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測(cè)試裝置、配置方法、及設(shè)備接口的制作方法

文檔序號(hào):6109895閱讀:219來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:測(cè)試裝置、配置方法、及設(shè)備接口的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是關(guān)于一種對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置(test device)、用于該測(cè)試裝置的設(shè)備接口(device interface)、及該測(cè)試裝置的配置(configuration)方法。而且,本發(fā)明與下述的美國(guó)專利申請(qǐng)案相關(guān)聯(lián)。關(guān)于利用文獻(xiàn)的參照而允許并入的指定國(guó),將參照下述申請(qǐng)案所記載的內(nèi)容而并入本申請(qǐng)案中,以作為本申請(qǐng)案的記載的一部分。
申請(qǐng)案編號(hào)10/923,634申請(qǐng)日2004年8月20日背景技術(shù)先前,作為對(duì)半導(dǎo)體電路等電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置的構(gòu)成,眾所周知的有如下構(gòu)成,其包括設(shè)備接口,載置著電子設(shè)備;測(cè)試模塊(testmodule),通過(guò)設(shè)備接口而與電子設(shè)備連接,且進(jìn)行輸入到電子設(shè)備的輸入信號(hào)的生成等;以及控制部,供給用以控制上述測(cè)試模塊的信號(hào)。測(cè)試模塊設(shè)置在插槽(slot)中,該插槽設(shè)置在設(shè)備接口與控制部之間。
通常,上述構(gòu)成中,在設(shè)備接口中與電子設(shè)備連接的連接器、其與各插槽的連接是固定的,用戶無(wú)法自由設(shè)定。因此,有時(shí)無(wú)法與用戶的使用目的相對(duì)應(yīng),從可伸縮性(scalability)的觀點(diǎn)而言較差。
針對(duì)上述構(gòu)成,為了提高可伸縮性,本發(fā)明提議如下構(gòu)成,其可以自由地設(shè)定各插槽與設(shè)備接口中的連接器的連接。當(dāng)形成該構(gòu)成時(shí),必須對(duì)插槽與連接器是否按照用戶的設(shè)定而連接來(lái)進(jìn)行診斷。先前的測(cè)試裝置未設(shè)想如此的構(gòu)成,故未能實(shí)現(xiàn)對(duì)插槽與連接器的連接關(guān)系進(jìn)行診斷的功能。

發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的目的在于提供一種可以解決上述問(wèn)題的測(cè)試裝置、配置方法、及設(shè)備接口。該目的可通過(guò)將權(quán)利要求書的獨(dú)立項(xiàng)中所記載的特征加以組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。而且,依附項(xiàng)規(guī)定本發(fā)明的更有利的具體例。
為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明的第1形態(tài)中,提供一種測(cè)試裝置,其對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,其包括總線開關(guān)(bus switch)部,具有多個(gè)輸出端(output port),且可以對(duì)將所輸入的信號(hào)從哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行切換;控制部,將多個(gè)控制信號(hào)輸入到總線開關(guān)部,且對(duì)將各控制信號(hào)從哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行控制,其中多個(gè)控制信號(hào)與用以對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試程序相對(duì)應(yīng);多個(gè)插槽,與多個(gè)輸出端相對(duì)應(yīng)而設(shè)置,并根據(jù)控制信號(hào)而生成應(yīng)輸入到電子設(shè)備的輸入信號(hào),且設(shè)置著接收電子設(shè)備所輸出的輸出信號(hào)的測(cè)試模塊;以及設(shè)備接口,具有應(yīng)與電子設(shè)備連接的多個(gè)連接器,且可以對(duì)將多個(gè)插槽與哪一個(gè)連接器連接進(jìn)行切換,且設(shè)備接口進(jìn)而包括診斷用解碼器(decoder),該診斷用解碼器通過(guò)各連接器,將從設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊的插槽接收的診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊,控制部檢測(cè)出通過(guò)各連接器的診斷用信號(hào)被供給到哪一個(gè)測(cè)試模塊,且根據(jù)該檢測(cè)結(jié)果,檢測(cè)出各輸出端與哪一個(gè)連接器連接。
測(cè)試裝置進(jìn)而包括預(yù)先存儲(chǔ)著配置文件的配置存儲(chǔ)器,上述配置文件表示各輸出端應(yīng)與哪一個(gè)連接器連接,控制部通過(guò)將各輸出端與哪一個(gè)連接器連接的檢測(cè)結(jié)果、與配置文件進(jìn)行比較,以判定多個(gè)輸出端是否與多個(gè)連接器正確地連接。
