專利名稱：平面顯示器的測試裝置及其操作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種顯示器的測試裝置，特別是有關(guān)于一種同時適用于短路桿(shorting bar)測試和全部接點(full contact)測試的平面顯示器的測試裝置及其操作方法。
背景技術(shù)：
液晶材料由歐洲發(fā)現(xiàn)后，在美國研究開發(fā)其實用性，日本深入探討其物性及各種領(lǐng)域的應(yīng)用技術(shù)，并不斷地研制新世代的液晶平面顯示器。目前，各種液晶技術(shù)已被廣泛地使用在顯示器上，尤其是液晶平面顯示器(LCD)，各制造商已經(jīng)由TN-LCD(Twisted Nematic-Liquid Crystal Display，扭曲向列型液晶平面顯示器)擴展至STN-LCD(Super Twisted Nematic-LiquidCrystal Display，超扭曲向列型液晶平面顯示器)，并更加擴大至非晶硅TFT-LCD(Thin Film Transistor LCD，薄膜晶體管液晶平面顯示器)，且規(guī)模有越來越大的趨勢。而薄膜晶體管液晶平面顯示器在制作時必須經(jīng)過短路桿(shorting bar)測試和全部接點(full contact)測試，以確定所制作出來的薄膜晶體管液晶平面顯示器能正常工作。
參照圖2，它是表示公知一種液晶顯示器的短路桿測試時的測試裝置電路圖。在圖2中，顯示器200包括測試裝置210、控制極驅(qū)動電路250以及控制極驅(qū)動線252與數(shù)據(jù)驅(qū)動線222所形成的顯示單元，而此顯示單元的每一單位包括晶體管254、存儲容256與像素單元258。
在圖2中，測試裝置210包括數(shù)據(jù)焊墊220、控制極焊墊230、其他電路焊墊240、探測端P11、P20～P29、P30～P39與P40，而且每一探測端P11、P20～P29、P30～P39和P40均電連接一電阻212。其中，連接關(guān)系是數(shù)據(jù)焊墊220電連接探測端P11，控制極焊墊230電連接探測端P20～P29和P40，其他電路焊墊240電連接探測端P30～P39。
當(dāng)要對測試裝置210作短路桿測試時，即將所有探測端接地，且將數(shù)據(jù)焊墊220電連接至一圖像信號源，而在數(shù)據(jù)焊墊220與圖像信號源之間電連接電阻216。此時，借助圖像信號源供給的圖像信號即可對顯示器200作短路桿測試。
接著參照圖3，它是表示公知一種液晶顯示器的全部接點測試時的測試裝置電路圖。它與圖2不同之處在于，圖3的數(shù)據(jù)焊墊220為電連接探則端P101～P128，且控制極焊墊230電連接P20～P29。另外，圖3并沒有圖像信號源。
在作全部接點測試時，則將所有探測端P101～P128、P20～P29以及P30～P39連接起來，并加以驅(qū)動。此時，即可對顯示器300作全部接點測試。
綜合以上所述，公知測試顯示器的測試裝置有下列缺點(1)公知作液晶顯示器的短路桿測試時，需在玻璃切割完成后才能作測試。此外，進行短路桿測試時，由于是輸入單一圖像信號(例如是輸入一紅色信號)，測試者只能以目視判斷顯示器有無正常，而無法詳細得知是哪一條數(shù)據(jù)驅(qū)動線出問題。
(2)當(dāng)對公知作液晶顯示器的全部接點測試時，雖然可以詳細判斷每一條數(shù)據(jù)驅(qū)動線的正常與否，但由于測試需要以非常精細的探針才能達成，造成其成本很高，較不適用在大量生產(chǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明提供一種平面顯示器的測試裝置及其操作方法，是增加了短路桿信號源與開關(guān)元件，此開關(guān)元件在短路桿信號源供給高電位時導(dǎo)通，以讓使用者對探測端作短路桿測試，而在短路桿信號源供給低電位時斷開，以讓使用者對探測端作全部接點測試。
本發(fā)明提出一種平面顯示器的測試裝置，它電連接至第一驅(qū)動線、圖像信號源與短路桿信號源，此測試裝置包括有第一焊墊、n個探測端以及n個開關(guān)元件。其中，此第一焊墊是電連接至第一驅(qū)動線。
依照本發(fā)明的優(yōu)選實施例所述，上述的n個探測端是電連接至第一焊墊，且n為大于等于1的正整數(shù)。其中，這些探測端是作為短路桿測試或全部接點測試時的探測端點。
