專利名稱：元件測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種元件測試系統(tǒng)及其裝置，特別是一種集成電路元件的元件測試系統(tǒng)及其裝置。
在現(xiàn)有技術(shù)中，元件的測試方法主要是將待測元件(Device UnderTest；DUT)置于一測試板(DUT board)上的一插槽(socket)之中，并由一自動測試設(shè)備(automated test equipment；ATE)來對上述待測元件進行測試。

圖1為一現(xiàn)有技術(shù)的元件測試裝置的示意圖。在測試板120上具有一插槽110，用以容置一待測元件105。測試板120裝設(shè)于一接口板(interface board)130上，其中上述的接口板130裝設(shè)于一測試頭(testhead)140之上。測試頭140與一自動測試設(shè)備(未顯示于圖中)電性耦合。接口板130具有復數(shù)組信號線(signal traces)135，上述信號線135的兩端分別與測試板120的接點(未顯示于圖中)及測試頭140的測試電路(tester channel)145電性耦合。而元件測試的過程是從自動測試設(shè)備發(fā)出一測試信號，經(jīng)過測試頭140，信號線135，測試板120，傳送至插槽110中的待測元件105。然后，再沿著上述途徑從測試板120將一對應(yīng)信號傳回自動測試設(shè)備。
隨著待測元件的不同，必須使用不同的測試板來進行測試。因為測試板個別不同的電氣特性，如電阻，電感，電容值等的些微變動或差異，所以，每更改一次測試板，自動測試設(shè)備就必須對新測試板進行校正，以確認下一批的待測元件可以得到正確的測試結(jié)果。上述的校正至少包含校正自動測試設(shè)備與測試板之間關(guān)于發(fā)出信號與接收信號的時間差。然而，上述的校正過程往往必須耗費數(shù)十分鐘至數(shù)小時之久。雖然此一校正過程是一不可忽略的步驟，但是，每次更換測試板之后皆需花費如此長的時間來進行校正，不啻是一種相當沉重的時間成本。
因此，為了提升元件測試的效率，如何提供一種可以讓自動測試設(shè)備有效辨識測試板且可以有效縮短校正時間的元件測試系統(tǒng)已是一項重要的課題。
本實用新型的另一目的在于本實用新型可由一元件測試系統(tǒng)及其裝置。上述的元件測試系統(tǒng)及其裝置可以有效地避免發(fā)生在測試過程中因為使用了錯誤的、但針腳(pin)數(shù)目相同的待測元件來進行測試而產(chǎn)生無效的測試數(shù)據(jù)。
本實用新型的再一目的在于本實用新型可提供一元件測試系統(tǒng)及其裝置，以取代現(xiàn)有技術(shù)中將各種元件測試的相關(guān)資料記錄于書面資料上的做法。如此一來，可以有效地避免大宗書面資料的管理及存放的困擾，更可以節(jié)省紙張的使用，以達到環(huán)保的目的。
根據(jù)以上所述的目的，本實用新型提供了一種元件測試系統(tǒng)及其裝置。根據(jù)本實用新型的元件測試系統(tǒng)及其裝置可以由在測試板上增加一存儲元件來改善元件測試的效率。換言之，在根據(jù)本實用新型的一范例中，由讀取上述存儲元件中的資料，可以略過元件測試之前的校正步驟。更好的是，根據(jù)本實用新型的設(shè)計，由讀取存儲元件中的資料可以有效地避免因為人為疏失所造成的無效測試。所以，根據(jù)本實用新型的設(shè)計可以有效地提升元件測試的效率。
圖中符號說明105 待測元件110 插槽120 測試板130 接口板135 信號線140 測試頭145 測試電路200 測試板220 存儲元件230 可擦寫存儲元件240 插槽260 自動測試設(shè)備300 測試板320 存儲元件
