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基于直接數(shù)字合成dds技術(shù)的dsp連續(xù)波激光相位測距系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):5900187閱讀:283來源:國知局
專利名稱:基于直接數(shù)字合成dds技術(shù)的dsp連續(xù)波激光相位測距系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
連續(xù)波激光相位法測距。
背景技術(shù)
連續(xù)波激光相位法測距的方法分為模擬測相法(延遲測相法)測距和數(shù)字測相法測距。
用數(shù)字電路進(jìn)行相位測量,是精密測距技術(shù)進(jìn)入新階段的一個(gè)標(biāo)志。自動(dòng)數(shù)字測相具有速度快、精度高、成果便于自動(dòng)處理、直接進(jìn)行距離顯示等優(yōu)點(diǎn),目前在各種短程測距儀中已普遍采用。
在數(shù)字相位測距中,首先信號(hào)源大多采用晶振,然后通過頻率綜合和鎖相的方法獲得其他幾個(gè)測量頻率。雖然能夠?qū)崿F(xiàn)距離的精密測量,但是由于種種原因還存在以下一些問題1、信號(hào)源一般選用晶體振蕩器作為精測主振,不可避免存在一定的頻率漂移和相位抖動(dòng),成為進(jìn)一步提高測距的精度和穩(wěn)定度的瓶頸;而且系統(tǒng)使用電子開關(guān)進(jìn)行精、粗尺頻率的切換,其響應(yīng)速度和可靠性都不夠理想;2、由于采用差頻測相,系統(tǒng)要求產(chǎn)生頻差恒定的主振和本振信號(hào),現(xiàn)在通常采用高頻晶振作為精測頻率,然后通過頻率綜合和鎖相的方法獲得其它幾個(gè)測量頻率。這種方法存在頻率分辨率低、跟蹤速度慢、電路實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的缺點(diǎn),影響系統(tǒng)的總體性能。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種基于直接數(shù)字合成DDS技術(shù)的連續(xù)波激光相位測距系統(tǒng),在數(shù)字相位測距儀中采用DDS信號(hào)源,提高頻率的精度和穩(wěn)定性,提高頻率分辨率、頻率的跟蹤、響應(yīng)和變換速度,調(diào)頻范圍大,電路實(shí)現(xiàn)簡單,體積功耗下降,使用方便,提高數(shù)字相位測距儀的總體性能。
采用直接數(shù)字合成器(DDS-Direct Digital Synthesis)來作為數(shù)字化的頻率信號(hào)源,不僅精度高,而且由于不受環(huán)境溫度等因素影響,性能非常穩(wěn)定。通過簡單的數(shù)字式控制就可以產(chǎn)生系統(tǒng)的主振和本振頻率,并且能夠靈活地進(jìn)行測尺頻率的切換。因此,把DDS技術(shù)引入到在相位測距系統(tǒng)中,對提高測距系統(tǒng)的精度,以及使其向小型化、輕量化和多功能化發(fā)展,具有重要意義。
一、DDS技術(shù)直接數(shù)字頻率合成技術(shù)DDS的一個(gè)顯著特點(diǎn)是在數(shù)字處理器的控制下能夠精確而快速地處理頻率和相位,其固有的特性包括相當(dāng)高的頻率和相位分辨率,頻率的可控范圍可達(dá)μHz級,相位控制小于0.1°;能夠進(jìn)行快速的信號(hào)變換,其內(nèi)部數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器DAC的轉(zhuǎn)換速率為300百萬次/秒。隨著數(shù)字技術(shù)和半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,DDS芯片能集成包括高速DAC器件在內(nèi)的部件,功能增加,體積減少,功耗下降到mW級。
DDS技術(shù)是用數(shù)字控制方法由一個(gè)參考頻率源產(chǎn)生多種頻率。它利用奈奎斯特準(zhǔn)則對一個(gè)正弦信號(hào)進(jìn)行采樣,控制采樣周期間的相位增量,用當(dāng)前的相位值來尋址ROM表,實(shí)現(xiàn)相碼到幅碼的轉(zhuǎn)換。
DDS系統(tǒng)的核心部分是相位累加器,它由一個(gè)加法器和一個(gè)N位相位寄存器組成,N一般為24~32位。每來一個(gè)外部參考時(shí)鐘fsys,相位寄存器便以步長M遞增。相位寄存器的輸出與相位控制字相加,然后輸入到正弦查詢表地址上。正弦查詢表包含一個(gè)周期正弦波的數(shù)字幅度信息,每個(gè)地址對應(yīng)正弦波中0°~360°范圍的一個(gè)相位點(diǎn)。查詢表把輸入的地址相位信息映射成正弦波幅度信號(hào),驅(qū)動(dòng)數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器DAC輸出模擬量。DAC輸出的模擬信號(hào)經(jīng)過低通濾波器LPF平滑,就可以得到一個(gè)頻譜純凈的正弦波。