依照本發(fā)明的優(yōu)選實施例所述，上述的n個開關(guān)元件的每一開關(guān)元件具有控制極端、第一端和第二端。其中，每一開關(guān)元件的控制極端電連接至短路桿信號源，每一開關(guān)元件的第一端電連接至圖像信號源，每一開關(guān)元件的第二端電連接至相對應(yīng)的n個探測端的其中之一。
依照本發(fā)明的優(yōu)選實施例所述，上述的平面顯示器的測試裝置是由短路焊信號源供給的電位來控制作短路桿測試或全部接點測試。其中，若短路桿信號源供給高電位時，每一開關(guān)元件將被導(dǎo)通，以提供使用者作短路桿測試；反之，若短路桿信號源供給低電位時，每一開關(guān)元件將被斷開，以提供使用者作全部接點測試。
依照本發(fā)明的優(yōu)選實施例所述，上述的平面顯示器的測試裝置還包括第二焊墊，它電連接有m個探測端，以提供使用者作全部接點測試。其中，m為大于等于1的正整數(shù)。
依照本發(fā)明的優(yōu)選實施例所述，上述的平面顯示器的測試裝置還包括第三焊墊，其是電連接有s個探測端，以提供使用者作全部接點測試。其中，s為大于等于1的正整數(shù)。
本發(fā)明提出一種平面顯示器的測試裝置的操作方法，此操作方法是為短路桿信號源提供信號至測試裝置的開關(guān)元件的控制極端，開關(guān)元件即根據(jù)短路桿信號源提供的電位，判斷是否導(dǎo)通開關(guān)元件。當(dāng)開關(guān)元件被導(dǎo)通時，即可至探測端上測量圖像信號(短路桿測試)；反之，當(dāng)開關(guān)元件被斷開時，即可對探測端作全部接點測試。
依照本發(fā)明的優(yōu)選實施例所述，上述的操作方法還包括當(dāng)開關(guān)元件被斷開時，對測試裝置的第二焊墊和第三焊墊作全部接點測試。
本發(fā)明因采用在測試裝置中加入開關(guān)元件，因此當(dāng)短路桿信號源供給高電位時，可對此顯示器作短路桿測試，而當(dāng)短路桿信號源供給低電位時，對此顯示器作全部接點測試。
為使本發(fā)明的上述和其他目的、特征、和優(yōu)點能更明顯易懂，下面特舉一優(yōu)選實施例，并結(jié)合附圖，作詳細說明如下


圖1A是表示依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例的一種平面顯示器的測試裝置的電路圖。
圖1B是表示依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例的一種平面顯示器的測試裝置的操作方法步驟流程圖。
圖2是公知一種液晶顯示器的短路桿測試時的測試裝置電路圖。
圖3公知一種液晶顯示器的全部接點測試時的測試裝置電路圖。
附圖標(biāo)號說明100平面顯示器110，210，310測試裝置112短路桿信號探測端114圖像信號探測端116，134，144，212，216電阻120第一焊墊122第一驅(qū)動線1 24第一端126控制極端128第二端130第二焊墊132，142二極管140第三焊墊150，250控制極驅(qū)動電路152，252控制極驅(qū)動線154，254晶體管156，256存儲容158，258像素單元160晶片輸入焊墊162柔性印刷電路焊墊200，300液晶顯示器220數(shù)據(jù)焊墊222數(shù)據(jù)驅(qū)動線230控制極焊墊240其他電路焊墊P1～Pn，P11，P101～P128，P20～P29，P30～P39，P40，F(xiàn)101～F1m，F(xiàn)201～F2s探測端S1～Sn開關(guān)元件s180～s186各個步驟流程
具體實施例方式
參照圖1A，它是表示依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例的一種平面顯示器的測試裝置的電路圖。在圖1A中，平面顯示器100包括測試裝置110、控制極驅(qū)動電路150與由多條第一驅(qū)動線122與多條控制極驅(qū)動線152所組成的顯示單元。其中，顯示單元的每一單位包括晶體管154、存儲容156與像素胞158。另外，如本技術(shù)領(lǐng)域的普遍技術(shù)人員所清楚了解那樣，測試裝置110可以是數(shù)據(jù)驅(qū)動電路，第一驅(qū)動線122可以是數(shù)據(jù)驅(qū)動線，像素單元158可以是液晶電容或有機發(fā)光(OLED)層，而平面顯示器100依據(jù)像素單元158的不同可以是液晶顯示器或是有機發(fā)光二極管顯示器(OLED)，但均不以此為限。
