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垃圾腐熟度探測(cè)儀的制作方法

文檔序號(hào):5947011閱讀:251來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:垃圾腐熟度探測(cè)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種垃圾腐熟化處理檢測(cè)設(shè)備,特別是垃圾腐熟度檢測(cè)的設(shè)備。
垃圾發(fā)酵處理是將可腐垃圾無(wú)害化并使之徹底腐熟,在如何測(cè)定垃圾發(fā)酵達(dá)到“腐熟”程度,目前的技術(shù)是采用兩種方式來(lái)判斷的,一是經(jīng)驗(yàn)法,在發(fā)酵時(shí)間達(dá)到15天之后,每天取樣看顏色,聞味道,這種方式不科學(xué)、測(cè)量誤差大;二是化學(xué)檢測(cè)方式,在垃圾發(fā)酵達(dá)到15天之后,每天取樣分析一系列數(shù)據(jù),根據(jù)這些分析數(shù)據(jù)來(lái)綜合判斷腐熟度,這種方式測(cè)量十分繁雜,而且須建化驗(yàn)室。分析量大、成本高、不實(shí)用。
本實(shí)用新型的目的旨在克服現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),提供一種使用方便簡(jiǎn)單,測(cè)量快速、準(zhǔn)確的垃圾腐熟度探測(cè)儀。
本實(shí)用新型目的是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種垃圾腐熟度探測(cè)儀,包括字符式點(diǎn)陣液晶顯示器、電源,其特征是還包括輸入電路、多路模擬轉(zhuǎn)換電路、放大整形電路、模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路、控制電路組。
本實(shí)用新型內(nèi)容中所述輸入電路二氧化碳、甲烷氣敏元件接通道A、B,通道A接電阻R3,電阻R3接三極管T1基極,其集電極接多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052)第10腳,集電極通過(guò)電阻R4接+12V電壓,通道B接電阻R6,電阻R6接三極管T2基極,其集電極接多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第9腳,集電極通過(guò)電阻R5接+12V電壓,三極管T1、T2發(fā)射極接地,+12V電壓連接電容C3接地;所述多路模擬轉(zhuǎn)換電路多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052)第1、2、4、5腳接地,電阻R14和可調(diào)電阻R15串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第12腳,電容C10與電阻R14和可調(diào)電阻R15并聯(lián),電阻R13和可調(diào)電阻R16串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第14腳,電容C11與電阻R13和可調(diào)電阻R16并聯(lián),電阻R12和可調(diào)電阻R17串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第15腳,電阻R11和可調(diào)電阻R18串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第11腳,多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第13腳接集成電路C7650第4腳;所述放大整形電路包括集成電路C7650和L398,電阻R7接集成電路C7650第4腳,電阻R8接集成電路C7650第5腳,集成電路C7650第1和8腳、第2和8腳之間接電容C7、C8,集成電路C7650第7腳通過(guò)電阻R10接-12V電壓,電容C6、C9并聯(lián)接集成電路C7650第7腳,集成電路C7650第11腳通過(guò)電阻R9接+12V電壓,第11腳和第14腳相連,電容C4、C5并聯(lián)接集成電路C7650第11腳;集成電路C7650第10腳接集成電路LF398第3腳,集成電路LF398第6、7腳之間接電容C16,集成電路LF398第4腳通過(guò)電阻R19接-12V電壓,電容C12、C13并聯(lián)接集成電路LF398第4腳,集成電路LF398第1腳通過(guò)電阻R20接+12V電壓,可調(diào)電阻R22和電阻R21串聯(lián)與電容C14、C15并聯(lián)接集成電路LF398第1、2腳;模擬信號(hào)經(jīng)集成電路C7650和L398放大整形的模擬信號(hào)由Sout輸出到Sinl所述模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路Sinl接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2(AD574A)第14腳,穩(wěn)壓二極管D1、D2反接,接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第14腳,模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第9、2、4腳接地,第7腳接+12V電壓,第11腳接-12V電壓,第8、10、12腳相連,第8、10腳接可調(diào)電阻R1,第8、12腳接可調(diào)電阻R2,第28腳接反向器N6接集成電路LF398第8腳,模