技術編號：6109895
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明是關于一種對電子設備進行測試的測試裝置(test device)、用于該測試裝置的設備接口(device interface)、及該測試裝置的配置(configuration)方法。而且，本發(fā)明與下述的美國專利申請案相關聯(lián)。關于利用文獻的參照而允許并入的指定國，將參照下述申請案所記載的內容而并入本申請案中，以作為本申請案的記載的一部分。申請案編號10/923,634申請日2004年8月20日背景技術先前，作為對半導體電路等電子設備進行測試的測試裝置的...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。