專利名稱：復(fù)印機(jī)磁輥磁性能測(cè)試裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種復(fù)印機(jī)磁輥磁性能測(cè)試裝置，還涉及利用該裝置進(jìn)行測(cè)試的方法，具體涉及測(cè)量、電子及儀器技術(shù)領(lǐng)域，屬于測(cè)試儀器技術(shù)。
背景技術(shù)：
復(fù)印機(jī)中有一個(gè)重要部件磁輥，又稱磁刷，其磁性能的好壞直接影響復(fù)印機(jī)的復(fù)印效果。磁輥的生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中，主要是以磁條的表面磁場(chǎng)作為基準(zhǔn)，它不能夠完全代表磁輥的磁特性，因此，需要建立一套測(cè)試磁輥磁性能的技術(shù)。目前，磁輥的生產(chǎn)、銷售、應(yīng)用過(guò)程中存在的問(wèn)題是(1)沒(méi)有一個(gè)完善的磁輥磁性能測(cè)試方法及儀器；(2)利用普通的磁場(chǎng)測(cè)試儀表，對(duì)表面磁場(chǎng)的測(cè)試采用手動(dòng)的方法，不能找到最大、最小磁場(chǎng)點(diǎn)；(3)不能夠提供磁輥的磁感應(yīng)強(qiáng)度分布曲線及數(shù)值；(4)不能夠確定磁感應(yīng)強(qiáng)度的分布形狀與復(fù)印效果的關(guān)系，限制了復(fù)印機(jī)選擇磁輥的條件；(5)影響了復(fù)印質(zhì)量的研究。
(三)發(fā)明的內(nèi)容本發(fā)明的目的就是要克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題，提供一種可以測(cè)試磁輥的表面磁感應(yīng)強(qiáng)度、描繪磁場(chǎng)與圓周角度之間曲線關(guān)系的測(cè)試裝置，該裝置可以測(cè)量磁輥的不同截面，有利于分析復(fù)印機(jī)的復(fù)印效果。同時(shí)，本發(fā)明還涉及利用該裝置測(cè)試磁輥磁性能的方法。
本發(fā)明的測(cè)試裝置由測(cè)試機(jī)床、測(cè)試儀器、繪圖打印機(jī)共同電氣連接構(gòu)成，其中，測(cè)試機(jī)床由步進(jìn)電機(jī)、旋轉(zhuǎn)和固定軸、帶動(dòng)磁輥支柱、固定磁輥支柱、機(jī)床底座、機(jī)床支架共同連接構(gòu)成，測(cè)試儀器由軸向探頭、磁傳感器電路、A/D(模/數(shù))轉(zhuǎn)換器電路、顯示電路、顯示器、微機(jī)電路、步進(jìn)電機(jī)控制電路和鍵盤共同電氣連接構(gòu)成，其相互位置與連接關(guān)系為旋轉(zhuǎn)和固定軸、帶動(dòng)磁輥支柱、步進(jìn)電機(jī)安裝在機(jī)床支架上，步進(jìn)電機(jī)與旋轉(zhuǎn)和固定軸相互連接，帶動(dòng)磁輥支柱與旋轉(zhuǎn)和固定軸相互連接，固定磁輥支柱安裝在機(jī)床支架上，機(jī)床支架安裝在機(jī)床底座上，軸向探頭安裝在機(jī)床支架上；軸向探頭與磁傳感器電路相互電氣連接，磁傳感器電路的輸出線與A/D轉(zhuǎn)換器電路信號(hào)輸入線相互電氣連接，A/D轉(zhuǎn)換器電路的輸出線與微機(jī)電路的總線及控制線相互連接，顯示電路的輸入控制線與微機(jī)電路相互電氣連接，顯示器與顯示電路相互電氣連接，微機(jī)電路與步進(jìn)電機(jī)控制電路相互電氣連接，微機(jī)電路與繪圖打印機(jī)相互電氣連接，微機(jī)電路與鍵盤相互電氣連接。
在上述裝置中，所述的軸向探頭由霍爾元件、探頭柄、引線共同電氣連接構(gòu)成，霍爾元件安裝在探頭柄的前端，在安裝時(shí)，霍爾元件的表面與探頭測(cè)試端面的距離要求0.1～0.5mm，磁場(chǎng)以探頭中心軸的方向加到霍爾元件表面上，并被測(cè)量，霍爾元件的引線在探頭的另一端引出。其中，霍爾元件的尺寸一般為1mm×1mm×(0.1～0.3)mm。
