專利名稱：檢測(cè)電路板的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明系一種檢測(cè)電路板的方法，尤指一種在一電腦中設(shè)有一測(cè)試軟體，藉由該測(cè)試軟體的資料庫，搜集被測(cè)試的新、舊電路板之測(cè)試數(shù)據(jù)，并進(jìn)行比對(duì)，用以將該等測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果，由該電腦的輸出單元輸出的方法。
又，若該電路板要安裝一新電子元件，或者該電路板上原先所設(shè)計(jì)完全的電路不敷使用時(shí)，必須要進(jìn)行若干電路修改，以令該新電子元件可被安裝在該電路板上，及令該電路板上的各個(gè)電子元件可正常作動(dòng)，此時(shí)，該電路板上的電路已有若干不同，則必須再由電路設(shè)計(jì)人員重新檢查一次電路的傳輸延遲檢查，尤其是，原本安裝在該電路板上的電子元件的相關(guān)電路，是否因安裝了新電子元件后，造成原電子元件及相關(guān)電路的傳輸延遲改變，此時(shí)，各個(gè)電子元件的傳輸延遲檢查系相當(dāng)煩瑣，且浪費(fèi)人力及時(shí)間。
該方法系在一電腦中設(shè)有一測(cè)試軟體，該軟體中設(shè)有一資料庫，該資料庫中設(shè)有至少一個(gè)對(duì)照表，使該電腦對(duì)新、舊版電路板，進(jìn)行該電氣特進(jìn)行比對(duì)測(cè)試時(shí)，乃利用該測(cè)試軟體，依據(jù)該對(duì)照表所設(shè)定的復(fù)數(shù)個(gè)欄位，分別搜集該新、舊電路板上所輸出的測(cè)試數(shù)據(jù)，并儲(chǔ)存到該對(duì)照表中相匹配的欄位，接著，再對(duì)該等欄位中的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行比對(duì)，并將所獲得的比對(duì)結(jié)果分別儲(chǔ)存在該對(duì)照表的對(duì)應(yīng)欄位中，接著，該電腦的輸出元件，再將各該測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果輸出。
采用本發(fā)明的方法，可通過測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果觀察兩電路板的差異，而不必再依賴路設(shè)計(jì)人員的經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷，即可減少人為的疏失，有效地控制變更電子元件及電路的電路板品質(zhì)。


圖1為本發(fā)明進(jìn)行測(cè)試的流程圖；圖2為本發(fā)明資料庫的示意圖；圖3為本發(fā)明對(duì)照表的示意圖。
在本發(fā)明中，該等對(duì)照表乃根據(jù)二個(gè)新舊版本的電路板上，未變更設(shè)計(jì)的各個(gè)電子元件建立，該等對(duì)照表中系包括復(fù)數(shù)個(gè)特性分類、匹配該等特性分類的新版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位、匹配該等特性分類的舊版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位及復(fù)數(shù)個(gè)比對(duì)結(jié)果欄位，其中各該特性分類系各該電子元件所匹配的電路，依照欲進(jìn)行測(cè)試的電氣特性(如傳輸延遲)的測(cè)試條什(如電路長(zhǎng)度)所建立，各該新版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位系用以儲(chǔ)存該新版電路板依據(jù)該等特性分類，進(jìn)行測(cè)試后所獲得的新版測(cè)試數(shù)據(jù)，而各該舊版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位系用以儲(chǔ)存該舊版電路板依據(jù)該等特性分類，進(jìn)行測(cè)試后所獲得的舊版測(cè)試數(shù)據(jù)，該等比對(duì)結(jié)果欄位系用以儲(chǔ)存同一特性分類的新、舊版測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行比對(duì)后所獲得的比對(duì)結(jié)果；使該電腦針對(duì)該二電路板，進(jìn)行電氣特性比對(duì)測(cè)試時(shí)，系利用該測(cè)試軟體，依據(jù)各該對(duì)照表中的各該特性分類，搜集符合各該特性分類的測(cè)試數(shù)據(jù)，并儲(chǔ)存在匹配的各該新、舊測(cè)試數(shù)據(jù)欄位中，接著，對(duì)各特性分類的各該新、舊版測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，并將所獲得的比對(duì)結(jié)果，分別儲(chǔ)存在匹配的各該比對(duì)結(jié)果欄位中；接著，由該電腦的輸出元件(如顯示器)將各該特性分類、新版測(cè)試數(shù)據(jù)、舊版測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果顯示出來。