340 插槽350 接口板360 自動測試設(shè)備370 第一連接元件380 第二連接元件再者，在本說明書中，各元件的不同部分并沒有依照尺寸繪圖。某些尺度與其它相關(guān)尺度相比已經(jīng)被夸張，以提供更清楚的描述和本實用新型的理解。
本實用新型的一較佳實施例為一種元件測試系統(tǒng)。在根據(jù)本實用新型的元件測試系統(tǒng)中至少包含一測試板(DUT board)，一存儲元件連接于上述測試板，及一測試設(shè)備。上述的測試設(shè)備可以是一自動測試設(shè)備(ATE)。上述的存儲元件可以是一只讀存儲器元件或是一可擦寫的存儲元件，例如，只讀存儲器(Read-Only Memory；ROM)，可抹除且可程序只讀存儲器(Erasable Programmable ROM；EPROM)，電子式可抹除且可程序化只讀存儲器(Electrically Erasable Programmable ROM；EEPROM)，或是其它的存儲元件。
圖2A為一根據(jù)本實施例的元件測試系統(tǒng)的示意圖。參照圖2A，待測板200至少包含一存儲元件220，與一插槽240。在存儲元件220中可儲存與測試板200的電氣特性相關(guān)的資料或是與測試過程相關(guān)的資料。待測板200與一自動測試設(shè)備自動測試設(shè)備260電性耦合。自動測試設(shè)備260可由讀取在存儲元件220中的資料來得到與測試過程或是元件測試前的校正步驟有關(guān)的訊息。在更換測試板200之后，自動測試設(shè)備260可先自存儲元件220讀取資料，再傳送測試信號至插槽240以進行待測元件(DUT)的元件測試，以節(jié)省校準所需的時間，進而提升元件測試的效率。
在根據(jù)本實施例的一范例中，自動測試設(shè)備260中可預先儲存復數(shù)組分別對應(yīng)至不同測試板的測試程序，而上述的存儲元件220中可以儲存測試板200的辨識資料。在更換測試板之后，自動測試設(shè)備260可先自存儲元件220中讀取測試板200的辨識資料，再選取相對應(yīng)的測試程序。如此一來，即可在進行元件測試之前，略過現(xiàn)有技術(shù)中的長時間校正步驟，以達到提升元件測試的效能的目的。
在另一范例中，存儲元件220可以儲存測試板200的校正資料。在更換測試板的時候，自動測試設(shè)備260可以自存儲元件220中讀取測試板200的校正資料。甚至于，在存儲元件220中亦可以儲存該測試板200所使用的測試程序，如此一來，自動測試設(shè)備260可以直接自存儲元件220加載測試板200的測試程序以進行元件測試，進而提升元件測試的效率，此一設(shè)計更可以節(jié)省自動測試設(shè)備260中的存儲空間。
在另一范例中，存儲元件220中可以儲存測試板200所適用的待測元件資料。在更換測試板之后，自動測試設(shè)備260可以自存儲元件220讀取該測試板200所適用的待測元件的資料。此一設(shè)計可以有效地防止在進行元件測試的過程中，因為待測元件的尺寸相同，例如具有相同的針腳數(shù)目，而選取錯誤的待測元件來進行元件測試。在現(xiàn)有技術(shù)中，由于測試板的資料與待測元件的資料分別紀錄于工作手冊中，所以，極可能因為操作人員的誤判而使用其它相同尺寸(例如針腳數(shù)目相同者)的待測元件來進行元件測試。如果操作人員使用了錯誤的待測元件來進行元件測試，不僅會得到錯誤的測試結(jié)果，更會造成人力、物力、及時間上的浪費。由本實用新型的設(shè)計，在更換測試板之后，自動測試設(shè)備可以讀取存儲元件中的資料，并告知操作人員該測試板所適用的待測元件種類。因此，本實用新型的設(shè)計可以有效地避免因為操作人員的人為疏失所造成的無效的元件測試。