在本發(fā)明中，磁傳感器電路由穩(wěn)壓電源IC1、霍元件H1、電阻R1～R4、運(yùn)算放大器IC2共同電氣連接構(gòu)成；A/D轉(zhuǎn)換器電路由A/D轉(zhuǎn)換器件IC3構(gòu)成；微機(jī)電路由雙向總線驅(qū)動(dòng)電路IC4、IC5、地址鎖存電路IC6、微機(jī)電路IC7、程序存儲(chǔ)器IC8、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器IC9、控制電路IC16共同電氣連接構(gòu)成；顯示電路由串行鎖存電路IC10～I(xiàn)C15、顯示器由數(shù)碼管DS1～DS6共同電氣連接構(gòu)成；步進(jìn)電機(jī)控制電路由步進(jìn)電機(jī)M1、驅(qū)動(dòng)三極管Q1～Q3共同電氣連接構(gòu)成；鍵盤由按鍵開(kāi)關(guān)K1～K12共同電氣連接構(gòu)成。
本發(fā)明的測(cè)試方法包括如下步驟(1)磁輥安裝將被測(cè)試的磁輥安裝在測(cè)試機(jī)床上，并使移動(dòng)軸向探頭對(duì)準(zhǔn)一個(gè)測(cè)試截面。
(2)旋轉(zhuǎn)角度設(shè)置通過(guò)鍵盤設(shè)置旋轉(zhuǎn)角度數(shù)值(用J表示，J＝1～9°)和測(cè)試的總點(diǎn)數(shù)(用P表示，P＝360/J)，并由儀器將數(shù)值保存。J的大小可以根據(jù)需要設(shè)定，當(dāng)J＝1°時(shí)，總共要旋轉(zhuǎn)360°，測(cè)試磁場(chǎng)360點(diǎn)。
(3)磁場(chǎng)測(cè)試?yán)脺y(cè)試儀器控制整個(gè)測(cè)試過(guò)程，控制測(cè)試開(kāi)始，儀器發(fā)送開(kāi)始信號(hào)旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，測(cè)試第一點(diǎn)磁場(chǎng)，再旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，測(cè)試第二點(diǎn)磁場(chǎng)數(shù)值，以此類推，直至旋轉(zhuǎn)一個(gè)圓周，測(cè)試對(duì)應(yīng)的點(diǎn)數(shù)。
(4)數(shù)據(jù)處理與輸出利用磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序?qū)y(cè)試磁場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到磁場(chǎng)與圓周角度之間曲線圖形的數(shù)據(jù)，并通過(guò)繪圖打印機(jī)輸出。
在上述方法的步驟(3)中，測(cè)試磁場(chǎng)和控制機(jī)床的軟件程序如下程序開(kāi)始，判斷是否按鍵盤鍵，否，沒(méi)有繼續(xù)返回等待及判斷；是，測(cè)試開(kāi)始？否，進(jìn)行鍵盤出處理，之后返回；是，控制磁輥旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，再測(cè)試一點(diǎn)磁場(chǎng)。判斷N＝M(M＝360°)？否，繼續(xù)返回，繼續(xù)旋轉(zhuǎn)磁輥和測(cè)試磁場(chǎng)；是，進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的處理。程序?qū)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形文件，輸出到繪圖打印機(jī)繪出磁場(chǎng)與角度的曲線形狀的圖形，最后返回到程序開(kāi)始處。