測(cè)試裝置進(jìn)而包括多個(gè)測(cè)試模塊,上述多個(gè)測(cè)試模塊設(shè)置在各插槽中,且具有在接收到診斷用信號(hào)時(shí),將規(guī)定的信號(hào)輸出到控制部的診斷用電路。診斷用電路可通過(guò)與該插槽相對(duì)應(yīng)的輸出端,將規(guī)定的信號(hào)輸出到控制部,且控制部根據(jù)從哪一個(gè)輸出端接收到規(guī)定的信號(hào),以檢測(cè)出各輸出端與哪一個(gè)連接器連接。
上述配置存儲(chǔ)器存儲(chǔ)著配置文件,該配置文件進(jìn)而表示對(duì)應(yīng)設(shè)置在各插槽中的測(cè)試模塊進(jìn)行識(shí)別的模塊識(shí)別信息;測(cè)試模塊進(jìn)而包括識(shí)別存儲(chǔ)器,該識(shí)別存儲(chǔ)器存儲(chǔ)該測(cè)試模塊的模塊識(shí)別信息;診斷用電路在接收到診斷用信號(hào)時(shí),進(jìn)而將存儲(chǔ)在識(shí)別存儲(chǔ)器中的模塊識(shí)別信息輸出到控制部;控制部將從設(shè)置在各插槽的測(cè)試模塊接收到的模塊識(shí)別信息、與應(yīng)設(shè)置在該插槽的測(cè)試模塊的模塊識(shí)別信息加以比較,進(jìn)而判定是否在各插槽中設(shè)置了正確的測(cè)試模塊。
測(cè)試模塊進(jìn)而包括設(shè)備測(cè)試用電路,該設(shè)備測(cè)試用電路根據(jù)控制信號(hào)而生成輸入信號(hào);各連接器包括設(shè)備插頭以及診斷用插頭,上述設(shè)備插頭使該設(shè)備測(cè)試用電路與電子設(shè)備相連接,上述診斷用插頭使診斷用電路與診斷用解碼器相連接。
本發(fā)明的第2形態(tài)中,提供一種配置方法,其是對(duì)測(cè)試電子設(shè)備的測(cè)試裝置進(jìn)行配置的配置方法,上述測(cè)試裝置包括總線開關(guān)部,具有多個(gè)輸出端,且可以對(duì)將所輸入的信號(hào)從哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行切換;控制部,將多個(gè)控制信號(hào)輸入到總線開關(guān)部,且對(duì)將各控制信號(hào)從哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行控制,其中該多個(gè)控制信號(hào)與用以對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試程序相對(duì)應(yīng);多個(gè)插槽,與多個(gè)輸出端相對(duì)應(yīng)而設(shè)置,并根據(jù)控制信號(hào)而生成應(yīng)輸入到電子設(shè)備的輸入信號(hào),且設(shè)置著接收該電子設(shè)備所輸出的輸出信號(hào)的測(cè)試模塊;以及設(shè)備接口,具有應(yīng)與電子設(shè)備連接的多個(gè)連接器,且可以對(duì)將多個(gè)插槽與哪一個(gè)連接器連接進(jìn)行切換,上述配置方法包括診斷用信號(hào)供給步驟,通過(guò)各連接器,使診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊;信號(hào)檢測(cè)步驟,檢測(cè)出通過(guò)各連接器的診斷用信號(hào)被供給到哪一個(gè)測(cè)試模塊;以及位置檢測(cè)步驟,根據(jù)檢測(cè)結(jié)果,檢測(cè)出各輸出端與哪一個(gè)連接器連接。
診斷用信號(hào)供給步驟,可在配置于規(guī)定的插槽的診斷用測(cè)試模塊中,依次生成供給到其他測(cè)試模塊的診斷用信號(hào)。
本發(fā)明的第3形態(tài)中,提供一種設(shè)備接口,其在對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置中,使電子設(shè)備與測(cè)試裝置本體連接,且測(cè)試裝置本體包括總線開關(guān)部,具有多個(gè)輸出端,且可以對(duì)將所輸入的信號(hào)從哪一個(gè)輸出端中輸出進(jìn)行切換;控制部,將多個(gè)控制信號(hào)輸入到總線開關(guān)部,且對(duì)將各控制信號(hào)從哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行控制,其中多個(gè)控制信號(hào)與用以對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試程序相對(duì)應(yīng);以及多個(gè)插槽,與多個(gè)輸出端相對(duì)應(yīng)而設(shè)置,并根據(jù)控制信號(hào)而生成應(yīng)輸入到電子設(shè)備的輸入信號(hào),且設(shè)置著接收電子設(shè)備所輸出的輸出信號(hào)的測(cè)試模塊,上述設(shè)備接口包括多個(gè)連接器,應(yīng)與電子設(shè)備連接;開關(guān)電路,對(duì)將多個(gè)插槽與哪一個(gè)連接器連接進(jìn)行切換;以及診斷用解碼器,通過(guò)各連接器,將從設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊的插槽接收的診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊。
再者,上述發(fā)明的概要并未列舉本發(fā)明的所有必需特征,該等特征群的子(sub)組合也可以成為發(fā)明。
根據(jù)本發(fā)明,可以診斷與電子設(shè)備連接的連接器、與設(shè)置著測(cè)試模塊的插槽等是否正確地連接。而且,可以診斷在各插槽中是否設(shè)置著正確的測(cè)試模塊。


圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)中的測(cè)試裝置100的構(gòu)成的一例的圖。
圖2是表示性能板34的構(gòu)成的一例的圖。
圖3是表示診斷用測(cè)試模塊50-1的構(gòu)成的一例的圖。
圖4是表示其他測(cè)試模塊50的構(gòu)成的一例的圖。
圖5是表示連接器36的構(gòu)成的一例的圖。