在另一范例中，存儲元件220更可以儲存測試板200的基本組態(tài)(basic configuration)資料，例如測試板200上電容器的電容量，電阻的電阻值，或是其它的組態(tài)資料。所以，在更換測試板之后，自動測試設(shè)備260可以由讀取存儲元件220中的資料，而更了解測試板200的組態(tài)，進而有助于辨識測試板200的適用范圍。
在另一范例中，存儲元件可以是一可擦寫的存儲元件。圖2B為另一根據(jù)本實施例的元件測試系統(tǒng)的示意圖。參照圖2B，測試板200至少包含一可擦寫存儲元件230，與一插槽240。測試板200與自動測試設(shè)備260電性耦合。在更換測試板200之后，自動測試設(shè)備260可以自可擦寫存儲元件230讀取測試板200的資料或是與元件測試過程相關(guān)的資料，進而提升元件測試的效率。
更好的是，自動測試設(shè)備260可以將與測試板相關(guān)的資料或是其它與測試過程相關(guān)的資料寫入可擦寫存儲元件230中。在現(xiàn)有技術(shù)中，通常將測試板的資料或是其它與測試過程相關(guān)的資料記錄于諸如操作手冊或工作日志的類的書面資料中。此一做法不僅會衍生出大量書面資料的管理與存放的問題，更因為需要耗費大量的紙張而顯得相當?shù)牟画h(huán)保。然而，根據(jù)本實施例的設(shè)計則可以將上述的資料記錄于可擦寫存儲元件230中。如此一來，不僅可避免上述書面資料的管理與存放等問題，更可節(jié)省紙張的使用而達到環(huán)保的目的。
在本實施例中，上述的存儲元件可以儲存一組或是多組與測試板相關(guān)的資料。上述的存儲元件亦可以儲存一組或是多組與測試過程相關(guān)的資料。在更換測試板之后，自動測試設(shè)備可以由讀取存儲元件中的資料來得到與測試板相關(guān)的資料或是與測試過程相關(guān)的資料，進而可以縮短，甚至可以略過，在現(xiàn)有技術(shù)中需要花費長時間的校正步驟。更好的是，根據(jù)本實施例的設(shè)計，亦可以大幅降低在元件測試過程中出錯的機率。所以，根據(jù)本實施例的設(shè)計可以提升元件測試的效率。
根據(jù)本實用新型的另一較佳實施例為一種元件測試裝置。圖3是一種根據(jù)本實施例的元件測試裝置的示意圖。如圖3所述，上述的元件測試裝置至少包含一測試板300，一存儲元件320連接于測試板300，及一自動測試設(shè)備360與測試板300電性耦合。在測試板300上更包含一插槽340，用以容置一待測元件。測試板300裝設(shè)于一接口板350上，其中接口板350設(shè)置于自動測試設(shè)備360上。
根據(jù)本實施例的元件測試裝置更包含復數(shù)組第一連接元件370連接測試板300與自動測試設(shè)備360。上述的第一連接元件370用以自自動測試設(shè)備360傳送測試信號至測試板300及插槽340中的待測元件，以進行校正或進行元件測試。上述的元件測試裝置可以更包含至少一組第二連接元件380連接存儲元件320與自動測試設(shè)備360。由第二連接元件380，自動測試設(shè)備360可以自存儲元件320讀取資料，或是儲存資料至存儲元件320。
存儲元件320可以是一只讀存儲器，或是一可擦寫的存儲器。例如，只讀存儲器(ROM)，可抹除且可編程只讀存儲器(EPROM)，電子式可抹除且可編程只讀存儲器(EEPROM)，或是其它的存儲器元件。在存儲元件320中，可以儲存測試板300的資料，或是與測試過程有關(guān)的資料，例如，測試板300的基本組態(tài)，測試板300所適用的待測元件種類，待測板300所使用的測試程序，或是其它的資料。
根據(jù)本實施例，在換上根據(jù)本實施例的測試板300之后，自動測試設(shè)備360可以經(jīng)由第二連接元件380來讀取存儲元件320中的資料，進而得知測試板300的信息，或是與測試過程相關(guān)的信息。由上述的信息，根據(jù)本實施例的元件測試裝置可以大幅地縮短在元件測試前的校正步驟所需的時間，甚至于可以略過校正步驟而直接開始進行元件測試。
