǎn)生至少一個(gè)測(cè)試圖案的應(yīng)用電路(參見現(xiàn)有技術(shù)中的出版文件DE 10201554 Al)。 本發(fā)明還涉及一種對(duì)至少一個(gè)電路裝置、尤其是至少一個(gè)應(yīng)用電 路進(jìn)行測(cè)試和/或診斷的方法。
背景技術(shù)：
集成電路生產(chǎn)的主要方面表現(xiàn)為對(duì)該電路的測(cè)試。甚至在集成電 路的設(shè)計(jì)期間，考慮集成電路的可測(cè)試性也是很重要的。這種考慮的 目的是使測(cè)試方法可用，從而可以借助這些測(cè)試方法對(duì)集成組件或集 成配件正常工作的能力進(jìn)行測(cè)試。這種數(shù)字電路的生產(chǎn)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)方法包括，向電路的輸入端施加 測(cè)試信號(hào)(所謂的測(cè)試圖案)，并把作為結(jié)果而獲得的輸出信號(hào)與來自 沒有故障或缺陷的電路的信號(hào)進(jìn)行比較。如果在測(cè)量的信號(hào)與期望的 信號(hào)之間出現(xiàn)差異，則可以假定被測(cè)試的電路包含至少一個(gè)故障或缺 陷，因此不宜使用。在很大程度上，當(dāng)今的硬件驗(yàn)證測(cè)試圖案由自動(dòng)化測(cè)試工具(所 謂的自動(dòng)測(cè)試圖案發(fā)生器)而產(chǎn)生。為了檢測(cè)電路中的缺陷，ATPG(自 動(dòng)測(cè)試圖案產(chǎn)生)是一種產(chǎn)生輸入矢量的標(biāo)準(zhǔn)方法；因此，在這種情 況下，使用程序來自動(dòng)地產(chǎn)生測(cè)試圖案。在程序中，使用算法來產(chǎn)生ATPG測(cè)試圖案，而且這些算法尤其采 用了所謂的"(單一)固定((single) stuck-at)"故障模型。在這個(gè) 故障模型中，假定故障電路的行為好似給定的電路節(jié)點(diǎn)固定不變地連 線至邏輯1或邏輯0。因此，如果電路中的線路或信號(hào)一直不正確地呈現(xiàn)邏輯值l ("固
定l (stuck-at-l)")或邏輯值0 ("固定0" (stuck-at-0))，則存在"固 定"缺陷。這種固定缺陷的物理原因可能是例如與電壓發(fā)生短路或與 地發(fā)生短路。不同算法之間的一個(gè)主要差別在于如下事實(shí)，所討論的算法假定 電路內(nèi)的不同位置可能引起故障。這樣，算法的質(zhì)量由這些假定的位 置多大程度上覆蓋了實(shí)際物理缺陷的可能位置而確定。傳統(tǒng)上，被假定為故障和故障位置的內(nèi)容如下-電路元件的輸入和輸出端的固定0故障或固定1故障，-電路元件的輸入和輸出端的延遲故障， -電路元件的輸入和輸出端的開路故障，和/或 -相鄰電線之間的短路。由于經(jīng)實(shí)驗(yàn)得出該方法不足以很好地確保當(dāng)今高度集成電路的良好產(chǎn)品質(zhì)量， 一些發(fā)生器己經(jīng)轉(zhuǎn)變?yōu)橐鏊^的"N檢測(cè)(N detect)" 方法。在N檢測(cè)方法中，命令發(fā)生器多次檢測(cè)每一個(gè)故障或缺陷，即檢 測(cè)N次。這是通過遵守概率原理而完成的由于故障模型沒有完全覆蓋出現(xiàn)的缺陷，因而使用不同的測(cè)試圖案多次嘗試對(duì)缺陷進(jìn)行檢測(cè)，這意 味著缺陷自身出現(xiàn)至少一次的概率較高，因而能夠識(shí)別有缺陷的電路。 這個(gè)方法在測(cè)試范圍方面給出了相當(dāng)?shù)母倪M(jìn)，但是它不允許做出任何 實(shí)際的定性聲明。通常，對(duì)用于測(cè)試圖案發(fā)生器的電路的描述基于和實(shí)際電路的邏 輯行為相對(duì)應(yīng)的柵格模型。在現(xiàn)有技術(shù)的出版文件DE 10038327 Al、 DE 10110177 Al、 DE 10201554 Al和DE 10209078 Al中，公開了實(shí)現(xiàn)這種測(cè)試裝置的各種可 能的方式。根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的公布US 6721914 B2，還可以獲知一種印刷 電路故障檢測(cè)的一般方法。