專利名稱：放射線數(shù)字化檢測儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種放射線數(shù)字化檢測儀。
背景技術(shù)：
由放射線數(shù)字化檢測儀、載波檢測元件組成的控制面板包含多層有機(jī)膜、無機(jī)膜、光導(dǎo)電體膜、金屬膜等，當(dāng)放射線數(shù)字化檢測儀在惡劣的溫度環(huán)境下工作時，各層膜會因為熱膨脹系數(shù)的不同而引起控制面板膜的扭曲、變形甚至損壞，從而影響放射線數(shù)字化檢測儀的正常工作。
編號為2002-79388的技術(shù)曾經(jīng)成功解決了上述問題并獲得了韓國專利。
下面參照圖1和圖2所示對放射線數(shù)字化檢測儀的通用技術(shù)結(jié)構(gòu)和控制面板進(jìn)行說明。
如圖1所示，放射線數(shù)字化檢測儀上對檢測元件1起共同電極作用的加壓電極2設(shè)置在控制面板50上。
檢測元件1由以液晶材料制成的開關(guān)元件8、與開關(guān)元件8連接的的載波收集電極7及電容器組成，并成矩陣形狀態(tài)排列在控制面板上。
此外，檢測元件中開關(guān)元件8上的閘門電極與呈X方向排列的閘門控制線路11相連，源電極與呈Y方向排布的數(shù)據(jù)傳輸線10相連。
各數(shù)據(jù)傳輸線10分別通過對應(yīng)的放大器13與倍增器15相連。
閘門控制線路11與閘門總控制線路14相連。
放射線數(shù)字化檢測儀的檢測元件檢測到的引導(dǎo)信號被傳送至閘門總控制線路和倍增器后，在對應(yīng)X方向和Y方向排列的檢測元件1上確定連續(xù)向外傳輸檢測信號的地址路徑。
因此，引導(dǎo)信號實際起到確定檢測信號在X方向和Y方向控制線路上傳輸路徑的作用。
在引導(dǎo)信號確定了X和Y方向的路徑后，Y方向的閘門總控制線路14將向X方向的閘門控制線路11施加引導(dǎo)電壓，繼而確定對應(yīng)各線路的檢測元件。
同時，倍增器15將根據(jù)X方向上的引導(dǎo)信號做出相應(yīng)的調(diào)整。
這時，對應(yīng)各線路的檢測元件1上的電容將儲存的電荷通過放大器13和倍增器15連續(xù)傳送至外部工作電路。
輸出至外部電路的檢測元件的檢測信號將在圖像處理裝置16中轉(zhuǎn)換為二維圖像，然后顯示在圖像顯示裝置17上。
檢測裝置中的控制面板50上的檢測元件1中包括開關(guān)元件8、電容器、載波收集電極7、光導(dǎo)電體膜、加壓電極2等，通過基于各種真空制膜法的薄膜生成技術(shù)和基于膠片平版印刷術(shù)的壓制技術(shù)將上述部件安裝在絕緣基板上。
下面參照圖2對傳統(tǒng)放射線數(shù)字化檢測儀中檢測元件的驅(qū)動過程和構(gòu)造進(jìn)行說明。
如圖2所示，檢測元件包括由玻璃纖維制成的絕緣基板6、由不定型碳和硒制成的光導(dǎo)電體膜21及加壓電極2。絕緣基板6上設(shè)有由酸化硅制成的電容器和傳輸電荷用開關(guān)元件8，開關(guān)單元由液晶板制成，平時處于中斷狀態(tài)。
光導(dǎo)電體膜21與由銦錫氧化物膜等構(gòu)成的載波收集電極7相連接，并與儲存電荷用電容器相連，上述部件均設(shè)置在絕緣基板6上。
在光導(dǎo)電體膜21受到放射線照射時，加壓電極2將形成特定的電壓，光導(dǎo)電體膜以電荷傳送載體的形式起到載波作用。
當(dāng)光導(dǎo)電體膜受到放射線照射形成起檢測信號載體作用的載波信號后，在加壓電極2同時產(chǎn)生的規(guī)定伏數(shù)的電壓作用下，載波信號經(jīng)載波收集電極7輸送到電容器，并被儲存起來。當(dāng)檢測到開關(guān)元件8處于打開狀態(tài)時，被儲存的載波電荷將經(jīng)閘門控制線路11傳送到數(shù)據(jù)傳輸線路10，并被判讀為放射線檢測信號。