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第16腳接23腳,第17腳接第24腳,第18腳接26腳,第20腳接27腳,第20~27腳接微處理器U1(89C51FB)第32~39腳,以及字符式點(diǎn)陣液晶顯示器;所述控制電路微處理器U1(89C51FB),第2、3腳接反向器U4/A、U4/B,在接八輸入反向器U3(4078)第11、10腳,微處理器U1第5~8腳接八輸入反向器U3第5~2腳,微處理器U1第1、4腳接八輸入反向器U3第12、9腳,微處理器U1第5~8腳接字符式點(diǎn)陣液晶顯示器,第6腳接按鍵A1接地,八輸入反向器U3第13腳接四輸入反向器U6/B(4082)第11、12腳,微處理器U1第21腳接反向器U4/C在接四輸入反向器U6/B第9、10腳,四輸入反向器U6/B第13腳接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第6腳,微處理器U1第22腳接四輸入反向器U6/A(4082)第5腳,第16腳接反向器U4/D在接四輸入反向器U6/A第4、3腳,八輸入反向器U3第13腳接四輸入反向器U6/A第2腳,四輸入反向器U6/A第1腳接D觸發(fā)器U5/A(4031)、U5/B(4031)第3腳;D觸發(fā)器U5/A第5腳接微處理器U1第32腳,D觸發(fā)器U5/B第5腳接微處理器U1第33腳,D觸發(fā)器U5/A、U5/B第4、6腳接地,D觸發(fā)器U5/A第1腳接通道A,D觸發(fā)器U5/B第1腳接通道B。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比(1)大部分電路采用集成電路,體積小、重量輕,具有液晶數(shù)顯、微電腦數(shù)字編程、攜帶方便,使用方便、簡(jiǎn)單等特點(diǎn)和功能;(2)功能齊全,顯示直觀,耗電低,成本低。測(cè)量快速、精度高,運(yùn)行穩(wěn)定可靠。


圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路、控制電路的電路圖;圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的輸入電路、多路模擬轉(zhuǎn)換電路和放大整形電路電路圖。
如圖所示垃圾腐熟度探測(cè)儀,包括字符式點(diǎn)陣液晶顯示器、電源其特征是還包括輸入電路、多路模擬轉(zhuǎn)換電路、放大整形電路、模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路、控制電路組。
二氧化碳、甲烷氣敏元件插入垃圾中,二氧化碳?xì)饷粼捎玫氖歉哽`敏度元件,探測(cè)范圍是500ppm-100VOL%,甲烷氣敏元件采用高靈敏度陶瓷氣敏元件(型號(hào)),探測(cè)范圍100ppm-500VOL%,將探測(cè)到的模擬信號(hào),傳送到通道A、B,通道A接D觸發(fā)器U5/A(4031)第1腳,通道B接D觸發(fā)器U5/B(4031)第1腳。D觸發(fā)器U5/A第5腳接微處理器U1第32腳,D觸發(fā)器U5/B第5腳接微處理器U1第33腳,D觸發(fā)器U5/A、U5/B第4、6腳接地,四輸入反向器U6/A第1腳接D觸發(fā)器U5/A、U5/B第3腳;微處理器U1(89C51FB)第22腳接四輸入反向器U6/A(4082)第5腳,第16腳接反向器U4/D在接四輸入反向器U6/A第4、3腳,八輸入反向器U3(4078)第13腳接四輸入反向器U6/A第2腳,通過(guò)微處理器的運(yùn)算處理控制探測(cè)到的模擬信號(hào)進(jìn)入通道A、B,通道A接電阻R3(10K),電阻R3接三極管T1(9018)基極,通過(guò)三極管T1集電極傳送到接多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052)第10腳,三極管T1集電極通過(guò)電阻R4(50K)接+12V電壓,通道B接電阻R6(10K),電阻R6接三極管T2(9018)基極,其集電極接多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052)第9腳,三極管T2集電極通過(guò)電阻R5(50K)接+12V電壓,三極管T1、T2發(fā)射極接地,+12V電壓連接電容C3(0.01μF)接地;模擬信號(hào)就經(jīng)三極管放大傳送到多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052)。
模擬信號(hào)進(jìn)入多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052),多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第1、2、4、5腳接地,電阻R14(97K)和可調(diào)電阻R15(10K)串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第12腳,電容C10(0.001μF)與電阻R14和可調(diào)電阻R15并聯(lián);電阻R13(4.7K)和可調(diào)電阻R16(10K)串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第14腳,電容C11(0.01μF)與電阻R13和可調(diào)電阻R16并聯(lián);電阻R12(97K)和可調(diào)電阻R17(10K)串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第15腳;電阻R11(4.7K)和可調(diào)電阻R18(10K)串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第11腳,多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第13腳接集成電路C7650第4腳;模擬信號(hào)進(jìn)入模擬多路轉(zhuǎn)換器U7,模擬多路轉(zhuǎn)換器U7在微處理器U1控制下將輸入的模擬信號(hào)分時(shí)輸出給集成電路C7650和L398。