還應(yīng)當(dāng)參考-現(xiàn)有技術(shù)的出版文件US 6202181 Bl，其中提出了借助故障分析 功能來改進(jìn)對(duì)搭接故障(bridging fault)的診斷，以及-現(xiàn)有技術(shù)的出版文件US 2004/0133833 Al，其中提出了從手動(dòng) 產(chǎn)生的功能驗(yàn)證圖案中選擇最小數(shù)目的測(cè)試圖案。然而，沒有在這些 公布中考慮到與布局有關(guān)的數(shù)據(jù)；因而不能夠檢測(cè)到與布局有關(guān)的故障。最后，需要注意的是，當(dāng)今電路的有區(qū)別的特征是不斷復(fù)雜的配 線結(jié)構(gòu)，其中固定故障、短路、延遲故障或開路故障能夠在沿著線路-從驅(qū)動(dòng)器至不同接收組件-的任意地方出現(xiàn)。由于用于測(cè)試圖案檢測(cè)的己知電路模型和已知方法僅與實(shí)際電 路的邏輯行為匹配，因此不能覆蓋配線元件中的故障。為此，需要對(duì) 這種傳統(tǒng)測(cè)試電路、尤其是傳統(tǒng)的故障模型和故障位置假定做出改進(jìn) 和擴(kuò)展。發(fā)明內(nèi)容根據(jù)上文已經(jīng)描述的缺點(diǎn)和不足，以及現(xiàn)有技術(shù)中己經(jīng)勾勒出的 適當(dāng)容限，本發(fā)明的目的是進(jìn)一步開發(fā)一種開頭段落中規(guī)定的電路裝置以及一種第二段落中規(guī)定的方法，使得確保對(duì)故障進(jìn)行可靠的檢測(cè)， 尤其是-不僅能夠在電路元件的輸入和輸出端、而且能夠在配線元件處檢測(cè)到固定0故障或固定1故障，-不僅能夠在電路元件的輸入和輸出端、而且能夠在配線元件處 檢測(cè)到延遲故障，-不僅能夠在電路元件的輸入和輸出端、而且能夠在配線元件處 檢測(cè)到開路故障，以及-能夠檢測(cè)到相鄰電線之間的短路故障。這個(gè)目的由一種具有權(quán)利要求l所述特征的電路裝置和一種具有 權(quán)利要求5所述特征的方法而實(shí)現(xiàn)。有利實(shí)施例和有用改進(jìn)由從屬權(quán)利 要求的各個(gè)組合來描述。因此，本發(fā)明基于的原理是，描述電路的邏輯行為以及電路在出 現(xiàn)與布局有關(guān)的故障時(shí)的行為。這種電路模型能夠利用至少一個(gè)測(cè)試 圖案發(fā)生器而計(jì)算必需的測(cè)試模型，通過這些測(cè)試模型可以檢測(cè)到與 布局有關(guān)的生產(chǎn)故障。
為此，提供了一種具有待測(cè)試和/或診斷的應(yīng)用電路并具有附加 邏輯的電路，所述附加邏輯意在用于測(cè)試和/或診斷應(yīng)用電路，所述電 路還具有用于產(chǎn)生檢測(cè)配線故障的確定性測(cè)試圖案的裝置。這些確定性測(cè)試圖案被饋送入應(yīng)用電路以便進(jìn)行測(cè)試，而且測(cè)試 圖案的質(zhì)量可以得到提高，特別是對(duì)于具有復(fù)雜配線結(jié)構(gòu)的集成電路。以這種方式，在本發(fā)明的具體的有利實(shí)施例中，附加邏輯可以計(jì) 算新的故障簽名，因此改進(jìn)了對(duì)這些故障簽名以及所有其他生產(chǎn)故障 進(jìn)行定位的精確性。對(duì)于固定故障、開路故障和延遲故障，明顯改進(jìn)了故障檢測(cè)和診 斷分辨率。作為示例，根據(jù)本發(fā)明的過程可以具有如下形式[i].在先前己經(jīng)產(chǎn)生至少一個(gè)邏輯(描述)和至少一個(gè)布局描述之后，在考慮布局描述的同時(shí)對(duì)邏輯(描述)進(jìn)行重新建模，使用來自[i]的重新建模的邏輯，產(chǎn)生至少一個(gè)測(cè)試圖案，尤其是重新建模和/或擴(kuò)展至少一個(gè)測(cè)試圖案，[iii].使用來自[i]的重新建模的邏輯(描述)以及來自[ii]的 重新建模和/或擴(kuò)展的測(cè)試圖案，產(chǎn)生至少一個(gè)新的故障簽名。