如此，將可由各該測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果觀察該二電路板的差異，而不必再依賴路設(shè)計(jì)人員的經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷，即可減少人為的疏失，有效地控制變更電子元件及電路的電路板品質(zhì)。
在本發(fā)明中，各該電路板的電路可利用一電路模擬軟體，將其上電路呈現(xiàn)在該顯示器上，該電路模擬軟體并可模擬該等電子元件的作動(dòng)，使該等電子元件動(dòng)作時(shí)所產(chǎn)生的訊號(hào)，經(jīng)過其匹配的電路時(shí)，系可利用該測(cè)試軟體分別依據(jù)各該特性分類，搜集符合各該特性分類的測(cè)試數(shù)據(jù)。
在本發(fā)明中，各該電路板可安裝在一電路板測(cè)試治具上，該電路板測(cè)試治具乃針對(duì)該電路板上各該電子元件及其匹配電路，分別設(shè)有一測(cè)試模組，以藉由該模組令該等電子元件之作動(dòng)，該電路板測(cè)試治具并透過復(fù)數(shù)個(gè)排線與該電腦相接，以令該等電子元件作動(dòng)時(shí)所產(chǎn)生的訊號(hào)，經(jīng)過其匹配的電路時(shí)，系可利用該測(cè)試軟體分別依據(jù)各該特性分類，搜集符合各該特性分類的測(cè)試數(shù)據(jù)。。
在本發(fā)明的一較佳實(shí)施例中，為測(cè)試新舊電路路板上的傳輸延遲的電氣特性，各該特性分類系可為各該電子元件所匹配電路，依照該電路上不同線段長(zhǎng)度所建立，該等新版測(cè)試數(shù)據(jù)則為該新版電路的各該電子元件產(chǎn)生訊號(hào)時(shí)，該訊號(hào)在各該電子元件所匹配電路的該等線段上傳輸?shù)难舆t時(shí)間；該等舊版測(cè)試數(shù)據(jù)則為該舊版電路板的各該電子元件產(chǎn)生訊號(hào)時(shí)，該訊號(hào)在各該電子元件所匹配電路的該等線段上傳輸?shù)难舆t時(shí)間。
按以上所述，僅為本發(fā)明最佳的一具體實(shí)施例，惟本發(fā)明的構(gòu)造特征并不局限于此，任何熟悉該項(xiàng)技藝者在本發(fā)明領(lǐng)域內(nèi)，可輕易思及的變化或修飾，皆可涵蓋在本案的專利范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)電路板的方法，其特征在于該方法系在一電腦中設(shè)有一測(cè)試軟體，該軟體中設(shè)有一資料庫，該資料庫中包括有至少一個(gè)對(duì)照表，該等對(duì)照表乃根據(jù)電路板進(jìn)行訊號(hào)輸出時(shí)，各個(gè)電子元件與其匹配電路所產(chǎn)生的電氣特性所建立，使該電腦乃對(duì)之新、舊版電路板，依照下列步驟，進(jìn)行電氣特性比對(duì)測(cè)試首先，利用該測(cè)試軟體，依據(jù)該對(duì)照表內(nèi)所預(yù)設(shè)的復(fù)數(shù)個(gè)欄位，分別搜集各該新、舊版電路板的測(cè)試數(shù)據(jù)，并將其分別存儲(chǔ)在該對(duì)照表內(nèi)相匹配的欄位中；接著，對(duì)各該對(duì)照表中對(duì)應(yīng)欄位的測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行比對(duì)，并將獲得的比對(duì)結(jié)果，分別儲(chǔ)存至該對(duì)照表的對(duì)應(yīng)欄位；接著，該電腦的輸出元件，將各該測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果輸出。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)電路板的方法，其特征在于該等對(duì)照表乃根據(jù)二個(gè)新舊版本的電路板上，未變更設(shè)計(jì)的各個(gè)電子元件建立，該等對(duì)照表中的各該欄位包括復(fù)數(shù)個(gè)特性分類，各該特性分類系各該電子元件所匹配的電路，依照欲進(jìn)行測(cè)試的電氣特性的測(cè)試條件所建立；匹配該等特性分類的新版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位，各該新版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位系用以儲(chǔ)存該新版電路板依據(jù)該等特性分類，進(jìn)行測(cè)試后所獲得的新版測(cè)試數(shù)據(jù)；匹配該等特性分類的舊版