圖6是表示配置文件的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的一例的圖。
圖7是表示測(cè)試裝置100的配置方法的一例的流程圖。
圖8是說(shuō)明S308、S310、S312的處理的詳細(xì)內(nèi)容的流程圖。
8輸出端10系統(tǒng)控制器12配置存儲(chǔ)器 14插孔16位置 18總線開關(guān)部20插槽 30設(shè)備接口
32開關(guān)電路 34性能板36連接器38診斷用解碼器50測(cè)試模塊 52診斷用信號(hào)生成部54緩沖器56電壓偏移電路58設(shè)備測(cè)試用電路60控制部62地址讀出電路 64識(shí)別存儲(chǔ)器66緩沖器68上拉電阻70診斷用電路72設(shè)備插頭74診斷用插頭80診斷用解碼器100測(cè)試裝置 200電子設(shè)備S300~S338步驟具體實(shí)施方式
以下,通過(guò)發(fā)明的實(shí)施形態(tài)來(lái)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說(shuō)明,但以下實(shí)施形態(tài)并非限定權(quán)利要求書中的發(fā)明,此外,實(shí)施形態(tài)中所說(shuō)明的特征的所有組合并非為發(fā)明的解決手段所必需的。
圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)中的測(cè)試裝置100的構(gòu)成的一例的圖。測(cè)試裝置100是對(duì)例如半導(dǎo)體芯片等多個(gè)電子設(shè)備(200-1~200-8,以下總稱為200)進(jìn)行測(cè)試的裝置,其具備有控制部60、總線開關(guān)部18、多個(gè)插槽(20-1~20-64,以下總稱為20)、多個(gè)測(cè)試模塊(50-1~50-64,以下總稱為50)、以及設(shè)備接口30。
控制部60根據(jù)用以對(duì)電子設(shè)備200進(jìn)行測(cè)試而預(yù)先規(guī)定的測(cè)試程序,將多個(gè)控制信號(hào)輸入到總線開關(guān)部18??刂撇?0具有系統(tǒng)控制器(systemcontroller)10、配置存儲(chǔ)器12、插孔(hub)14、以及多個(gè)位置(site)(16-1~16-8,以下總稱為16)。
系統(tǒng)控制器10根據(jù)測(cè)試程序來(lái)控制測(cè)試裝置100的動(dòng)作。即,生成與測(cè)試程序相對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)。多個(gè)位置16是與應(yīng)測(cè)試的多個(gè)電子設(shè)備200相對(duì)應(yīng)而設(shè)置,且控制與所對(duì)應(yīng)的電子設(shè)備200連接的測(cè)試模塊50,以與該測(cè)試模塊50進(jìn)行信號(hào)的收發(fā)。插孔14將系統(tǒng)控制器10所生成的控制信號(hào)分配到各位置16。而且,配置存儲(chǔ)器12預(yù)先存儲(chǔ)著表示該測(cè)試裝置100的設(shè)定的配置文件。此處,該配置文件可以是測(cè)試裝置100的用戶所預(yù)先存儲(chǔ)的文件,所謂測(cè)試裝置100的設(shè)定是指例如總線開關(guān)部18的設(shè)定、所使用的測(cè)試模塊50的信息、設(shè)備接口30的設(shè)定、表示總線開關(guān)部18的輸出端應(yīng)與設(shè)備接口30的哪一個(gè)連接器連接的信息、以及對(duì)應(yīng)設(shè)置在各插槽20的測(cè)試模塊50進(jìn)行識(shí)別的模塊識(shí)別信息等。
總線開關(guān)部18具有多個(gè)輸出端,且對(duì)將所輸入的信號(hào)從哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行切換。即,總線開關(guān)部18對(duì)”各位置16應(yīng)分配哪一個(gè)輸出端”進(jìn)行設(shè)定。本例中的總線開關(guān)部18,作為一例,將輸出端1~8分配到位置16-1,將輸出端9~16分配到位置16-2,以下相同地對(duì)各位置16分配8個(gè)輸出端。控制部60通過(guò)控制總線開關(guān)部18,來(lái)對(duì)”將各控制信號(hào)從哪一個(gè)輸出端輸出”進(jìn)行控制。
多個(gè)插槽20為設(shè)置著測(cè)試模塊50的插槽,且與總線開關(guān)部18的多個(gè)輸出端相對(duì)應(yīng)而設(shè)置。各測(cè)試模塊50為與所對(duì)應(yīng)的電子設(shè)備200進(jìn)行信號(hào)收發(fā)的模塊,且根據(jù)用以對(duì)電子設(shè)備200進(jìn)行測(cè)試的各個(gè)功能而設(shè)置。例如測(cè)試模塊50可以為如下模塊,即,根據(jù)控制信號(hào)而生成應(yīng)輸入到所對(duì)應(yīng)的電子設(shè)備200的輸入信號(hào),且接收所對(duì)應(yīng)的電子設(shè)備200輸出的輸出信號(hào),以判定該電子設(shè)備200是否良好,此外,測(cè)試模塊50可以為將電源電力供給到電子設(shè)備200的模塊。此外,測(cè)試模塊50可以為與電子設(shè)備200進(jìn)行模擬或數(shù)字信號(hào)的收發(fā)的模塊,也可以為與電子設(shè)備200進(jìn)行直流或交流信號(hào)的收發(fā)的模塊。
設(shè)備接口30是載置電子設(shè)備200的載置板,使電子設(shè)備200與測(cè)試模塊50電性連接。設(shè)備接口30具有性能板(performance board)34,設(shè)置著多個(gè)連接器,該多個(gè)連接器連接著多個(gè)電子設(shè)備200;以及開關(guān)電路32,對(duì)將多個(gè)插槽20與哪一個(gè)連接器連接進(jìn)行切換。性能板34通常也有時(shí)被稱為承載板(Load Board)。