根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)啟示， 一旦實(shí)際布局中出現(xiàn)信號(hào)分支或信號(hào)分 支點(diǎn)，則把至少一個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件和/或測(cè)試圖案修正 或修改元件插入測(cè)試圖案發(fā)生器電路，其中被插入的元件具有至少一 個(gè)緩沖器的形式，或具有至少一個(gè)扇出(fan-out)對(duì)象的形式。本發(fā)明的實(shí)質(zhì)優(yōu)點(diǎn)在于-高度復(fù)雜電路的測(cè)試圖案質(zhì)量有所提高，-能夠以更高的精確性對(duì)生產(chǎn)故障進(jìn)行故障定位，-實(shí)際IC (集成電路)上不需要額外的硬件，-通過使用所謂的N檢測(cè)方法中的固定O故障和固定l故障集合的 聯(lián)合，可以更有效地產(chǎn)生測(cè)試圖案，-由于至少一個(gè)附加的圖案重新建模/擴(kuò)展元件、尤其是至少一個(gè) 附加的扇出元件完全適于發(fā)生器電路，因此可以使用現(xiàn)有的測(cè)試圖案 發(fā)生器。 優(yōu)選地，布局?jǐn)?shù)據(jù)顯式地用于產(chǎn)生適當(dāng)?shù)臏y(cè)試圖案，其結(jié)果是改 進(jìn)了故障檢測(cè)。這個(gè)使用布局?jǐn)?shù)據(jù)的方法還與相應(yīng)的測(cè)試圖案一起改 進(jìn)了診斷分辨率。在本發(fā)明的有用實(shí)施例中，借助至少一個(gè)ATPG (自動(dòng)測(cè)試圖案發(fā) 生器)來計(jì)算測(cè)試圖案的最優(yōu)匯編。此外，所需的測(cè)試圖案優(yōu)選地根 據(jù)布局情況而產(chǎn)生。最后，本發(fā)明涉及上述至少一個(gè)電路裝置的用途，禾(V或上述一 種方法的用途，用于測(cè)試和/或診斷，尤其是-用于跟蹤和/或檢測(cè)故障，例如生產(chǎn)故障，其形式為發(fā)生在電路 裝置的邏輯部件中的配線故障，和/或-用于計(jì)算至少一個(gè)新的故障簽名，其結(jié)果是可以改進(jìn)對(duì)這個(gè)故 障簽名和/或其他生產(chǎn)故障的定位的精確性。因此，本發(fā)明涉及的應(yīng)用領(lǐng)域有集成電路(IC)測(cè)試技術(shù)、集成電路可測(cè)試性設(shè)計(jì)、集成電路計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)以及集成電路 計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試(CAT);本發(fā)明具體涉及對(duì)集成電路生產(chǎn)測(cè)試的定性改進(jìn)，以及對(duì)與生產(chǎn)有關(guān)的故障進(jìn)行有效跟蹤的可能方式。上述集成電路裝置、上述方法以及上述用途不僅在固定故障模型方面、而且在開路故障和延遲故障方面提高了測(cè)試質(zhì)量。在開路故障的情況下，由于懸空部分的狀態(tài)由隨機(jī)因素(或多或少地)確定，例如周圍電路的電氣狀態(tài)，所以可以很好理解的是，即使在己經(jīng)描述了網(wǎng)絡(luò)列表的修改之后，也可以使用所謂的N檢測(cè)方法來檢測(cè)故障。如上所述，存在多種以有利的方式體現(xiàn)并發(fā)展本發(fā)明的技術(shù)啟示的可能的方式。為此， 一方面應(yīng)當(dāng)參考從屬于權(quán)利要求1和權(quán)利要求5的權(quán)利要求。另一方面，參考下文描述的實(shí)施例，本發(fā)明的這些和其 他方面將會(huì)變得明顯并得以說明。


圖l是以傳統(tǒng)方式而工作的現(xiàn)有技術(shù)的集成電路裝置的實(shí)施例的 示意性電路框圖。 圖2是根據(jù)本發(fā)明的集成電路裝置的第一實(shí)施例的示意性電路框 圖，該裝置以根據(jù)本發(fā)明的方法而工作，以及圖3是根據(jù)本發(fā)明的集成電路裝置的第二實(shí)施例的示意性詳細(xì)框 圖，該裝置以根據(jù)本發(fā)明的方法而工作。
具體實(shí)施方式