在根據(jù)本實施例的一范例中，自動測試設(shè)備360亦可以寫入資料至存儲元件320之中。例如，自動測試設(shè)備360可以將測試板300在元件測試過程中的狀況寫入存儲元件320中，以取代現(xiàn)有技術(shù)中的工作紀錄。此外，操作人員可能會對測試板300上諸如電容或電阻的類的組態(tài)進行調(diào)整。自動測試設(shè)備360亦可以將調(diào)整后的組態(tài)紀錄于存儲元件320之中。在下次使用此一測試板300的時候，自動測試設(shè)備360由讀取存儲元件320中的資料即可知道測試板300的最新組態(tài)資料。在其它的范例中，自動測試設(shè)備360亦可視實際需要，寫入其它相關(guān)信息至存儲元件320之中。
相較于現(xiàn)有技術(shù)的元件測試裝置，每次更換測試板，必須先執(zhí)行一校正步驟后，才能進行待測元件測試。而上述的校正步驟往往需要花費相當長的時間才能完成。根據(jù)本實施例的設(shè)計，可以將與校正有關(guān)的資料儲存于存儲元件中，如此一來，自動測試設(shè)備可由讀取存儲元件的資料來達到上述校正步驟的結(jié)果。換言之，根據(jù)本實施例的設(shè)計，在更換測試板之后可以略過長時間的校正步驟，進而可以提升元件測試的效率。
舉例來說，在根據(jù)本實施例的一范例中，在存儲元件中可以儲存測試板的識別資料，而在自動測試設(shè)備的數(shù)據(jù)庫中可以儲存附數(shù)組分別對應(yīng)至不同測試板的測試程序及校正資料。在更換測試板之后，自動測試設(shè)備只需自存儲元件讀取資料，并自自動測試設(shè)備的數(shù)據(jù)庫中選取相對應(yīng)的測試程序與校正資料。至此，根據(jù)本實施例的元件測試裝置已達到與現(xiàn)有技術(shù)的校正步驟相同的結(jié)果，且可開始進行元件測試。
在另一范例中，在根據(jù)本實施例的測試板上的存儲元件中所儲存的資料可以包含此一測試板所適用的待測元件種類。如此一來，自動測試設(shè)備在讀取存儲元件的資料之后，可以告知操作人員此一測試板適用于何種待測元件的元件測試。所以，根據(jù)本實施例的設(shè)計，可以有效地防止操作人員因為待測元件的規(guī)格相同而選用了錯誤的待測元件來進行元件測試，從而可以避免人力與物力浪費在無效的元件測試之上。
此外，在上述存儲元件中所儲存的資料可以包含此一測試板所適用的測試程序。在更換測試板之后，自動測試設(shè)備可以自存儲元件中讀取并加載上述測試板所適用的測試程序。如此一來，根據(jù)此一設(shè)計，不僅可以略過在元件測試之前的校正步驟，更可以避免自動測試設(shè)備的數(shù)據(jù)庫中因為儲存太多的測試程序而占用大量的自動測試設(shè)備存儲器空間。更好的是，現(xiàn)有技術(shù)的自動測試設(shè)備通常只儲存一組測試程序。然而，根據(jù)上述的設(shè)計，在自動測試設(shè)備讀取存儲元件中的資料后，可以自動針對每一不同的測試板來調(diào)整其適用的測試程序。
另一方面，在現(xiàn)有技術(shù)中，操作人員往往必須將許多相關(guān)的資料記錄于諸如操作手冊或工作日志的類的書面紀錄之上。上述的相關(guān)資料包含測試板的相關(guān)資料，測試元件的相關(guān)資料，參數(shù)調(diào)整資料，或是其它與測試過程相關(guān)的資料。上述的做法經(jīng)年累月下來，操作人員所紀錄的書面資料將會形成相當龐大的一堆文件資料。此一做法不僅相當?shù)牟画h(huán)保，龐大的文件資料在管理與存放上亦是一項相當沉重的負擔。