根據(jù)本例中的測(cè)試裝置100,通過(guò)對(duì)總線開關(guān)部18進(jìn)行切換,可以使總線開關(guān)部18的輸入端、與輸出端及插槽20任意地連接。此外,通過(guò)對(duì)開關(guān)電路32進(jìn)行切換,可以使總線開關(guān)部18的輸出端及插槽20、與設(shè)備接口30的連接器任意地連接。開關(guān)電路32具有例如多條電纜,通過(guò)變更電纜的配線,可以變更插槽20與該連接器的連接。再者,開關(guān)電路32也有時(shí)被稱為測(cè)試夾具(test fixture)。
圖2是表示性能板34的構(gòu)成的一例的圖。性能板34具有多個(gè)連接器(36-1~36-64,以下總稱為36)、以及診斷用解碼器38。多個(gè)連接器36通過(guò)開關(guān)電路32而與測(cè)試模塊50連接,且使該測(cè)試模塊50與電子設(shè)備200電性連接。如上所述,通過(guò)設(shè)定開關(guān)電路32,可以使任意的測(cè)試模塊50與任意的連接器36連接。
本例中的測(cè)試裝置100具有測(cè)試模式,對(duì)電子設(shè)備200進(jìn)行測(cè)試;診斷模式,用以確認(rèn)總線開關(guān)部18的輸出端與連接器36的連接關(guān)系。以測(cè)試模式進(jìn)行動(dòng)作時(shí),各測(cè)試模塊50通過(guò)所對(duì)應(yīng)的連接器36而與電子設(shè)備200進(jìn)行信號(hào)的收發(fā)。
以診斷模式進(jìn)行動(dòng)作時(shí),測(cè)試裝置100在規(guī)定的插槽20中設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊50,診斷用測(cè)試模塊50使診斷用信號(hào)從各連接器36順次傳送到開關(guān)電路32、其他測(cè)試模塊50、以及總線開關(guān)部18的輸出端??刂撇?0檢測(cè)已供給到各連接器36的診斷用信號(hào)傳送到其他測(cè)試模塊50中的哪一個(gè),且確認(rèn)開關(guān)電路32的設(shè)定是否與配置存儲(chǔ)器12所存儲(chǔ)的配置文件相匹配。即,控制部60通過(guò)將各輸出端與哪一個(gè)連接器36連接的檢測(cè)結(jié)果來(lái)與配置文件加以比較,以判定多個(gè)輸出端與多個(gè)連接器36是否正確地連接。多個(gè)輸出端與多個(gè)連接器36未正確地連接時(shí),控制部60將該意旨通知給測(cè)試裝置100的用戶。
診斷用解碼器38通過(guò)各連接器36,將從設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊50的插槽20中接收的診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊50。設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊50的插槽20被預(yù)先規(guī)定,本例中,將診斷用測(cè)試模塊50設(shè)置在插槽20-1中。
而且,診斷用解碼器38通過(guò)多個(gè)連接器36中預(yù)先規(guī)定的連接器36-1,將從插槽20-1中接收的診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊50。此處,測(cè)試裝置100以診斷模式進(jìn)行動(dòng)作時(shí),控制部60控制開關(guān)電路32,以使應(yīng)設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊50-1的插槽20-1、與多個(gè)連接器36中該已預(yù)先規(guī)定的連接器36-1連接,且將用以生成診斷用信號(hào)的控制信號(hào)供給到診斷用測(cè)試模塊50-1中。
診斷用測(cè)試模塊50-1根據(jù)所供給的控制信號(hào),以生成指定各連接器36的診斷用信號(hào)。例如診斷用測(cè)試模塊50-1生成以二進(jìn)制數(shù)來(lái)指定各連接器36的多比特(bit)診斷用信號(hào)。診斷用解碼器80將二進(jìn)制數(shù)的診斷用信號(hào)解碼為僅使該二進(jìn)制數(shù)所示的比特成為1的多比特診斷用信號(hào)。診斷用解碼器80輸出的診斷用信號(hào)的各比特與多個(gè)連接器36中的任一個(gè)相對(duì)應(yīng),且該診斷用信號(hào)的各比特通過(guò)所對(duì)應(yīng)的連接器36而被供給到測(cè)試模塊50。例如,診斷用測(cè)試模塊50-1可以通過(guò)依次生成以1為單位而增加的二進(jìn)制數(shù)的診斷用信號(hào),而將表示規(guī)定的邏輯值的診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊50。以下,作為一例,使用H邏輯的診斷用信號(hào)來(lái)進(jìn)行說(shuō)明。
圖3是表示診斷用測(cè)試模塊50-1的構(gòu)成的一例的圖。診斷用測(cè)試模塊50-1具有診斷用信號(hào)生成部52、緩沖器54、以及電壓偏移(voltage shift)電路56。診斷用信號(hào)生成部52,如上所述,根據(jù)通過(guò)總線開關(guān)部18而從控制部60供給的控制信號(hào),以生成診斷用信號(hào)。
例如,控制部60使依次指定各連接器36的多個(gè)控制信號(hào)依次供給到診斷用信號(hào)生成部52,診斷用信號(hào)生成部52依次生成與各控制信號(hào)所指定的連接器36相對(duì)應(yīng)的二進(jìn)制數(shù)的診斷用信號(hào)。緩沖器54設(shè)置在診斷用信號(hào)生成部52與電壓偏移電路56之間,且通過(guò)連接器36-1,將診斷用信號(hào)生成部52所生成的診斷用信號(hào)供給到診斷用解碼器38。此外,電壓偏移電路56將緩沖器54所輸出的診斷用信號(hào)的電壓電平調(diào)整為任意電平。