在圖1至3中，為相同或相似的裝置、元件或特征賦予了相同的附 圖標(biāo)記。為了避免過多的重復(fù)，與本發(fā)明的實(shí)施例、特征和優(yōu)點(diǎn)有關(guān)的下 列說明(除非另有規(guī)定)涉及圖l所示的現(xiàn)有技術(shù)的電路裝置，涉及圖 2所示的根據(jù)本發(fā)明的電路裝置100，而且還涉及圖3所示的根據(jù)本發(fā)明 的電路裝置100'。圖1和2是各個(gè)集成電路裝置。集成電路或IC;圖2中的附圖標(biāo)記 100)的示意性電路框圖；這個(gè)電路裝置在每種情況下為具有用于產(chǎn)生 測(cè)試圖案的測(cè)試模塊的應(yīng)用電路。為了確保應(yīng)用電路100中成功的故障檢測(cè)，其中-不僅能夠在電路元件的輸入和輸出端、而且能夠在配線元件處 檢測(cè)到固定0故障和固定1故障，-不僅能夠在電路元件的輸入和輸出端、而且能夠在配線元件處 檢測(cè)到延遲故障，-不僅能夠在電路元件的輸入和輸出端、而且能夠在配線元件處 檢測(cè)到開路故障，以及-能夠檢測(cè)到相鄰電線之間的短路故障，針對(duì)圖2所示根據(jù)本發(fā)明的電路100所采納的解決方案的方法包 括，把由圖1中的附圖標(biāo)記72表示的故障改變?yōu)橛?jì)算規(guī)則能夠覆蓋的故 障，所述計(jì)算規(guī)則本質(zhì)上已知用于產(chǎn)生測(cè)試圖案(所謂的ATPG (自動(dòng) 測(cè)試圖案發(fā)生器)算法)。為此而采納的過程如下對(duì)配線結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)的布局分析，布局中每一個(gè)信號(hào)分支52、 54、 56的上游，對(duì)電路進(jìn)行修改，使
修改后的電路包含附加的各個(gè)緩沖器IO、 12、 14;對(duì)按照這種方式修改的電路100施加測(cè)試圖案產(chǎn)生。 這將在下文借助于對(duì)傳統(tǒng)的現(xiàn)有技術(shù)的方法進(jìn)行比較而描述為此，假定圖1和2所示的故障電路受到下列缺陷或故障70中的一個(gè)的影響-電路元件的輸入和/或輸出端的固定0/1故障，-電路元件的輸入和/或輸出端的延遲故障， -電路元件的輸入和/或輸出端的開路故障， -相鄰電線之間的短路。在圖l所示的集成電路中(=現(xiàn)有技術(shù))，如果僅使用邏輯電路模型，則針對(duì)固定O故障(二附圖標(biāo)記72，布局中的分支56的上游所示) 的測(cè)試圖案產(chǎn)生是不夠的。圖1中作為示例而示出的電路具有4個(gè)輸入 和1個(gè)輸出。輸出與處于邏輯l的輸入的個(gè)數(shù)的奇偶性相對(duì)應(yīng)("偶"一〉附圖 標(biāo)記60;"奇"-->附圖標(biāo)記62)。然而，如果使能輸入處于邏輯O，則其他輸入被忽略。產(chǎn)生測(cè)試圖案的已知或傳統(tǒng)方法僅接受由圖1中的附圖標(biāo)記70所表示的固定缺陷，并產(chǎn)生相應(yīng)的測(cè)試圖案。圖l所示的圖案，即處于邏 輯l的所有輸入，同時(shí)對(duì)附圖標(biāo)記70所表示的故障進(jìn)行測(cè)試，因?yàn)榧俣?電路中每時(shí)僅出現(xiàn)一個(gè)故障。通常(圖l)，在這些假定下，對(duì)于固定 缺陷70來說，僅施加這一個(gè)測(cè)試圖案就足夠了。然而，可以看出的是，由圖1中的附圖標(biāo)記72所表示的故障將不 會(huì)被發(fā)現(xiàn)，因?yàn)樵趫Dl所示的被描述的模型中，這種故障72表示同時(shí)出 現(xiàn)兩個(gè)故障70.由于配線結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性增加，其結(jié)果是故障72出現(xiàn)的概 率增加，為故障72產(chǎn)生測(cè)試圖案也是很重要的。為此，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)啟示，在圖2所示的實(shí)施例中連接了三 個(gè)附加的測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件，在圖2中示出為緩沖器單元10、 12、 14。從電路裝置100的第二 (應(yīng)用)子電路22至電路裝置100的其 他(應(yīng)用)子電路元件32、 34、 36、 38的信號(hào)通路經(jīng)過了具有分支連 接50的形式的相應(yīng)信號(hào)路徑。