傳統(tǒng)放射線數(shù)字化檢測儀上控制面板上的主要構(gòu)造為絕緣基板6上由特定層數(shù)的膜壓制而成的開關(guān)元件8和電容器，位于構(gòu)成開關(guān)元件和電容器膜上的載波收集電極7。
光導(dǎo)電體膜21位于載波收集電極7上，由銦錫氧化物膜等構(gòu)成的加壓電極2位于光導(dǎo)電體膜21上。
尤其是如圖2所示，為解決由于傳統(tǒng)放射線數(shù)字化檢測儀上構(gòu)成光導(dǎo)電體膜、加壓電極、載波收集電極、電容器等的膜的熱膨脹系數(shù)各不相同所引起的一系列問題，辦法之一是在儀表板上設(shè)置一定厚度的由環(huán)氧樹脂等材質(zhì)制成的高耐壓硬化性合成樹脂膜4和絕緣基板相同熱膨脹系數(shù)的耐熱玻璃纖維構(gòu)成的輔助絕緣板5，這些物質(zhì)起到了防止熱膨脹的作用。
但是，如果在控制面板的整個表面都設(shè)置各種熱膨脹系數(shù)的保護(hù)膜，則會引起化學(xué)反應(yīng)、裂化、構(gòu)成膜皸裂、起皺、破裂等現(xiàn)象，從而導(dǎo)致檢測元件1性能下降和提高制造工藝的難度等兩個方面的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于為解決上述問題，提供一種新型放射線數(shù)字化檢測儀。
本發(fā)明的上述目的是通過下列技術(shù)方案來實現(xiàn)本發(fā)明的放射線數(shù)字化檢測儀的構(gòu)造如下上布由開關(guān)元件、與開關(guān)元件相連的載波收集電極、電容器組成的絕緣基板，絕緣基板上與載波收集電極相連的光導(dǎo)電體膜，位于光導(dǎo)電體膜上的加壓電極；此外，其還在與絕緣基板接觸的光導(dǎo)電體膜的邊緣設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜。
熱膨脹保護(hù)膜的外側(cè)可以附加固定邊框。
加壓電極和光導(dǎo)電體膜之間設(shè)有載波選擇阻抗膜。
本發(fā)明只在受放射線照射后產(chǎn)生載波電荷的光導(dǎo)電體膜的周圍邊框上設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜。
上述熱膨脹保護(hù)膜是由環(huán)氧樹脂等材質(zhì)制成的高耐壓硬化性合成樹脂膜，位于光導(dǎo)電體膜的四周邊框，光導(dǎo)電體膜的中間部位不設(shè)置任何其他膜片。
同時，為了準(zhǔn)確地在光導(dǎo)電體膜的四周邊框設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜，通常根據(jù)熱膨脹保護(hù)膜的厚度在熱膨脹保護(hù)膜的預(yù)設(shè)置部位事先安置一個固定邊框。
如上所述，本發(fā)明的積極進(jìn)步效果在于通過在產(chǎn)生載波電荷的光導(dǎo)電體膜的周圍邊框設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜，并把光導(dǎo)電體膜緊密固定在絕緣基板上，不僅可以防止因熱膨脹引起的光導(dǎo)電體膜扭曲、變形以至造成損壞的問題，而且可以避免在儀表板的整個表面設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜造成檢測元件性能下降和增加制造工藝難度的問題。
因此，在不降低放射線檢測裝置性能的前提下，新型放射線數(shù)字化檢測儀能有效阻止熱膨脹。
本發(fā)明的另一個效果是消除因設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜引起光導(dǎo)電體膜污染和裂化的可能性。


圖1是普通放射線數(shù)字化檢測儀技術(shù)結(jié)構(gòu)的模塊化示意圖。