圖4是表示其他測(cè)試模塊50的構(gòu)成的一例的圖。此處,所謂其他測(cè)試模塊50是指設(shè)置在插槽20的測(cè)試模塊50,該插槽20并非為應(yīng)設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊50-1的插槽20。
測(cè)試模塊50具有設(shè)備測(cè)試用電路58,用以對(duì)電子設(shè)備200進(jìn)行測(cè)試;以及診斷用電路70,當(dāng)接收到表示H邏輯的診斷用信號(hào)時(shí),將規(guī)定的信號(hào)輸出到控制部60。設(shè)備測(cè)試用電路58由控制信號(hào)控制,該控制信號(hào)是測(cè)試裝置100以測(cè)試模式進(jìn)行動(dòng)作時(shí)從控制部60供給的。此外,設(shè)備測(cè)試用電路58通過(guò)總線開關(guān)部18,將對(duì)電子設(shè)備200進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果通知到控制部60。
診斷用電路70在接收到表示H邏輯的診斷用信號(hào)時(shí),將規(guī)定的信號(hào)輸出到控制部60。本例中,診斷用電路70通過(guò)總線開關(guān)部18的輸出端及輸入端,將該規(guī)定的信號(hào)輸出到控制部60,其中上述總線開關(guān)部18的輸出端及輸入端與設(shè)置著該測(cè)試模塊50的插槽20相對(duì)應(yīng)。此處,所謂該規(guī)定的信號(hào)也可以是診斷用信號(hào)。此外,診斷用電路70也可以將該測(cè)試模塊50的信息一并輸出到控制部60。
控制部60可根據(jù)通過(guò)總線開關(guān)部18的哪一個(gè)輸出端接收到診斷用電路70所輸出的信號(hào),來(lái)檢測(cè)出由控制信號(hào)所指定的連接器36與總線開關(guān)部18的哪一個(gè)輸出端連接。此外,控制部60可根據(jù)通過(guò)總線開關(guān)部18的哪一個(gè)輸入端接收到診斷用電路70所輸出的信號(hào),來(lái)判定總線開關(guān)部18的輸入端、輸出端、插槽20、以及連接器36的連接是否與配置文件相匹配。
診斷用電路70具有上拉電阻(pull-up resistor)68、緩沖器66、地址讀出電路(location sense circuit)62、以及識(shí)別存儲(chǔ)器64。緩沖器66將診斷用信號(hào)輸入到地址讀出電路62。地址讀出電路62具有輸入診斷用信號(hào)的輸入端子(Loc_SENSE1),且當(dāng)將H邏輯輸入到該輸入端子時(shí),將規(guī)定的信號(hào)輸出到控制部60。
識(shí)別存儲(chǔ)器64存儲(chǔ)該測(cè)試模塊50的模塊識(shí)別信息、制造者識(shí)別信息、制造型號(hào)、以及制造編號(hào)等。診斷用電路70在接收到H邏輯的診斷用信號(hào)時(shí),將該等測(cè)試模塊50的信息一并輸出到控制部60。此時(shí),控制部60可以將從設(shè)置在各插槽20的測(cè)試模塊50接收到的模塊識(shí)別信息、與配置文件中的應(yīng)設(shè)置在該插槽20的測(cè)試模塊50的模塊識(shí)別信息加以比較,進(jìn)而判定在各插槽20中是否設(shè)置著正確的測(cè)試模塊50。
而且,測(cè)試模塊50與多個(gè)連接器36連接時(shí),地址讀出電路62具有與該多個(gè)連接器36連接的多個(gè)輸入端子。此時(shí),優(yōu)選方式是地址讀出電路62根據(jù)輸入到各輸入端子的每個(gè)信號(hào),以輸出規(guī)定的信號(hào)。例如,地址讀出電路62具有2個(gè)輸入端子(Loc_SENSEI、LOC_SENSE2)時(shí),優(yōu)選方式是地址讀出電路62將如下兩種信息通知給控制部60,上述兩種信息為表示輸入到輸入端子(Loc_SENSE1)的信號(hào)的邏輯值是否為H的信息;以及表示輸入到輸入端子(LOC_SENSE2)的信號(hào)的邏輯值是否為H的信息。此外,地址讀出電路62具有多個(gè)輸入端子時(shí),在地址讀出電路62與一個(gè)連接器36連接的情況下,將L邏輯的信號(hào)供給到與該連接器36連接的地址讀出電路62的輸入端子以外的輸入端子。
圖5是表示連接器36的構(gòu)成的一例的圖。連接器36具有設(shè)備插頭72,用以使設(shè)備測(cè)試用電路58與電子設(shè)備200相連接;以及診斷用插頭74,用以使診斷用電路70與診斷用解碼器38相連接。根據(jù)上述構(gòu)成,可以在設(shè)定測(cè)試裝置100以對(duì)電子設(shè)備200進(jìn)行測(cè)試后,不變更該設(shè)定,而確認(rèn)是否正確地設(shè)定了測(cè)試裝置100。各連接器36中,優(yōu)選方式是以預(yù)先規(guī)定的插頭排列來(lái)設(shè)置該設(shè)備插頭72與診斷用插頭74。此外,連接著診斷用測(cè)試模塊50-1的連接器36通過(guò)診斷用插頭74,使診斷用解碼器38與診斷用測(cè)試模塊50-1相連接。
圖6是表示配置文件的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的一例的圖。如圖6所示,配置存儲(chǔ)器12預(yù)先存儲(chǔ)與下述內(nèi)容相對(duì)應(yīng)的配置文件,即,插槽20的識(shí)別編號(hào)(Slot)、應(yīng)設(shè)置在各插槽20的測(cè)試模塊名(Board Name)、表示該測(cè)試模塊50是否設(shè)置在各插槽20中的存在信息(Existence)、該測(cè)試模塊50的制造者識(shí)別信息(Vendor ID)、該測(cè)試模塊50的識(shí)別信息(Module ID)、表示應(yīng)設(shè)置該測(cè)試模塊50的物理位置的物理編號(hào)(Physical)、該測(cè)試模塊50的制造型號(hào)(Product ID)、該測(cè)試模塊50的制造編號(hào)(Product S/N)、應(yīng)與該測(cè)試模塊50連接的總線開關(guān)部18的輸入端編號(hào)、應(yīng)與該測(cè)試模塊50連接的連接器36的識(shí)別編號(hào)(PB1、PB2)、以及應(yīng)與該測(cè)試模塊50連接的總線開關(guān)部18的輸出端編號(hào)(Bus Port)。