在上述方法的步驟(4)中，磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序如下程序開(kāi)始，將圖形結(jié)構(gòu)進(jìn)行初始化，設(shè)計(jì)第一、四象限坐標(biāo)，定義縱坐標(biāo)為磁場(chǎng)坐標(biāo)、橫坐標(biāo)為角度坐標(biāo)，并設(shè)計(jì)相應(yīng)的刻度和單位，測(cè)試數(shù)據(jù)與磁場(chǎng)的坐標(biāo)刻度和單位處理，角度的坐標(biāo)刻度和單位處理，求測(cè)試圓周內(nèi)各點(diǎn)磁場(chǎng)B的最大值，計(jì)算第一點(diǎn)與第二點(diǎn)數(shù)據(jù)差Bi-Bi+1＝ΔB，當(dāng)ΔB＞0時(shí)，磁場(chǎng)Bi→寄存器A，i+1＝M(測(cè)試點(diǎn)數(shù))？否，i+1→i，程序返回，繼續(xù)求最大值；是，求最大磁場(chǎng)結(jié)束，將最大值點(diǎn)作為圖形的零點(diǎn)，即O(0，0)點(diǎn)，依次調(diào)整測(cè)試數(shù)據(jù)，即經(jīng)過(guò)處理后，圖形的形狀是一致的，無(wú)論從哪一點(diǎn)開(kāi)始測(cè)試(磁輥的整個(gè)圓周面是均勻的，不能分辨磁場(chǎng)的磁極大小標(biāo)記)，圖形都是以最大磁場(chǎng)點(diǎn)開(kāi)始，計(jì)算M個(gè)誤差的最大點(diǎn)Bmax，保存圖形的全部數(shù)據(jù)，程序結(jié)束。
本發(fā)明的原理在于設(shè)計(jì)一種磁輥旋轉(zhuǎn)控制機(jī)床、磁輥表面磁場(chǎng)測(cè)試儀器，設(shè)計(jì)微機(jī)控制程序、磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序。通過(guò)測(cè)試儀器控制機(jī)床，測(cè)試儀器通過(guò)步進(jìn)電機(jī)電路控制步進(jìn)電機(jī)旋轉(zhuǎn)，使得每一次旋轉(zhuǎn)磁輥一個(gè)角度，磁場(chǎng)作用磁敏元件產(chǎn)生輸出，經(jīng)過(guò)磁傳感器有變化信號(hào)輸出到A/D轉(zhuǎn)換器電路，微機(jī)電路讀取A/D轉(zhuǎn)換器輸出數(shù)字輸出信號(hào)，即磁場(chǎng)對(duì)應(yīng)的電壓數(shù)值，之后，測(cè)試磁輥的磁場(chǎng)數(shù)值一點(diǎn)，以此類推，共旋轉(zhuǎn)一周，測(cè)試磁場(chǎng)的點(diǎn)數(shù)與磁輥的旋轉(zhuǎn)角度相同。當(dāng)每次旋轉(zhuǎn)角度是1°時(shí)，總共要旋轉(zhuǎn)360°，測(cè)試磁場(chǎng)360點(diǎn)。利用測(cè)試儀器中的磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序?qū)y(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，通過(guò)繪圖打印機(jī)輸出磁場(chǎng)與圓周角度之間曲線圖性。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比有如下的優(yōu)點(diǎn)或效果(1)提出了圓周上逐點(diǎn)測(cè)試磁輥磁場(chǎng)的方法，通過(guò)測(cè)試點(diǎn)磁場(chǎng)繪制磁場(chǎng)與角度的曲線，編制相應(yīng)的軟件程序；(2)利用磁輥圖形特性作為檢驗(yàn)磁場(chǎng)特性的標(biāo)準(zhǔn)，有利于直觀反映磁輥特性；(3)有利于復(fù)印機(jī)的復(fù)印效果的設(shè)計(jì)和優(yōu)化，通過(guò)磁輥磁場(chǎng)與角度的圖形可以分析復(fù)印機(jī)的復(fù)印性能，并通過(guò)改善磁輥的磁場(chǎng)大小數(shù)值、形狀來(lái)達(dá)到最佳效果；(4)設(shè)計(jì)了專用的控制機(jī)床、儀器、測(cè)試軸向探頭，通過(guò)裝置可以準(zhǔn)確測(cè)試磁輥磁場(chǎng)性能。