模擬信號(hào)進(jìn)入集成電路C7650和L398組成的放大整形電路,電阻R7(10K)接集成電路C7650第4腳,電阻R8(10K)接集成電路C7650第5腳,集成電路C7650第1和8腳、第2和8腳之間接電容C7(0.1μF)、C8(0.1μF),集成電路C7650第7腳通過(guò)電阻R10(100K)接-12V電壓,電容C6(10uF)、C9(0.1μF)并聯(lián)接集成電路C7650第7腳,集成電路C7650第11腳通過(guò)電阻R9(100K)接+12V電壓,第11腳和第14腳相連,電容C4(10uF)、C5(0.1μF)并聯(lián)接集成電路C7650第11腳;集成電路C7650第10腳接集成電路LF398第3腳,集成電路LF398第6、7腳之間接電容C16(0.01μF),集成電路LF398第4腳通過(guò)電阻R19(100K)接-12V電壓,電容C12(10uF)、C13(0.1μF)并聯(lián)接集成電路LF398第4腳,集成電路LF398第1腳通過(guò)電阻R20(100K)接+12V電壓,可調(diào)電阻R22(10K)和電阻R21(20K)串聯(lián)與電容C14(10uF)、C15(0.1μF)并聯(lián)接集成電路LF398第1、2腳;模擬信號(hào)經(jīng)集成電路C7650和L398放大整形后Sout輸出到Sinl模擬信號(hào)經(jīng)Sinl接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2(AD574A)第14腳,穩(wěn)壓二極管D1(9.1VX2)、D2(9.1VX2)反接,接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2(AD574A)第14腳,微處理器U1(89C51FB),第2、3腳接反向器U4/A、U4/B,在接八輸入反向器U3(4078)第11、10腳,微處理器U1(89C51FB)第5~8腳接八輸入反向器U3(4078)第5~2腳,微處理器U1(89C51FB)第1、4腳接八輸入反向器U3(4078)第12、9腳,微處理器U1(89C51FB)第5~8腳接字符式點(diǎn)陣液晶顯示器,第6腳接按鍵A1接地,八輸入反向器U3(4078)第13腳接四輸入反向器U6/B(4082)第11、12腳,微處理器U1(89C51FB)第21腳接反向器U4/C在接四輸入反向器U6/B(4082)第9、10腳,四輸入反向器U6/B(4082)第13腳接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2(AD574A)第6腳,模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2的片選信號(hào);模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2(AD574A)第9、2、4腳接地,第7腳接+12V電壓,第11腳接-12V電壓,第1腳接+5V電壓,+5V電壓通過(guò)并聯(lián)電容C1(10uF)、C2(0.01μF)接地,第8、10、12腳相連,第8、10腳接可調(diào)電阻R1(100K),第8、12腳接可調(diào)電阻R2(100K),第28腳接反向器N6接集成電路LF398第8腳,模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2(AD574A)第16腳接23腳,第17腳接第24腳,第18腳接26腳,第20腳接27腳,第20~27腳接微處理器U1(89C51FB)第32~39腳,以及字符式點(diǎn)陣液晶顯示器,模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2也與字符式點(diǎn)陣液晶顯示器相連,將轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號(hào)既直接測(cè)量數(shù)據(jù)在字符式點(diǎn)陣液晶顯示器顯示出來(lái)將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)變成數(shù)字信號(hào)傳送到微處理器U1中,經(jīng)微處理器U1運(yùn)算處理將運(yùn)算結(jié)果,由微處理器U1第5~8腳傳送到字符式點(diǎn)陣液晶顯示器顯示出來(lái),微處理器U1第6腳接按鍵A1接地。
權(quán)利要求1.一種垃圾腐熟度探測(cè)儀,包括字符式點(diǎn)陣液晶顯示器、電源其特征是還包括輸入電路、多路模擬轉(zhuǎn)換電路、放大整形電路、模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路、控制電路組。
