專利名稱：一種對負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻進(jìn)行測試的電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種對熱敏電阻的參數(shù)進(jìn)行測試的電路，特別是指一種對負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻進(jìn)行測試的電路。
根據(jù)上述目的設(shè)計(jì)了一種對負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻進(jìn)行測試的電路，包括標(biāo)準(zhǔn)NTC電阻R、待測NTC電阻RX及恒壓源，R及RX串接在恒壓源上。其中，電阻R、RX與恒壓源中的電阻RV1組成橋式聯(lián)接，電壓跟隨器U1A的腳3聯(lián)接在R、RX之間的聯(lián)線上，腳4聯(lián)接在RX、RV1之間的聯(lián)線上并入地，腳2與差分放大器U2聯(lián)接并入地；同時(shí)，作為電位器的RV1與電阻R1串聯(lián)后與U2聯(lián)接，U2還與電阻R3并聯(lián)后與包括運(yùn)算器U3A、U3B的雙限電壓檢測電路聯(lián)接。雙限電壓檢測電路包括相互聯(lián)接的U3A、U3B，U3A、U3B各有一腳4和7互為聯(lián)接后與U2聯(lián)接，還各有一腳1和2互為聯(lián)接后與發(fā)光二極管Led的一端聯(lián)接；U3A的腳5與電位器RV3聯(lián)接并入地，U3B的腳6與與電位器RV2聯(lián)接并入地，RV2、RV3的另一端與Led的另一端聯(lián)接；而Led的另一端聯(lián)接還與U2及U1A聯(lián)接。
本發(fā)明采用間接測試方案，不直接檢測被測對象的絕對值，而只從比較或?qū)Ρ鹊慕嵌热z測其與母體間的相對值，因而檢測結(jié)果準(zhǔn)確、穩(wěn)定，檢測精度高，幾乎不受環(huán)境因素的影響；恒壓源的檢測電路集成化高，線路設(shè)計(jì)簡單明快，制造成本低。
下面參照附圖
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳述。圖中R為做為對比基準(zhǔn)的NTC電阻，RX為待檢測的NTC電阻，而對于恒壓源電壓的取值問題，該電壓取值越小，電流熱的影響就會越小，但鑒于靈敏度的要求也為宜取得過小，具體可根據(jù)被測NTC阻值來適當(dāng)選取，現(xiàn)以NTC的阻值均大于10K為例，則恒壓源電壓V1以取2伏為宜。電壓跟隨器U1A的作用是把檢測電路對被檢電阻的影響減小到可忽略的程度，這一點(diǎn)通過腳3具有的大于10M的輸入電阻來實(shí)現(xiàn)。運(yùn)算器U2與其周邊電路構(gòu)成了差分放大器，其中RV1與R、RX組成了橋式電路，而該放大器的放大倍數(shù)取決于與U2并聯(lián)的電阻R3和與RV1串聯(lián)的電阻R1之比(R3/R1)值；若R3/R1取值100，且當(dāng)R＝RX時(shí)調(diào)節(jié)RV1，使其端電壓即向橋式電路的輸出為10V，當(dāng)設(shè)定RX的阻值與標(biāo)準(zhǔn)電阻R之值的偏差不能超過±1％時(shí)，則該端電壓值分別對應(yīng)為11V、9V。由U3A、U3B及周邊電路組成的雙限電壓檢測電路實(shí)際上是開環(huán)放大器，其開環(huán)電壓增益大于100Db，即開環(huán)放大倍數(shù)大于106，這時(shí)只要調(diào)節(jié)RV2或RV3把輸出的端電壓值上下限分別設(shè)定為11V、9V，即可把RX的偏差值范圍限定在±1％內(nèi)，當(dāng)超出該限定范圍時(shí)，發(fā)光二極管Led即會導(dǎo)通發(fā)亮，同時(shí)蜂鳴器工作，指示被檢測電阻值已超出設(shè)定的誤差范圍。
另外，圖中給出的電容C1-4均用于濾波，目的是濾除脈沖干擾。
權(quán)利要求
1.一種對負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻進(jìn)行測試的電路，其特征是包括標(biāo)準(zhǔn)NTC電阻R、待測NTC電阻RX及恒壓源，R及RX串接在恒壓源上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征是電阻R、RX與恒壓源中的電阻RV1組成橋式聯(lián)接，電壓跟隨器U1A的腳3聯(lián)接在R、RX之間的聯(lián)線上，腳4聯(lián)接在RX、RV1之間的聯(lián)線上并入地，腳2與差分放大器U2聯(lián)接并入地。
3.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試電路，其特征是作為電位器的RV1與電阻R1串聯(lián)后與U2聯(lián)接，U2還與電阻R3并聯(lián)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的測試電路，其特征是U2還與包括運(yùn)算器U3A、U3B的雙限電壓檢測電路聯(lián)接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試電路，其特征是雙限電壓檢測電路包括相互聯(lián)接的U3A、U3B，U3A、U3B各有一腳4和7互為聯(lián)接后與U2聯(lián)接，還各有一腳1和2互為聯(lián)接后與發(fā)光二極管Led的一端聯(lián)接；U3A的腳5與電位器RV3聯(lián)接并入地，U3B的腳6與電位器RV2聯(lián)接并入地，RV2、RV3的另一端與Led的另一端聯(lián)接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試電路，其特征是Led的另一端聯(lián)接還與U2及U1A聯(lián)接。
全文摘要
一種對負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻進(jìn)行測試的電路，包括串接在恒壓源上的標(biāo)準(zhǔn)NTC電阻R、待測NTC電阻R
文檔編號G01R27/02GK1445555SQ03113578
公開日2003年10月1日 申請日期2003年1月15日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月15日
發(fā)明者駱秋輝, 馮大明, 張?jiān)瞥?申請人:惠州市藍(lán)微電子有限公司