專利名稱：電路基板的定位裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型是與檢測電路基板的技術有關，更詳而言之，乃是指一種在電路基板進行測試前先行將的定位的電路基板的定位裝置。
前述的現(xiàn)有定位方式具有的缺點在于檢測效果不佳由于定位孔是設置于BGA基板上預定位置所形成的參考點，而檢測時是將檢測臺的頂針抵接于BGA基板的球點，且該定位孔與球點并非為同一點，因此在設置定位孔時會產生些許誤差，該種誤差可能會造成檢測時頂針有可能無法接觸到BGA基板的球點，無法檢測的狀況。此外，將BGA基板的一邊靠置的方式亦會因基板本身的尺寸栽切的精準度而造成檢測效果不佳。
緣是，依據(jù)本實用新型所提供的一種電路基板的定位裝置，是配合設置于一電路基板檢測裝置內，該電路基板檢測裝置是具有一機體，于該機體內設有檢測臺用以檢測待測的電路基板；該定位裝置包含有一取像裝置，具有一鏡頭用來攝取影像，該取像裝置是以該鏡頭朝待測電路基板所會經(jīng)過路徑設置于該機體的預定位置；一光源，設置于該機體的預定位置，其發(fā)出的光線在待測電路基板所會經(jīng)過路徑的預定位置呈點狀；一承接座，以可前后左右位移的方式設于該機體，該承接座上方具有二承板用以承接電路基板，該二承板是相隔預定距離且相互平行，且于其相對側具有一凹階，用以卡制待測的電路基板使不致滑動。
其中該取像裝置是為一CCD攝影機。
其中該光源是一白熾光燈。
其中該承接座具有一主板體，該主板體中央具有一長槽，且該主板體底部具有二滑塊分別樞接于二滑軌，該二滑軌是設置于該電路基板檢測裝置的機體，該主板體底部設有一馬達及一滾珠螺桿，該主板體頂面設有二伺服馬達，各該承板則連接于各該伺服馬達。
請再參閱1圖至圖4，本實用新型于使用時，是先將待測BGA基板99置于該二承板上，該馬達36及該二伺服馬達38將該承接座31驅動至使該待測BGA基板99對正于該取像裝置11上方，以該光源21將白熾光投射于BGA基板99上的一待測單元991的球點上，光線涵蓋該待測單元991的所有球點，再以該取像裝置11取得該等球點的影像，將該等球點的位置與正確位置比對后，即可計算出在X軸與Y軸上的偏差量，而由于BGA基板99是置于該二承板39上，因此由該馬達36驅轉該滾珠螺桿37來調整該承接座的X軸位置，以及由該等伺服馬達38來調整該二承板39的Y軸位置，搭配起來即可調整待測BGA基板99的X軸、Y軸位置，抵銷偏差量之后，即可使待測BGA基板99移至正確位置來對正該檢測臺52。
經(jīng)由上述的結構，本實用新型可產生的優(yōu)點為定位更為精準、檢測效果較佳由于本實用新型是直接定位待測BGA基板99的球點位置，并非透過一定位孔來予以定位，因此不會有如前述現(xiàn)有者的誤差產生，可進而確保待測BGA基板99的位置正確，并確保待測BGA基板99的所有球點正確地接觸到檢測臺52的頂針，完成正確的檢測。
綜上所述，本實用新型所提供的電路基板的定位裝置，其具有前述優(yōu)于現(xiàn)有者的各項優(yōu)點，實用性及進步性自己母庸置疑，此外，該種結構從來未被公開使用或揭露于各種文獻資料，本案應已具備新型專利的條件，故依法申請專利。
權利要求1.一種電路基板的定位裝置，是配合設置于一電路基板檢測裝置內，該電路基板檢測裝置是具有一機體，于該機體內設有檢測臺用以檢測待測的電路基板，待測的電路基板具有預知焊接球點；其特征在于，該定位裝置包含有一取像裝置，具有一鏡頭用來攝取影像，該取像裝置是以該鏡頭朝待測電路基板設置于該機體的預定位置；一光源，設置于該機體的預定位置，其發(fā)出的光線照射于待測電路基板時會涵蓋預定區(qū)域內的球點；一承接座，以可前后左右位移的方式設于該機體，該承接座上方具有二承板，該二承板是相隔預定距離且相互平行，且于其相對側具有一凹階。
2.依據(jù)權利要求1所述的電路基板的定位裝置，其特征在于，其中該取像裝置是為一CCD攝影機。
3.依據(jù)權利要求1所述的電路基板的定位裝置，其特征在于，其中該光源是一白熾光燈。
4.依據(jù)權利要求1所述的電路基板的定位裝置，其特征在于，其中該承接座具有一主板體，該主板體中央具有一長槽，且該主板體底部具有二滑塊分別樞接于二滑軌，該二滑軌是設置于該電路基板檢測裝置的機體，該主板體底部設有一馬達及一滾珠螺桿，該主板體頂面設有二伺服馬達，各該承板則連接于各該伺服馬達。
專利摘要本實用新型是有關于一種電路基板的定位裝置，是配合設置于一電路基板檢測裝置內，該電路基板檢測裝置是具有一機體，于該機體內設有檢測臺用以檢測待測的電路基板；該定位裝置包含有一取像裝置，具有一鏡頭用來攝取影像；一光源，設置于該機體的預定位置，其發(fā)出的光線投射時呈點狀；一承接座，以可前后左右位移的方式設于該機體，用以承接電路基板；由該光源照射于電路基板的球點，并以該取像裝置取得球點位置后，依偏差量予以修正，而可確保待測電路基板的檢測位置正確。
文檔編號G01R1/00GK2570794SQ0225259
公開日2003年9月3日 申請日期2002年9月11日 優(yōu)先權日2002年9月11日
發(fā)明者李炳寰 申請人:東捷半導體科技股份有限公司