專利名稱:條干儀電容式檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及條干儀電容式檢測系統(tǒng)，屬于紡織【技術(shù)領(lǐng)域】。該條干儀電容式檢測系統(tǒng)，包括陶瓷基板一、陶瓷基板二、陶瓷基板三、陶瓷基板四、陶瓷基板五、金屬屏蔽盒、信號采集板、信號調(diào)理板和計(jì)算機(jī)。本實(shí)用新型所涉及的條干儀電容式檢測系統(tǒng)，該條干儀電容式檢測系統(tǒng)設(shè)置了金屬屏蔽盒，從而大大降低了外部環(huán)境因素對其檢測結(jié)果造成的不良影響，使得最終得到的檢測數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
【專利說明】條干儀電容式檢測系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及條干儀電容式檢測系統(tǒng)，屬于紡織【技術(shù)領(lǐng)域】。

【背景技術(shù)】
[0002]條干為紡織用語，即紗線、條子的主要線。紗線、條子或粗紗沿軸向較短片段內(nèi)粗細(xì)或重量的均勻程度，稱為條干均勻度。紡織品的質(zhì)量與紗線條干均勻度密切有關(guān)。細(xì)紗條干不好，紗線的強(qiáng)力便會降低并影響織物的強(qiáng)度。而用不均勻的細(xì)紗織造時，在織物上會出現(xiàn)各種疵點(diǎn)和條檔，影響外觀質(zhì)量。當(dāng)半制品均勻度降低時，細(xì)紗的均勻度也相應(yīng)降低；細(xì)紗條干不好，紗線的強(qiáng)力便會降低并影響織物的強(qiáng)度。用不均勻的細(xì)紗織造時，在織物上會出現(xiàn)各種疵點(diǎn)和條檔，影響外觀質(zhì)量。
[0003]隨著紡織工業(yè)的不斷進(jìn)步與發(fā)展，企業(yè)為了能提高紡紗質(zhì)量，條干均勻度測試儀已成為紡紗廠的必備儀器；常見的條干儀電容式檢測頭，外部環(huán)境因素對其的影響較大，而且每臺電容式檢測頭對同一款紗線檢測時，得到的紗線質(zhì)量數(shù)據(jù)相差較大，條干儀電容式檢測系統(tǒng)有待提尚。
[0004]因此，為了解決以上技術(shù)問題，設(shè)計(jì)了條干儀電容式檢測系統(tǒng)，該條干儀電容式檢測系統(tǒng)設(shè)置了金屬屏蔽盒，從而大大降低了外部環(huán)境因素對其檢測結(jié)果造成的不良影響，使得最終得到的檢測數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]為了克服【背景技術(shù)】中存在的缺陷，本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:條干儀電容式檢測系統(tǒng)，包括陶瓷基板一、陶瓷基板二、陶瓷基板三、陶瓷基板四、陶瓷基板五、金屬屏蔽盒、信號采集板、信號調(diào)理板和計(jì)算機(jī)，所述陶瓷基板一、陶瓷基板二、陶瓷基板三、陶瓷基板四和陶瓷基板五分別與信號采集板連接在一起，所述信號調(diào)理板的一端與信號采集板連接在一起，所述信號調(diào)理板的另一端與計(jì)算機(jī)連接在一起，所述陶瓷基板一、陶瓷基板二、陶瓷基板三、陶瓷基板四、陶瓷基板五、金屬屏蔽盒、信號采集板和信號調(diào)理板設(shè)置在金屬屏蔽盒內(nèi)，所述陶瓷基板一到陶瓷基板二之間的距離大于陶瓷基板二到陶瓷基板三之間的距離，所述陶瓷基板二到陶瓷基板三之間的距離大于陶瓷基板三到陶瓷基板四之間的距離，所述陶瓷基板三到陶瓷基板四之間的距離大于陶瓷基板四到陶瓷基板五之間的距離，所述陶瓷基板一上與陶瓷基板二相對的右側(cè)面設(shè)有鍍銀涂層，所述陶瓷基板五上與陶瓷基板四相對的左側(cè)面設(shè)有鍍銀涂層，所述陶瓷基板二、陶瓷基板三和陶瓷基板四的左右兩側(cè)面上分別設(shè)有鍍銀涂層。
[0006]本實(shí)用新型所涉及的條干儀電容式檢測系統(tǒng)，該條干儀電容式檢測系統(tǒng)設(shè)置了金屬屏蔽盒，從而大大降低了外部環(huán)境因素對其檢測結(jié)果造成的不良影響，使得最終得到的檢測數(shù)據(jù)穩(wěn)定。