圖1是本發(fā)明的測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明裝置的測(cè)試儀器電路原理示意圖；圖3是本發(fā)明測(cè)試磁場(chǎng)和控制機(jī)床的軟件程序框圖；圖4是本發(fā)明磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序框圖；圖5是本發(fā)明的軸向探頭結(jié)構(gòu)圖；圖6是本發(fā)明的復(fù)印機(jī)磁輥截面示意圖；圖7是本發(fā)明的復(fù)印機(jī)磁輥磁場(chǎng)與角度關(guān)系曲線8是本發(fā)明裝置測(cè)試儀器的電路圖。
(五)具體的實(shí)施方式圖1中，1為顯示器，2為儀器機(jī)箱，3為控制鍵盤，4為步進(jìn)電機(jī)控制線，5為軸向探頭，6為步進(jìn)電機(jī)，7為旋轉(zhuǎn)和固定軸，8為帶動(dòng)磁輥支柱，9為被測(cè)試磁輥，10為固定磁輥支柱，11為機(jī)床底座，12為機(jī)床支架，13為繪圖打印機(jī)。本發(fā)明的測(cè)試裝置由測(cè)試機(jī)床和測(cè)試儀器和繪圖打印機(jī)13共同電氣連接構(gòu)成，其中，測(cè)試機(jī)床由步進(jìn)電機(jī)6、旋轉(zhuǎn)和固定軸7、帶動(dòng)磁輥支柱8、固定磁輥支柱10、機(jī)床底座11、機(jī)床支架12共同連接構(gòu)成，其相互位置與連接關(guān)系為旋轉(zhuǎn)和固定軸7、帶動(dòng)磁輥支柱8、步進(jìn)電機(jī)6安裝在機(jī)床支架12上，步進(jìn)電機(jī)6與旋轉(zhuǎn)和固定軸7相互連接，帶動(dòng)磁輥支柱8與旋轉(zhuǎn)和固定軸7相互連接，固定磁輥支柱10安裝在機(jī)床支架12上，機(jī)床支架12安裝在機(jī)床底座11上，被測(cè)試磁輥9安裝在固定磁輥支柱10與旋轉(zhuǎn)和固定軸7之間，探頭5安裝在機(jī)床支架12上，并且可以移動(dòng)。
由圖2顯示，磁傳感器電路的輸出線與A/D轉(zhuǎn)換器電路信號(hào)輸入線相互電氣連接，A/D轉(zhuǎn)換器電路的輸出線與微機(jī)電路的總線及控制線相互連接，顯示電路的輸入控制線與微機(jī)電路相互電氣連接，顯示器與顯示電路相互電氣連接，微機(jī)電路與步進(jìn)電機(jī)控制電路相互電氣連接，微機(jī)電路與繪圖打印機(jī)相互電氣連接，微機(jī)電路與鍵盤相互電氣連接。
在圖3中，處理磁場(chǎng)與角度的曲線數(shù)據(jù)程序如下程序開(kāi)始，判斷是否按鍵盤鍵，否，沒(méi)有繼續(xù)返回等待及判斷；是，測(cè)試開(kāi)始？否，進(jìn)行鍵盤出處理，之后返回；是，控制磁輥旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，再測(cè)試一點(diǎn)磁場(chǎng)。判斷N＝M(M＝360°)？否，繼續(xù)返回，繼續(xù)旋轉(zhuǎn)磁輥和測(cè)試磁場(chǎng)；是，進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的處理。程序?qū)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形文件，輸出到繪圖打印機(jī)繪出磁場(chǎng)與角度的曲線形狀的圖形，最后返回到程序開(kāi)始處。
在圖4中，磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序如下程序開(kāi)始，將圖形結(jié)構(gòu)進(jìn)行初始化，設(shè)計(jì)第一、四象限坐標(biāo)，定義縱坐標(biāo)為磁場(chǎng)坐標(biāo)、橫坐標(biāo)為角度坐標(biāo)，并設(shè)計(jì)相應(yīng)的刻度和單位，測(cè)試數(shù)據(jù)與磁場(chǎng)的坐標(biāo)刻度和單位處理，角度的坐標(biāo)刻度和單位處理，求測(cè)試圓周內(nèi)各點(diǎn)磁場(chǎng)B的最大值，計(jì)算第一點(diǎn)與第二點(diǎn)數(shù)據(jù)差Bi-Bi+1＝ΔB，當(dāng)ΔB＞0時(shí)，磁場(chǎng)Bi→寄存器A，i+1＝M(測(cè)試點(diǎn)數(shù))？