圖2是傳統(tǒng)放射線數(shù)字化檢測儀的主要結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是本發(fā)明放射線數(shù)字化檢測儀的平面結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4是本發(fā)明放射線數(shù)字化檢測儀一實施例的結(jié)構(gòu)斷面示意圖。
圖5是本發(fā)明放射線數(shù)字化檢測儀另一實施例的結(jié)構(gòu)斷面示意圖。
具體實施例方式
下面參照圖4、5說明本發(fā)明放射線數(shù)字化檢測儀的構(gòu)造和功能。
為方便起見，省略之前根據(jù)圖1反復(fù)講解過的放射線數(shù)字化檢測儀的通用技術(shù)結(jié)構(gòu)，只對設(shè)計有熱膨脹保護(hù)膜的放射線數(shù)字化檢測儀的構(gòu)造和功能進(jìn)行說明。
本發(fā)明放射線數(shù)字化檢測儀包括由耐熱玻璃纖維制成的絕緣基板106、絕緣基板106上的開關(guān)元件108、由多層金屬薄膜和半導(dǎo)體膜壓制而成的電容器等部件。此外，位于絕緣基板106上、由銦錫氧化物膜等制成且與開關(guān)元件108相連的載波收集電極107上設(shè)計有墊板。
此外，絕緣基板106上還設(shè)置有與載波收集電極107相連的、由a-Se，TaBr，CdTe，CdZnTe，Pbl2或Hgl2等合成半導(dǎo)體材料制成的光導(dǎo)電體膜121。
特別是通過在光導(dǎo)電體膜121的周圍邊框設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜144，有效防止由于各保護(hù)膜熱膨脹系數(shù)不同引起光導(dǎo)電體膜扭曲、變形以至造成損壞的問題。
開關(guān)元件108和光導(dǎo)電體膜121設(shè)置完成之后，將上述熱膨脹保護(hù)膜144設(shè)置于光導(dǎo)電體膜121的四周邊框，而光導(dǎo)電體膜121的中央部分呈露出狀態(tài)并與絕緣基板106接觸。
上述熱膨脹保護(hù)膜的尺寸有一定的限制，比如對于規(guī)格為8英寸*10英寸的控制面板而言，熱膨脹保護(hù)膜的寬度在5～10mm，厚度在1～5mm便足夠，制作材料選用環(huán)氧樹脂等材質(zhì)制成的高耐壓硬化性合成樹脂膜。
如圖5所示，在設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜時，為保證膜的厚度一致、均勻，設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜144之前應(yīng)在光導(dǎo)電體膜121與和開關(guān)元件108端子相連的TAB底墊146之間事先設(shè)置一塊和熱膨脹保護(hù)膜大小相符合的固定邊框145。
上述固定邊框145與絕緣基板106具有相同的熱膨脹系數(shù)和物理強(qiáng)度，制作材料選用耐熱玻璃纖維。
熱膨脹保護(hù)膜144設(shè)置完畢后，在光導(dǎo)電體膜121的上面設(shè)置一個由Sb2S3材料制成的一定厚度的載波選擇阻抗膜103，以提高光導(dǎo)電體膜121的載波能力。
然后在載波選擇阻抗膜103上設(shè)置由銦錫氧化物膜等制成的加壓電極102，最后在控制面板150的全部表面設(shè)置由與絕緣基板106熱膨脹系數(shù)相同的耐熱玻璃纖維等制成的輔助絕緣板105。
這樣，在本發(fā)明放射線數(shù)字化檢測儀中控制面板的控制下，加壓電極102發(fā)出規(guī)定伏數(shù)的電壓，光導(dǎo)電體膜121受到放射線照射后形成的載波信號在電極102同時產(chǎn)生的電壓作用下，經(jīng)載波收集電極107輸送到電容器，并被儲存起來。當(dāng)檢測到開關(guān)元件108處于打開狀態(tài)時，儲存的載波電荷將轉(zhuǎn)換為放射線檢測信號輸出。