繼續(xù)參照圖1A，測試裝置110電連接至第一驅(qū)動線122、圖像信號源與短路桿信號源。而此測試裝置110包括有第一焊墊120、n個探測端P1～Pn以及n個開關(guān)元件S1～Sn。其中，n為大于等于1的正整數(shù)。
在本實施例中，測試裝置110中的電連接關(guān)系是第一焊墊120外接至第一驅(qū)動線122與n個探測端P1～Pn，而n個開關(guān)元件每一開關(guān)元件S1～Sn具有控制極端126、第一端124(源極端或漏極端)及第二端128(漏極端或源極端)。其中，每一開關(guān)元件S1～Sn的控制極端126電連接至短路桿信號源，每一開關(guān)元件S1～Sn的第一端124電連接至圖像信號源，每一開關(guān)元件S1～Sn的第二端128電連接至相對應(yīng)的n個探測端P1～Pn的其中之一。
在本實施例中，測試裝置110是由短路桿信號源供給的電位來作為是否作短路桿測試或全部接點測試的分別。當(dāng)短路桿信號源供給一高電位(VDD)時，每一開關(guān)元件S1～Sn將被導(dǎo)通，此時，探測端114可提供使用者作短路桿測試；反之，若短路桿信號源供給一低電位(VEE)時，每一開關(guān)元件S1～Sn將被斷開，此時，每一探測端P1～Pn可提供使用者作全部接點測試。另外，每一開關(guān)元件S1～Sn也可能在短路桿信號源供給低電位(VEE)時被導(dǎo)通，以作短路桿測試，而在短路桿信號源供給高電位(VDD)時被斷開，以作全部接點測試。
在本實施例中，在短路桿信號源與第一個開關(guān)元件S1的控制極端126間電連接電阻116，而在圖像信號源與第一個開關(guān)元件S1的第一端124間也電連接有電阻116，在此處連接電阻116為當(dāng)輸入的信號或電位的電壓值太大時，用來降低其電壓值，以避免造成測試裝置內(nèi)部電路的損傷，但不以此為限。
在本實施例中，測試裝置110還包括第二焊墊130與第三焊墊140，此第二焊墊130電連接至控制極驅(qū)動電路150與M個探測端F101～F1m，而第三焊墊140則電連接至其他控制電路(未繪示)與s個探測端F201～F2s。其中，m與s均為大于等于1的正整數(shù)。
在本實施例中，M個探測端的每一個探測端F101～F1m與s個探測端的每一個探測端F201～F2s分別各自電連接有電阻134與144，其作用與電阻116相同。
繼續(xù)參照圖1A，顯示器100在作短路桿測試時的動作為將探測端F101～F1m與F201～F2s均浮接(floating)，然后將短路桿信號探測端112連接至高電位(VDD)，同時將圖像信號探測端114連接至圖像信號源。此時，短路桿信號源供給的高電位將導(dǎo)通每一開關(guān)元件S1～Sn，使得使用者能在探測端114測量圖像信號源供給的信號，以確定電路工作是否正常。
而當(dāng)顯示器100作全部接點測試時，其動作為將短路桿信號探測端112連接至低電位(VEE)，而圖像信號探測端114則浮接。此時，即可經(jīng)由測試探測端P1～Pn、F101～F1m以及F201～F2s測得電路工作是否正常。
在本發(fā)明的優(yōu)選實施例中，輸入圖像信號可控制灰度。
在本發(fā)明的優(yōu)選實施例中，測試裝置110更包括在第二焊墊130與第一個探測端F101之間電連接由兩個二極管132所組成的靜電放電的保護電路，以及在第三焊墊140與第一個探測端F201之間電連接由兩個二極管142所組成的靜電放電的保護電路，但均不以此為限。
在本發(fā)明的優(yōu)選實施例中，測試裝置110還包括晶片輸入焊墊160以及與其電連接的柔性印刷電路焊墊(Flexible Printed Circuit，簡稱FPC)162。
接著參照圖1B，它是表示依照本發(fā)明一優(yōu)選實施例的一種平面顯示器的測試裝置的操作方法步驟流程圖。在本實施例中，此操作方法是為短路桿信號源提供信號至測試裝置的開關(guān)元件的控制極端(s180)，接著開關(guān)元件即根據(jù)短路桿信號源提供的電位，判斷是否導(dǎo)通開關(guān)元件(s182)。當(dāng)開關(guān)元件被導(dǎo)通時，即可至探測端上測量圖像信號(短路桿測試)(s184)；反之，當(dāng)開關(guān)元件被斷開時，即可對探測端作全部接點測試(s186)。
在本發(fā)明的優(yōu)選實施例中，操作方法還包括當(dāng)開關(guān)元件被斷開時，對測試裝置的第二焊墊和第三焊墊作全部接點測試。