否，i+1→i，程序返回，繼續(xù)求最大值；是，求最大磁場(chǎng)結(jié)束，將最大值點(diǎn)作為圖形的零點(diǎn)，即O(0，0)點(diǎn)，依次調(diào)整測(cè)試數(shù)據(jù)，即經(jīng)過(guò)處理后，圖形的形狀是一致的，無(wú)論從哪一點(diǎn)開(kāi)始測(cè)試(磁輥的整個(gè)圓周面是均勻的，不能分辨磁場(chǎng)的磁極大小標(biāo)記)，圖形都是以最大磁場(chǎng)點(diǎn)開(kāi)始，計(jì)算M個(gè)誤差的最大點(diǎn)Bmax，保存圖形的全部數(shù)據(jù)，程序結(jié)束由圖5可見(jiàn)，軸向探頭由霍爾元件14、探頭柄15、探頭引線16連接構(gòu)成，Φ1表示探頭柄直徑。其相互連接關(guān)系為霍爾元件14安裝在探頭柄15的前端，在安裝時(shí)，霍爾元件15的表面與探頭測(cè)試端面的距離要求0.1～0.5mm，磁場(chǎng)以探頭中心軸的方向加到霍爾元件15表面上，并被測(cè)量，霍爾元件的引線16在探頭的另一端引出。其中，霍爾元件15的尺寸一般為1mm×1mm×(0.1～0.3)mm。
圖6是一個(gè)東芝公司BD-5511型磁輥的截面圖，有六個(gè)磁條，12對(duì)磁極。
圖7是利用本裝置測(cè)試的一種理光復(fù)印機(jī)的磁輥磁場(chǎng)與角度曲線關(guān)系圖，縱、橫坐標(biāo)分別為磁感應(yīng)強(qiáng)度B(mT)和角度α(°)。
在圖8中，磁傳感器電路由穩(wěn)壓電源IC1、霍元件H1、電阻R1～R4、運(yùn)算放大器IC2共同電氣連接構(gòu)成；A/D轉(zhuǎn)換器電路由A/D轉(zhuǎn)換器件IC3構(gòu)成；微機(jī)電路由雙向總線驅(qū)動(dòng)電路IC4、IC5、地址鎖存電路IC6、微機(jī)電路IC7、程序存儲(chǔ)器IC8、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器IC9、控制電路IC16共同電氣連接構(gòu)成；顯示電路由串行鎖存電路IC10～I(xiàn)C15、顯示器由數(shù)碼管DS1～DS6共同電氣連接構(gòu)成；步進(jìn)電機(jī)控制電路由步進(jìn)電機(jī)M1、驅(qū)動(dòng)三極管Q1～Q3共同電氣連接構(gòu)成；鍵盤由按鍵開(kāi)關(guān)K1～K12共同電氣連接構(gòu)成。
本發(fā)明檢測(cè)裝置各部件的要求如下測(cè)試機(jī)床的旋轉(zhuǎn)和固定軸、帶動(dòng)磁輥支柱、固定磁輥支柱、絲桿可選用無(wú)磁材料制造，例如銅、鋁等材料；運(yùn)算放大器IC2可選OP27型；A/D轉(zhuǎn)換器電路可選AD7703型；雙向總線驅(qū)動(dòng)電路IC4、IC5可選MC74LS245；微機(jī)電路可選INTEL8051型；步進(jìn)電機(jī)M1可選用57BYG009型。
權(quán)利要求
1.一種復(fù)印機(jī)磁輥磁性能測(cè)試裝置，其特征在于它由測(cè)試機(jī)床、測(cè)試儀器、繪圖打印機(jī)(13)共同電氣連接構(gòu)成，其中，測(cè)試機(jī)床由步進(jìn)電機(jī)(6)、旋轉(zhuǎn)和固定軸(7)、帶動(dòng)磁輥支柱(8)、固定磁輥支柱(10)、機(jī)床底座(11)、機(jī)床支架(12)共同連接構(gòu)成，測(cè)試儀器由軸向探頭(5)、磁傳感器電路、A/D轉(zhuǎn)換器電路、顯示電路、顯示器(1)、微機(jī)電路、步進(jìn)電機(jī)控制電路和鍵盤(3)共同電氣連接構(gòu)成，其相互位置與連接關(guān)系為旋轉(zhuǎn)和固定軸(7)、帶動(dòng)磁輥支柱(8)、步進(jìn)電機(jī)(6)安裝在機(jī)床支架(12)上，步進(jìn)電機(jī)(6)與旋轉(zhuǎn)和固定軸(7)相互連接，帶動(dòng)磁輥支柱(8)與旋轉(zhuǎn)和固定軸(7)相互連接，固定磁輥支柱(10)安裝在機(jī)床支架(12