圖7是表示測(cè)試裝置100的配置方法的一例的流程圖。首先,設(shè)定該開關(guān)電路32以對(duì)電子設(shè)備200進(jìn)行測(cè)試,并使該設(shè)定固定。其次,判定該設(shè)定是否已被固定(S300)。在該設(shè)定未被固定時(shí),進(jìn)行失敗處理(S304),以結(jié)束配置。在該設(shè)定已被固定時(shí),判定在規(guī)定的插槽20中是否設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊50-1(S302)。
在診斷用測(cè)試模塊50-1未設(shè)置于規(guī)定的插槽20中時(shí),進(jìn)行失敗處理(S304),以結(jié)束配置。在診斷用測(cè)試模塊50-1設(shè)置于規(guī)定的插槽20中時(shí),取得設(shè)定在配置文件中的物理編號(hào)的最大值(Module_max,模塊最大值)(S306)。
其次,使物理編號(hào)從1變化到Module_max(模塊最大值),將成為H邏輯的診斷用信號(hào)依次供給到與各物理編號(hào)相對(duì)應(yīng)的連接器36,且將診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊50(診斷用信號(hào)供給步驟S308)。
其次,如圖1到圖6所說(shuō)明般,檢測(cè)出通過(guò)各連接器36的診斷用信號(hào)供給到哪一個(gè)測(cè)試模塊50(信號(hào)檢測(cè)步驟S310)。而且,根據(jù)信號(hào)檢測(cè)步驟S310中的檢測(cè)結(jié)果,檢測(cè)出各輸出端與哪一個(gè)連接器36連接(位置檢測(cè)步驟S312)??擅看卧赟308中將診斷用信號(hào)供給到任一連接器36時(shí),重復(fù)進(jìn)行S310及S312的處理。
圖8是說(shuō)明S308、S310、S312的處理的詳細(xì)內(nèi)容的流程圖。首先,指定應(yīng)診斷上述連接關(guān)系的連接器36(S314)。此處,指定連接器識(shí)別編號(hào)1(PB_Jno=1)。
而且,在診斷用測(cè)試模塊50-1中生成供給到所指定的連接器36的診斷用信號(hào)(S316)。在已指定連接器識(shí)別編號(hào)1時(shí),例如測(cè)試模塊50-1生成以二進(jìn)制數(shù)來(lái)表示1的診斷用信號(hào)。
其次,指定物理編號(hào)(S318)。此處,指定物理編號(hào)1(module_no(模塊編號(hào))=1)。而且,從配置文件中取得與該物理編號(hào)相對(duì)應(yīng)的連接器36的識(shí)別編號(hào)(PB_connector=PB_1)(S320)。此處,在該測(cè)試模塊50與多個(gè)連接器36連接時(shí),S320中,相對(duì)于該物理編號(hào)而取得多個(gè)連接器識(shí)別編號(hào)(例如,PB_connector=PB_1及PB_2)。
其次,將S314中所指定的連接器識(shí)別編號(hào)(PB_Jno)、與S320中所取得的連接器識(shí)別編號(hào)(PB_cpnnector)加以比較(S322)。當(dāng)PB_cpnnector=PB_Jno時(shí),檢測(cè)是否已將H邏輯的診斷用信號(hào)供給到與該物理編號(hào)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模塊50的診斷用電路70(S324)。可以根據(jù)例如從該診斷用電路70輸出到與該物理編號(hào)相對(duì)應(yīng)的總線開關(guān)部18的輸出端的信號(hào),檢測(cè)出是否已將H邏輯的診斷用信號(hào)供給到該測(cè)試模塊50的診斷用電路70。即,根據(jù)輸出到輸出端的信號(hào),檢測(cè)出是否已將H邏輯的診斷用信號(hào)輸入到診斷用電路70的輸入端子(Loc_SENSE)。
當(dāng)PB_cpnnector=PB_Jno時(shí),如果正確地進(jìn)行開關(guān)電路32的設(shè)定,則因?qū)邏輯的診斷用信號(hào)供給到與該物理編號(hào)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模塊50,故當(dāng)檢測(cè)出已將H邏輯的診斷用信號(hào)供給到該診斷用電路70時(shí),進(jìn)行Pass(通過(guò))處理(S326),當(dāng)未檢測(cè)出時(shí),進(jìn)行Fail(失敗)處理(S330)。
此外,當(dāng)S322中不為PB_cpnnector=PB_Jno時(shí),檢測(cè)是否未將H邏輯的診斷用信號(hào)供給到與該物理編號(hào)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模塊50的診斷用電路70(S324)。當(dāng)不為PB_cpnnector=PB_Jno時(shí),如果正確地進(jìn)行開關(guān)電路32的設(shè)定,則因?qū)邏輯的信號(hào)供給到與該物理編號(hào)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模塊50,故當(dāng)檢測(cè)出已將H邏輯的診斷用信號(hào)供給到該診斷用電路70時(shí),進(jìn)行Fail(失敗)處理(S330),當(dāng)檢測(cè)出已將L邏輯的信號(hào)供給到該診斷用電路70時(shí),進(jìn)行Pass(通過(guò))處理(S326)。
