專利名稱：薄膜探針測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型是有關(guān)一種測試裝置，特別是關(guān)于一種用于測試顯示器光電特性的薄膜探針測試裝置。
背景技術(shù)：
隨著科技發(fā)展，積體電路晶片的集積度更高，而封裝技術(shù)亦必須配合晶片產(chǎn)品的發(fā)展趨勢，紛紛走向高腳數(shù)(I/O)及輕薄短小的趨向。其中，顯示器通常是由一顯示面板及驅(qū)動IC所構(gòu)成，目前驅(qū)動IC與顯示面板的結(jié)合主要是利用卷帶接合(Tape Carrier Package，TCP)、玻璃覆晶(Chip on Glass，COG)或薄膜覆晶(Chip on Film，COF)等封裝技術(shù)，而在顯示器封裝的領(lǐng)域中，測試工作更是扮演了相當重要的角色。
以COG封裝型顯示器為例，如圖1所示，是為一顯示器1及其驅(qū)動連接線路18的示意圖，驅(qū)動連接線路18連設(shè)有一接點19。已知測試裝置是如圖2所示，包括一壓著平臺10，在其下方設(shè)有一線路轉(zhuǎn)換板12，在線路轉(zhuǎn)換板12上設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)線(圖中未示)以連接至一測試機臺14，在壓著平臺10下方設(shè)有一測試薄膜16，同時參閱圖3所示，在測試薄膜16的下表面凸設(shè)有復(fù)數(shù)個對應(yīng)于顯示器1驅(qū)動連接線路18的接點19的電路接點20，以便由壓著平臺10的下壓而使測試薄膜16的電路接點20與接點19相接觸而形成電連接，進而來測試此顯示器1的光電特性。
其中，位于測試薄膜16表面的每一電路接點20必須各拉引-測試線路22以連接至線路轉(zhuǎn)換板12，才能使整個測試裝置形成電性相連；然而，一般單顆閘極驅(qū)動IC(Gate Driver IC)接腳數(shù)為256pin，源極驅(qū)動IC(Source Driver IC)接腳數(shù)更高達384Pin，由于接腳數(shù)多，測試薄膜16的空間有限，使得測試線路22由測試薄膜16的電路接點20引出時，在布局(layout)上十分困難。
有監(jiān)于此，本實用新型是針對上述的困擾，提出一種薄膜探針測試裝置的改良設(shè)計，以克服已知缺點。
實用新型內(nèi)容本實用新型的主要目的，是在提供一種薄膜探針測試裝置，由彎曲薄膜的設(shè)計，使測試線路可由壓著平臺上方空間順利拉引至信號輸入輸出端，利用簡單的設(shè)計即可解決已知測試線路不易布局的問題。
本實用新型的另一目的，是在提供一種薄膜探針測試裝置，不但測試結(jié)構(gòu)單純、維修容易，且可簡化測試線路以及不需浪費時間于拉引測試線路上，進而可達到降低測試成本及提升測試效率的功效。
本實用新型的再一目的，是在提供一種薄膜探針測試裝置，具有與待測元件絕佳的接觸性且不損傷待測元件導(dǎo)電接點的優(yōu)點。
根據(jù)本實用新型，一種薄膜探針測試裝置，用以測試一待測物，且該待測物是具有復(fù)數(shù)導(dǎo)電接點，其特征在于，該薄膜探針測試裝置包括一壓著平臺，其是位于該待測物的上方；一薄膜，其是沿著該壓著平臺的表面延伸而撓曲形成ㄈ字型，且該薄膜在位于該壓著平臺下表面的部位是朝下凸設(shè)有復(fù)數(shù)個與該等導(dǎo)電接點相對應(yīng)的探針接點，每一該探針接點各拉引出一導(dǎo)電連線延伸至該壓著平臺上表面的薄膜部位；以及復(fù)數(shù)導(dǎo)電端點，其是設(shè)置在位于該壓著平臺上表面的該薄膜表面且位于每一該導(dǎo)電連線的終點上，以供連接至一信號輸入輸出端。
其中，還包括一線路轉(zhuǎn)換板，在其一表面上設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)線，且每一該導(dǎo)線的一端是各連接每一該導(dǎo)電端點，而另一端供連接至該信號輸入輸出端。
其中，該薄膜是由撓性材質(zhì)所構(gòu)成。
其中，每一該探針接點的橫截面是為半圓形。
其中，該等探針接點是由彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成。


底下由具體實施例配合所附的圖式詳加說明，當更容易了解本實用新型的目的、技術(shù)內(nèi)容、特點及其所達成的功效。
圖1為已知顯示器及其驅(qū)動連接線路的示意圖；圖2為已知薄膜測試裝置的示意圖；
圖3為已知薄膜測試裝置的測試薄膜的仰視圖；圖4為本實用新型薄膜探針測試裝置的示意圖；圖5為本實用新型的薄膜展開示意圖；圖6為本實用新型薄膜的探針接點與顯示器驅(qū)動連接線路的導(dǎo)電接點接觸的側(cè)視圖。
具體實施方式
本實用新型的測試裝置是由一薄膜與顯示器驅(qū)動連接線路的導(dǎo)電接點相接觸形成電性相接，以進行測試，同時利用薄膜的彎曲設(shè)計使測試線路的布局空間加大許多，而可輕易拉引至信號輸入輸出端。