在圖2所示的實(shí)施例中，通過示例，子電路32、 34、 36、 38中的 每一個(gè)被設(shè)置為具有邏輯AND門的邏輯元件，而且這些子電路彼此并 聯(lián)；然而，這些邏輯元件32、 34、 36、 38的每一個(gè)還可以具有如下形 式-至少一個(gè)邏輯與非門，-至少一個(gè)邏輯或非門，-至少一個(gè)邏輯非門，-至少一個(gè)邏輯或門，-至少一個(gè)邏輯異或門。位于信號(hào)路徑50的布局中的每一個(gè)分支點(diǎn)52、 54、 56處(尤其是 每一個(gè)分支點(diǎn)52、 54、 56上游)的是各個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件 10、 12、 14，即_第一測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件10，位于相應(yīng)信號(hào)路徑50上的 第一分支點(diǎn)52的上游，_第二測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件12，位于相應(yīng)信號(hào)路徑50上的 第二分支點(diǎn)54的上游，以及-第三測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件14，位于相應(yīng)信號(hào)路徑50上的 第三分支點(diǎn)56的上游。盡管由圖2中的附圖標(biāo)記70所表示的故障甚至可以由用于產(chǎn)生測(cè) 試圖案的傳統(tǒng)方法來覆蓋，即包括(參見圖l)，然而根據(jù)本發(fā)明利用 緩沖器IO、 12、 14的設(shè)置而實(shí)現(xiàn)的是，這里描述的方法同樣對(duì)附圖標(biāo) 記72所表示的故障提供了測(cè)試覆蓋。也可以提供一個(gè)或更多個(gè)扇出單 元來代替緩沖器單元IO、 12、 14。從圖2可以看出，其他子電路32、 34、 36、 38在其上游連接有任 意期望的應(yīng)用電路100的子電路20 (具有4個(gè)輸出的任意期望的模塊)； 詳細(xì)地，-第一邏輯元件32的第一 (圖2上面)輸入端具有與第一應(yīng)用電路 20的第一輸出端的連接232，-第二邏輯元件34的第一 (圖2上面)輸入端具有與第一應(yīng)用電路 20的第二輸出端的連接234， -第三邏輯元件36的第一 (圖2上面)輸入端具有與第一應(yīng)用電路20的第三輸出端的連接236，以及-第四邏輯元件38的第一 (圖2上面)輸入端具有與第一應(yīng)用電路 20的第四輸出端的連接238。從圖2中最后看出，子電路32、 34、 36、 38在上游端與第三子電 路40相連(例如具有4個(gè)輸入的奇偶檢驗(yàn)器)；詳細(xì)地，-第一邏輯元件32的輸出端具有與第三應(yīng)用子電路40的第一輸入 端的連接324，-第二邏輯元件34的輸出端具有與第三應(yīng)用子電路40的第二輸入 端的連接344，-第三邏輯元件36的輸出端具有與第三應(yīng)用子電路40的第三輸入 端的連接364，以及-第四邏輯元件38的輸出端具有與第三應(yīng)用子電路40的第四輸入 端的連接384。第三應(yīng)用子電路40的輸出具有與如下的連接42:-電路裝置100的主輸出；或-其他應(yīng)用子電路的輸入。在圖2所示的本發(fā)明的第一實(shí)施例中(=電路裝置100)，為了簡(jiǎn)便 而假定物理布局事實(shí)上確實(shí)與網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)相對(duì)應(yīng)(如所示)。如果不是這 種情況，則物理布局是至關(guān)緊要的。因此，在本發(fā)明的第二實(shí)施例的情況下(=電路裝置100')，圖3 中示出了與圖2中所示第一實(shí)施例的配線序列不同的配線序列，而且相 應(yīng)的結(jié)果為插入的緩沖器10'、 12，、 14'以及故障70'、 72'。如果在虛擬緩沖器處N次(N是可以由用戶定義的質(zhì)量參數(shù)，被稱 作檢測(cè)深度)檢測(cè)到固定O故障(被稱作SAO故障)和固定l故障(被稱 作SA1故障)集合的聯(lián)合而不是為固定0故障和固定1故障分別產(chǎn)生相應(yīng) 的測(cè)試圖案，那么可以在相當(dāng)程度上更為有效地執(zhí)行對(duì)圖2中附圖標(biāo)記 72所表示的故障和圖3中附圖標(biāo)記72'所表示的故障的檢測(cè)。借助于這個(gè)N檢測(cè)方法，對(duì)發(fā)生器下命令以便對(duì)每一個(gè)缺陷進(jìn)行 多次檢測(cè)，即進(jìn)行N次檢測(cè)。由于缺陷模型沒有完全覆蓋現(xiàn)有的故障70、
