專利名稱：圓圖型顯示記錄儀量程擴(kuò)展方法

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種圓圖型記錄儀量程擴(kuò)展方法，屬于自動化儀表技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的圓圖型顯示記錄儀一般為一個刻度區(qū)域，其相應(yīng)的測量回路亦為一個測量區(qū)域。對溫度控制精度要求高的場合，就無法滿足其要求，如食品制罐業(yè)的罐頭滅菌，保鮮等的工藝過程中要求溫度控制在1℃的誤差范圍內(nèi)，而在這行業(yè)的進(jìn)出口在國際上通常沿用美國的FDA標(biāo)準(zhǔn)，需要在進(jìn)出口同時必須附上整個保鮮過程中的有效記錄。而現(xiàn)有的圓圖型記錄儀的精度和分辯率無法達(dá)到此要求。

發(fā)明內(nèi)容
為了滿足某些行業(yè)高精度、高分辨率的顯示、記錄要求，本發(fā)明提供一種圓圖型記錄儀量程擴(kuò)展方法。
本發(fā)明圓圖型記錄儀量程擴(kuò)展方法，其步驟為1、把示視刻度包括其相對應(yīng)的記錄紙分成低精度區(qū)和高精度區(qū)，高精度區(qū)刻度弧長大于低精度區(qū)的刻度弧長；2、和上述示視刻度相對應(yīng)在測量單元中的滑線電阻盤上焊接一個點(diǎn)作為拐點(diǎn)，使滑線電阻亦分成和示視刻度相對應(yīng)的低精度區(qū)和高精度區(qū)兩個區(qū)域，滑線電阻始端到拐點(diǎn)為低精度區(qū)，拐點(diǎn)到滑線電阻的終端為高精度區(qū)。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是用簡單易實(shí)行的方法，對現(xiàn)有的圓圖記錄儀稍作改動，就可用于某些工藝中溫度控制精度要求高的場合，實(shí)現(xiàn)有效的記錄與控制。


圖1為現(xiàn)有的圓圖記錄儀表盤示值圖；圖2為帶量程擴(kuò)展的圓圖記錄儀表盤示值圖；
圖3為現(xiàn)有的圓圖記錄儀滑線電阻盤示意圖；圖4為帶量程擴(kuò)展的圓圖記錄儀滑線電阻盤示意圖。
具體實(shí)施例方式
把示視刻度包括其相對應(yīng)的記錄紙分成低精度區(qū)和高精度區(qū)，高精度區(qū)刻度弧長大于低精度區(qū)的刻度弧長，高精度區(qū)則具有高精度、高的分辨率的帶量程擴(kuò)展的區(qū)域。和上述示視刻度相對應(yīng)在測量單元中的滑線電阻盤上焊接一個點(diǎn)作為拐點(diǎn)，使滑線電阻亦分成和示視刻度相對應(yīng)的分成低精度區(qū)和高精度區(qū)兩個區(qū)域，滑線電阻始端到拐點(diǎn)為低精度區(qū)，拐點(diǎn)到滑線電阻的終端為高精度區(qū)。這一點(diǎn)即是更改了原有的滑線電阻，引出一個滑滑線電阻的抽頭問題，因?yàn)閮x表的測量精度、線性度等與滑線電阻有很大關(guān)聯(lián)，所以，該滑線電阻上的抽頭相應(yīng)的要求比較高，要求分成的兩個區(qū)域的范圍精度要高，而且焊接點(diǎn)要小，焊接點(diǎn)一大會在該點(diǎn)上形成一個測量盲區(qū)，誤差就大了。本發(fā)明實(shí)施例結(jié)合附圖作一說明，圖1為現(xiàn)有的圓圖記錄儀表盤示值圖，它被分成140格，分別指示溫度0～140℃，現(xiàn)把上述表盤其相對應(yīng)的記錄紙分成低精度區(qū)和高精度區(qū)，把表盤分成100格，0～30℃占10格，30℃～60℃占10格，以后每一度占一格，由于兩個圓周的尺寸是一樣的，那么顯然圖2中的60℃～140℃所占80格的刻度弧長是擴(kuò)展大了，這樣，在0℃～60℃為低精度區(qū)，60℃～140℃為高精度區(qū)，提高了分辨率和示值的精度。為使示值達(dá)到上述目的，儀表內(nèi)部結(jié)構(gòu)需作相應(yīng)的改進(jìn)，圖3是現(xiàn)有圓圖記錄儀基型測量單元中的滑線電阻盤，它與另一個部件“測量橋路板”形成一個完整的儀表測量單元，滑線電阻的外圓周上是在一根Φ2的絕緣線上是Φ0.16漆包線6J24(卡瑪絲)在上而緊密繞制成線性的，要使儀表帶量程擴(kuò)展，需在和示值60℃處相應(yīng)的滑線電阻盤上設(shè)一拐點(diǎn)，如圖4所示。在該處焊接一個點(diǎn)C，使滑線電阻分成兩個區(qū)域，起始端A到焊點(diǎn)C為0℃～60℃低精度區(qū)測量范圍，焊點(diǎn)C到終點(diǎn)端B為60℃～140℃高精度區(qū)測量范圍。
權(quán)利要求
1.一種圓圖型記錄儀量程擴(kuò)展方法，其特征在于，其步驟為(1)把示視刻度包括其相對應(yīng)的記錄紙分成低精度區(qū)和高精度區(qū)，高精度區(qū)刻度弧長大于低精度區(qū)的刻度弧長；(2)和上述示視刻度相對應(yīng)在測量單元中的滑線電阻盤上焊接一個點(diǎn)作為拐點(diǎn)，使滑線電阻亦分成和示視刻度相對應(yīng)的低精度區(qū)和高精度區(qū)兩個區(qū)域，滑線電阻始端到拐點(diǎn)為低精度區(qū)，拐點(diǎn)到滑線電阻的終端為高精度區(qū)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種圓圖型記錄儀量程擴(kuò)展方法，其步驟為1.把示視刻度包括其相對應(yīng)的記錄紙分成低精度區(qū)和高精度區(qū)，高精度區(qū)刻度弧長大于低精度區(qū)的刻度弧長；2.和上述示視刻度相對應(yīng)在測量單元中的滑線電阻盤上焊接一個點(diǎn)作為拐點(diǎn)，使滑線電阻亦分成和示視刻度相對應(yīng)的低精度區(qū)和高精度區(qū)兩個區(qū)域，滑線電阻始端到拐點(diǎn)為低精度區(qū)，拐點(diǎn)到滑線電阻的終端為高精度區(qū)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是用簡單易實(shí)行的方法，對現(xiàn)有的圓圖記錄儀稍作改動，就可用于某些工藝中溫度控制精度要求高的場合，實(shí)現(xiàn)有效的記錄與控制。
文檔編號G01D11/00GK1635340SQ20031012285
公開日2005年7月6日 申請日期2003年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月26日
發(fā)明者蔡彩佩, 姚載江 申請人:上海自動化儀表股份有限公司