而且,通過(guò)判定所指定的物理編號(hào)是否等于將S306中所取得的物理編號(hào)的最大值加1后的值,來(lái)判定是否已掃描所有物理編號(hào)(S332),當(dāng)存在未掃描的物理編號(hào)時(shí),將所指定的該物理編號(hào)加1(S334),重復(fù)S320~S332的處理。當(dāng)已掃描所有物理編號(hào)時(shí),通過(guò)判定所指定的連接器識(shí)別編號(hào)是否大于已知的連接器數(shù),來(lái)判定是否已對(duì)所有連接器36進(jìn)行了診斷(S336),當(dāng)存在未診斷的連接器36時(shí),將所指定的連接器識(shí)別編號(hào)加1(S338),重復(fù)S316~S336的處理。當(dāng)對(duì)所有連接器36的診斷已結(jié)束時(shí),結(jié)束配置處理。
根據(jù)上述處理,可以診斷所有連接器36是否與正確的輸出端或插槽20等連接。
以上,使用實(shí)施形態(tài)說(shuō)明本發(fā)明,但本發(fā)明的技術(shù)性范圍并非限定于上述實(shí)施形態(tài)中所記載的范圍。可以對(duì)上述實(shí)施形態(tài)中進(jìn)行多種變更或改良??勺詸?quán)利要求書的記載內(nèi)容明確了解到,進(jìn)行了上述變更或改良的形態(tài)也可以包含在本發(fā)明的技術(shù)性范圍內(nèi)。
如根據(jù)以上內(nèi)容所明示般,如果根據(jù)本發(fā)明,則可以診斷連接在電子設(shè)備的連接器、與設(shè)置著測(cè)試模塊的插槽等是否正確地連接。此外,可以診斷是否在各插槽中設(shè)置了正確的測(cè)試模塊。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試裝置,其對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,其特征在于包括總線開關(guān)部,具有多個(gè)輸出端,且可以對(duì)將所輸入的信號(hào)從上述哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行切換;控制部,將多個(gè)控制信號(hào)輸入到上述總線開關(guān)部,且對(duì)將上述各控制信號(hào)從上述哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行控制,其中上述多個(gè)控制信號(hào)與用以對(duì)上述電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試程序相對(duì)應(yīng);多個(gè)插槽,與上述多個(gè)輸出端相對(duì)應(yīng)而設(shè)置,并根據(jù)上述控制信號(hào)而生成應(yīng)輸入到上述電子設(shè)備的輸入信號(hào),且設(shè)置著接收上述電子設(shè)備所輸出的輸出信號(hào)的測(cè)試模塊;以及設(shè)備接口,具有應(yīng)與上述電子設(shè)備連接的多個(gè)連接器,且可以對(duì)將上述多個(gè)插槽應(yīng)與上述哪一個(gè)連接器連接進(jìn)行切換,且上述設(shè)備接口進(jìn)而包括診斷用解碼器,該診斷用解碼器通過(guò)上述各連接器,將從設(shè)置著診斷用的上述測(cè)試模塊的上述插槽接收的診斷用信號(hào)依次供給到上述各測(cè)試模塊,上述控制部檢測(cè)通過(guò)上述各連接器的上述診斷用信號(hào)被供給到上述哪一個(gè)測(cè)試模塊,且根據(jù)該檢測(cè)結(jié)果,檢測(cè)上述各輸出端與上述哪一個(gè)連接器連接。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于進(jìn)而包括配置存儲(chǔ)器,該配置存儲(chǔ)器預(yù)先存儲(chǔ)著配置文件,上述配置文件表示上述各輸出端應(yīng)與上述哪一個(gè)連接器連接,上述控制部通過(guò)將上述各輸出端與上述哪一個(gè)連接器連接的檢測(cè)結(jié)果、與上述配置文件加以比較,以判定上述多個(gè)輸出端與上述多個(gè)連接器是否正確地連接。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于進(jìn)而包括多個(gè)上述測(cè)試模塊,該多個(gè)上述測(cè)試模塊設(shè)置在上述各插槽中,且包括在接收到上述診斷用信號(hào)時(shí),將規(guī)定的信號(hào)輸出到上述控制部的診斷用電路。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置,其特征在于上述診斷用電路通過(guò)與該插槽相對(duì)應(yīng)的上述輸出端,將上述規(guī)定的信號(hào)輸出到上述控制部,上述控制部根據(jù)從上述哪一個(gè)輸出端中接收到上述規(guī)定的信號(hào),以檢測(cè)出上述各輸出端與上述哪一個(gè)連接器連接。
5.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置,其特征在于上述配置存儲(chǔ)器存儲(chǔ)上述配置文件,該上述配置文件進(jìn)而表示對(duì)應(yīng)設(shè)置在上述各插槽中的上述測(cè)試模塊進(jìn)行識(shí)別的模塊識(shí)別信息,上述測(cè)試模塊進(jìn)而包括識(shí)別存儲(chǔ)器,該識(shí)別存儲(chǔ)器存儲(chǔ)該測(cè)試模塊的模塊識(shí)別信息,上述診斷用電路在接收到上述診斷用信號(hào)時(shí),進(jìn)而將存儲(chǔ)在上述識(shí)別存儲(chǔ)器中的上述模塊識(shí)別信息輸出到上述控制部,上述控制部將從設(shè)置在上述各插槽中的上述測(cè)試模塊接收到的上述模塊識(shí)別信息、與應(yīng)設(shè)置在該插槽的上述測(cè)試模塊的上述模塊識(shí)別信息加以比較,進(jìn)而判定是否在上述各插槽中設(shè)置著正確的上述測(cè)試模塊。