72 (參見圖2)或70'、 72，(參見圖3)，所以應(yīng)用了概率原理，即利用 不同的測(cè)試模型多次嘗試對(duì)故障70、 72 (參見圖2)或70'、 72'(參見 圖3)進(jìn)行檢測(cè)，這意味著故障70、 72 (參見圖2)或70'、 72'(參見 圖3)自身出現(xiàn)至少一次的概率較高，因而能夠識(shí)別有故障的應(yīng)用電路 IOO或IOO'?？傊景l(fā)明實(shí)現(xiàn)的是，圖2所示的電路100或圖3所示的電路100' 定義了邏輯行為和出現(xiàn)與布局有關(guān)的故障時(shí)的行為，因而測(cè)試圖案發(fā) 生器將會(huì)考慮這些額外的故障并能夠產(chǎn)生所需的測(cè)試圖案。附圖標(biāo)記列表100 電路裝置，尤其是應(yīng)用電路，例如集成電路的子電路(本發(fā)明的第一實(shí)施例；參見圖2) 100' 電路裝置，尤其是應(yīng)用電路，例如集成電路的子電路(本發(fā)明的第二實(shí)施例；參見圖3) 10 第一測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件，尤其是第一緩沖器單元或第一扇出單元(本發(fā)明的第一實(shí)施例；參見 圖2)10' 第一測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件，尤其是第一緩沖器單元或第一扇出單元(本發(fā)明的第二實(shí)施例；參見圖3)12 其他的、尤其是第二測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件，例如第二緩沖器單元或第二扇出單元(本發(fā)明的第一實(shí) 施例；參見圖2)12' 其他的、尤其是第二測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件，例如第二緩沖器單元或第二扇出單元(本發(fā)明的第二實(shí) 施例；參見圖3)14 其他的、尤其是第三測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件，例如第三緩沖器單元或第三扇出單元(本發(fā)明的第一實(shí) 施例；參見圖2)14， 其他的、尤其是第三測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件，例如第三緩沖器單元或第三扇出單元(本發(fā)明的第二實(shí)施例；參見圖3) 20 第一子電路，尤其是電路裝置100的第一應(yīng)用子電路22 第二電路，尤其是電路裝置100的第二應(yīng)用子電路232 第一子電路20的第一輸出端與第一邏輯元件32的第一 輸入端的連接234 第一子電路20的第二輸出端與第二邏輯元件34的第一 輸入端的連接236 第一子電路20的第三輸出端與第三邏輯元件36的第一 輸入端的連接238 第一子電路20的第四輸出端與第四邏輯元件38的第一 輸入端的連接32 第一邏輯元件，尤其是第一邏輯門，例如第一與門元件、第一與非門元件、第一或非門元件、第一非門元 件、第一或門元件、第一異或門元件等324 第一邏輯元件32的輸出端與第三子電路40的第一輸入 端的連接34 第二邏輯元件，尤其是第二邏輯門，例如第二與門元件、第二與非門元件、第二或非門元件、第二非門元 件、第二或門元件、第二異或門元件等344 第二邏輯元件34的輸出端與第三子電路40的第二輸入 端的連接36 第三邏輯元件，尤其是第三邏輯門，例如第三與門元件、第三與非門元件、第三或非門元件、第三非門元 件、第三或門元件、第三異或門元件等364 第三邏輯元件36的輸出端與第三子電路40的第三輸入 端的連接38 第四邏輯元件，尤其是第四邏輯門，例如第四與門元件、第四與非門元件、第四或非門元件、第四非門元 件、第四或門元件、第四異或門元件等384 第四邏輯元件38的輸出端與第三子電路40的第四輸入