然而，由本實施例的設(shè)計，上述的存儲元件可以是一可擦寫的存儲元件。所以，在執(zhí)行元件測試的過程中，不僅可以從存儲元件中讀取與元件測試過程相關(guān)的資料，更好的是，可以將與元件測試相關(guān)的資料儲存至存儲元件中。而且，存儲元件中的資料亦可以隨著實際需要而進行修正。因此，根據(jù)本實施例的設(shè)計，不僅可以省下龐大的紙張使用量，而達到環(huán)保的目的，更可以避免因為龐大的文件資料所造成在管理與存放方面的負擔。更好的是，由于每一測試板及其適用的待測元件的相關(guān)資料皆可儲存于測試板的存儲元件中，所以，本實施例的設(shè)計更可以防止在現(xiàn)有存儲中因為操作人員讀取文件資料時的錯誤，而發(fā)生錯誤的元件測試的情形。
綜合以上所述，本實用新型揭露一種元件測試系統(tǒng)及其裝置。根據(jù)本實用新型的設(shè)計至少包含一自動測試設(shè)備，一接口板設(shè)置于自動測試設(shè)備上，一測試板裝設(shè)于接口板上且與自動測試設(shè)備電性耦合，及一存儲元件連接至上述的測試板。上述的存儲元件可以是一只讀存儲元件，或是一可擦寫存儲元件。自動測試設(shè)備可由讀取存儲元件中的資料來得到與測試板相關(guān)的信息或是與測試過程相關(guān)的信息，進而可以略過元件測試前的校正步驟，并可避免在元件測試過程中可能發(fā)生的錯誤。因此，根據(jù)本實用新型的設(shè)計可以提升元件測試過程的效率。更好的是，自動測試設(shè)備亦可寫入與測試板或是與測試過程相關(guān)的信息至上述存儲元件之中。如此一來，不僅可以避免在現(xiàn)有存儲中因為將上述信息書寫于書面紀錄上而造成大量文件的管理與存放等問題，更可以減少紙張的使用量以達到環(huán)保的目的。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，并非用以限定本實用新型的保護范圍；凡其它未脫離本實用新型所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾，均應(yīng)包含在權(quán)利要求書的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種元件測試裝置，其特征在于，該元件測試裝置包含一自動測試設(shè)備(ATE)；一接口板設(shè)置于該自動測試設(shè)備上；一測試板設(shè)置于該接口板上，其中該測試板與該測試設(shè)備電性耦合；一存儲元件位于該測試板上，其中該存儲元件與該測試設(shè)備電性耦合；及一插槽位于該測試板上，其中該插槽用以容置一待測元件。
2.如權(quán)利要求1所述的元件測試裝置，其特征在于，該存儲元件為一只讀元件。
3.如權(quán)利要求1所述的元件測試裝置，其特征在于，該存儲元件為一可擦寫存儲元件。
4.如權(quán)利要求1所述的元件測試裝置，其特征在于，更包含至少一第一連接元件，用以連接該自動測試設(shè)備與該測試板。
5.如權(quán)利要求1所述的元件測試裝置，其特征在于，更包含至少一第二連接元件，用以連接該自動測試設(shè)備與該存儲元件。
專利摘要本實用新型涉及一種元件測試裝置，根據(jù)本實用新型，由在測試板方面的特殊設(shè)計，可以在更換測試板之后，略過在進行元件測試前需要長時間的校正步驟，因此，根據(jù)本實用新型的設(shè)計可以有效地提升待測元件的元件測試效率，更好的是，根據(jù)本實用新型的設(shè)計可以省下用來記錄的紙張，以達到環(huán)保的目的。
文檔編號G01R31/28GK2593207SQ0229447
公開日2003年12月17日 申請日期2002年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2002年12月30日
發(fā)明者余玉龍, 倪云鵬 申請人:威盛電子股份有限公司