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位，各該舊版測(cè)試數(shù)據(jù)欄位系用以儲(chǔ)存該舊版電路板依據(jù)該等特性分類，進(jìn)行測(cè)試后所獲得的舊版測(cè)試數(shù)據(jù)；復(fù)數(shù)個(gè)比對(duì)結(jié)果欄位，該等比對(duì)結(jié)果欄位系用以儲(chǔ)存同一特性分類的新、舊版測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行比對(duì)后所獲得的比對(duì)結(jié)果；使該電腦針對(duì)該新、舊版電路板，進(jìn)行電氣特性比對(duì)測(cè)試時(shí)，系依照下列步驟，進(jìn)行電氣特性比對(duì)測(cè)試首先，利用該測(cè)試軟體，依據(jù)各該對(duì)照表中的各該特性分類，搜集符合各該特性分類的測(cè)試數(shù)據(jù)，并儲(chǔ)存在匹配的各該新、舊測(cè)試數(shù)據(jù)欄位中；接著，對(duì)各特性分類的各該新、舊版測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，并將所獲得的比對(duì)結(jié)果，分別儲(chǔ)存在匹配的各該比對(duì)結(jié)果欄位中；接著，由該電腦的輸出元件(如顯示器)將各該特性分類、新版測(cè)試數(shù)據(jù)、舊版測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果顯示出來。
3.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)電路板的方法，其特征在于各該電路板的電路可利用一電路模擬軟體，將其上電路呈現(xiàn)在該顯示器上，該電路模擬軟體并可模擬該等電子元件的作動(dòng)，使該等電子元件動(dòng)作時(shí)所產(chǎn)生的訊號(hào)，經(jīng)過其匹配的電路時(shí)，可利用該測(cè)試軟體分別依據(jù)各該特性分類，搜集符合各該特性分類的測(cè)試數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)電路板的方法，其特征在于各該電路板可安裝在一電路板測(cè)試治具上，該電路板測(cè)試治具乃針對(duì)該電路板上各該電子元件及其匹配電路，分別設(shè)有一測(cè)試模組，以藉由該模組令該等電子元件的作動(dòng)，該電路板測(cè)試治具并透過復(fù)數(shù)個(gè)排線與該電腦相接，以令該等電子元件作動(dòng)時(shí)所產(chǎn)生的訊號(hào)，經(jīng)過其匹配的電路時(shí)，系可利用該測(cè)試軟體分別依據(jù)各該特性分類，搜集符合各該特性分類的測(cè)試數(shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)電路板的方法，其特征在于為測(cè)試新舊電路路板上的傳輸延遲的電氣特性，各該特性分類系可為各該電子元件所匹配電路，依照該電路上不同線段長(zhǎng)度所建立，該等新版測(cè)試數(shù)據(jù)則為該新版電路的各該電子元件產(chǎn)生訊號(hào)時(shí)，該訊號(hào)在各該電子元件所匹配電路的該等線段上傳輸?shù)难舆t時(shí)間；該等舊版測(cè)試數(shù)據(jù)則為該舊版電路板的各該電子元件產(chǎn)生訊號(hào)時(shí)，該訊號(hào)在各該電子元件所匹配電路的該等線段上傳輸?shù)难舆t時(shí)間。
全文摘要
本發(fā)明系一種檢測(cè)電路板的方法，該方法系在一電腦中設(shè)有一測(cè)試軟體，該軟體中設(shè)有一資料庫，該資料庫中包括有至少一個(gè)對(duì)照表，使該電腦針對(duì)新、舊版的電路板，進(jìn)行電氣特性的比對(duì)測(cè)試時(shí)，可利用該測(cè)試軟體，依據(jù)該對(duì)照表內(nèi)所設(shè)定的復(fù)數(shù)個(gè)欄位，分別搜集各該新、舊版電路板的測(cè)試數(shù)據(jù)，并將其分別存儲(chǔ)在該對(duì)照表內(nèi)相匹配的欄位中，接著，再對(duì)該對(duì)照表中對(duì)應(yīng)欄位的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，并將所獲得的比對(duì)結(jié)果，分別存至該對(duì)照表的對(duì)應(yīng)欄位中，最后，再透過該電腦的輸出元件，將各該測(cè)試數(shù)據(jù)及比對(duì)結(jié)果輸出。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1432817SQ0210154
公開日2003年7月30日 申請(qǐng)日期2002年1月9日 優(yōu)先權(quán)日2002年1月9日
發(fā)明者楊淑敏 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司