端的連接40 第三子電路，尤其是第三應(yīng)用子電路，例如電路裝置ioo的奇偶檢驗(yàn)器42 第三子電路40的輸出端與電路裝置100的主輸出或與 其他子電路、尤其是其他應(yīng)用子電路的輸入的連接50 信號(hào)路徑，尤其是第一測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件10與邏輯元件32、 34、 36、 38的分支連接。52 信號(hào)路徑50上的第一分支點(diǎn)54 信號(hào)路徑50上的第二分支點(diǎn)56 信號(hào)路徑50上的第三分支點(diǎn)60 "偶"校驗(yàn)(狀態(tài))62 "奇"校驗(yàn)(狀態(tài))70 故障或缺陷，尤其是固定故障(本發(fā)明的第一實(shí)施例；參見圖2)70' 故障或缺陷，尤其是固定故障(本發(fā)明的第二實(shí)施例；參見圖3)72 額外的故障或缺陷，尤其是額外的固定故障(本發(fā)明的第一實(shí)施例；參見圖2) 72' 故障或缺陷，尤其是額外的固定故障(本發(fā)明的第二實(shí)施例；參見圖3) N 檢測(cè)深度(其形式為用戶可定義的質(zhì)量參數(shù))
權(quán)利要求
1. 一種電路裝置(100; 100')，尤其是應(yīng)用電路，被設(shè)置用于產(chǎn) 生至少一個(gè)測(cè)試圖案，其特征在于，_可以借助至少一個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14;10'、 12'、 14')把測(cè)試圖案重新建模和/或擴(kuò)展為至少一個(gè)可預(yù)置的 和/或確定性的測(cè)試矢量；以及-至少一個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10'、 12'、 14，)被設(shè)置，尤其是被插入到至少一個(gè)信號(hào)路徑(50)上的至少一個(gè)、 尤其是每一個(gè)分支點(diǎn)(52、 54、 56)的上游。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路裝置，其特征在于，測(cè)試圖案重新 建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10，、 12，、 14，)具有如下形式-至少一個(gè)第一緩沖器單元，或 -至少一個(gè)第一扇出單元。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電路裝置，其特征在于，針對(duì)能夠饋 送入給定測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10，、 12，、 14，) 的測(cè)試信號(hào)，可以計(jì)算至少一個(gè)各自的故障簽名。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的電路裝置，其特征在于， 測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10，、 12'、 14，)具有-至少一個(gè)子電路(20、 22)，尤其是至少一個(gè)應(yīng)用子電路，與測(cè) 試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10，、 12，、 14，)的上游相 連，和/或-至少一個(gè)子電路(32、 34、 36、 38、 40)，尤其是至少一個(gè)應(yīng)用 子電路，與測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10'、 12'、 14') 的下游相連。