)上，機(jī)床支架(12)安裝在機(jī)床底座(11)上，軸向探頭(5)安裝在機(jī)床支架(12)上；軸向探頭(5)與磁傳感器電路相互電氣連接，磁傳感器電路的輸出線與A/D轉(zhuǎn)換器電路信號(hào)輸入線相互電氣連接，A/D轉(zhuǎn)換器電路的輸出線與微機(jī)電路的總線及控制線相互連接，顯示電路的輸入控制線與微機(jī)電路相互電氣連接，顯示器(1)與顯示電路相互電氣連接，微機(jī)電路與步進(jìn)電機(jī)控制電路相互電氣連接，微機(jī)電路與繪圖打印機(jī)(13)相互電氣連接，微機(jī)電路與鍵盤(3)相互電氣連接。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于所述的軸向探頭(5)由霍爾元件(14)、探頭柄(15)、探頭引線(16)共同電氣連接構(gòu)成，霍爾元件(14)的表面與探頭測(cè)試端面的距離要求0.1～0.5mm，霍爾元件(14)的尺寸為1mm×1mm×(0.1～0.3)mm。
3.如權(quán)利要求1或2所述的測(cè)試裝置，其特征在于所述的磁傳感器電路由穩(wěn)壓電源(IC1)、霍元件(H1)、電阻(R1～R4)、運(yùn)算放大器(IC2)共同電氣連接構(gòu)成； A/D轉(zhuǎn)換器電路由A/D轉(zhuǎn)換器件(IC3)構(gòu)成；微機(jī)電路由雙向總線驅(qū)動(dòng)電路(IC4、IC5)、地址鎖存電路(IC6)、微機(jī)電路(IC7)、程序存儲(chǔ)器(IC8)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(IC9)、控制電路(IC16)共同電氣連接構(gòu)成；顯示電路由串行鎖存電路(IC10～I(xiàn)C15)、顯示器由數(shù)碼管(DS1～DS6)共同電氣連接構(gòu)成；步進(jìn)電機(jī)控制電路由步進(jìn)電機(jī)(M1)、驅(qū)動(dòng)三極管(Q1～Q3)共同電氣連接構(gòu)成；鍵盤由按鍵開(kāi)關(guān)(K1～K12)共同電氣連接構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試裝置，其特征在于所述的運(yùn)算放大器(IC2)選用OP27型；A/D轉(zhuǎn)換器電路采用AD7703型；雙向總線驅(qū)動(dòng)電路(IC4、IC5)采用MC74LS245型；微機(jī)電路采用INTEL8051型；步進(jìn)電機(jī)(M1)采用57BYG009型。
5.用權(quán)利要求1所述測(cè)試裝置進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于包括如下步驟(1)磁輥安裝將被測(cè)試的磁輥安裝在測(cè)試機(jī)床上，并使移動(dòng)軸向探頭對(duì)準(zhǔn)一個(gè)測(cè)試截面；(2)旋轉(zhuǎn)角度設(shè)置通過(guò)鍵盤設(shè)置旋轉(zhuǎn)角度數(shù)值J(J＝1～9°)和測(cè)試的總點(diǎn)數(shù)P(P＝360/J)，并由儀器將數(shù)值保存；(3)磁場(chǎng)測(cè)試?yán)脺y(cè)試儀器控制整個(gè)測(cè)試過(guò)程，控制測(cè)試開(kāi)始，儀器發(fā)送開(kāi)始信號(hào)旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，測(cè)試第一點(diǎn)磁場(chǎng)；再旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，測(cè)試第二點(diǎn)磁場(chǎng)數(shù)值，以此類推，直至旋轉(zhuǎn)一個(gè)圓周，測(cè)試對(duì)應(yīng)的點(diǎn)數(shù)P；(4)數(shù)據(jù)處理與輸出利用磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序?qū)y(cè)試磁場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到磁場(chǎng)與圓周角度之間曲線圖形的數(shù)據(jù)，并通過(guò)繪圖打印機(jī)輸出。