2.如權(quán)利要求1所述的垃圾腐熟度探測(cè)儀,其特征是所述輸入電路二氧化碳、甲烷氣敏元件接通道A、B,通道A接電阻R3,電阻R3接三極管T1基極,其集電極接多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052)第10腳,集電極通過(guò)電阻R4接+12V電壓,通道B接電阻R6,電阻R6接三極管T2基極,其集電極接多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第9腳,集電極通過(guò)電阻R5接+12V電壓,三極管T1、T2發(fā)射極接地,+12V電壓連接電容C3接地;所述多路模擬轉(zhuǎn)換電路多路模擬轉(zhuǎn)換器U7(4052)第1、2、4、5腳接地,電阻R14和可調(diào)電阻R15串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第12腳,電容C10與電阻R14和可調(diào)電阻R15并聯(lián),電阻R13和可調(diào)電阻R16串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第14腳,電容C11與電阻R13和可調(diào)電阻R16并聯(lián),電阻R12和可調(diào)電阻R17串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第15腳,電阻R11和可調(diào)電阻R18串聯(lián)接集成電路C7650第10腳、多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第11腳,多路模擬轉(zhuǎn)換器U7第13腳接集成電路C7650第4腳;所述放大整形電路包括集成電路C7650和L398,電阻R7接集成電路C7650第4腳,電阻R8接集成電路C7650第5腳,集成電路C7650第1和8腳、第2和8腳之間接電容C7、C8,集成電路C7650第7腳通過(guò)電阻R10接-12V電壓,電容C6、C9并聯(lián)接集成電路C7650第7腳,集成電路C7650第11腳通過(guò)電阻R9接+12V電壓,第11腳和第14腳相連,電容C4、C5并聯(lián)接集成電路C7650第11腳;集成電路C7650第10腳接集成電路LF398第3腳,集成電路LF398第6、7腳之間接電容C16,集成電路LF398第4腳通過(guò)電阻R19接-12V電壓,電容C12、C13并聯(lián)接集成電路LF398第4腳,集成電路LF398第1腳通過(guò)電阻R20接+12V電壓,可調(diào)電阻R22和電阻R21串聯(lián)與電容C14、C15并聯(lián)接集成電路LF398第1、2腳;經(jīng)集成電路C7650和L398放大整形的模擬信號(hào)由Sout輸出到Sinl所述模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路Sinl接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2(AD574A)第14腳,穩(wěn)壓二極管D1、D2反接,接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第14腳,模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第9、2、4腳接地,第7腳接+12V電壓,第11腳接-12V電壓,第8、10、12腳相連,第8、10腳接可調(diào)電阻R1,第8、12腳接可調(diào)電阻R2,第28腳接反向器N6接集成電路LF398第8腳,模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第16腳接23腳,第17腳接第24腳,第18腳接26腳,第20腳接27腳,第20~27腳接微處理器U1(89C51FB)第32~39腳,以及字符式點(diǎn)陣液晶顯示器;所述控制電路微處理器U1(89C51FB),第2、3腳接反向器U4/A、U4/B,在接八輸入反向器U3(4078)第11、10腳,微處理器U1第5~8腳接八輸入反向器U3第5~2腳,微處理器U1第1、4腳接八輸入反向器U3第12、9腳,微處理器U1第5~8腳接字符式點(diǎn)陣液晶顯示器,第6腳接按鍵A1接地,八輸入反向器U3第13腳接四輸入反向器U6/B(4082)第11、12腳,微處理器U1第21腳接反向器U4/C在接四輸入反向器U6/B第9、10腳,四輸入反向器U6/B第13腳接模/數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路U2第6腳,微處理器U1第22腳接四輸入反向器U6/A(4082)第5腳,第16腳接反向器U4/D在接四輸入反向器U6/A第4、3腳,八輸入反向器U3第13腳接四輸入反向器U6/A第2腳,四輸入反向器U6/A第1腳接D觸發(fā)器U5/A(4031)、U5/B(4031)第3腳;D觸發(fā)器U5/A第5腳接微處理器U1第32腳,D觸發(fā)器U5/B第5腳接微處理器U1第33腳,D觸發(fā)器U5/A、U5/B第4、6腳接地,D觸發(fā)器U5/A第1腳接通道A,D觸發(fā)器U5/B第1腳接通道B。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種垃圾腐熟度探測(cè)儀,包括字符式點(diǎn)陣液晶顯示器、電源其特征是:還包括輸入電路、多路模擬轉(zhuǎn)換電路、放大整形電路、模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路、控制電路組;本實(shí)用新型的電路都是由集成電路組成的,體積小、攜帶方便,使用方便,數(shù)據(jù)顯示直觀,耗電低,測(cè)量快速、精度高,運(yùn)行穩(wěn)定可靠。
文檔編號(hào)G01N27/00GK2463832SQ0025990
公開日2001年12月5日 申請(qǐng)日期2000年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2000年12月20日
發(fā)明者王玉才, 母曉東 申請(qǐng)人:中國(guó)工程物理研究院環(huán)保工程研究中心
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