綜合以上所述，平面顯示器的測試裝置與其操作方法可以任意切換不同模式的測試方式，以符合不同的需求。
雖然本發(fā)明已以一優(yōu)選實施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本技術(shù)領(lǐng)域的普遍技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，應(yīng)當(dāng)可作更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求書范圍所界定的為準。
權(quán)利要求
1.一種平面顯示器的測試裝置，它電連接至一第一驅(qū)動線、一圖像信號源和一短路桿信號源，該測試裝置包括一電連接至該第一驅(qū)動線的第一焊墊；一電連接至該第一焊墊的探測端；以及一開關(guān)元件，該開關(guān)元件具有一控制極端、一第一端和一第二端，該開關(guān)元件的該控制極端電連接至該短路桿信號源，該開關(guān)元件的該第一端電連接至該圖像信號源，該開關(guān)元件的該第二端電連接至相對應(yīng)的這些探測端的其中之一。
2.如權(quán)利要求1所述的平面顯示器的測試裝置，其特征在于由該短路桿信號源供給的電位來控制該測試裝置提供一短路焊測試和一全部接點測試其中之一。
3.如權(quán)利要求2所述的平面顯示器的測試裝置，其特征在于當(dāng)該短路桿信號源供給一高電位時，該開關(guān)元件將被導(dǎo)通，用以供使用者對該探測端作該短路桿測試，反之，當(dāng)該短路桿信號源供給一低電位時，該開關(guān)元件將被斷開，用以供使用者對該探測端作全部接點測試；或是，當(dāng)該短路桿信號源供給一低電位時，該開關(guān)元件將被導(dǎo)通，用以供使用者對該探測端作該短路桿測試，反之，當(dāng)該短路桿信號源供給一高電位時，該開關(guān)元件將被斷開，用以供使用者對該探測端作全部接點測試。
4.如權(quán)利要求2所述的平面顯示器的測試裝置，其特征在于包括一第二焊墊，該第二焊墊電連接有m個探測端，用以提供使用者作該全部接點測試，且m為大于等于1的正整數(shù)。
5.如權(quán)利要求2所述的平面顯示器的測試裝置，其特征在于還包括一第三焊墊，該第三焊墊電連接有s個探測端，用以提供使用者作該全部接點測試，且s為大于等于1的正整數(shù)。
6.如權(quán)利要求1所述的平面顯示器的測試裝置，其特征在于該驅(qū)動電路為數(shù)據(jù)驅(qū)動電路或是控制極驅(qū)動電路其中之一。
7.如權(quán)利要求1所述的平面顯示器的測試裝置，其特征在于該平面顯示器為液晶顯示器和有機發(fā)光二極管顯示器其中之一。
8.一種平面顯示器的測試裝置的操作方法，該測試裝置至少包括至少一開關(guān)元件和至少一探測端，其特征在于該操作方法包括提供一短路桿信號源；根據(jù)該短路桿信號源提供的電位，判斷導(dǎo)通該開關(guān)元件與否；以及根據(jù)該開關(guān)元件導(dǎo)通與否，以決定是否在該探測端上測量一圖像信號。
9.如權(quán)利要求8所述的平面顯示器的測試裝置的操作方法，其特征在于還包括當(dāng)該開關(guān)元件被斷開時，對該探測端作一全部接點測試。
10.如權(quán)利要求9所述的平面顯示器的測試裝置的操作方法，其特征在于還包括對該測試裝置的一第二焊墊和一第三焊墊作該全部接點測試。
11.如權(quán)利要求8所述的平面顯示器的測試裝置的操作方法，其特征在于當(dāng)該開關(guān)元件導(dǎo)通時，至該探測端上測量該圖像信號。
全文摘要
一種平面顯示器的測試裝置及其操作方法，該裝置電連接至第一驅(qū)動線、圖像信號源和短路桿信號源，且包括第一焊墊、n個探測端以及n個開關(guān)元件。在本發(fā)明中，n個探測端是電連接至第一焊墊，且n為大于等于1的正整數(shù)，而每一開關(guān)元件的控制極端電連接至短路桿信號源，第一端電連接至圖像信號源，第二端電連接至相對應(yīng)的n個探測端的其中之一。在本發(fā)明中，是由短路桿信號源提供的電位來控制對平面顯示器作短路桿測試或全部接點測試。
文檔編號G01R31/00GK1601287SQ03159480
公開日2005年3月30日 申請日期2003年9月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年9月27日
發(fā)明者林孝義, 趙長明 申請人:統(tǒng)寶光電股份有限公司