5. —種用于對(duì)至少一個(gè)電路裝置(100; 100')，尤其是至少一個(gè) 應(yīng)用電路進(jìn)行測(cè)試和/或診斷的方法，其特征在于，針對(duì)能夠饋送入至 少一個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10，、 12，、 14，) 的測(cè)試信號(hào)，可以計(jì)算至少一個(gè)各自的故障簽名。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于包括如下步驟[i] 在考慮至少一個(gè)布局描述的同時(shí)，對(duì)至少一個(gè)邏輯描述進(jìn) 行重新建模，[ii] 借助于步驟[i]中重新建模的邏輯描述，產(chǎn)生至少一個(gè)測(cè)試圖案，尤其是對(duì)至少一個(gè)測(cè)試圖案進(jìn)行重新建模和/或擴(kuò)展，[iii] 借助以下內(nèi)容來產(chǎn)生至少一個(gè)各自的故障簽名 -步驟[i]中重新建模的邏輯描述；以及 -步驟[ii]中產(chǎn)生的測(cè)試圖案。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的方法，其特征在于，當(dāng)產(chǎn)生測(cè)試圖案時(shí)，分析并且考慮[a] 發(fā)生故障時(shí)電路裝置(100; 100')的邏輯行為；禾tl/或[b] 對(duì)發(fā)生與布局有關(guān)的故障時(shí)電路裝置(100; 100')的行為。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，在所述[b]的情況下-關(guān)于配線結(jié)構(gòu)的布局而分析配線結(jié)構(gòu)，-以插入至少一個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、 12、 14; 10'、 12'、 14')、尤其是插入至少一個(gè)緩沖器單元或至少一個(gè)扇出單元的方 式，在至少一個(gè)信號(hào)路徑(50)上至少一個(gè)、尤其是每一個(gè)分支點(diǎn)(52、 54、 56)上游處對(duì)電路裝置(100; 100')進(jìn)行修改，以及-向以這種方式進(jìn)行修改的電路裝置(100; 100')施加產(chǎn)生的測(cè) 試圖案。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6至8中任意一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，借助 至少一個(gè)ATPG (自動(dòng)測(cè)試圖案發(fā)生器)來計(jì)算測(cè)試圖案。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的至少一個(gè)電路裝置 (100; 100')和/或根據(jù)權(quán)利要求5至9中任意一項(xiàng)所述的方法的用途，用于測(cè)試和/或診斷，尤其是-用于跟蹤和/或檢測(cè)故障，例如生產(chǎn)故障，其形式為發(fā)生在電路 裝置(100; 100')的邏輯部件中的配線故障，和/或-用于計(jì)算至少一個(gè)新的故障簽名，其結(jié)果是可以改進(jìn)對(duì)這個(gè)故 障簽名和/或其他生產(chǎn)故障的定位的精確性。
全文摘要
為了進(jìn)一步開發(fā)一種電路裝置(100；100’)，尤其是應(yīng)用電路，被設(shè)置為產(chǎn)生至少一個(gè)測(cè)試圖案，以及一種用于測(cè)試和/或診斷電路裝置(100；100’)的方法，確保了可靠的故障檢測(cè)，提出可以借助至少一個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、12、14；10’、12’、14’)把測(cè)試圖案重新建模和/或擴(kuò)展為至少一個(gè)可預(yù)置和/或確定性的測(cè)試矢量，至少一個(gè)測(cè)試圖案重新建模/擴(kuò)展元件(10、12、14；10’、12’、14’)被設(shè)置、尤其是被插入至少一個(gè)信號(hào)路徑(50)上的至少一個(gè)、尤其是每一個(gè)分支點(diǎn)(52、54、56)的上游。
文檔編號(hào)G01R31/3181GK101147076SQ200580045915
公開日2008年3月19日 申請(qǐng)日期2005年12月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年1月4日
發(fā)明者史蒂芬·艾亨勃格, 安德里斯·格魯瓦茨, 弗雷德里?！す?申請(qǐng)人:Nxp股份有限公司