相位寄存器每經(jīng)過2N/M個(gè)fsys。時(shí)鐘后回到初始狀態(tài),相應(yīng)的正弦查詢表經(jīng)過一個(gè)循環(huán)回到初始位置,整個(gè)DDS系統(tǒng)輸出一個(gè)正弦波。輸出正弦波的周期為T0=1fsys·2NM,]]>頻率為fout=Mfsys2N.]]>基于直接數(shù)字合成DDS技術(shù)的DSP連續(xù)波激光相位測距系統(tǒng),包括光學(xué)系統(tǒng)、電路單元、混頻放大單元、A/D轉(zhuǎn)換單元、以及DSP控制處理系統(tǒng),其特征是電路控制部分的信號(hào)源及混頻源為直接數(shù)字合成器DDS,與數(shù)字信號(hào)處理器DSP相配合。
在數(shù)字信號(hào)處理器DSP的可編程控制下,使用兩片直接數(shù)字信號(hào)合成器DDS芯片,DDS的兩路輸出,一路輸出經(jīng)信號(hào)調(diào)制驅(qū)動(dòng)光波發(fā)射,同時(shí)與另一路輸出接到參考混頻中放;另一路輸出接到測量混頻中放,與回程信號(hào)的自動(dòng)增益控制信號(hào)混頻。
兩個(gè)DDS輸出經(jīng)參考混頻中放和測量混頻中放后,其輸出經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),送入數(shù)字信號(hào)處理器DSP進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。其余為信號(hào)幅值比較和LCD顯示。
光學(xué)系統(tǒng)中光源為半導(dǎo)體激光器。
本實(shí)用新型的兩大技術(shù)要點(diǎn)是采用直接數(shù)字頻率合成技術(shù)DDS和利用DSP的FFT變換處理技術(shù)。
本實(shí)用新型光學(xué)系統(tǒng)有半導(dǎo)體激光發(fā)射,發(fā)射光學(xué)系統(tǒng),回程的光學(xué)接收系統(tǒng)和信號(hào)接收光電轉(zhuǎn)換。
電路單元中采用兩塊DDS芯片,產(chǎn)生兩個(gè)本振和主振頻率信號(hào),從根本上解決了主振頻率和本振頻率之間的相位抖動(dòng)和頻率漂移的問題。兩混頻中放信號(hào)通過一雙路A/D進(jìn)入數(shù)字信號(hào)處理器,利用DSP強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能,完成兩差頻信號(hào)的相位計(jì)算,大大提高了系統(tǒng)的可靠性和精度。
DDS技術(shù)同傳統(tǒng)的相位式測距系統(tǒng)中,大多信號(hào)源的產(chǎn)生采用的模擬鎖相環(huán)(PLL-Phase Lock Loop)技術(shù)相比,DDS技術(shù)擁有傳統(tǒng)的模擬PLL技術(shù)無可比擬的優(yōu)越性,體現(xiàn)在(1)輸出分辨率小。只要相位累加器的位寬足夠大,參考頻率足夠小,則頻率分辨率就可以很小。例如,在125MHz的時(shí)鐘下,32位的頻率控制字可使輸出的頻率分辨率達(dá)0.0291Hz;而模擬鎖相環(huán)合成器的分辨率僅為1KHz。
(2)輸出頻率變換時(shí)間小。模擬鎖相環(huán)的頻率變換時(shí)間主要取決于它的反饋處理時(shí)間和壓控振蕩器的響應(yīng)時(shí)間,通常大于1ms;而DDS的頻率變換時(shí)間主要是DDS的數(shù)字處理延遲,通常為幾十個(gè)ns。
(3)調(diào)頻范圍大。負(fù)反饋環(huán)的帶寬輸出參考頻率決定了模擬鎖相環(huán)的穩(wěn)定調(diào)頻范圍;而DDS在整個(gè)奈奎斯特頻率范圍內(nèi)是近似連續(xù)可調(diào)的。
(4)相位噪聲小。DDS最大的優(yōu)勢就在于它的相位噪聲小。由于數(shù)字正弦信號(hào)的相位與時(shí)間成線形關(guān)系,DDS輸出的相位噪聲主要來源于其參考時(shí)鐘源的相位噪聲,并比之小的多;而模擬鎖相環(huán)的相位噪聲是它的參考時(shí)鐘的相位噪聲的兩倍。
(5)體積小、集成度高、功耗小、設(shè)計(jì)方便。


圖1為可編程DDS系統(tǒng)。
圖2為基于DDS技術(shù)的DSP連續(xù)波激光相位測距系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)簡圖。
圖3為基于DDS技術(shù)的DSP連續(xù)波激光相位測距系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方法參見附圖。
圖1中,1、頻率控制字,2、位控制字,3、相位累加器,包括□加法器和4相位寄存器組成,5、正弦查詢表,6、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器,7、低通濾波器LPF。
圖2中,8、數(shù)字信號(hào)處理器,9、頻率合成器DDS,10、參考混頻中放,11、調(diào)制發(fā)射,12、光電接收,13、測量混頻中放,14、A/D轉(zhuǎn)換器。