6.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置,其特征在于上述測(cè)試模塊進(jìn)而包括設(shè)備測(cè)試用電路,該設(shè)備測(cè)試用電路根據(jù)上述控制信號(hào)而生成上述輸入信號(hào),上述各連接器包括設(shè)備插頭,使上述設(shè)備測(cè)試用電路與上述電子設(shè)備相連接;以及診斷用插頭,使上述診斷用電路與上述診斷用解碼器相連接。
7.一種對(duì)測(cè)試電子設(shè)備的測(cè)試裝置進(jìn)行配置的配置方法,其特征在于上述測(cè)試裝置包括總線開關(guān)部,具有多個(gè)輸出端,且可以對(duì)將所輸入的信號(hào)從上述哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行切換;控制部,將多個(gè)控制信號(hào)輸入到上述總線開關(guān)部,且對(duì)將上述各控制信號(hào)從上述哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行控制,其中上述多個(gè)控制信號(hào)與用以對(duì)上述電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試程序相對(duì)應(yīng);多個(gè)插槽,與上述多個(gè)輸出端相對(duì)應(yīng)而設(shè)置,根據(jù)上述控制信號(hào)而生成應(yīng)輸入到上述電子設(shè)備的輸入信號(hào),且設(shè)置著接收上述電子設(shè)備所輸出的輸出信號(hào)的測(cè)試模塊;以及設(shè)備接口,具有應(yīng)與上述電子設(shè)備連接的多個(gè)連接器,且可以對(duì)將上述多個(gè)插槽與上述哪一個(gè)連接器連接進(jìn)行切換,上述配置方法包括診斷用信號(hào)供給步驟,通過(guò)上述各連接器,使診斷用信號(hào)依次供給到上述各測(cè)試模塊;信號(hào)檢測(cè)步驟,檢測(cè)出通過(guò)上述各連接器的上述診斷用信號(hào)被供給到上述哪一個(gè)測(cè)試模塊;以及位置檢測(cè)步驟,根據(jù)檢測(cè)結(jié)果,以檢測(cè)上述各輸出端與上述哪一個(gè)連接器連接。
8.如權(quán)利要求7所述的配置方法,其特征在于上述診斷用信號(hào)供給步驟,在配置于規(guī)定的上述插槽的診斷用上述測(cè)試模塊中,依次生成供給到其他上述測(cè)試模塊的上述診斷用信號(hào)。
9.一種設(shè)備接口,其在對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置中,使上述電子設(shè)備與上述測(cè)試裝置本體相連接,其特征在于上述測(cè)試裝置本體包括總線開關(guān)部,具有多個(gè)輸出端,可以對(duì)將所輸入的信號(hào)從上述哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行切換;控制部,將多個(gè)控制信號(hào)輸入到上述總線開關(guān)部,且對(duì)將上述各控制信號(hào)從上述哪一個(gè)輸出端輸出進(jìn)行控制,其中上述多個(gè)控制信號(hào)與用以對(duì)上述電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試程序相對(duì)應(yīng);以及多個(gè)插槽,與上述多個(gè)輸出端相對(duì)應(yīng)而設(shè)置,根據(jù)上述控制信號(hào)而生成應(yīng)輸入到上述電子設(shè)備的輸入信號(hào),且設(shè)置著接收上述電子設(shè)備所輸出的輸出信號(hào)的測(cè)試模塊,上述設(shè)備接口包括多個(gè)連接器,應(yīng)與上述電子設(shè)備連接;開關(guān)電路,對(duì)將上述多個(gè)插槽與上述哪一個(gè)連接器連接進(jìn)行切換;以及診斷用解碼器,通過(guò)上述各連接器,將從設(shè)置著診斷用上述測(cè)試模塊的上述插槽接收的診斷用信號(hào)依次供給到上述各測(cè)試模塊。
全文摘要
本發(fā)明是關(guān)于一種測(cè)試裝置,其包括總線開關(guān)部,可以對(duì)將所輸入的信號(hào)應(yīng)從哪一個(gè)輸出端輸出來(lái)進(jìn)行切換;控制部,將與測(cè)試程序相對(duì)應(yīng)的多個(gè)控制信號(hào)輸入到總線開關(guān)部,且對(duì)將各控制信號(hào)應(yīng)從哪一個(gè)輸出端輸出來(lái)進(jìn)行控制;多個(gè)插槽,根據(jù)控制信號(hào)而生成向電子設(shè)備輸入的信號(hào),且設(shè)置著接收電子設(shè)備所輸出的輸出信號(hào)的測(cè)試模塊;以及設(shè)備接口,可以對(duì)將多個(gè)插槽應(yīng)與哪一個(gè)連接器連接來(lái)進(jìn)行切換,且上述測(cè)試裝置通過(guò)各連接器,將從設(shè)置著診斷用測(cè)試模塊的插槽所接收的診斷用信號(hào)依次供給到各測(cè)試模塊,檢測(cè)出通過(guò)各連接器的診斷用信號(hào)被供給到哪一個(gè)測(cè)試模塊,且檢測(cè)各輸出端與哪一個(gè)連接器連接。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101031807SQ20058003299
公開日2007年9月5日 申請(qǐng)日期2005年8月15日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月20日
發(fā)明者鷲津信栄, 渋谷敦章 申請(qǐng)人:愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試株式會(huì)社
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