本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖如圖4所示，一薄膜探針測試裝置30包括一壓著平臺32，其是位于一待測顯示器驅(qū)動連接線路34的上方；一撓性材質(zhì)的薄膜36沿著壓著平臺32的下表面延伸經(jīng)由壓著平臺32側(cè)緣而再延伸至其上表面進而撓曲形成ㄈ字型，且薄膜36在位于壓著平臺32下表面的部位是朝下凸設(shè)有復(fù)數(shù)個與待測顯示器驅(qū)動連接線路34的導(dǎo)電接點35相對應(yīng)的探針接點38，同時參閱圖5所示，其是為薄膜36展開攤個后的示意圖，探針接點38是由為彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成，每一該探針接點38各拉引出一導(dǎo)電連線40延伸至壓著平臺32上表面的薄膜36上表面，且在每一該導(dǎo)電連線40的終點上各設(shè)有一導(dǎo)電端點42，以供連接至一線路轉(zhuǎn)換板44，其中，該等導(dǎo)電連線40的拉引即為測試線路的布局；在線路轉(zhuǎn)換板44的上表面設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)線(圖中未示)，且每一該導(dǎo)線的一端是各連接至每一該導(dǎo)電端點42，而另一端供連接至一信號輸入輸出端46。
本實用新型薄膜36的該等探針接點38與待測顯示器驅(qū)動連接線路34的導(dǎo)電接點接觸的側(cè)視圖如圖6所示，每一探針接點38的橫截面是為半圓形，且由于其是為彈性導(dǎo)電材質(zhì)，故具有絕佳的接觸性且不損傷顯示器驅(qū)動連接線路34上的導(dǎo)電接點的優(yōu)點。
當使用此薄膜探針測試裝置30進行測試時，是利用機械手臂夾持待測顯示器到定位，壓著平臺32往下壓，使薄膜36上的每一探針接點38與待測顯示器驅(qū)動連接線路34上相對應(yīng)的每一導(dǎo)電接點相接觸以形成電連接，以使信號輸入輸出端46得以傳送測試信號經(jīng)由線路轉(zhuǎn)換板44透過薄膜36的媒介將該測試信號傳送至待測顯示器驅(qū)動連接線路34上，以便進行光電特性的測試，經(jīng)測試后回傳信號至信號輸入輸出端46，以再進行進一步的篩檢。
本實用新型提供的薄膜探針測試裝置，利用彎曲薄膜的設(shè)計，使測試線路可由壓著平臺上方空間順利拉引至信號輸入輸出端，以解決已知技術(shù)測試線路布局困難的缺點及不便，故本實用新型不但具有測試結(jié)構(gòu)翠純、維修容易的優(yōu)點，且可簡化測試線路及不需浪費時間于拉引測試線路上，進而可達到降低測試成本及提升測試效率的功效。
以上所述是由實施例說明本實用新型的特點，其目的在使熟悉該技術(shù)者能了解本實用新型的內(nèi)容并據(jù)以實施，而非限定本實用新型的專利范圍，凡其他未脫離本實用新型所揭示的精神所完成的等效修飾或修改，仍應(yīng)包含在以下所述的申請專利范圍中。
權(quán)利要求1.一種薄膜探針測試裝置，用以測試一待測物，且該待測物是具有復(fù)數(shù)導(dǎo)電接點，其特征在于，該薄膜探針測試裝置包括一壓著平臺，其是位于該待測物的上方；一薄膜，其是沿著該壓著平臺的表面延伸而撓曲形成ㄈ字型，且該薄膜在位于該壓著平臺下表面的部位是朝下凸設(shè)有復(fù)數(shù)個與該等導(dǎo)電接點相對應(yīng)的探針接點，每一該探針接點各拉引出一導(dǎo)電連線延伸至該壓著平臺上表面的薄膜部位；以及復(fù)數(shù)導(dǎo)電端點，其是設(shè)置在位于該壓著平臺上表面的該薄膜表面且位于每一該導(dǎo)電連線的終點上，以供連接至一信號輸入輸出端。
2.如權(quán)利要求1所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，其中，還包括一線路轉(zhuǎn)換板，在其一表面上設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)線，且每一該導(dǎo)線的一端是各連接每一該導(dǎo)電端點，而另一端供連接至該信號輸入輸出端。
3.如權(quán)利要求1所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，其中，該薄膜是由撓性材質(zhì)所構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求1所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，其中，每一該探針接點的橫截面是為半圓形。
5.如權(quán)利要求1所述的薄膜探針測試裝置，其特征在于，其中，該等探針接點是由彈性導(dǎo)電材質(zhì)所構(gòu)成。
專利摘要本實用新型提供一種薄膜探針測試裝置，包括一壓著平臺，其是位于一待測顯示器驅(qū)動連接線路的上方，一薄膜沿著該壓著平臺的表面延伸而撓曲形成ㄈ字型，且該薄膜在位于壓著平臺下表面的部位是朝下凸設(shè)有復(fù)數(shù)個與待測顯示器驅(qū)動連接線路的導(dǎo)電接點相對應(yīng)的探針接點，每一該探針接點各拉引出一導(dǎo)電連線延伸至該壓著平臺上表面的薄膜部位，且在每一該導(dǎo)電連線的終點上各設(shè)有一導(dǎo)電端點，以供連接至一信號輸入輸出端。故本實用新型由彎曲薄膜的設(shè)計，不需復(fù)雜的結(jié)構(gòu)即可輕易使測試線路布局至信號輸入輸出端。
文檔編號G01R31/28GK2684206SQ20042000495
公開日2005年3月9日 申請日期2004年3月10日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月10日
發(fā)明者柯穎和 申請人:旭貿(mào)股份有限公司