圖3中,16、信號(hào)調(diào)制驅(qū)動(dòng),17、半導(dǎo)體激光器,18、發(fā)射光學(xué)系統(tǒng),19、信號(hào)幅值比較,20、接收光學(xué)系統(tǒng),21、信號(hào)接收光電轉(zhuǎn)換,22、自動(dòng)增益控制AGC,15、LCD顯示。
本實(shí)用新型包括光學(xué)系統(tǒng)11、12,混頻放大單元10、13,A/D轉(zhuǎn)換器14,數(shù)字信號(hào)處理器DSP8,信號(hào)源產(chǎn)生為頻率合成器DDS 9。系統(tǒng)使用兩片DDS 9。DDS 9的輸出,一路輸出經(jīng)信號(hào)調(diào)制16驅(qū)動(dòng)光波發(fā)射的同時(shí)與另一路輸出接到參考混頻中放10;另一路輸出接到測量混頻中放13與回程信號(hào)的自動(dòng)增益控制AGC 22信號(hào)混頻。
兩個(gè)DDS 9輸出經(jīng)參考混頻中放10和測量混頻中放13后,其輸出給A/D轉(zhuǎn)換器14轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后,送入數(shù)字信號(hào)處理器DSP 8進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。
光學(xué)系統(tǒng)中光源17為半導(dǎo)體激光器,經(jīng)發(fā)射光學(xué)系統(tǒng)18出射,再經(jīng)遠(yuǎn)處的反射鏡反射回接收光學(xué)系統(tǒng)20,再經(jīng)信號(hào)接收光電轉(zhuǎn)換22接收放大后分成兩路,一路經(jīng)信號(hào)幅值比較19,另一路經(jīng)自動(dòng)增益控制22送入測量混頻中放13,顯示部件LCD 15。
權(quán)利要求1.基于直接數(shù)字合成DDS技術(shù)的DSP連續(xù)波激光相位測距系統(tǒng),包括光學(xué)系統(tǒng)、電路單元、混頻放大單元、A/D轉(zhuǎn)換單元、以及DSP控制處理系統(tǒng),其特征是電路控制部分的信號(hào)源及混頻源為直接數(shù)字合成器DDS,與數(shù)字信號(hào)處理器DSP相配合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光相位測距系統(tǒng),其特征是在數(shù)字信號(hào)處理器DSP的可編程控制下,使用兩片直接數(shù)字信號(hào)合成器DDS芯片,DDS的兩路輸出,一路輸出經(jīng)信號(hào)調(diào)制驅(qū)動(dòng)光波發(fā)射,同時(shí)與另一路輸出接到參考混頻中放;另一路輸出接到測量混頻中放,與回程信號(hào)的自動(dòng)增益控制信號(hào)混頻。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光相位測距系統(tǒng),其特征是兩個(gè)DDS輸出經(jīng)參考混頻中放和測量混頻中放后,其輸出經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),送入數(shù)字信號(hào)處理器DSP進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光相位測距系統(tǒng),其特征是光學(xué)系統(tǒng)中光源為半導(dǎo)體激光器。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種激光相位測距系統(tǒng),包括光學(xué)系統(tǒng)、電路單元、混頻放大單元、A/D轉(zhuǎn)換單元、以及DSP控制處理系統(tǒng),其特征是在數(shù)字信號(hào)處理器DSP的可編程控制下,使用兩片直接數(shù)字信號(hào)合成器DDS芯片,DDS的兩路輸出,一路輸出經(jīng)信號(hào)調(diào)制驅(qū)動(dòng)光波發(fā)射,同時(shí)與另一路輸出接到參考混頻中放;另一路輸出接到測量混頻中放,與回程信號(hào)的自動(dòng)增益控制信號(hào)混頻。和傳統(tǒng)技術(shù)相比,輸出分辨率小,輸出頻率變換時(shí)間小,調(diào)頻范圍大,相位噪聲小,體積小、集成度高、功耗小、設(shè)計(jì)方便。
文檔編號(hào)G01S17/00GK2650149SQ0322079
公開日2004年10月20日 申請日期2003年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月27日
發(fā)明者李季, 陳結(jié)祥, 張毅, 戚俊, 涂碧海, 趙平建, 黃正英 申請人:中國科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所
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