【附圖說明】

[0007]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。
[0008]圖1是本實(shí)用新型條干儀電容式檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0009]其中:1、陶瓷基板一；2、陶瓷基板二；3、陶瓷基板三；4、陶瓷基板四；5、陶瓷基板五；6、金屬屏蔽盒；7、彳目號米集板；8、彳目號調(diào)理板；9、計(jì)算機(jī)。

【具體實(shí)施方式】
[0010]現(xiàn)在結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。附圖為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本實(shí)用新型的基本結(jié)構(gòu)，因此其僅顯示與本實(shí)用新型有關(guān)的構(gòu)成。
[0011]請參閱圖1，條干儀電容式檢測系統(tǒng)，包括陶瓷基板一 1、陶瓷基板二 2、陶瓷基板三3、陶瓷基板四4、陶瓷基板五5、金屬屏蔽盒6、信號采集板7、信號調(diào)理板8和計(jì)算機(jī)9，所述陶瓷基板一 1、陶瓷基板二 2、陶瓷基板三3、陶瓷基板四4和陶瓷基板五5分別與信號采集板7連接在一起，所述信號調(diào)理板8的一端與信號采集板7連接在一起，所述信號調(diào)理板8的另一端與計(jì)算機(jī)9連接在一起，所述陶瓷基板一 1、陶瓷基板二 2、陶瓷基板三3、陶瓷基板四4、陶瓷基板五5、金屬屏蔽盒6、信號采集板7和信號調(diào)理板8設(shè)置在金屬屏蔽盒6內(nèi)，所述陶瓷基板一I到陶瓷基板二 2之間的距離大于陶瓷基板二 2到陶瓷基板三3之間的距離，所述陶瓷基板二 2到陶瓷基板三3之間的距離大于陶瓷基板三3到陶瓷基板四4之間的距離，所述陶瓷基板三3到陶瓷基板四4之間的距離大于陶瓷基板四4到陶瓷基板五5之間的距離，所述陶瓷基板一I上與陶瓷基板二 2相對的右側(cè)面設(shè)有鍍銀涂層，所述陶瓷基板五5上與陶瓷基板四4相對的左側(cè)面設(shè)有鍍銀涂層，所述陶瓷基板二 2、陶瓷基板三3和陶瓷基板四4的左右兩側(cè)面上分別設(shè)有鍍銀涂層。
[0012]本實(shí)用新型所涉及的條干儀電容式檢測系統(tǒng)，該條干儀電容式檢測系統(tǒng)設(shè)置了金屬屏蔽盒，從而大大降低了外部環(huán)境因素對其檢測結(jié)果造成的不良影響，使得最終得到的檢測數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
【權(quán)利要求】
1.條干儀電容式檢測系統(tǒng)，包括陶瓷基板一(I)、陶瓷基板二(2)、陶瓷基板三(3)、陶瓷基板四(4)、陶瓷基板五(5)、金屬屏蔽盒(6)、信號采集板(7)、信號調(diào)理板(8)和計(jì)算機(jī)(9)，其特征在于:所述陶瓷基板一(1)、陶瓷基板二(2)、陶瓷基板三(3)、陶瓷基板四(4)和陶瓷基板五(5)分別與信號采集板(7)連接在一起，所述信號調(diào)理板(8)的一端與信號采集板(7)連接在一起，所述信號調(diào)理板(8)的另一端與計(jì)算機(jī)(9)連接在一起，所述陶瓷基板一(I)、陶瓷基板二(2)、陶瓷基板三(3)、陶瓷基板四(4)、陶瓷基板五(5)、金屬屏蔽盒(6)、信號米集板(7)和信號調(diào)理板(8)設(shè)置在金屬屏蔽盒(6)內(nèi)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的條干儀電容式檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述陶瓷基板一(I)到陶瓷基板二(2)之間的距離大于陶瓷基板二(2)到陶瓷基板三(3)之間的距離，所述陶瓷基板二(2)到陶瓷基板三(3)之間的距離大于陶瓷基板三(3)到陶瓷基板四(4)之間的距離，所述陶瓷基板三(3)到陶瓷基板四(4)之間的距離大于陶瓷基板四(4)到陶瓷基板五(5)之間的距離。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的條干儀電容式檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述陶瓷基板一(I)上與陶瓷基板二(2)相對的右側(cè)面設(shè)有鍍銀涂層，所述陶瓷基板五(5)上與陶瓷基板四(4)相對的左側(cè)面設(shè)有鍍銀涂層，所述陶瓷基板二(2)、陶瓷基板三(3)和陶瓷基板四(4)的左右兩側(cè)面上分別設(shè)有鍍銀涂層。
【文檔編號】G01N27-22GK204269590SQ201420715997
【發(fā)明者】張玉風(fēng) [申請人]蘇州英科思測試儀器有限公司