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于在步驟(3)中，測(cè)試磁場(chǎng)和控制機(jī)床的軟件程序如下程序開(kāi)始，判斷是否按鍵盤鍵，否，沒(méi)有繼續(xù)返回等待及判斷；是，測(cè)試開(kāi)始？否，進(jìn)行鍵盤出處理，之后返回；是，控制磁輥旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，再測(cè)試一點(diǎn)磁場(chǎng)；判斷N＝M(M＝360°)？否，繼續(xù)返回，繼續(xù)旋轉(zhuǎn)磁輥和測(cè)試磁場(chǎng)；是，進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的處理；程序?qū)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形文件，輸出到繪圖打印機(jī)繪出磁場(chǎng)與角度的曲線形狀的圖形，最后返回到程序開(kāi)始處。
7.如權(quán)利要求5或6所述的方法，其特征在于在步驟(4)中，磁場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成圖形的軟件程序如下程序開(kāi)始，將圖形結(jié)構(gòu)進(jìn)行初始化，設(shè)計(jì)第一、四象限坐標(biāo)，定義縱坐標(biāo)為磁場(chǎng)坐標(biāo)、橫坐標(biāo)為角度坐標(biāo)，并設(shè)計(jì)相應(yīng)的刻度和單位，測(cè)試數(shù)據(jù)與磁場(chǎng)的坐標(biāo)刻度和單位處理，角度的坐標(biāo)刻度和單位處理，求測(cè)試圓周內(nèi)各點(diǎn)磁場(chǎng)B的最大值，計(jì)算第一點(diǎn)與第二點(diǎn)數(shù)據(jù)差Bi-Bi+1＝△B，當(dāng)△B＞0時(shí)，磁場(chǎng)Bi→寄存器A，i+1＝M(測(cè)試點(diǎn)數(shù))？否，i+1→i，程序返回，繼續(xù)求最大值；是，求最大磁場(chǎng)結(jié)束，將最大值點(diǎn)作為圖形的零點(diǎn)，即O(0，0)點(diǎn)，依次調(diào)整測(cè)試數(shù)據(jù)，即經(jīng)過(guò)處理后，圖形的形狀是一致的，無(wú)論從哪一點(diǎn)開(kāi)始測(cè)試，圖形都是以最大磁場(chǎng)點(diǎn)開(kāi)始，計(jì)算M個(gè)誤差的最大點(diǎn)Bmax，保存圖形的全部數(shù)據(jù)，程序結(jié)束。
全文摘要
復(fù)印機(jī)磁輥磁性能測(cè)試裝置，由測(cè)試機(jī)床、測(cè)試儀器和繪圖打印機(jī)共同電氣連接構(gòu)成。其中，測(cè)試機(jī)床由步進(jìn)電機(jī)、旋轉(zhuǎn)和固定軸、帶動(dòng)磁輥支柱、固定磁輥支柱、機(jī)床底座、機(jī)床支架共同連接構(gòu)成；測(cè)試儀器由軸向探頭、磁傳感器電路、A/D轉(zhuǎn)換器電路、顯示電路、顯示器、微機(jī)電路、步進(jìn)電機(jī)控制電路、繪圖打印機(jī)和鍵盤共同電氣連接構(gòu)成。本發(fā)明還涉及該裝置的測(cè)試方法。本發(fā)明裝置和方法可以測(cè)試磁輥的表面磁感應(yīng)強(qiáng)度、描繪磁場(chǎng)與圓周角度之間曲線關(guān)系，能夠測(cè)量磁輥的不同截面，有利于分析復(fù)印機(jī)的復(fù)印效果。
文檔編號(hào)G01N27/72GK1542445SQ20031011202
公開(kāi)日2004年11月3日 申請(qǐng)日期2003年11月5日 優(yōu)先權(quán)日2003年11月5日
發(fā)明者郭志友, 孫慧卿 申請(qǐng)人:華南師范大學(xué)