本發(fā)明并不僅限于圖示的結(jié)構(gòu)，只要沒有脫離本發(fā)明的發(fā)明目的和功能范疇，都是本發(fā)明可能的結(jié)構(gòu)變體。
本發(fā)明的放射線數(shù)字化檢測儀通過在絕緣基板106上設(shè)置開關(guān)元件108和光導(dǎo)電體膜121，在光導(dǎo)電體膜121的邊緣設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜144，能有效防止控制面板上的各種膜因為熱膨脹系數(shù)的不同而引發(fā)生扭曲、變形甚至損壞，防止外來沖擊和拉扯對光導(dǎo)電體膜帶來的損害，防止控制面板在惡劣溫度條件下發(fā)生突出現(xiàn)象。
因此，本發(fā)明的放射線數(shù)字化檢測儀在不降低控制面板上檢測元件性能的前提下，能有效防止各膜層的熱膨脹，防止光導(dǎo)電體膜產(chǎn)生污染和裂化現(xiàn)象。
權(quán)利要求
1.一種放射線數(shù)字化檢測儀，其包括有由開關(guān)元件(108)、與開關(guān)元件(108)相連的載波收集電極(107)、電容組成的絕緣基板(106)，位于絕緣基板(106)上與載波收集電極(107)相連的光導(dǎo)電體膜(121)，與光導(dǎo)電體膜(121)相連并對其加載規(guī)定電壓的加壓電極(102)，其特征在于其還在與絕緣基板(106)接觸的光導(dǎo)電體膜(121)的邊緣設(shè)置熱膨脹保護(hù)膜(144)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射線數(shù)字化檢測儀，其特征在于在該熱膨脹保護(hù)膜(144)外側(cè)設(shè)有固定邊框(145)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線數(shù)字化檢測儀，其特征在于該固定邊框(145)的熱膨脹系數(shù)與絕緣基板(106)的熱膨脹系數(shù)相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射線數(shù)字化檢測儀，其特征在于在該光導(dǎo)電體膜(121)和加壓電極(102)之間設(shè)有載波選擇阻抗膜(103)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的放射線數(shù)字化檢測儀，其特征在于該載波選擇阻抗膜(103)由Sb2S3制成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一權(quán)利要求所述的放射線數(shù)字化檢測儀，其特征在于該光導(dǎo)電體膜(121)由a-Se、TaBr、CdTe、CdZnTe、Pbl2和Hgl2中的任意一種合成半導(dǎo)體材料制作而成。
全文摘要
一種放射線數(shù)字化檢測儀，由以下結(jié)構(gòu)組成開關(guān)元件、與開關(guān)元件相連的載波收集電極、電容組成的絕緣基板，位于絕緣基板上與載波收集電極相連的光導(dǎo)電體膜，與光導(dǎo)電體膜相連并對其加載規(guī)定電壓的加壓電極；此外，光導(dǎo)電體膜邊緣呈環(huán)行狀態(tài)，并在環(huán)行外邊緣設(shè)有熱膨脹保護(hù)膜，中間與絕緣基板表面接觸。本發(fā)明在不降低放射線檢測裝置性能的前提下，能夠有效的防止各工作膜層產(chǎn)生熱膨脹，并且在形成熱膨脹保護(hù)膜的同時不會使光導(dǎo)電體膜受到污染及發(fā)生斷裂。
文檔編號G01T7/00GK1725036SQ20041005895
公開日2006年1月25日 申請日期2004年7月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月23日
發(fā)明者尹政基, 金昌元, 金仁載, 樸明圭, 申炯燮 申請人:達(dá)爾特株式會社